JP2638778B2 - 光ヘツド装置 - Google Patents
光ヘツド装置Info
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- JP2638778B2 JP2638778B2 JP61060305A JP6030586A JP2638778B2 JP 2638778 B2 JP2638778 B2 JP 2638778B2 JP 61060305 A JP61060305 A JP 61060305A JP 6030586 A JP6030586 A JP 6030586A JP 2638778 B2 JP2638778 B2 JP 2638778B2
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- diffraction grating
- light
- divided
- dividing line
- light source
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、いわゆる光デイスク、デイジタルオーデイ
オデイスクと、ビデオデイスクなどの記録再生に用いる
光ヘツド装置のうち、格子型の光学素子を用いた光ヘツ
ド装置に関する。
オデイスクと、ビデオデイスクなどの記録再生に用いる
光ヘツド装置のうち、格子型の光学素子を用いた光ヘツ
ド装置に関する。
（従来の技術） ビデオデイスク、デイジタルオーデイオデイスク、光
デイスク（以下光デイスクと総称）の従来の光ヘツド
は、第３図に示すように光源である半導体レーザ１と、
半導体レーザ１の放射光をコリメート光にするコリメー
トレンズ23と、収束レンズ24と、ビームスプリッタプリ
ズム21と、焦点誤差検出手段とトラツキング誤差検出手
段とから構成されている。焦点誤差検出手段には種々の
方式があるが、本発明の方式と最も関連の深い方式とし
てウエツジプリズム方式をあげることができる。ウエツ
ジプリズム方式の焦点誤差検出手段は、ウエツジプリズ
ム22と、25及び26から成る２分割光検出器と、27及び28
から成る２分割光検出器とから構成されている。デイス
ク面４に対し、収束ビームが焦点を結んでいる時は、ウ
エツジプリズム22からの光ビーム29及び30は各々光検出
器25及び26の間と、光検出器27及び28の間に収束してい
るが、デイスク面４が焦点からずれたとき、光ビーム29
及び30は互に離れる方向に、又は、互に接近する方向に
デフオーカスするので、光検出器25及び26の差動出力、
又は光検出器27及び28の差動出力をとることで焦点誤差
信号が得られる。トラツキング誤差検出手段にも種々の
方式があるが、本発明の方式と最も関連の深い方式とし
てプツシユプル方式をあげることができる。プツシユプ
ル方式はデイスク反射光をフヤーフイールドで２分割し
て光量の偏りを検出する方式で、光検出器25及び26の出
力の和と、光検出器27及び28の出力の和との差をとるこ
とでトラツキング誤差信号が得られる。第３図に示した
従来技術の光ヘツド装置は、フイリツプス・テクニカル
・レビユー（Philips Technical Review）第40巻（1952
年発行）第６号第151〜156頁に詳しく述べられている。
デイスク（以下光デイスクと総称）の従来の光ヘツド
は、第３図に示すように光源である半導体レーザ１と、
半導体レーザ１の放射光をコリメート光にするコリメー
トレンズ23と、収束レンズ24と、ビームスプリッタプリ
ズム21と、焦点誤差検出手段とトラツキング誤差検出手
段とから構成されている。焦点誤差検出手段には種々の
方式があるが、本発明の方式と最も関連の深い方式とし
てウエツジプリズム方式をあげることができる。ウエツ
ジプリズム方式の焦点誤差検出手段は、ウエツジプリズ
ム22と、25及び26から成る２分割光検出器と、27及び28
から成る２分割光検出器とから構成されている。デイス
ク面４に対し、収束ビームが焦点を結んでいる時は、ウ
エツジプリズム22からの光ビーム29及び30は各々光検出
器25及び26の間と、光検出器27及び28の間に収束してい
るが、デイスク面４が焦点からずれたとき、光ビーム29
及び30は互に離れる方向に、又は、互に接近する方向に
デフオーカスするので、光検出器25及び26の差動出力、
又は光検出器27及び28の差動出力をとることで焦点誤差
信号が得られる。トラツキング誤差検出手段にも種々の
方式があるが、本発明の方式と最も関連の深い方式とし
てプツシユプル方式をあげることができる。プツシユプ
ル方式はデイスク反射光をフヤーフイールドで２分割し
て光量の偏りを検出する方式で、光検出器25及び26の出
力の和と、光検出器27及び28の出力の和との差をとるこ
とでトラツキング誤差信号が得られる。第３図に示した
従来技術の光ヘツド装置は、フイリツプス・テクニカル
・レビユー（Philips Technical Review）第40巻（1952
年発行）第６号第151〜156頁に詳しく述べられている。
（発明が解決しようとする問題点） 光デイスクの記録再生に用いる従来の光ヘツド装置
は、実用化されているものでも大きさが40×40×30mm3
程度であり、従つて重量も重く、光デイスク装置全体の
小型化、軽量化、あるいはスタツク型大容量光デイスク
実現の障害となつている。この原因は１つには光デイス
クからの反射光をハーフプリズムあるいは偏光ビームス
プリツタプリズムにより光軸を90゜曲げて光源から分離
させ、その後方に光検出器を配置するという方法がとら
れているから、光学系の１軸化が難しい点にある。
は、実用化されているものでも大きさが40×40×30mm3
程度であり、従つて重量も重く、光デイスク装置全体の
小型化、軽量化、あるいはスタツク型大容量光デイスク
実現の障害となつている。この原因は１つには光デイス
クからの反射光をハーフプリズムあるいは偏光ビームス
プリツタプリズムにより光軸を90゜曲げて光源から分離
させ、その後方に光検出器を配置するという方法がとら
れているから、光学系の１軸化が難しい点にある。
このような問題点に対して、半導体レーザ光源の発光
部に光を戻した際、自己結合効果によつて発振出力が増
加するいわゆるスクープ（Scoop）効果を利用した小型
光ヘツドが提案されている。
部に光を戻した際、自己結合効果によつて発振出力が増
加するいわゆるスクープ（Scoop）効果を利用した小型
光ヘツドが提案されている。
しかしながら、自己結合効果は、半導体レーザの発振
現象の不安定性から生じるものであり、信号再生時のS/
Nは従来の方式に比べて低下する。
現象の不安定性から生じるものであり、信号再生時のS/
Nは従来の方式に比べて低下する。
さらに第３図のウエツジプリズム22による誤差検出の
問題点として、焦点誤差検出用のビーム分割方向とトラ
ツキング誤差検出用のビーム分割方向とが同一であるか
ら、両者の誤差信号間でのクロストークが大きい点が上
げられる。
問題点として、焦点誤差検出用のビーム分割方向とトラ
ツキング誤差検出用のビーム分割方向とが同一であるか
ら、両者の誤差信号間でのクロストークが大きい点が上
げられる。
光学部品の小型軽量化を目的として回折格子によるホ
ログラムレンズを誤差検出系に用いる方法も提案されて
いるが、光源の波長ゆらぎにより回折角が変化するとい
う本質的な問題があり、ホログラムレンズでは焦点距離
が変化し誤差検出信号にオフセツト等が生じてしまう。
ログラムレンズを誤差検出系に用いる方法も提案されて
いるが、光源の波長ゆらぎにより回折角が変化するとい
う本質的な問題があり、ホログラムレンズでは焦点距離
が変化し誤差検出信号にオフセツト等が生じてしまう。
そこで、本発明の目的は、小型化が容易で、しかも信
号再生時のS/Nに優れ、クロストークが小さく、焦点距
離誤差検出精度に優れた光ヘツド装置を提供することに
ある。
号再生時のS/Nに優れ、クロストークが小さく、焦点距
離誤差検出精度に優れた光ヘツド装置を提供することに
ある。
（問題点を解決するための手段） 前述の問題点を解決するために本発明が提供する光ヘ
ツド装置は、半導体レーザ光源と、この光源の出射光を
記録媒体上に絞りこむレンズ系と、前記光源とレンズ系
との間に設けてあり，前記レンズ系から出射される光ビ
ームを２分割する分割線を境に２つの領域に分けられて
いる回折格子と、この回折格子の＋１次または−１次回
折光のいずれか一方の回折光の収束位置に設けてある第
１の２分割光検出器と、他方の前記回折光のデフオーカ
ス位置に設けてある第２の２分割光検出器とを備え、前
記回折格子の２つの領域ではこれら領域の境の前記分割
線方向において格子の周期が互いに異なり、前記第１の
２分割光検出器の分割線は前記回折格子の前記分割線と
同一の方向であり、前記第２の２分割光検出器の分割線
は前記回折格子の前記分割線と直交する方向であり、前
記第１の２分割光検出器から焦点誤差信号を、前記第２
の２分割光検出器からトラッキング誤差信号をそれぞれ
検出することを特徴とする。
ツド装置は、半導体レーザ光源と、この光源の出射光を
記録媒体上に絞りこむレンズ系と、前記光源とレンズ系
との間に設けてあり，前記レンズ系から出射される光ビ
ームを２分割する分割線を境に２つの領域に分けられて
いる回折格子と、この回折格子の＋１次または−１次回
折光のいずれか一方の回折光の収束位置に設けてある第
１の２分割光検出器と、他方の前記回折光のデフオーカ
ス位置に設けてある第２の２分割光検出器とを備え、前
記回折格子の２つの領域ではこれら領域の境の前記分割
線方向において格子の周期が互いに異なり、前記第１の
２分割光検出器の分割線は前記回折格子の前記分割線と
同一の方向であり、前記第２の２分割光検出器の分割線
は前記回折格子の前記分割線と直交する方向であり、前
記第１の２分割光検出器から焦点誤差信号を、前記第２
の２分割光検出器からトラッキング誤差信号をそれぞれ
検出することを特徴とする。
（作用） 本発明の作用・原理は次の通りである。本発明では、
光学系の１軸化が達成できるように、光デイスク面から
の反射光を光検出器に導くために回折格子を用いる。回
折格子には、高次の回折光を除くと、０次回折光、±１
次回折光の３つの回折光がある。０次回折光は回折格子
を直接に透過した光である。この回折格子を半導体レー
ザ光源と収束レンズ系との間に配置する。半導体レーザ
からデイスク面に行く光に対しては、０次回折光を用い
ると、単に透明板があるのと同じになる。一方デイスク
面からの反射光に対しては、±１次回折光を用いるとハ
ーフプリズムや偏光ビームスプリツタプリズムを用いる
ことなく情報光を光軸外にとり出すことができる。すな
わち、回折格子はビームスプリツタとして作用すること
になる。この結果、小型軽量の光ヘツド装置を構成でき
る。
光学系の１軸化が達成できるように、光デイスク面から
の反射光を光検出器に導くために回折格子を用いる。回
折格子には、高次の回折光を除くと、０次回折光、±１
次回折光の３つの回折光がある。０次回折光は回折格子
を直接に透過した光である。この回折格子を半導体レー
ザ光源と収束レンズ系との間に配置する。半導体レーザ
からデイスク面に行く光に対しては、０次回折光を用い
ると、単に透明板があるのと同じになる。一方デイスク
面からの反射光に対しては、±１次回折光を用いるとハ
ーフプリズムや偏光ビームスプリツタプリズムを用いる
ことなく情報光を光軸外にとり出すことができる。すな
わち、回折格子はビームスプリツタとして作用すること
になる。この結果、小型軽量の光ヘツド装置を構成でき
る。
また回折格子を２分割して互に周期を変えることでウ
エツジプリズムと同等な作用を実現することができる。
さらに＋１次と−１次回折光に対して異なる検出器の配
置を用いることで、ウエツジプリズムにはない効果を実
現することが可能となる。
エツジプリズムと同等な作用を実現することができる。
さらに＋１次と−１次回折光に対して異なる検出器の配
置を用いることで、ウエツジプリズムにはない効果を実
現することが可能となる。
ところで、回折格子を用いるときの問題点として光源
の波長が変化すると回折角も変化するという現象があ
る。収束位置に２分割光検出器を設置して差動出力を得
る場合は、分割線と直交する方向にビームが移動すると
検出信号のオフセツトとなつてしまう。デフオーカス位
置で用いる場合はビーム径に比べて移動量が小さいから
あまり問題とならない。そこで本発明においては、収束
位置で用いる２分割光検出器では回折角の変化によるビ
ームの移動方向と光検出器の分割線の方向とを一致させ
る配置をとることでこの問題を解決した。
の波長が変化すると回折角も変化するという現象があ
る。収束位置に２分割光検出器を設置して差動出力を得
る場合は、分割線と直交する方向にビームが移動すると
検出信号のオフセツトとなつてしまう。デフオーカス位
置で用いる場合はビーム径に比べて移動量が小さいから
あまり問題とならない。そこで本発明においては、収束
位置で用いる２分割光検出器では回折角の変化によるビ
ームの移動方向と光検出器の分割線の方向とを一致させ
る配置をとることでこの問題を解決した。
（実施例） 第１図は本発明の一実施例の基本構成を示す模式的な
断面図である。半導体レーザ１の出射光は回折格子２を
０次回折光として通過し、収束レンズ３によりデイスク
面４に収束される。デイスク面４からの反射光は回折格
子２により回折され、２分割光検出器５〜８に到達す
る。収束レンズは第３図のようにコリメートレンズと集
光レンズから成るレンズ系でもよい。回折格子２を半導
体レーザ１の側から見たときの格子の配置と光検出器５
〜８の配置の関係を第２図に示す。
断面図である。半導体レーザ１の出射光は回折格子２を
０次回折光として通過し、収束レンズ３によりデイスク
面４に収束される。デイスク面４からの反射光は回折格
子２により回折され、２分割光検出器５〜８に到達す
る。収束レンズは第３図のようにコリメートレンズと集
光レンズから成るレンズ系でもよい。回折格子２を半導
体レーザ１の側から見たときの格子の配置と光検出器５
〜８の配置の関係を第２図に示す。
回折格子２は２つの領域９と10に分割され、これらの
両領域においては分割線の方向で格子の周期が互に異な
つている。ここで、第２図右側を＋方向、左側を−方向
する。領域９及び10の＋１次回折光の収束位置にそれぞ
れ２分割光検出器５及び６を受光面の分割線が回折格子
の分割線と同方向となるように設けている。−１次の回
折光についてはそのデフオーカス位置にそれぞれ２分割
光検出器７及び８を、受光面の分割線が回折格子の分割
線と直交方向になるように設けている。
両領域においては分割線の方向で格子の周期が互に異な
つている。ここで、第２図右側を＋方向、左側を−方向
する。領域９及び10の＋１次回折光の収束位置にそれぞ
れ２分割光検出器５及び６を受光面の分割線が回折格子
の分割線と同方向となるように設けている。−１次の回
折光についてはそのデフオーカス位置にそれぞれ２分割
光検出器７及び８を、受光面の分割線が回折格子の分割
線と直交方向になるように設けている。
焦点およびトラツキング誤差信号は次のようにして得
ることができる。＋１次回折光の収束ビームを２分割光
検出器の分割線上に合わせておけば、デイスク面が変動
したときに、ウエツジプリズム方式と同様に、＋１次回
折ビームが分割線と直交方向に移動するから、２分割光
検出器５又は６の差動出力より焦点誤差信号を得ること
ができる。この焦点距離誤差は、光源の波長のゆらぎの
影響を受けないから精度よく検出できる。トラツキング
誤差信号は−１次回折光のフアーフイールド中に設置し
た２分割光検出器7,8によりプツシユプル方式で検出で
きる。７または８あるいは両方の２分割光検出器の差動
出力からトラツキング誤差信号が得られる。またこのと
きの光ビームの分割方向は焦点誤差検出用の分割方向と
直交しているので両誤差信号間のクロストークは十分に
小さくなる。
ることができる。＋１次回折光の収束ビームを２分割光
検出器の分割線上に合わせておけば、デイスク面が変動
したときに、ウエツジプリズム方式と同様に、＋１次回
折ビームが分割線と直交方向に移動するから、２分割光
検出器５又は６の差動出力より焦点誤差信号を得ること
ができる。この焦点距離誤差は、光源の波長のゆらぎの
影響を受けないから精度よく検出できる。トラツキング
誤差信号は−１次回折光のフアーフイールド中に設置し
た２分割光検出器7,8によりプツシユプル方式で検出で
きる。７または８あるいは両方の２分割光検出器の差動
出力からトラツキング誤差信号が得られる。またこのと
きの光ビームの分割方向は焦点誤差検出用の分割方向と
直交しているので両誤差信号間のクロストークは十分に
小さくなる。
本実施例の配置においては、光源の波長シフトによる
＋１次回折光の移動は２分割光検出器５及び６の分割線
方向に発生するので、光検出器の大きさに移動量を見込
んだ余裕を持たせておけば、誤差信号への影響はなくな
る。−１次回折光も同様に波長シフトで移動するが、２
分割光検出器７及び８はビーム径の大きなフアーフイー
ルド中に設けられているので相対的に移動量は小さくな
り、誤差信号の影響はほとんどない。本実施例はスクー
プ効果を利用していないから信号再生時のS/Nに優れて
いる。
＋１次回折光の移動は２分割光検出器５及び６の分割線
方向に発生するので、光検出器の大きさに移動量を見込
んだ余裕を持たせておけば、誤差信号への影響はなくな
る。−１次回折光も同様に波長シフトで移動するが、２
分割光検出器７及び８はビーム径の大きなフアーフイー
ルド中に設けられているので相対的に移動量は小さくな
り、誤差信号の影響はほとんどない。本実施例はスクー
プ効果を利用していないから信号再生時のS/Nに優れて
いる。
なお、上述の光検出器の配置における＋１次と−１次
方向とを入れ替えても本発明は実現できる。
方向とを入れ替えても本発明は実現できる。
（発明の効果） 以上に説明したように、本発明によれば、小型化が容
易で部品数が少なく、しかも信号再生時のS/Nに優れ、
クロストークが小さく、焦点距離誤差検出精度に優れた
光ヘツド装置を提供することができ、光デイスク装置全
体を小型化することができる。
易で部品数が少なく、しかも信号再生時のS/Nに優れ、
クロストークが小さく、焦点距離誤差検出精度に優れた
光ヘツド装置を提供することができ、光デイスク装置全
体を小型化することができる。
第１図は本発明の一実施例の基本構成を示す模式的断面
図、第２図は第１図実施例における回折格子と２分割光
検出器との配置を示す平面図、第３図は従来の光ヘツド
装置の例を示す模式的な断面図である。 １……半導体レーザ、２……回折格子、３……収束レン
ズ、４……デイスク面、5,6,7,8……２分割光検出器、
9,10……回折格子分割領域、21……ビームスプリツタプ
リズム、22……ウエツジプリズム、23……コリメートレ
ンズ、24……集光レンズ、25,26,27,28……光検出器、2
9,30……光ビーム。
図、第２図は第１図実施例における回折格子と２分割光
検出器との配置を示す平面図、第３図は従来の光ヘツド
装置の例を示す模式的な断面図である。 １……半導体レーザ、２……回折格子、３……収束レン
ズ、４……デイスク面、5,6,7,8……２分割光検出器、
9,10……回折格子分割領域、21……ビームスプリツタプ
リズム、22……ウエツジプリズム、23……コリメートレ
ンズ、24……集光レンズ、25,26,27,28……光検出器、2
9,30……光ビーム。
Claims (1)
- 【請求項１】半導体レーザ光源と、この光源の出射光を
記録媒体上に絞りこむレンズ系と、前記光源とレンズ系
との間に設けてあり、前記レンズ系から出射される光ビ
ームを２分割する分割線を境に２つの領域に分けられて
いる回折格子と、この回折格子の＋１次または−１次回
折光のいずれか一方の回折光の収束位置に設けてある第
１の２分割光検出器と、他方の前記回折光のデフォーカ
ス位置に設けてある第２の２分割光検出器とを備え、前
記回折格子の２つの領域ではこれら領域の境の前記分割
線方向において格子の周期が互いに異なり、前記第１の
２分割光検出器の分割線は前記回折格子の前記分割線と
同一の方向であり、前記第２の２分割光検出器の分割線
は前記回折格子の前記分割線と直交する方向であり、前
記第１の２分割光検出器から焦点誤差信号を、前記第２
の２分割光検出器からトラッキング誤差信号をそれぞれ
検出することを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61060305A JP2638778B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 光ヘツド装置 |
| DE8686117152T DE3679648D1 (de) | 1985-12-10 | 1986-12-09 | Optischer kopf mit einem beugungsgitter zum richten von zwei oder mehreren gebeugten lichtstrahlen auf optische detektoren. |
| EP86117152A EP0228620B1 (en) | 1985-12-10 | 1986-12-09 | Optical head comprising a diffraction grating for directing two or more diffracted beams to optical detectors |
| US06/940,007 US4945529A (en) | 1985-12-10 | 1986-12-10 | Optical head comprising a diffraction grating for directing two or more diffracted beams to optical detectors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61060305A JP2638778B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 光ヘツド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62217425A JPS62217425A (ja) | 1987-09-24 |
| JP2638778B2 true JP2638778B2 (ja) | 1997-08-06 |
Family
ID=13138314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61060305A Expired - Lifetime JP2638778B2 (ja) | 1985-12-10 | 1986-03-18 | 光ヘツド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2638778B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5066138A (en) * | 1988-06-16 | 1991-11-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical head apparatus |
| JP2870236B2 (ja) * | 1991-07-22 | 1999-03-17 | 日本電気株式会社 | 光学式記録再生装置 |
| JP3074554B2 (ja) * | 1994-07-15 | 2000-08-07 | 富士通株式会社 | 光学的情報記録／再生装置及び集積ヘッド |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59113532A (ja) * | 1982-12-20 | 1984-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的情報再生装置 |
| JPS59121634A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-13 | Pioneer Electronic Corp | 光学的ピツクアツプ装置における焦点検出装置 |
-
1986
- 1986-03-18 JP JP61060305A patent/JP2638778B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62217425A (ja) | 1987-09-24 |
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