JP2651454B2 - マルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部 - Google Patents
マルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部Info
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- JP2651454B2 JP2651454B2 JP1125504A JP12550489A JP2651454B2 JP 2651454 B2 JP2651454 B2 JP 2651454B2 JP 1125504 A JP1125504 A JP 1125504A JP 12550489 A JP12550489 A JP 12550489A JP 2651454 B2 JP2651454 B2 JP 2651454B2
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/14—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam specially adapted to record on, or to reproduce from, more than one track simultaneously
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、複数の光ビームスポットを使用して、光デ
ィスクに信号を記録し又は再生するマルチビーム光ディ
スク装置のトラッキング誤差検出部に関するものであ
る。
ィスクに信号を記録し又は再生するマルチビーム光ディ
スク装置のトラッキング誤差検出部に関するものであ
る。
［従来の技術］ 光ディスク装置では、光ディスクを回転させながら光
ヘッドを半径方向に移動させることにより、光ビームス
ポットを用いて光ディスク上の記録トラックをトレース
している。このときに、光ビームスポットが正確に光デ
ィスクをトレースするように、トラッキング制御とフォ
ーカシング制御が行われている。
ヘッドを半径方向に移動させることにより、光ビームス
ポットを用いて光ディスク上の記録トラックをトレース
している。このときに、光ビームスポットが正確に光デ
ィスクをトレースするように、トラッキング制御とフォ
ーカシング制御が行われている。
トラッキング制御には種々の方法が用いられている
が、代表的なプッシュプル法（又はファーフィールド法
とも云われる）について説明する。第７図（ａ）、
（ｂ）、（ｃ）において、光ディスク１の表面に溝２が
設けられ、対物レンズ３を介して光ビームスポットが投
影されている。このときの光ディスク１からの反射光の
強度分布をＰで示している。第８図はトラッキング誤差
検出用回路の構成図であり、２個の素子4a、4bから成る
２分割フォトダイオード４の出力は差動増幅器５に入力
され、差動増幅器５からトラッキング誤差信号Ｔが出力
される。
が、代表的なプッシュプル法（又はファーフィールド法
とも云われる）について説明する。第７図（ａ）、
（ｂ）、（ｃ）において、光ディスク１の表面に溝２が
設けられ、対物レンズ３を介して光ビームスポットが投
影されている。このときの光ディスク１からの反射光の
強度分布をＰで示している。第８図はトラッキング誤差
検出用回路の構成図であり、２個の素子4a、4bから成る
２分割フォトダイオード４の出力は差動増幅器５に入力
され、差動増幅器５からトラッキング誤差信号Ｔが出力
される。
２分割フォトダイオード４の素子4a、4b上には光ディ
スク１からの反射ビームスポットＳが入射され、第７図
（ｂ）はトラッキングが正しくなされている場合であ
り、反射ビームスポットＳの強度は素子4a、4b上で均等
である。従って、差動増幅器５から出力されるトラッキ
ング誤差信号出力Ｔは零となる。
スク１からの反射ビームスポットＳが入射され、第７図
（ｂ）はトラッキングが正しくなされている場合であ
り、反射ビームスポットＳの強度は素子4a、4b上で均等
である。従って、差動増幅器５から出力されるトラッキ
ング誤差信号出力Ｔは零となる。
第７図（ａ）及び（ｂ）はトラッキングが正しくなさ
れていない場合を示しており、光ビームスポットの中心
と溝２の中心が一致していない。この場合の光ディスク
１からの反射光ビームスポットＳの素子4a、4bを照射す
る強度は均等ではない。従って、差動増幅器５からは正
又は負のトラッキング誤差信号Ｔを得ることができ、こ
の誤差信号Ｔはトラッキング制御に用いられる。
れていない場合を示しており、光ビームスポットの中心
と溝２の中心が一致していない。この場合の光ディスク
１からの反射光ビームスポットＳの素子4a、4bを照射す
る強度は均等ではない。従って、差動増幅器５からは正
又は負のトラッキング誤差信号Ｔを得ることができ、こ
の誤差信号Ｔはトラッキング制御に用いられる。
また、フォーカシング制御にも種々の方法があるが、
ここでは非点収差法について説明する。第９図におい
て、光ディスク１からの反射光は対物レンズ３、シリン
ドリカルレンズ７を経て受光素子８を照射する。受光素
子８は第10図に示すように４個の素子8a、8b、8c、8dに
分割されていて、各素子8a、8b、8c、8dの出力Ia、Ib、
Ic、Idは加算器により加算された後に差動増幅器９に加
えられて、差動増幅器９からは（Ia＋Ib）−（Ic＋Id）
＝Ｆが焦点ずれ信号として得られる。
ここでは非点収差法について説明する。第９図におい
て、光ディスク１からの反射光は対物レンズ３、シリン
ドリカルレンズ７を経て受光素子８を照射する。受光素
子８は第10図に示すように４個の素子8a、8b、8c、8dに
分割されていて、各素子8a、8b、8c、8dの出力Ia、Ib、
Ic、Idは加算器により加算された後に差動増幅器９に加
えられて、差動増幅器９からは（Ia＋Ib）−（Ic＋Id）
＝Ｆが焦点ずれ信号として得られる。
光ディスク１が正しく焦点位置にあれば、光ディスク
１からの反射光は受光素子８上の中心に、第11図（ｂ）
に示すような円形の反射光ビームスポットＳを結像し、
焦点ずれ信号Ｆは零となる。光ディスク１の位置が焦点
位置からずれている場合には、受光素子８上に第11図
（ａ）又は（ｃ）に示すような形状の反射光ビームスポ
ットＳを結像するので、焦点ずれ信号Ｆは正又は負の値
となり、自動フォーカス制御機構が作動して焦点が正し
く合うように対物レンズ３を駆動する。
１からの反射光は受光素子８上の中心に、第11図（ｂ）
に示すような円形の反射光ビームスポットＳを結像し、
焦点ずれ信号Ｆは零となる。光ディスク１の位置が焦点
位置からずれている場合には、受光素子８上に第11図
（ａ）又は（ｃ）に示すような形状の反射光ビームスポ
ットＳを結像するので、焦点ずれ信号Ｆは正又は負の値
となり、自動フォーカス制御機構が作動して焦点が正し
く合うように対物レンズ３を駆動する。
第12図は前述のトラッキング制御とフォーカシング制
御を組合わせた総合的な構成図である。フォーカシング
制御系では差動増幅器９から出力されるフォーカシング
誤差信号Ｆは駆動増幅器10aを通り、レンズ駆動機構11f
により対物レンズ３を駆動する。またトラッキング制御
系では、差動増幅器５から出力されるトラッキング誤差
信号Ｔは駆動増幅器10bを通り、レンズ駆動機構11fによ
り対物レンズ３を駆動する。J1は検索用のスライダ信号
であり、希望するトラックにアクセスする際に、駆動増
幅器10cを通しスライダ12を用いて半径方向に光ヘッド
を移動させるが、そのためにコロ13が用いられている。
駆動増幅器10a、10bは帯域幅数10kHzで微細なトラッキ
ング制御のためのものであり、駆動増幅器10cの帯域幅
は数kHzであり、スライダ12により粗いトラッキング制
御を行うようになっている。スイッチ14は検索用のスラ
イダ信号J1とトラッキング制御信号Ｔとを切換え、スイ
ッチ15はトラックジャンプ信号J2とトラッキング制御信
号Ｔとを切換えるようになっている。
御を組合わせた総合的な構成図である。フォーカシング
制御系では差動増幅器９から出力されるフォーカシング
誤差信号Ｆは駆動増幅器10aを通り、レンズ駆動機構11f
により対物レンズ３を駆動する。またトラッキング制御
系では、差動増幅器５から出力されるトラッキング誤差
信号Ｔは駆動増幅器10bを通り、レンズ駆動機構11fによ
り対物レンズ３を駆動する。J1は検索用のスライダ信号
であり、希望するトラックにアクセスする際に、駆動増
幅器10cを通しスライダ12を用いて半径方向に光ヘッド
を移動させるが、そのためにコロ13が用いられている。
駆動増幅器10a、10bは帯域幅数10kHzで微細なトラッキ
ング制御のためのものであり、駆動増幅器10cの帯域幅
は数kHzであり、スライダ12により粗いトラッキング制
御を行うようになっている。スイッチ14は検索用のスラ
イダ信号J1とトラッキング制御信号Ｔとを切換え、スイ
ッチ15はトラックジャンプ信号J2とトラッキング制御信
号Ｔとを切換えるようになっている。
光ディスク上の特定の場所を検索するため、光ヘッド
を大きく移動させて希望の場所にアクセスする場合に
は、スイッチ14をJ1側に接続してトラッキング制御系を
切り離す。スライダ信号J1によりスライドすべき方向に
スライダ12を一定時間加速し、続いて減速する動作を行
わせる。ついで、スイッチ15をトラックジャンプ信号J2
側に接続し、パルス電流を加えて光スポットを１トラッ
クジャンプさせる。トラックに記録されているアドレス
信号をチェックし、目的のトラックに到達するのに必要
なトラックジャンプの回数を確認した後に、前記と同様
のジャンプを必要な回数繰り返す。所望のトラックに到
達した後は、スイッチ14とスイッチ15は共に差動増幅器
５の側に切換え接続されて、以後はトラッキング誤差信
号Ｔによる通常のトラッキング制御が行われる。
を大きく移動させて希望の場所にアクセスする場合に
は、スイッチ14をJ1側に接続してトラッキング制御系を
切り離す。スライダ信号J1によりスライドすべき方向に
スライダ12を一定時間加速し、続いて減速する動作を行
わせる。ついで、スイッチ15をトラックジャンプ信号J2
側に接続し、パルス電流を加えて光スポットを１トラッ
クジャンプさせる。トラックに記録されているアドレス
信号をチェックし、目的のトラックに到達するのに必要
なトラックジャンプの回数を確認した後に、前記と同様
のジャンプを必要な回数繰り返す。所望のトラックに到
達した後は、スイッチ14とスイッチ15は共に差動増幅器
５の側に切換え接続されて、以後はトラッキング誤差信
号Ｔによる通常のトラッキング制御が行われる。
記録・再生時のデータ転送速度を高めるために、１個
の光ヘッドからの複数の光ビームを用いて複数のトラッ
クに記録し、またこれを再生するマルチビーム光ディス
ク装置においても、ほぼ同様の方法により焦点ずれ信号
Ｆ及びトラッキング誤差信号Ｔを検出することができ
る。
の光ヘッドからの複数の光ビームを用いて複数のトラッ
クに記録し、またこれを再生するマルチビーム光ディス
ク装置においても、ほぼ同様の方法により焦点ずれ信号
Ｆ及びトラッキング誤差信号Ｔを検出することができ
る。
マルチビーム光ディスク装置において、トラッキング
アクセス時に正確にトラックジャンプを行うには、それ
ぞれのビームスポット毎にトラッキング誤差信号を得る
必要があるが、例えば第13図（ａ）、（ｂ）に示すよう
なマルチビームのプッシュプル方式によるトラッキング
誤差検出回路を使用してもよい。第13図（ａ）に示すも
のは、第８図に示す２分割フォトダイオード４を４ビー
ム装置に対して使用するようにしたものであり、第13図
（ｂ）に示すものは２分割フォトダイオード４を複数組
用いており、（ａ）と機能的にほぼ同等と考えられる。
なお、16は加算器である。
アクセス時に正確にトラックジャンプを行うには、それ
ぞれのビームスポット毎にトラッキング誤差信号を得る
必要があるが、例えば第13図（ａ）、（ｂ）に示すよう
なマルチビームのプッシュプル方式によるトラッキング
誤差検出回路を使用してもよい。第13図（ａ）に示すも
のは、第８図に示す２分割フォトダイオード４を４ビー
ム装置に対して使用するようにしたものであり、第13図
（ｂ）に示すものは２分割フォトダイオード４を複数組
用いており、（ａ）と機能的にほぼ同等と考えられる。
なお、16は加算器である。
［発明が解決しようとする課題］ しかし、プッシュプル方式は光ディスク１の溝２によ
る一次干渉光のトラック方向の強度差を検出する方法で
あるために、対物レンズ３が光軸中心からトラッキング
方向にずれた場合にも、また光ディスク面の傾きによっ
てもトラッキング誤差信号と同様な信号が検出される。
従って、本来のトラッキング誤差信号の零点がずれて、
トラッキングオフセットが発生する欠点がある。しか
も、トラッキング誤差信号は特定の１本のビームスポッ
トからのみしか得られないのに対して、トラッキングオ
フセット信号はビームスポットがｎ本の場合は１本の場
合のｎ倍の値となり、この両者が混在した信号が実際に
は検出されるので、純粋なトラッキング誤差信号のみを
取り出すことに支障がある。
る一次干渉光のトラック方向の強度差を検出する方法で
あるために、対物レンズ３が光軸中心からトラッキング
方向にずれた場合にも、また光ディスク面の傾きによっ
てもトラッキング誤差信号と同様な信号が検出される。
従って、本来のトラッキング誤差信号の零点がずれて、
トラッキングオフセットが発生する欠点がある。しか
も、トラッキング誤差信号は特定の１本のビームスポッ
トからのみしか得られないのに対して、トラッキングオ
フセット信号はビームスポットがｎ本の場合は１本の場
合のｎ倍の値となり、この両者が混在した信号が実際に
は検出されるので、純粋なトラッキング誤差信号のみを
取り出すことに支障がある。
本発明の目的は、光ヘッドからの複数の光ビームスポ
ットにより複数の記録トラックに同時に並列に記録又は
再生する光ディスク装置のトラッキング誤差検出部を提
供することにある。
ットにより複数の記録トラックに同時に並列に記録又は
再生する光ディスク装置のトラッキング誤差検出部を提
供することにある。
［課題を解決するための手段］ 上記の目的を達成するために、本発明に係る光ディス
ク装置のトラッキング誤差検出部においては、光ヘッド
から出射される複数の光ビームを光ディスク上の記録ト
ラックの溝に照射してその反射光又は透過光によりトラ
ッキング信号を得るトラッキング誤差検出部において、
光軸中心に最も近い１本の特定の光ビームを前記溝に照
射してトラッキング誤差信号を得る第１のトラッキング
誤差検出手段と、複数の光ビームを順次に前記溝に照射
してトラッキング誤差信号を得る第２のトラッキング誤
差検出手段とを設け、これらの第１、第２の誤差検出手
段をスイッチにより切換えて使用することを特徴とする
ものである。
ク装置のトラッキング誤差検出部においては、光ヘッド
から出射される複数の光ビームを光ディスク上の記録ト
ラックの溝に照射してその反射光又は透過光によりトラ
ッキング信号を得るトラッキング誤差検出部において、
光軸中心に最も近い１本の特定の光ビームを前記溝に照
射してトラッキング誤差信号を得る第１のトラッキング
誤差検出手段と、複数の光ビームを順次に前記溝に照射
してトラッキング誤差信号を得る第２のトラッキング誤
差検出手段とを設け、これらの第１、第２の誤差検出手
段をスイッチにより切換えて使用することを特徴とする
ものである。
［作用］ 上述の構成を有する本発明は、複数本の光ビームを特
定の１本のビームによる場合と複数本の光ビームによる
場合に分けてトラッキング誤差信号を得ることができる
ので、この２つの検出手段をスイッチにより使い分け
る。
定の１本のビームによる場合と複数本の光ビームによる
場合に分けてトラッキング誤差信号を得ることができる
ので、この２つの検出手段をスイッチにより使い分け
る。
［実施例］ 本発明を第１図〜第６図に図示の実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は以下に示す実施例についての共通的な説明図
である。光ディスク21は透明基板21a、記録媒体21b、保
護層21cが積層されて構成され、透明基板21a上に溝21d
が刻設され、その上層に記録媒体21b、保護層21cが設け
られている。また、記録媒体21b上の溝21d以外の部分は
ランド21eとされ、21fは記録トラックの中心線を示して
いる。更に、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは光ビームスポットであ
り、これらのビームスポットＡ〜Ｄは光ディスク21の下
方から照射される。光ディスク21に同時に記録・再生す
る４本のトラックのうちの１本のみは溝21dと一致さ
せ、つまり光ヘッドからの４本のビームスポットＡ〜Ｄ
のうちの光軸の中心に最も近いビームスポットＢを溝21
dに照射する。即ち、焦点ずれを検出するに当っては、
光学系の歪みの影響を受け易いので、その歪みの影響が
全ビーム中で最小となるように光軸中心に最も近いビー
ムスポットＢを検出に使用する。
である。光ディスク21は透明基板21a、記録媒体21b、保
護層21cが積層されて構成され、透明基板21a上に溝21d
が刻設され、その上層に記録媒体21b、保護層21cが設け
られている。また、記録媒体21b上の溝21d以外の部分は
ランド21eとされ、21fは記録トラックの中心線を示して
いる。更に、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは光ビームスポットであ
り、これらのビームスポットＡ〜Ｄは光ディスク21の下
方から照射される。光ディスク21に同時に記録・再生す
る４本のトラックのうちの１本のみは溝21dと一致さ
せ、つまり光ヘッドからの４本のビームスポットＡ〜Ｄ
のうちの光軸の中心に最も近いビームスポットＢを溝21
dに照射する。即ち、焦点ずれを検出するに当っては、
光学系の歪みの影響を受け易いので、その歪みの影響が
全ビーム中で最小となるように光軸中心に最も近いビー
ムスポットＢを検出に使用する。
実施例１ フォーカシング誤差とトラッキング誤差検出用のビー
ムスポットＢをピンホールにより、ビームスポットＡ、
Ｃ、Ｄから分離するように構成した光ディスク装置を第
２図に示す。第２図（ａ）は光学的な構成図を示し、４
ビームのレーザーアレ22と光ディスク21との間に、レー
ザーアレイ22側からコリメータレンズ23、ハーフミラー
24、対物レンズ25が順次に配置されている。ハーフミラ
ー24の光ディスク21からの反射光の反射方向には、ハー
フミラー26、コンデンサレンズ27、ピンホール板28、コ
ンデンサレンズ29、30、シリンドリカルレンズ31、４分
割フォトダイオード32が順次に配列されている。また、
ハーフミラー26の反射方向には、コンデンサレンズ33、
２分割フォトダイオード34が設けられている。
ムスポットＢをピンホールにより、ビームスポットＡ、
Ｃ、Ｄから分離するように構成した光ディスク装置を第
２図に示す。第２図（ａ）は光学的な構成図を示し、４
ビームのレーザーアレ22と光ディスク21との間に、レー
ザーアレイ22側からコリメータレンズ23、ハーフミラー
24、対物レンズ25が順次に配置されている。ハーフミラ
ー24の光ディスク21からの反射光の反射方向には、ハー
フミラー26、コンデンサレンズ27、ピンホール板28、コ
ンデンサレンズ29、30、シリンドリカルレンズ31、４分
割フォトダイオード32が順次に配列されている。また、
ハーフミラー26の反射方向には、コンデンサレンズ33、
２分割フォトダイオード34が設けられている。
第２図（ｂ）は電気的な構成図を示し、４分割フォト
ダイオード32は４個の素子32a、32b、32c、32dに分割さ
れ、それぞれの出力は加算器35a、35b、35c、35dに接続
され、更に加算器35a〜35dの出力は差動増幅器36a、36b
に接続され、差動増幅器36aの出力は焦点ずれ信号Ｆと
なり、差動増幅器36bの出力はトラッキング誤差信号T1
としてスイッチ37に接続されている。一方、２分割フォ
トダイオード34は２個の素子34a、34bに分割され、これ
らの出力は差動増幅器36cに接続され、差動増幅器36cの
出力はスイッチ37に接続され、このスイッチ37により差
動増幅器36bの出力と択一的に選択されるようになって
いる。
ダイオード32は４個の素子32a、32b、32c、32dに分割さ
れ、それぞれの出力は加算器35a、35b、35c、35dに接続
され、更に加算器35a〜35dの出力は差動増幅器36a、36b
に接続され、差動増幅器36aの出力は焦点ずれ信号Ｆと
なり、差動増幅器36bの出力はトラッキング誤差信号T1
としてスイッチ37に接続されている。一方、２分割フォ
トダイオード34は２個の素子34a、34bに分割され、これ
らの出力は差動増幅器36cに接続され、差動増幅器36cの
出力はスイッチ37に接続され、このスイッチ37により差
動増幅器36bの出力と択一的に選択されるようになって
いる。
光ディスク21から反射されてきた４個のビームスポッ
トＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、ハーフミラー24で反射され、更に
ハーフミラー26、コンデンサレンズ27を通過して集光さ
れるが、ピンホール板28のために第２図（ｃ）に示すよ
うにビームスポットＡ、Ｃ、Ｄは遮断されて、ビームス
ポットＢのみがピンホール板28を通過し、コンデンサレ
ンズ29、30、シリンドリカルレンズ31を通って、４分割
フォトダイオード32を照射する。４分割フォトダイオー
ド32は第９図〜第11図での説明と同様の動作を行い、加
算器35a、35bの出力の差を差動増幅器36aで求めること
により、焦点ずれ信号Ｆを得ることができる。また、加
算器35c、35dの出力の差を差動増幅器36bで求めること
により、第７図、第８図で説明した場合と同様のトラッ
キング誤差信号T1を得ることができる。
トＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、ハーフミラー24で反射され、更に
ハーフミラー26、コンデンサレンズ27を通過して集光さ
れるが、ピンホール板28のために第２図（ｃ）に示すよ
うにビームスポットＡ、Ｃ、Ｄは遮断されて、ビームス
ポットＢのみがピンホール板28を通過し、コンデンサレ
ンズ29、30、シリンドリカルレンズ31を通って、４分割
フォトダイオード32を照射する。４分割フォトダイオー
ド32は第９図〜第11図での説明と同様の動作を行い、加
算器35a、35bの出力の差を差動増幅器36aで求めること
により、焦点ずれ信号Ｆを得ることができる。また、加
算器35c、35dの出力の差を差動増幅器36bで求めること
により、第７図、第８図で説明した場合と同様のトラッ
キング誤差信号T1を得ることができる。
一方、光ディスク21からの反射光の一部は、ハーフミ
ラー24、26で反射してコンデンサレンズ33を通り、２分
割フォトダイオード34を照射する。この２分割フォトダ
イオード34は第13図（ａ）で説明したようなマルチビー
ムのプッシュプル方式のトラッキング誤差検出器として
動作するので、第13図の説明の際に述べた通り、差動増
幅器36cから得られるトラッキング誤差信号T2は光ディ
スク21の傾きなどによる影響を受けて零点がずれるため
に、正しい値が得られない欠点がある。しかし、ラック
ジャンプ時やアクセス時には、それぞれのトラックごと
にトラッキング誤差信号を得る必要がある。これは４本
のトラックをまとめてジャンプしてゆくことは実際上は
不可能であるからである。このため、ビームスポット
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを順次に溝21dに照射し、ビームスポッ
トＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄごとのトラッキング誤差信号を２分割
フォトダイオード34で得るように、スイッチ37を先ず差
動増幅器36c側に接続して、目的のトラックでビームス
ポットＢがトラッキング誤差がないように正しくトレー
スした後に、スイッチ37を差動増幅器36b側に切換え
て、記録・再生・消去の諸動作を行う。
ラー24、26で反射してコンデンサレンズ33を通り、２分
割フォトダイオード34を照射する。この２分割フォトダ
イオード34は第13図（ａ）で説明したようなマルチビー
ムのプッシュプル方式のトラッキング誤差検出器として
動作するので、第13図の説明の際に述べた通り、差動増
幅器36cから得られるトラッキング誤差信号T2は光ディ
スク21の傾きなどによる影響を受けて零点がずれるため
に、正しい値が得られない欠点がある。しかし、ラック
ジャンプ時やアクセス時には、それぞれのトラックごと
にトラッキング誤差信号を得る必要がある。これは４本
のトラックをまとめてジャンプしてゆくことは実際上は
不可能であるからである。このため、ビームスポット
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを順次に溝21dに照射し、ビームスポッ
トＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄごとのトラッキング誤差信号を２分割
フォトダイオード34で得るように、スイッチ37を先ず差
動増幅器36c側に接続して、目的のトラックでビームス
ポットＢがトラッキング誤差がないように正しくトレー
スした後に、スイッチ37を差動増幅器36b側に切換え
て、記録・再生・消去の諸動作を行う。
第２図（ｄ）はスイッチ37を差動増幅器36c側に接続
して、トラックジャンプやアクセスを行ったときのトラ
ッキング誤差信号T2である。反射ビームスポットＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄとなる光ビームが順次に溝21dを照射するこ
とにより、ビームスポットＡ〜Ｄごとのトラッキング誤
差信号が得られることが判る。
して、トラックジャンプやアクセスを行ったときのトラ
ッキング誤差信号T2である。反射ビームスポットＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄとなる光ビームが順次に溝21dを照射するこ
とにより、ビームスポットＡ〜Ｄごとのトラッキング誤
差信号が得られることが判る。
これに対して、第２図（ｅ）はスイッチ37を差動増幅
器36b側に接続して、記録・再生・消去などを行ってい
る場合のトラッキング誤差信号T1である。反射ビームス
ポットＢに相当するビームスポットのみが溝21dに照射
されてトラッキング誤差信号を発生していることが判
る。
器36b側に接続して、記録・再生・消去などを行ってい
る場合のトラッキング誤差信号T1である。反射ビームス
ポットＢに相当するビームスポットのみが溝21dに照射
されてトラッキング誤差信号を発生していることが判
る。
実施例２ 第３図は４本のビームスポットＡ〜Ｄのうちのビーム
スポットＢのみをフォーカシング誤差検出とトラッキン
グ誤差検出に用い、他のビームスポットＡ、Ｃ、Ｄを臨
界角プリズム38により排除する例を示している。第３図
（ａ）は第２図（ａ）のコンデンサレンズ27、ピンホー
ル板28、コンデンサレンス29の代りに、２個の臨界角プ
リズム38a、38bを組合わせたものを用いた光学的構成図
であり、第３図（ｂ）は臨界角プリズム38の作用説明図
である。また、電気的な構成は第２図（ｂ）と同一であ
る。臨界角プリズム38a、38bにより光ディスク21からの
反射光ビームスポットＡ〜Ｄのうち、ビームスポットＢ
のみが抽出されて、コンデンサレンズ30、シリンドリカ
ルレンズ31を通して、４分割フォトダイオード32を照射
する。そして、第２図（ｂ）の場合と同様に焦点ずれ信
号Ｆ、２つのトラッキング誤差信号T1、T2が得られる。
スポットＢのみをフォーカシング誤差検出とトラッキン
グ誤差検出に用い、他のビームスポットＡ、Ｃ、Ｄを臨
界角プリズム38により排除する例を示している。第３図
（ａ）は第２図（ａ）のコンデンサレンズ27、ピンホー
ル板28、コンデンサレンス29の代りに、２個の臨界角プ
リズム38a、38bを組合わせたものを用いた光学的構成図
であり、第３図（ｂ）は臨界角プリズム38の作用説明図
である。また、電気的な構成は第２図（ｂ）と同一であ
る。臨界角プリズム38a、38bにより光ディスク21からの
反射光ビームスポットＡ〜Ｄのうち、ビームスポットＢ
のみが抽出されて、コンデンサレンズ30、シリンドリカ
ルレンズ31を通して、４分割フォトダイオード32を照射
する。そして、第２図（ｂ）の場合と同様に焦点ずれ信
号Ｆ、２つのトラッキング誤差信号T1、T2が得られる。
この実施例では、トラッキング用ビームスポットと焦
点調節用ビームスポットは同一であり、またトラッキン
グ誤差信号検出用のフォトダイオードと焦点ずれ信号検
出用のフォトダイオードも共用されている。
点調節用ビームスポットは同一であり、またトラッキン
グ誤差信号検出用のフォトダイオードと焦点ずれ信号検
出用のフォトダイオードも共用されている。
実施例３ 第４図は４本のビームスポットＡ〜Ｄのうちのビーム
スポットＢのみをフォーカシング誤差検出とトラッキン
グ誤差検出に用いており、４分割フォトダイオード32を
ビームスポットＢのみにより照射されるように小形のも
のとしている。第４図（ａ）においては、第２図（ａ）
におけるコンデンサレンズ27、ピンホール板28、コンデ
ンサレンズ29を取り除き、４分割ダイオード32の各素子
32a〜32dを第４図（ｂ）に示すようにビームスポットＡ
〜Ｄに対してより小型としている。
スポットＢのみをフォーカシング誤差検出とトラッキン
グ誤差検出に用いており、４分割フォトダイオード32を
ビームスポットＢのみにより照射されるように小形のも
のとしている。第４図（ａ）においては、第２図（ａ）
におけるコンデンサレンズ27、ピンホール板28、コンデ
ンサレンズ29を取り除き、４分割ダイオード32の各素子
32a〜32dを第４図（ｂ）に示すようにビームスポットＡ
〜Ｄに対してより小型としている。
この実施例では、トラッキング用ビームスポットＢと
焦点ずれ検出用のビームスポットＢは同一であり、トラ
ッキング誤差信号検出用のフォトダイオードと、焦点ず
れ信号検出用のフォトダイオードも共用されている。
焦点ずれ検出用のビームスポットＢは同一であり、トラ
ッキング誤差信号検出用のフォトダイオードと、焦点ず
れ信号検出用のフォトダイオードも共用されている。
実施例４ 第５図は４本のビームスポットＡ〜Ｄのうちのビーム
スポットＣのみをフォーカシング誤差検出に用い、光デ
ィスク21から反射して４分割フォトダイオード32に至る
途中でビームスポットを２つに分岐し、一方は第１の２
分割フォトダイオード34を照射し、他方は第２の２分割
フォトダイオード41を照射するようにした実施例であ
る。第５図（ａ）は第４図（ａ）のハーフミラー26とコ
ンデンサレンズ30との間に、更にハーフミラー39が配置
され、その反射方向にコンデンサレンズ40、２分割フォ
トダイオード41が配置されている。
スポットＣのみをフォーカシング誤差検出に用い、光デ
ィスク21から反射して４分割フォトダイオード32に至る
途中でビームスポットを２つに分岐し、一方は第１の２
分割フォトダイオード34を照射し、他方は第２の２分割
フォトダイオード41を照射するようにした実施例であ
る。第５図（ａ）は第４図（ａ）のハーフミラー26とコ
ンデンサレンズ30との間に、更にハーフミラー39が配置
され、その反射方向にコンデンサレンズ40、２分割フォ
トダイオード41が配置されている。
第５図（ｂ）に示す電気的な構成図においては、４分
割フォトダイオード32からは、加算器35a、35b、差動増
幅器36aを使用して、第10図で説明した場合と同様な焦
点ずれ信号Ｆが得られるようになっている。２分割フォ
トダイオード41を構成する素子41a、41bの出力は差動増
幅器36dに接続され、その出力は第８図で説明したと同
様なトラッキング誤差信号T1として、２分割フォトダイ
オード34による差動増幅器36cから得られるトラッキン
グ誤差信号T2とスイッチ37により択一的に選択されるよ
うになっている。
割フォトダイオード32からは、加算器35a、35b、差動増
幅器36aを使用して、第10図で説明した場合と同様な焦
点ずれ信号Ｆが得られるようになっている。２分割フォ
トダイオード41を構成する素子41a、41bの出力は差動増
幅器36dに接続され、その出力は第８図で説明したと同
様なトラッキング誤差信号T1として、２分割フォトダイ
オード34による差動増幅器36cから得られるトラッキン
グ誤差信号T2とスイッチ37により択一的に選択されるよ
うになっている。
第２図の実施例１、第３図の実施例２、第４図の実施
例３の場合には、トラッキング誤差検出と焦点ずれ検出
を同一のビームスポット及び同一のフォトダイオードを
共用しているため、相互に影響を与えて誤差検出信号の
精度が若干低下する。しかし、第５図に示す実施例４の
場合には、ビームスポットＢに対するトラッキング誤差
検出用の２分割フォトダイオード41とビームスポットＣ
に対する焦点ずれ検出用フォトダイオード32とはぞれぞ
れ別個のビームスポットであり、また別個のフォトダイ
オードであるので、相互に影響することがなく正確なト
ラッキングと焦点調節を行うことができる。
例３の場合には、トラッキング誤差検出と焦点ずれ検出
を同一のビームスポット及び同一のフォトダイオードを
共用しているため、相互に影響を与えて誤差検出信号の
精度が若干低下する。しかし、第５図に示す実施例４の
場合には、ビームスポットＢに対するトラッキング誤差
検出用の２分割フォトダイオード41とビームスポットＣ
に対する焦点ずれ検出用フォトダイオード32とはぞれぞ
れ別個のビームスポットであり、また別個のフォトダイ
オードであるので、相互に影響することがなく正確なト
ラッキングと焦点調節を行うことができる。
トラックジャンプ時やアクセス時にはスイッチ37を先
ず差動増幅器36c側に接続して、目的のトラックにトラ
ッキングを行った後に、スイッチ37を差動増幅器36d側
に切換えて、記録・再生・消去を行うことは実施例１の
場合と同様である。
ず差動増幅器36c側に接続して、目的のトラックにトラ
ッキングを行った後に、スイッチ37を差動増幅器36d側
に切換えて、記録・再生・消去を行うことは実施例１の
場合と同様である。
実施例５ 第６図は４本のビームスポットＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄのうち
のビームスポットＢをトラッキング誤差検出に使用し、
ビームスポットＣを焦点ずれ検出に使用し、ビームスポ
ットＢに対応する光ディスク21上の記録トラックを溝と
した実施例である。光学的な構成は第６図（ａ）に示す
ように、ほぼ第４図に示した実施例と同様であるが、ハ
ーフミラー26、コンデンサレンズ30、シリンドリカルレ
ンス31を通過する光束は、４分割フォトダイオード32と
２分割フォトダイオード42に入射するようにされてい
る。なお、これらのフォトダイオード32、42は一体化さ
れ、第６図（ｂ）に示すように光ビームスポットＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄの配列と平行に配置されている。４分割フォ
トダイオード32及び２分割フォトダイオード42は何れも
ビームスポットＢ又はビームスポットＣのみが照射する
ように、比較的小型のフォトダイオードが使用されてい
る。
のビームスポットＢをトラッキング誤差検出に使用し、
ビームスポットＣを焦点ずれ検出に使用し、ビームスポ
ットＢに対応する光ディスク21上の記録トラックを溝と
した実施例である。光学的な構成は第６図（ａ）に示す
ように、ほぼ第４図に示した実施例と同様であるが、ハ
ーフミラー26、コンデンサレンズ30、シリンドリカルレ
ンス31を通過する光束は、４分割フォトダイオード32と
２分割フォトダイオード42に入射するようにされてい
る。なお、これらのフォトダイオード32、42は一体化さ
れ、第６図（ｂ）に示すように光ビームスポットＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄの配列と平行に配置されている。４分割フォ
トダイオード32及び２分割フォトダイオード42は何れも
ビームスポットＢ又はビームスポットＣのみが照射する
ように、比較的小型のフォトダイオードが使用されてい
る。
４分割フォトダイオード32からは先の幾つかの実施例
で説明したように、加算器35a、35b、差動増幅器36aを
経て焦点ずれ信号Ｆが得られる。また、２分割フォトダ
イオード42の２つの素子42a、42bの出力は差動増幅器36
eに接続され、その出力はトラッキング誤差信号T1とさ
れ、２分割フォトダイオード34の出力は差動増幅器36c
に接続され、その出力から第２図で説明したと同様なト
ラッキング誤差信号T2を得て、差動増幅器36eから得ら
れるトラッキング誤差信号T1とスイッチ37により択一的
に選択されるようになっている。
で説明したように、加算器35a、35b、差動増幅器36aを
経て焦点ずれ信号Ｆが得られる。また、２分割フォトダ
イオード42の２つの素子42a、42bの出力は差動増幅器36
eに接続され、その出力はトラッキング誤差信号T1とさ
れ、２分割フォトダイオード34の出力は差動増幅器36c
に接続され、その出力から第２図で説明したと同様なト
ラッキング誤差信号T2を得て、差動増幅器36eから得ら
れるトラッキング誤差信号T1とスイッチ37により択一的
に選択されるようになっている。
第６図に示す実施例５の場合は、焦点ずれ検出用の４
分割フォトダイオード32とトラッキング誤差検出用の分
割フォトダイオード42とは一体化されているが、電気的
には別個のものであるので相互に影響することがない。
従って、正確なトラッキングと焦点調節を行うことがで
きる。
分割フォトダイオード32とトラッキング誤差検出用の分
割フォトダイオード42とは一体化されているが、電気的
には別個のものであるので相互に影響することがない。
従って、正確なトラッキングと焦点調節を行うことがで
きる。
トラックジャンプ時やアクセス時にはスイッチ37を先
ず差動増幅器36c側に接続して、目的のトラックにジャ
ンプを行った後にスイッチ37を差動増幅器36e側に切換
えて記録・再生・消去を行うことは、第２図の実施例１
の場合と同様である。
ず差動増幅器36c側に接続して、目的のトラックにジャ
ンプを行った後にスイッチ37を差動増幅器36e側に切換
えて記録・再生・消去を行うことは、第２図の実施例１
の場合と同様である。
このように実施例１〜３では、レーザーダイオードか
らの複数の光ビームのうち、焦点ずれ信号及びトラッキ
ング誤差信号を検出するためのビームスポットを、他の
ビームスポットから分離して共用の１本のビームスポッ
トとするために、ピンホールを使用したり、臨界角プリ
ズムを使用したり、或いは４分割ダイオードの面積を小
さくして、他のビームスポットの影響を受けないように
している。
らの複数の光ビームのうち、焦点ずれ信号及びトラッキ
ング誤差信号を検出するためのビームスポットを、他の
ビームスポットから分離して共用の１本のビームスポッ
トとするために、ピンホールを使用したり、臨界角プリ
ズムを使用したり、或いは４分割ダイオードの面積を小
さくして、他のビームスポットの影響を受けないように
している。
実施例１〜３のように、光ヘッドからの複数のビーム
スポットのうち、光軸中心又は光軸中心に最も近い１本
のビームスポットに対応する光ディスク21上の記録トラ
ックを溝とし、特定の１本のビームスポットによる溝か
らの反射光又は透過光により焦点ずれ信号Ｆ及びトラッ
キング誤差信号Ｔを検出するようにすると、トラッキン
グオフセットの影響が1/nに減少し、より正確なトラッ
キングが可能となる。また、焦点ずれ検出用のフォトダ
イオードとトラッキング誤差検出用のフォトダイオード
を共用すれば、部品点数の減少と低廉化に役立つ。
スポットのうち、光軸中心又は光軸中心に最も近い１本
のビームスポットに対応する光ディスク21上の記録トラ
ックを溝とし、特定の１本のビームスポットによる溝か
らの反射光又は透過光により焦点ずれ信号Ｆ及びトラッ
キング誤差信号Ｔを検出するようにすると、トラッキン
グオフセットの影響が1/nに減少し、より正確なトラッ
キングが可能となる。また、焦点ずれ検出用のフォトダ
イオードとトラッキング誤差検出用のフォトダイオード
を共用すれば、部品点数の減少と低廉化に役立つ。
しかし、焦点ずれ検出用のフォトダイオードとトラッ
キング誤差検出用のフォトダイオードを兼用すると、両
者が相互に影響を与えて誤差検出信号の精度が若干低下
するので、実施例４では両者を別個のものとして、正確
なトラッキングと焦点調節を行えるようにしている。
キング誤差検出用のフォトダイオードを兼用すると、両
者が相互に影響を与えて誤差検出信号の精度が若干低下
するので、実施例４では両者を別個のものとして、正確
なトラッキングと焦点調節を行えるようにしている。
実施例５のように、光ヘッドからの複数本のビームス
ポットのうち、光軸中心又は光軸中心に最も近い２本の
ビームスポットのうちの一方をトラッキング誤差検出用
に使用し、他方のビームスポットを焦点ずれ検出に使用
し、トラッキング誤差検出用ビームスポットに対応する
光ディスク上の記録トラックを溝とし、焦点ずれ検出用
フォトダイオードとトラッキング誤差検出用フォトダイ
オードとは一体化しても、これらを別個のダイオードと
すれば、相互に影響することがなく、正確なトラッキン
グと焦点調節を行うことができる。
ポットのうち、光軸中心又は光軸中心に最も近い２本の
ビームスポットのうちの一方をトラッキング誤差検出用
に使用し、他方のビームスポットを焦点ずれ検出に使用
し、トラッキング誤差検出用ビームスポットに対応する
光ディスク上の記録トラックを溝とし、焦点ずれ検出用
フォトダイオードとトラッキング誤差検出用フォトダイ
オードとは一体化しても、これらを別個のダイオードと
すれば、相互に影響することがなく、正確なトラッキン
グと焦点調節を行うことができる。
更に、本発明によるトラッキング誤差検出信号と、ｎ
本のビームを一括して２分割ダイオードを照射する従来
のプッシュプル法によるトラッキング誤差検出信号を切
換えて使用することにより、トラックジャンプ時やアク
セス時におけるトラッキングの失敗を減少させることが
できる。
本のビームを一括して２分割ダイオードを照射する従来
のプッシュプル法によるトラッキング誤差検出信号を切
換えて使用することにより、トラックジャンプ時やアク
セス時におけるトラッキングの失敗を減少させることが
できる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係るマルチビーム光ディ
スク装置のトラッキング誤差検出部は、ｎ本の光ビーム
を使用し、特定の１本の光ビームによる場合と、複数本
の光ビームによる場合に分けてトラッキング誤差信号を
得て、これらの信号を使い分けることにより、トラッキ
ングの失敗を減少させることができる。
スク装置のトラッキング誤差検出部は、ｎ本の光ビーム
を使用し、特定の１本の光ビームによる場合と、複数本
の光ビームによる場合に分けてトラッキング誤差信号を
得て、これらの信号を使い分けることにより、トラッキ
ングの失敗を減少させることができる。
図面第１図〜第６図は本発明に係るマルチビーム光ディ
スク装置のトラッキング誤差検出部の実施例を示し、第
１図は光ディスクの斜視断面図、第２図（ａ）は実施例
１の光学的構成図、（ｂ）は電気的構成図、（ｃ）はピ
ンホールの作用説明図、（ｄ）、（ｅ）はトラッキング
信号の波形図、第３図（ａ）は実施例２の光学的構成
図、第３図（ｂ）は臨界角プリズムの作用説明図、第４
図（ａ）は実施例３の光学的構成図、（ｂ）は電気的構
成図、第５図（ａ）は実施例４の光学的構成図、（ｂ）
は電気的構成図、第６図（ａ）は実施例５の光学的構成
図、（ｂ）は電気的構成図であり、第７図、第８図はプ
ッシュプル方式によるトラッキング制御の説明図、第９
図、第10図、第11図は４分割フォトダイオードによるフ
ォーカシング制御の説明図、第12図はフォーカシング制
御とトラッキング制御を組合わせた構成図、第13図
（ａ）、（ｂ）はマルチビームのプッシュプル方式トラ
ッキング誤差検出回路の構成図である。 符号21は光ディスク、21bは記録媒体、21dは溝、22はレ
ーザーアレイ、28はピンホール板、32は４分割フォトダ
イオード、34、41、42は２分割フォトダイオード、35は
加算器、36は差動増幅器、37はスイッチ、38は臨界角プ
リズムである。
スク装置のトラッキング誤差検出部の実施例を示し、第
１図は光ディスクの斜視断面図、第２図（ａ）は実施例
１の光学的構成図、（ｂ）は電気的構成図、（ｃ）はピ
ンホールの作用説明図、（ｄ）、（ｅ）はトラッキング
信号の波形図、第３図（ａ）は実施例２の光学的構成
図、第３図（ｂ）は臨界角プリズムの作用説明図、第４
図（ａ）は実施例３の光学的構成図、（ｂ）は電気的構
成図、第５図（ａ）は実施例４の光学的構成図、（ｂ）
は電気的構成図、第６図（ａ）は実施例５の光学的構成
図、（ｂ）は電気的構成図であり、第７図、第８図はプ
ッシュプル方式によるトラッキング制御の説明図、第９
図、第10図、第11図は４分割フォトダイオードによるフ
ォーカシング制御の説明図、第12図はフォーカシング制
御とトラッキング制御を組合わせた構成図、第13図
（ａ）、（ｂ）はマルチビームのプッシュプル方式トラ
ッキング誤差検出回路の構成図である。 符号21は光ディスク、21bは記録媒体、21dは溝、22はレ
ーザーアレイ、28はピンホール板、32は４分割フォトダ
イオード、34、41、42は２分割フォトダイオード、35は
加算器、36は差動増幅器、37はスイッチ、38は臨界角プ
リズムである。
Claims (5)
- 【請求項１】光ヘッドから出射される複数の光ビームを
光ディスク上の記録トラックの溝に照射してその反射光
又は透過光によりトラッキング信号を得るトラッキング
誤差検出部において、光軸中心に最も近い１本の特定の
光ビームを前記溝に照射してトラッキング誤差信号を得
る第１のトラッキング誤差検出手段と、複数の光ビーム
を順次に前記溝に照射してトラッキング誤差信号を得る
第２のトラッキング誤差検出手段とを設け、これらの第
１、第２の誤差検出手段をスイッチにより切換えて使用
することを特徴とするマルチビーム光ディスク装置のト
ラッキング誤差検出部。 - 【請求項２】前記第１のトラッキング誤差検出手段と共
用又は別個に光軸中心に近い光ビームによる焦点ずれ検
出手段を設け、該光ビームによる前記溝からの反射光又
は透過光により焦点ずれ信号を得るようにした請求項１
に記載のマルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤
差検出部。 - 【請求項３】前記トラッキング誤差信号はピンホールを
使用して抽出するようにした請求項１に記載のマルチビ
ーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部。 - 【請求項４】前記トラッキング誤差信号は臨界角プリズ
ムを使用して抽出するようにした請求項１に記載のマル
チビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部。 - 【請求項５】前記第１のトラッキング誤差検出手段は、
トラッキング誤差検出用フォトダイオードの面積を小面
積とし、特定の光ビーム以外の光ビームの影響を受けな
いようにして抽出するようにした請求項１に記載のマル
チビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1125504A JP2651454B2 (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | マルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部 |
| PCT/JP1990/000624 WO1990014665A1 (en) | 1989-05-18 | 1990-05-17 | Tracking error detection unit of multi-beam optical disk apparatus |
| DE19904090851 DE4090851T1 (de) | 1989-05-18 | 1990-05-17 | Spurfehler-detektorvorrichtung zur verwendung in mehrstrahl-geraet fuer optische platten |
| US07/640,353 US5210730A (en) | 1989-05-18 | 1990-05-17 | Tracking error detecting apparatus for use in multibeam optical disk device |
| GB9101211A GB2245405B (en) | 1989-05-18 | 1991-01-17 | Tracking error detecting apparatus for use in multi-beam optical disk device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1125504A JP2651454B2 (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | マルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02304722A JPH02304722A (ja) | 1990-12-18 |
| JP2651454B2 true JP2651454B2 (ja) | 1997-09-10 |
Family
ID=14911758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1125504A Expired - Fee Related JP2651454B2 (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | マルチビーム光ディスク装置のトラッキング誤差検出部 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5210730A (ja) |
| JP (1) | JP2651454B2 (ja) |
| GB (1) | GB2245405B (ja) |
| WO (1) | WO1990014665A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2935908B2 (ja) * | 1991-01-30 | 1999-08-16 | パイオニア株式会社 | 光スポット位置検出装置 |
| JPH0696468A (ja) * | 1992-09-14 | 1994-04-08 | Canon Inc | 光記録再生装置及び半導体レーザアレイ |
| JPH06195728A (ja) * | 1992-12-24 | 1994-07-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学ヘッド |
| US5526182A (en) * | 1993-02-17 | 1996-06-11 | Vixel Corporation | Multiple beam optical memory system |
| DE19536396A1 (de) * | 1995-09-29 | 1997-04-03 | Thomson Brandt Gmbh | Wiedergabe- und/oder Aufzeichnungsgerät für optische Aufzeichnungsträger unterschiedlicher Speicherdichte |
| US5815482A (en) * | 1996-01-22 | 1998-09-29 | T Squared G, Inc. | Multibyte random access mass storage/memory system |
| US5870227A (en) * | 1997-03-13 | 1999-02-09 | T Squared G Systems, Inc. | Scanning head lens assembly |
| US6252715B1 (en) | 1997-03-13 | 2001-06-26 | T. Squared G, Inc. | Beam pattern contractor and focus element, method and apparatus |
| US6229771B1 (en) | 1998-10-09 | 2001-05-08 | Zen Research (Ireland), Ltd. | Method and apparatus for generating focus error signals in a multi-beam optical disk drive |
| JP2001297459A (ja) | 2000-04-14 | 2001-10-26 | Nec Corp | 光ヘッド装置および光学式情報記録再生装置 |
| JP2003099984A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-04 | Toshiba Corp | 光学的情報記録または再生装置および光学的情報記録媒体 |
| US6940805B2 (en) * | 2001-10-23 | 2005-09-06 | Dragsholm Wireless Holdings Llc | Methods and apparatus for cross-talk and jitter reduction in multi-beam optical disks |
| US7174744B2 (en) * | 2002-08-20 | 2007-02-13 | American Air Liquide, Inc. | Method of improving the biocidal efficacy of dry ice |
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