JP2701740B2 - 全反射吸収スペクトル測定装置 - Google Patents

全反射吸収スペクトル測定装置

Info

Publication number
JP2701740B2
JP2701740B2 JP6114323A JP11432394A JP2701740B2 JP 2701740 B2 JP2701740 B2 JP 2701740B2 JP 6114323 A JP6114323 A JP 6114323A JP 11432394 A JP11432394 A JP 11432394A JP 2701740 B2 JP2701740 B2 JP 2701740B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
liquid sample
measuring
absorption spectrum
total reflection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP6114323A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07294421A (ja
Inventor
靖史 中田
康郎 佃
伸朗 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP6114323A priority Critical patent/JP2701740B2/ja
Publication of JPH07294421A publication Critical patent/JPH07294421A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2701740B2 publication Critical patent/JP2701740B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、全反射吸収スペクトル
測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】全反射吸収(Attenuated Total Reflect
ance)スペクトル測定装置による試料分析の原理は次の
通りである。試料の分析を行なおうとする面に、試料よ
りも屈折率の高い物質で作成されたプリズム(ATRプ
リズム)を密着させ、ATRプリズム側からATRプリ
ズムと試料分析面との境界面に向かって全反射臨界角以
上の入射角で赤外線を入射させる。この条件下では赤外
線はその境界面で全反射を行なうが、僅かに(測定赤外
線波長の数分の1)境界面を越えて試料側にまで浸透
し、試料の表面部分により固有の吸収を受ける。従っ
て、反射された赤外線の吸収スペクトルを解析すること
により、試料の分析を行なうことができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】全反射吸収スペクトル
測定装置では、ATRプリズムの反射面に液体試料を接
触させることにより液体試料の分析を、また、固体試料
を押しつけることにより固体試料の分析を行なうことが
できる。従来の液体試料測定用の測定部ユニット40は
図5に示すように、底部にATRプリズム42を埋設し
た容器41により構成されている。測定時は容器41に
液体試料48を入れ、測定部ユニット40の下部に配置
した光源46から赤外線をATRプリズム42の反射面
42aに向けて入射し、吸収を受けて反射した赤外線を
検出器47で検出する。このように、液体試料測定用の
測定部ユニット40ではATRプリズム42の反射面4
2a側に容器41が存在するため、大きな固体試料はA
TRプリズム42に接触させることができない。仮に、
大きな固体試料をATRプリズム42に密着させること
ができるように容器41を大きくすると、液体試料測定
時には多量の液体試料が必要となる。このため、従来の
全反射吸収スペクトル測定装置では、液体試料測定用の
測定部ユニットと固体試料測定用の測定部ユニットとは
別々に用意されていた。
【0004】また、従来の液体試料測定用の測定部ユニ
ット40では、1つの液体試料の測定が終了した後、別
の種類の液体試料を測定すべく前の試料をATRプリズ
ム42の反射面42aから完全に洗い流すために、測定
部ユニット40を測定装置から取り外す必要があった。
【0005】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、1つの
測定部ユニットで固体試料及び液体試料の双方の測定を
行なうことができ、また、反射面の洗浄が容易な全反射
吸収スペクトル測定装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係る全反射吸収スペクトル測定装置
は、反射面を略垂直上方に向けて僅かに突出させた状態
でATRプリズムを固定したプリズム固定部と、プリズ
ム固定部の周囲に設けた排液溝とを有する測定部ユニッ
トを備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】液体試料測定の際は、ATRプリズムの反射面
に液体試料を少量滴下し、液体試料が反射面の赤外線入
射領域を覆うようにする。なお、ここで、反射面に滴下
した液体試料の上から押さえ板を置くことにより、液体
試料を反射面上に広がらせてもよい。固体試料測定の際
は、ATRプリズムの反射面に固体試料の測定面を押し
つける。本発明に係る全反射吸収スペクトル測定装置の
測定部ユニットでは、反射面の周囲には溝(排液溝)が
あるだけであるため(溝は当然反射面の高さよりも低
い)、大きな固体であっても従来の測定部ユニットのよ
うに容器の壁に妨げられて密着することができないとい
うことがない。
【0008】また、別の液体試料を測定する際は、測定
部ユニットをそのままにした状態でATRプリズムの反
射面に洗浄液を滴下して前回の液体試料を洗い流すこと
ができる。洗浄液は反射面周囲の排液溝に流出し、反射
面には残らない。
【0009】
【実施例】本発明の一実施例である全反射吸収スペクト
ル測定装置の測定部ユニットを図1及び図2により説明
する。本実施例の測定部ユニット10は図2に示すよう
に円形となっており、本体には、各種液体試料に対して
侵食されないような材料(例えば、ステンレス鋼板、硬
質プラスチック板等)が用いられる。本体の中央にはA
TRプリズム12を固定した平坦部11が、そして、そ
の周囲には洗浄液等を排出するための排液溝13が形成
されている。図1に示すように、ATRプリズム12は
平坦部11から僅かに突出するように埋設されている。
排液溝13の底部の1箇所又は複数箇所(図2では1箇
所)には、ドレイン孔14が設けられている。
【0010】本実施例の測定部ユニット10で液体試料
を測定する際は、まず、液体試料18をATRプリズム
12の反射面12a上に滴下する。十分な量の液体試料
を用いることができるときは、やや多量の液体試料を反
射面12a上に滴下して、反射面12aのほぼ全面を覆
うようにする。十分な量の液体試料を確保することがで
きないときは、液体試料18を少量だけ反射面12aに
滴下し、その上に押さえ板15を置くことにより反射面
12a上で広がらせる。なお、測定赤外線の試料への侵
入深さは僅かであるため、反射面12a上の液体試料の
膜厚は十分薄くてもよいが、仮に、一部で液体試料18
が途切れて押さえ板15がATRプリズム12の反射面
12aに直接接触した場合のことを考慮して、押さえ板
15には赤外線吸収量の少ない材料(例えば金属)を用
いることが望ましい。
【0011】測定済みの液体試料を反射面12aから洗
い流すときは、測定部ユニット10自体はその位置に置
いたまま、反射面12aに洗浄液を滴下又は放出する。
液体試料18を含んだ洗浄液は排液溝13に流れ落ち、
ドレイン孔14から排出される。速やかに次の試料の測
定を開始したい場合は、ドライヤ等で反射面12aに温
風を吹き付けてもよい。本実施例の測定部ユニット10
では周囲に風の放散を遮る壁がないため、乾燥も速やか
に行なわれる。
【0012】なお、排液溝13の底にドレイン孔14を
設けるのではなく、排液溝13の外周側の一部に堤を低
くした排出口を設け、測定部ユニット10を傾けること
により液体試料18及び洗浄液を排出するようにしても
よい。
【0013】固体試料を測定する際は、ATRプリズム
12の反射面12aに固体試料の分析面を押し付けるだ
けでよい。図1に示すように、本実施例の測定部ユニッ
ト10にはATRプリズム12の反射面12aよりも高
い部分がないため、どのような大きな固体試料でも反射
面12aに密着させることができる。
【0014】
【0015】
【0016】
【0017】
【発明の効果】本発明に係る全反射吸収スペクトル測定
装置の測定部ユニットでは反射面の周囲には排液溝があ
るだけであるため、従来の測定部ユニットのように容器
の壁に妨げられることなく、大きな固体試料であっても
測定することができる。また、一つの液体試料測定後に
別種の液体試料を測定する際は、測定部ユニットをその
ままにした状態でATRプリズムの反射面に洗浄液を滴
下して前回の液体試料を洗い流すことができる。更に、
反射面の周囲に壁が無いため、洗浄液の乾燥も速いとい
う特長を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例である全反射吸収スペクト
ル測定装置の測定ユニットの縦断面図。
【図2】 実施例の測定ユニットの平面図。
【図3】 従来の液体試料測定用の測定部ユニットの縦
断面図。
【符号の説明】
10、40…測定部ユニット 11…平坦部 12…ATRプリズ
ム 12a…反射面 13…排液溝 14…ドレイン孔 15…押さえ板 18…液体試料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−138340(JP,A) 特開 平6−214102(JP,A) 特表 平5−504626(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 反射面を略垂直上方に向けて僅かに突出
    させた状態でATRプリズムを固定したプリズム固定部
    と、プリズム固定部の周囲に設けた排液溝とを有する測
    定部ユニットを備えたことを特徴とする全反射吸収スペ
    クトル測定装置。
JP6114323A 1994-04-28 1994-04-28 全反射吸収スペクトル測定装置 Expired - Lifetime JP2701740B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6114323A JP2701740B2 (ja) 1994-04-28 1994-04-28 全反射吸収スペクトル測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6114323A JP2701740B2 (ja) 1994-04-28 1994-04-28 全反射吸収スペクトル測定装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30130496A Division JPH09126992A (ja) 1996-10-24 1996-10-24 全反射吸収スペクトル測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07294421A JPH07294421A (ja) 1995-11-10
JP2701740B2 true JP2701740B2 (ja) 1998-01-21

Family

ID=14634967

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6114323A Expired - Lifetime JP2701740B2 (ja) 1994-04-28 1994-04-28 全反射吸収スペクトル測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2701740B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2442445A1 (en) * 2001-03-27 2002-10-03 Euro-Celtique S.A. Atr crystal device
EP2133478A3 (en) * 2008-02-27 2011-10-05 Jsm Healthcare Inc Apparatus for analyzing components of urine by using atr and method thereof
KR100943095B1 (ko) * 2008-02-27 2010-02-18 제이에스엠헬스케어 주식회사 변기용 소형 뇨성분 분석장치 및 이를 이용한 실시간 뇨성분 분석방법
JP7070984B2 (ja) * 2016-10-19 2022-05-18 グローバル・ライフ・サイエンシズ・ソリューションズ・ユーエスエー・エルエルシー エバネッセント導波路検知のための装置および方法
CN107271366B (zh) * 2017-06-28 2020-01-17 中南民族大学 检测硝基苯酚的比色瓶/管

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69119750T2 (de) * 1990-03-02 1996-10-02 Fisons Plc Messzelle für chemische oder biochemische proben
JPH04138340A (ja) * 1990-09-29 1992-05-12 Shimadzu Corp 赤外スペクトル測定ヘッド及び測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07294421A (ja) 1995-11-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970706492A (ko) 광 판독 스트립(Optically readable strip for Analyte detection having on-strip standard)
JP2838172B2 (ja) 蛍光x線分析装置
AU2150397A (en) Process and device for determining an analyte contained in a scattering matrix
US5397537A (en) Test instrument
JP2701740B2 (ja) 全反射吸収スペクトル測定装置
EP0545987A1 (en) DEVICE FOR RECEIVING A FINGER.
WO2004051320B1 (en) Spectroscopic system and method using a ceramic optical reference
JP2006343331A5 (ja)
RU2003101917A (ru) Способ и устройство для обнаружения присутствия жидкости на тестовой полоске
AU683007B1 (en) Reflectance spectroscope with readhead for minimizing singly-reflected light rays
US5724148A (en) Apparatus and method for determination of urine color
US6298714B1 (en) Device for performing tests on absorbent substrates
EP0791829A3 (en) Test apparatus for assaying a component in a liquid sample
JPH09126992A (ja) 全反射吸収スペクトル測定装置
US6738139B1 (en) Method of determining bulk refractive indicies of fluids from thin films thereof
US7586610B2 (en) Component measuring device
JP3324339B2 (ja) 分光分析測定装置
CN211905390U (zh) 一种部分覆膜的检测试纸条
EP0864867A3 (en) Improved analyzer throughput featuring through-the-tip analysis
JP2001324503A (ja) 乾式分析素子の測定方法
JP2973954B2 (ja) 液面上浮遊物質の光計測装置および光計測方法
EP2195638A1 (en) An apparatus for observing the surface of a sample
JPH086287Y2 (ja) 光学的特性測定装置
JPH0336940U (ja)
JPH03246466A (ja) クロマトグラフの転写方法