JP2630846B2 - 電気回路の試験 - Google Patents
電気回路の試験Info
- Publication number
- JP2630846B2 JP2630846B2 JP1511095A JP51109589A JP2630846B2 JP 2630846 B2 JP2630846 B2 JP 2630846B2 JP 1511095 A JP1511095 A JP 1511095A JP 51109589 A JP51109589 A JP 51109589A JP 2630846 B2 JP2630846 B2 JP 2630846B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- networks
- value
- network
- impedance value
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は電気回路の試験に関する。
発明の背景 プリント回路板を試験する分野では、例えば部品を装
着する前のそのような回路板について、抵抗値のチェッ
クまたは容量値のチェックを行い、導電路における開放
もしくは短絡不良を試験することが知られている。こう
したチェックは、コンピュータシステムによって自動制
御され、適切な地点で回路板と接触して適切な測定を行
う、少なくとも１つの電気試験プローブを用いて行うこ
とができる。
着する前のそのような回路板について、抵抗値のチェッ
クまたは容量値のチェックを行い、導電路における開放
もしくは短絡不良を試験することが知られている。こう
したチェックは、コンピュータシステムによって自動制
御され、適切な地点で回路板と接触して適切な測定を行
う、少なくとも１つの電気試験プローブを用いて行うこ
とができる。
プリント回路板は、多数のネットワーク（回路網）を
形成する非常に多くの導電路を備えており、そのような
ネットワーク間に望ましくない短絡が存在していなかど
うか知る必要がある。Ｎ個のネットワークを有するプリ
ント回路板の場合、任意の２つのネットワーク間に望ま
しくない短絡電気路が存在しないことを検証するのに必
要な抵抗に基づく測定の回数は、次式で与えられる： Ｎ（Ｎ−１）/2 この式は、次のように説明される。まず、第１のネッ
トワークと残り全てのネットワークとの間の抵抗が測定
され、これは１回目の測定回数（Ｎ−１）を意味する。
次いで、第２のネットワークと残り全てのネットワーク
（但し第１のネットワークを除く）との間の抵抗が測定
され、これは２回目の測定回数（（Ｎ−１）−１）を意
味する。次に、第３のネットワークと残り全てのネット
ワーク（但し第１及び第２のネットワークを除く）との
間の抵抗が測定され、これは３回目の測定回数（（Ｎ−
１）−２）を意味する。以下同様に、Ｎ番目のネットワ
ークまで測定が続けられる。この結果、測定回数の合計
は上記したような等差級数の和となる。
形成する非常に多くの導電路を備えており、そのような
ネットワーク間に望ましくない短絡が存在していなかど
うか知る必要がある。Ｎ個のネットワークを有するプリ
ント回路板の場合、任意の２つのネットワーク間に望ま
しくない短絡電気路が存在しないことを検証するのに必
要な抵抗に基づく測定の回数は、次式で与えられる： Ｎ（Ｎ−１）/2 この式は、次のように説明される。まず、第１のネッ
トワークと残り全てのネットワークとの間の抵抗が測定
され、これは１回目の測定回数（Ｎ−１）を意味する。
次いで、第２のネットワークと残り全てのネットワーク
（但し第１のネットワークを除く）との間の抵抗が測定
され、これは２回目の測定回数（（Ｎ−１）−１）を意
味する。次に、第３のネットワークと残り全てのネット
ワーク（但し第１及び第２のネットワークを除く）との
間の抵抗が測定され、これは３回目の測定回数（（Ｎ−
１）−２）を意味する。以下同様に、Ｎ番目のネットワ
ークまで測定が続けられる。この結果、測定回数の合計
は上記したような等差級数の和となる。
千個のネットワークを持つプリント回路板の場合、上
記のようにして全ネットワーク間の抵抗測定を行うこと
はほぼ50万回の測定を意味し、一般的にそうであるよう
に電気試験プローブを用いて測定すれば、極めて長い試
験時間を要する。従って、ネットワーク間の短絡を試験
する際の測定回数を減らす手段があれば、明らかに有利
である。
記のようにして全ネットワーク間の抵抗測定を行うこと
はほぼ50万回の測定を意味し、一般的にそうであるよう
に電気試験プローブを用いて測定すれば、極めて長い試
験時間を要する。従って、ネットワーク間の短絡を試験
する際の測定回数を減らす手段があれば、明らかに有利
である。
プローブ移動の回数を減らすため、米国特許第4,565,
966号（Burr等）は、各ネットワークと基準間での容量
測定と各ネットワークの端−端間抵抗測定とを組み合わ
せ、測定された容量及び抵抗両値が、不良の存在しない
回路板について（学習モードで）それぞれ予め求められ
た値と比較されるような、回路板を試験する方法及び装
置を開示している。前記Burr等の特許には、不良の可能
性があると識別されたネットワークに関する診断ルーチ
ンも開示されている。すなわちネットワークのうち、不
良の可能性があると識別され、基準に対し同じ容量値を
有するものについて、ネットワーク間での抵抗チェック
が実行され、基準に対し同じ容量値を有するネットワー
クは短絡しているかもしれないという理論的根拠に基づ
き、それらのネットワークが短絡していないかどうかを
チェックする。各々のネットワークと基準との間の容量
を測定し、次いで同じ容量値を持つ各対のネットワーク
間で短絡試験を行うことによって、プリント回路板の全
ネットワークに関し上記のルーチンを適用可能である。
しかし、２つのネットワークが実際には短絡していない
のに、偶然同じ容量値を持つことがあるため、この方法
では、実際に必要な回数よりはるかに多い短絡試験を行
わねばならなくなることがある。
966号（Burr等）は、各ネットワークと基準間での容量
測定と各ネットワークの端−端間抵抗測定とを組み合わ
せ、測定された容量及び抵抗両値が、不良の存在しない
回路板について（学習モードで）それぞれ予め求められ
た値と比較されるような、回路板を試験する方法及び装
置を開示している。前記Burr等の特許には、不良の可能
性があると識別されたネットワークに関する診断ルーチ
ンも開示されている。すなわちネットワークのうち、不
良の可能性があると識別され、基準に対し同じ容量値を
有するものについて、ネットワーク間での抵抗チェック
が実行され、基準に対し同じ容量値を有するネットワー
クは短絡しているかもしれないという理論的根拠に基づ
き、それらのネットワークが短絡していないかどうかを
チェックする。各々のネットワークと基準との間の容量
を測定し、次いで同じ容量値を持つ各対のネットワーク
間で短絡試験を行うことによって、プリント回路板の全
ネットワークに関し上記のルーチンを適用可能である。
しかし、２つのネットワークが実際には短絡していない
のに、偶然同じ容量値を持つことがあるため、この方法
では、実際に必要な回数よりはるかに多い短絡試験を行
わねばならなくなることがある。
発明の要旨 本発明の一側面によれば、複数のネットワークからな
る電気回路の各ネットワーク間の短絡を試験する方法に
おいて、各々のネットワークと基準との間のインピーダ
ンス値を測定すること；及び、測定インピーダンス値が
ほぼ同じであり、しかも該測定インピーダンス値が短絡
した場合の２つのネットワークに関する推定の最低イン
ピーダンス値より大きい各２つのネットワークについて
だけ短絡試験を行うことを含む方法が提供される。
る電気回路の各ネットワーク間の短絡を試験する方法に
おいて、各々のネットワークと基準との間のインピーダ
ンス値を測定すること；及び、測定インピーダンス値が
ほぼ同じであり、しかも該測定インピーダンス値が短絡
した場合の２つのネットワークに関する推定の最低イン
ピーダンス値より大きい各２つのネットワークについて
だけ短絡試験を行うことを含む方法が提供される。
本発明の別の側面によれば、複数のネットワークから
なる電気回路を試験するのに使われる装置において、各
々のネットワークと基準との間のインピーダンス値を測
定する第１の手段；及び、測定インピーダンス値がほぼ
同じであり、しかも該測定インピーダンス値が短絡した
場合の２つのネットワークに関する推定の最低インピー
ダンス値より大きい各２つのネットワークについてだけ
短絡試験を行う第２の手段を備えた装置が提供される。
なる電気回路を試験するのに使われる装置において、各
々のネットワークと基準との間のインピーダンス値を測
定する第１の手段；及び、測定インピーダンス値がほぼ
同じであり、しかも該測定インピーダンス値が短絡した
場合の２つのネットワークに関する推定の最低インピー
ダンス値より大きい各２つのネットワークについてだけ
短絡試験を行う第２の手段を備えた装置が提供される。
好ましくは、前記測定インピーダンス値から、少なく
とも２つのポイントを含むネットワークについて、導電
路の単位長さ当りの最低インピーダンスに関する第１の
値が計算され、また１つのポイントだけを含むネットワ
ークの最低インピーダンスに関する第２の値が計算さ
れ、該第１及び第２の値が、ほぼ同じインピーダンス値
を持つ各２つのネットワークに関する前記推定の最低イ
ンピーダンス値を、これら２つのネットワークの形状特
性の知見から計算するのに使われる。
とも２つのポイントを含むネットワークについて、導電
路の単位長さ当りの最低インピーダンスに関する第１の
値が計算され、また１つのポイントだけを含むネットワ
ークの最低インピーダンスに関する第２の値が計算さ
れ、該第１及び第２の値が、ほぼ同じインピーダンス値
を持つ各２つのネットワークに関する前記推定の最低イ
ンピーダンス値を、これら２つのネットワークの形状特
性の知見から計算するのに使われる。
各々のネットワークと基準との間で測定される前記イ
ンピーダンス値は、各々のネットワークと基準との間の
容量値とし得る。
ンピーダンス値は、各々のネットワークと基準との間の
容量値とし得る。
測定されたインピーダンス値は、ほぼ同じ測定インピ
ーダンス値であるネットワークを識別するために走査さ
れるメモリ手段に記憶し得る。
ーダンス値であるネットワークを識別するために走査さ
れるメモリ手段に記憶し得る。
前記短絡試験は、抵抗試験とし得る。
図面の簡単な説明 添付の図面中： 第１図は本発明による装置の好ましい実施例の概略
図； 第２図は実施例の処理手段の動作を記述したフローチ
ャート；及び 第３図は処理手段の別の動作を説明するのに用いる図
である。
図； 第２図は実施例の処理手段の動作を記述したフローチ
ャート；及び 第３図は処理手段の別の動作を説明するのに用いる図
である。
好まし実施例の説明 以下説明する実施例は、プリント回路板上の全ネット
ワーク間での短絡を試験する場合よりも、プローブ移動
（及び測定）の回数が減り、しかも基準に対する予め求
められたそれぞれの容量値、及び不良のない回路板のネ
ットワークに関する予め求められた端−端抵抗値につい
て、事前の知見を必要としないように動作する。
ワーク間での短絡を試験する場合よりも、プローブ移動
（及び測定）の回数が減り、しかも基準に対する予め求
められたそれぞれの容量値、及び不良のない回路板のネ
ットワークに関する予め求められた端−端抵抗値につい
て、事前の知見を必要としないように動作する。
まず添付の図面中の第１図を参照すると、参照番号１
は（見やすくするためかなり単純化した形で）、端子パ
ッド２と導電路３と有し、部品の装着前に試験すべきプ
リント回路板を示す。各端子パッド２が、１つの“ポイ
ント”と見なされる。回路板は導電路３を含むＬ個の個
々のネットワークを有し、このような各１つ以上の導電
路３によって相互に接続された２つ以上のポイント（端
子パッド２）を備えている。その他、どの導電路も接続
されていないＭ個のポイント（端子パッド２）が存在
し、このような各端子パッドも“ネットワーク”（すな
わち単一ポイントと見なされるネットワーク）と考えら
れる（一方導電路２を備えたネットワークは２つ以上の
ポイントを有するネットワークと見なされる）。つま
り、回路板１は合計Ｌ＋Ｍ＝Ｎ個のネットワークを有す
る。
は（見やすくするためかなり単純化した形で）、端子パ
ッド２と導電路３と有し、部品の装着前に試験すべきプ
リント回路板を示す。各端子パッド２が、１つの“ポイ
ント”と見なされる。回路板は導電路３を含むＬ個の個
々のネットワークを有し、このような各１つ以上の導電
路３によって相互に接続された２つ以上のポイント（端
子パッド２）を備えている。その他、どの導電路も接続
されていないＭ個のポイント（端子パッド２）が存在
し、このような各端子パッドも“ネットワーク”（すな
わち単一ポイントと見なされるネットワーク）と考えら
れる（一方導電路２を備えたネットワークは２つ以上の
ポイントを有するネットワークと見なされる）。つま
り、回路板１は合計Ｌ＋Ｍ＝Ｎ個のネットワークを有す
る。
参照番号４と５は、コンピュータシステム６を介して
制御される電気試験プローブを示し、参照番号７は導電
性基準面（回路板１のアース面とし得る）を示す。プロ
ーブ４と５は各々、当該分野で周知のごとく、コンピュ
ータシステム６の制御下で適切なモータ（不図示）によ
り、回路板１に対してＸ、Ｙ及びＺ方向に移動可能であ
る。
制御される電気試験プローブを示し、参照番号７は導電
性基準面（回路板１のアース面とし得る）を示す。プロ
ーブ４と５は各々、当該分野で周知のごとく、コンピュ
ータシステム６の制御下で適切なモータ（不図示）によ
り、回路板１に対してＸ、Ｙ及びＺ方向に移動可能であ
る。
まず、プローブ５を基準面７に接触させながら、処理
及び制御手段９の制御下で回路板１上の各接触点に当て
たプローブ４を用い、コンピュータシステム６が容量測
定手段８を介して、回路板１上の各ネットワークと基準
面７との間の容量値測定を行う。このような測定がＮ回
実行され、各測定値が対応するネットワークの指示と共
に、メモリ10内に一時的に記憶される。
及び制御手段９の制御下で回路板１上の各接触点に当て
たプローブ４を用い、コンピュータシステム６が容量測
定手段８を介して、回路板１上の各ネットワークと基準
面７との間の容量値測定を行う。このような測定がＮ回
実行され、各測定値が対応するネットワークの指示と共
に、メモリ10内に一時的に記憶される。
測定手段８は、２つの指定電圧限間の一定または半一
定の電流によって、試験対象の回路を充電するのにかか
る時間を測定する種類のものとし得る。
定の電流によって、試験対象の回路を充電するのにかか
る時間を測定する種類のものとし得る。
測定容量値が得られている間、処理及び制御手段９は
それらの値と、試験対象である特定種類の各々のネット
ワークを構成する１つまたは複数のポイントの位置に関
する知見とから、少なくとも２つのポイントを有するネ
ットワークについて導電路の単位長さ当りの最低容量と
見なされる第１の値（VL）、及び１つのポイントだけを
含むネットワークの最低容量と見なされる第２の値
（CL）を計算する。第２図は、この点における処理及び
制御手段９の動作を記述したフローチャートである。フ
ローチャート中、“距離＝Ｌを計算”と表示されたステ
ップで、２つ以上のポイントを有するある特定ネットワ
ークについて計算される値Ｌが、その特定ネットワーク
の形状と各ポイントの位置とに関する知見から得られ
る。すなわち、ネットワークが２つのポイント間の一本
の直線状導電路（電導路に沿って少なくとも１つの中間
ポイント（端子パッド）を有することもある）だけから
なる場合、Ｌはそれら２つのポイント間の最小距離とし
て計算される；ネットワークが２つのポイント間の直線
状でない一本の導電路からなるが、それに沿って中間ポ
イント（端子パッド）を持たない場合、Ｌはそれら２つ
のポイント間の直線ベクトルの距離として計算される；
ネットワークが２つのポイント間の直線状でない導電路
からなり、それに沿って少なくとも１つの中間ポイント
（端子パッド）を持つ場合、Ｌはその導電路自身の長さ
として計算される；またネットワークが２つのポイント
間の一本の線（直線または非直線状）と、そこから少な
くとも１つの他のポイントへと分岐した少なくとも１つ
の導電路を有する場合、Ｌはそのネットワーク内の１つ
のポイントからその他全てのポイントへとネットワーク
自身に沿って移動した際の最短距離として計算される。
それらの値と、試験対象である特定種類の各々のネット
ワークを構成する１つまたは複数のポイントの位置に関
する知見とから、少なくとも２つのポイントを有するネ
ットワークについて導電路の単位長さ当りの最低容量と
見なされる第１の値（VL）、及び１つのポイントだけを
含むネットワークの最低容量と見なされる第２の値
（CL）を計算する。第２図は、この点における処理及び
制御手段９の動作を記述したフローチャートである。フ
ローチャート中、“距離＝Ｌを計算”と表示されたステ
ップで、２つ以上のポイントを有するある特定ネットワ
ークについて計算される値Ｌが、その特定ネットワーク
の形状と各ポイントの位置とに関する知見から得られ
る。すなわち、ネットワークが２つのポイント間の一本
の直線状導電路（電導路に沿って少なくとも１つの中間
ポイント（端子パッド）を有することもある）だけから
なる場合、Ｌはそれら２つのポイント間の最小距離とし
て計算される；ネットワークが２つのポイント間の直線
状でない一本の導電路からなるが、それに沿って中間ポ
イント（端子パッド）を持たない場合、Ｌはそれら２つ
のポイント間の直線ベクトルの距離として計算される；
ネットワークが２つのポイント間の直線状でない導電路
からなり、それに沿って少なくとも１つの中間ポイント
（端子パッド）を持つ場合、Ｌはその導電路自身の長さ
として計算される；またネットワークが２つのポイント
間の一本の線（直線または非直線状）と、そこから少な
くとも１つの他のポイントへと分岐した少なくとも１つ
の導電路を有する場合、Ｌはそのネットワーク内の１つ
のポイントからその他全てのポイントへとネットワーク
自身に沿って移動した際の最短距離として計算される。
VLとCLを計算した後、処理及び制御手段９はそれらの
値を、以下説明するように用いる。
値を、以下説明するように用いる。
任意の２つのネットワーク間で望ましくない短絡不良
が存在しなければ、記憶された容量測定値は、ほとんど
の場合全て異なった値になる。しかし、２つのネットワ
ークがそれらの間で望ましくない短絡不良を有すると、
アース面７に対するそれぞれの容量値が等しくなる（実
際上、物理的な測定条件の限界のためメモリ10に記憶さ
れる測定値は正確には等しくならないが、各値が一定量
以上相互に異ならない場合、それら２つ以上の記憶され
た測定値は“同じ”と見なされる）。従って、処理及び
制御手段９はメモリ10に記憶された各値を走査し、メモ
リ10に記憶された同じ測定容量値を持つ２つまたはそれ
より多いネットワークからなる各グループを識別する。
この際前述のごとく、所定量以上相互に異ならなけれ
ば、例えばある決められた小さい百分率値以上相互に異
ならなければ、それらの値は“同じ”と見なされる。メ
モリ10に記憶された測定容量値が他の全ての測定容量値
と異なるネットワークは、不良を含まず満足できるもの
と見なされ、それ以上試験されない。一方、同じ記憶さ
れた測定容量値を有する２つ以上のネットワークからな
る各グループが、そのグループ内の各ネットワーク間で
短絡試験を行う候補グループとなる。しかしそれらのグ
ループ内で、２つのネットワークあるいはそれより多い
ネットワークのうちの２つは、両者間で望ましくない短
絡を持たず、偶然に同じ測定容量値を有するに過ぎない
かもしれない。同じ測定容量値を有するネットワーク間
における短絡試験の回数を減らすため、制御及び処理手
段９は、実際に短絡している２つのネットワークに関す
る推定の最低容量値より測定容量値が小さいことから、
別のものと同じ測定容量値を有するけれども、他のネッ
トワークと短絡されていない各ネットワークを識別す
る。つまり短絡試験は、実際に短絡していると見込まれ
るネットワーク間でのみ行われる。
が存在しなければ、記憶された容量測定値は、ほとんど
の場合全て異なった値になる。しかし、２つのネットワ
ークがそれらの間で望ましくない短絡不良を有すると、
アース面７に対するそれぞれの容量値が等しくなる（実
際上、物理的な測定条件の限界のためメモリ10に記憶さ
れる測定値は正確には等しくならないが、各値が一定量
以上相互に異ならない場合、それら２つ以上の記憶され
た測定値は“同じ”と見なされる）。従って、処理及び
制御手段９はメモリ10に記憶された各値を走査し、メモ
リ10に記憶された同じ測定容量値を持つ２つまたはそれ
より多いネットワークからなる各グループを識別する。
この際前述のごとく、所定量以上相互に異ならなけれ
ば、例えばある決められた小さい百分率値以上相互に異
ならなければ、それらの値は“同じ”と見なされる。メ
モリ10に記憶された測定容量値が他の全ての測定容量値
と異なるネットワークは、不良を含まず満足できるもの
と見なされ、それ以上試験されない。一方、同じ記憶さ
れた測定容量値を有する２つ以上のネットワークからな
る各グループが、そのグループ内の各ネットワーク間で
短絡試験を行う候補グループとなる。しかしそれらのグ
ループ内で、２つのネットワークあるいはそれより多い
ネットワークのうちの２つは、両者間で望ましくない短
絡を持たず、偶然に同じ測定容量値を有するに過ぎない
かもしれない。同じ測定容量値を有するネットワーク間
における短絡試験の回数を減らすため、制御及び処理手
段９は、実際に短絡している２つのネットワークに関す
る推定の最低容量値より測定容量値が小さいことから、
別のものと同じ測定容量値を有するけれども、他のネッ
トワークと短絡されていない各ネットワークを識別す
る。つまり短絡試験は、実際に短絡していると見込まれ
るネットワーク間でのみ行われる。
より詳しく説明すれば、処理及び制御手段９は同じ測
定容量値を有する各２つのネットワークについて、各々
のネットワーク中の１つまたは複数のポイントの位置、
VL及び／又はCLの値、及び２つのネットワーク間の最短
距離に関する知見から、実際に短絡している場合におけ
るそれらネットワークに関する推定の最低容量値を計算
する。これは、２つのネットワークが実際に短絡してい
れば、両ネットワークの間に導電路が存在するという理
論的根拠に基づいている。
定容量値を有する各２つのネットワークについて、各々
のネットワーク中の１つまたは複数のポイントの位置、
VL及び／又はCLの値、及び２つのネットワーク間の最短
距離に関する知見から、実際に短絡している場合におけ
るそれらネットワークに関する推定の最低容量値を計算
する。これは、２つのネットワークが実際に短絡してい
れば、両ネットワークの間に導電路が存在するという理
論的根拠に基づいている。
２つのネットワーク間に導電路が存在する確率は小さ
い。ネットワーク間の最短距離を用いる目的は、短絡試
験を行う必要があるほど充分に接近しているかどうかを
確かめることにある。つまり、２つのネットワークがか
なり離れていれば、推定の最低容量値が２つのネットワ
ークの各々について実際に測定される値より必ず高くな
るほど、両者間の短絡導電路の容量値は高くなるからで
ある。従って、これらのネットワークは、それらの間の
短絡試験を行う考慮の対象から外される。
い。ネットワーク間の最短距離を用いる目的は、短絡試
験を行う必要があるほど充分に接近しているかどうかを
確かめることにある。つまり、２つのネットワークがか
なり離れていれば、推定の最低容量値が２つのネットワ
ークの各々について実際に測定される値より必ず高くな
るほど、両者間の短絡導電路の容量値は高くなるからで
ある。従って、これらのネットワークは、それらの間の
短絡試験を行う考慮の対象から外される。
すなわち、各々のネットワークが２つ以上のポイント
を有するネットワークからなる場合、処理及び制御手段
９は、各ネットワークのＬの値にそれぞれVLを掛けた
後、得られた各値を、２つのネットワークの間の最短距
離にVLを掛けた値にそれぞれ加算することによって容量
値を計算する；各々のネットワークが１つだけのポイン
トを有する場合、処理及び制御手段９は、２×CLの値
を、２つのネットワーク間の最短距離にVLを掛けた値に
加算する；また２つのネットワークが、２つ以上のポイ
ントを有するネットワークと１つだけのポイントを有す
るネットワークとからなる場合、処理及び制御手段９
は、２つ以上のポイントを有するネットワークのＬの値
にVLを掛け、その値をCLに加算した後、その結果を２つ
のネットワーク間の最短距離にVLを掛けた値に加算す
る。
を有するネットワークからなる場合、処理及び制御手段
９は、各ネットワークのＬの値にそれぞれVLを掛けた
後、得られた各値を、２つのネットワークの間の最短距
離にVLを掛けた値にそれぞれ加算することによって容量
値を計算する；各々のネットワークが１つだけのポイン
トを有する場合、処理及び制御手段９は、２×CLの値
を、２つのネットワーク間の最短距離にVLを掛けた値に
加算する；また２つのネットワークが、２つ以上のポイ
ントを有するネットワークと１つだけのポイントを有す
るネットワークとからなる場合、処理及び制御手段９
は、２つ以上のポイントを有するネットワークのＬの値
にVLを掛け、その値をCLに加算した後、その結果を２つ
のネットワーク間の最短距離にVLを掛けた値に加算す
る。
上記の結果から、処理及び制御手段９は短絡している
かもしれないと見込まれる各２つのネットワークについ
て、それらが短絡している場合の推定の最低容量値を計
算する。次いで処理及び制御手段９は、他方のネットワ
ークに短絡しているかもしれない各ネットワークの実際
の測定容量値を、考慮対象である２つのネットワークに
関する推定の最低容量値と比較する。測定容量値が推定
の最低値より小さければ、２つのネットワークは短絡し
ていないと見なされ、それ以上試験しない。一方、測定
容量値が推定の最低値より大きければ、２つのネットワ
ークは短絡している可能性ありと見なされ、この点につ
いて試験すべきものとして選ばれる。こうして処理及び
制御手段９は、それぞれのネットワークが同じ測定容量
値を有すると共に、短絡している場合の両ネットワーク
に関する推定の最低容量値よりも大きい測定容量値を有
する各対のネットワークを選び出す。
かもしれないと見込まれる各２つのネットワークについ
て、それらが短絡している場合の推定の最低容量値を計
算する。次いで処理及び制御手段９は、他方のネットワ
ークに短絡しているかもしれない各ネットワークの実際
の測定容量値を、考慮対象である２つのネットワークに
関する推定の最低容量値と比較する。測定容量値が推定
の最低値より小さければ、２つのネットワークは短絡し
ていないと見なされ、それ以上試験しない。一方、測定
容量値が推定の最低値より大きければ、２つのネットワ
ークは短絡している可能性ありと見なされ、この点につ
いて試験すべきものとして選ばれる。こうして処理及び
制御手段９は、それぞれのネットワークが同じ測定容量
値を有すると共に、短絡している場合の両ネットワーク
に関する推定の最低容量値よりも大きい測定容量値を有
する各対のネットワークを選び出す。
上記のプロセスを、例示を目的として第３図を参照し
ながらさらに説明する。ネットワークＡが100pFの測定
容量値を有し、ネットワークＢが105pFの測定容量値を
有する場合、これら２つの値は処理及び制御手段９によ
って同じと見なされ、この結果は、それらの間に短絡が
存在するためとも考えられる。予め導電路の単位長さ当
りの最低容量値VLが計算してあり、さらに両ネットワー
クＡとＢの各Ｌ値が分かっていることから、処理及び制
御手段９によって理論的な最低容量値を計算することが
できる。この場合、両ネットワークの最低容量値はそれ
ぞれ40pFと30pFであるものとする。２つのネットワーク
間の最短距離はラインＳで表してあり、この距離は両ネ
ットワーク間における短絡の最短可能長さである。ライ
ンＳの長さにVLを掛けることによって、２つのネットワ
ーク間での短絡に関する最低容量値が計算され、その値
が10pFであるものとする。従って、短絡路を含めた２つ
のネットワークの理論的な合計累積容量は、40＋10＋30
＝80pFで表される。ネットワークＡとＢの各々の測定容
量値箱の理論的な最低推定値より大きいため、これら２
つのネットワークが短絡しているかどうかを調べる試験
が行われるべきである。しかし他方、短絡していると想
定した２つのネットワークに関する理論的な最低容量値
が、（例えばラインＳの長さのため）例えば300pFとな
った場合、２つのネットワークＡとＢはそれらの間の短
絡チェックから除外される。なぜなら、それぞれの測定
容量値は、短絡していると想定した場合の理論的な最低
推定値よりも低いからである。
ながらさらに説明する。ネットワークＡが100pFの測定
容量値を有し、ネットワークＢが105pFの測定容量値を
有する場合、これら２つの値は処理及び制御手段９によ
って同じと見なされ、この結果は、それらの間に短絡が
存在するためとも考えられる。予め導電路の単位長さ当
りの最低容量値VLが計算してあり、さらに両ネットワー
クＡとＢの各Ｌ値が分かっていることから、処理及び制
御手段９によって理論的な最低容量値を計算することが
できる。この場合、両ネットワークの最低容量値はそれ
ぞれ40pFと30pFであるものとする。２つのネットワーク
間の最短距離はラインＳで表してあり、この距離は両ネ
ットワーク間における短絡の最短可能長さである。ライ
ンＳの長さにVLを掛けることによって、２つのネットワ
ーク間での短絡に関する最低容量値が計算され、その値
が10pFであるものとする。従って、短絡路を含めた２つ
のネットワークの理論的な合計累積容量は、40＋10＋30
＝80pFで表される。ネットワークＡとＢの各々の測定容
量値箱の理論的な最低推定値より大きいため、これら２
つのネットワークが短絡しているかどうかを調べる試験
が行われるべきである。しかし他方、短絡していると想
定した２つのネットワークに関する理論的な最低容量値
が、（例えばラインＳの長さのため）例えば300pFとな
った場合、２つのネットワークＡとＢはそれらの間の短
絡チェックから除外される。なぜなら、それぞれの測定
容量値は、短絡していると想定した場合の理論的な最低
推定値よりも低いからである。
実施上、交差したネットワークの場合には得られる短
絡路の長さがゼロとなる点を考慮し、且つ安全のための
ゆとりを見込んで、実際に使用するVLの値は、第２図を
参照して説明した動作によって得られた値の半分とす
る。また同じく安全のためのゆとりを見込んで、実際に
使用するCLの値は、第２図を参照して説明した動作によ
って得られた値の半分とする。
絡路の長さがゼロとなる点を考慮し、且つ安全のための
ゆとりを見込んで、実際に使用するVLの値は、第２図を
参照して説明した動作によって得られた値の半分とす
る。また同じく安全のためのゆとりを見込んで、実際に
使用するCLの値は、第２図を参照して説明した動作によ
って得られた値の半分とする。
メモリ10に記憶された同じ測定容量値を有すると共
に、その値が短絡していると想定した場合における推定
の最低容量値より大きい各２つのネットワークについ
て、先に触れた抵抗チェックが処理及び制御手段９の制
御下で、プローブ４と５を用いて行われる。この目的の
ため、コンピュータシステム６は抵抗測定手段11を含
む。抵抗測定手段11は、２つのポイント間の抵抗が一定
のしきい値小さいかあるいは大きいかを調べる試験によ
って、それらポイント間での導電的連続性を指示する手
段とし得る。例えば、抵抗測定手段11は、定電流源から
の電流を試験対象である両ポイント間に供給し、両ポイ
ント間での降下電圧をしきい値（例えば順方向にバイア
スしたダイオード両端間での降下電圧）と比較すること
によって、両ポイント間の連続性を試験できる。
に、その値が短絡していると想定した場合における推定
の最低容量値より大きい各２つのネットワークについ
て、先に触れた抵抗チェックが処理及び制御手段９の制
御下で、プローブ４と５を用いて行われる。この目的の
ため、コンピュータシステム６は抵抗測定手段11を含
む。抵抗測定手段11は、２つのポイント間の抵抗が一定
のしきい値小さいかあるいは大きいかを調べる試験によ
って、それらポイント間での導電的連続性を指示する手
段とし得る。例えば、抵抗測定手段11は、定電流源から
の電流を試験対象である両ポイント間に供給し、両ポイ
ント間での降下電圧をしきい値（例えば順方向にバイア
スしたダイオード両端間での降下電圧）と比較すること
によって、両ポイント間の連続性を試験できる。
以上の説明に照らし、プローブ４と５を用いた抵抗測
定は、メモリ10に記憶された“同じ”容量値を有すると
共に、この容量値が実際に短絡している場合の２つのネ
ットワークに関する推定の最低可能容量値より大きくな
る各２つのネットワークについてだけ必要なことが理解
されよう。
定は、メモリ10に記憶された“同じ”容量値を有すると
共に、この容量値が実際に短絡している場合の２つのネ
ットワークに関する推定の最低可能容量値より大きくな
る各２つのネットワークについてだけ必要なことが理解
されよう。
Claims (13)
- 【請求項１】複数のネットワークからなる電気回路の各
ネットワーク間の短絡を試験する方法において、各々の
ネットワークと基準との間のインピーダンス値を測定す
ること；及び、測定インピーダンス値がほぼ同じであ
り、しかも該測定インピーダンス値が短絡した場合の２
つのネットワークに関する推定の最低インピーダンス値
より大きい各２つのネットワークについてだけ短絡試験
を行うことを含む方法。 - 【請求項２】前記測定インピーダンス値から、少なくと
も２つのポイントを含むネットワークについて、導電路
の単位長さ当りの最低インピーダンスに関する第１の値
が計算され、また１つのポイントだけを含むネットワー
クの最低インピーダンスに関する第２の値が計算され、
該第１及び第２の値が、ほぼ同じインピーダンス値を持
つ各２つのネットワークに関する前記推定の最低インピ
ーダンス値を、これら２つのネットワークの形状特性の
知見から計算するのに使われる請求の範囲第１項記載の
方法。 - 【請求項３】各々のネットワークと基準との間で測定さ
れる前記インピーダンス値が、各々のネットワークと基
準との間の容量値からなる請求の範囲第１または第２項
記載の方法。 - 【請求項４】前記測定されたインピーダンス値がメモリ
手段に記憶され、該メモリ手段が同じ測定インピーダン
ス値であるネットワークを識別するために走査される前
記請求の範囲いずれか１項記載の方法。 - 【請求項５】前記短絡試験が抵抗試験である前記請求の
範囲いずれか１項記載の方法。 - 【請求項６】前記電気回路がプリント回路板である前記
請求の範囲いずれか１項記載の方法。 - 【請求項７】前記基準が回路板のアース面である請求の
範囲第６項記載の方法。 - 【請求項８】複数のネットワークからなる電気回路を試
験するのに使われる装置において、各々のネットワーク
と基準との間のインピーダンス値を測定する第１の手
段；及び、測定インピーダンス値がほぼ同じであり、し
かも該測定インピーダンス値が短絡した場合の２つのネ
ットワークに関する推定の最低インピーダンス値より大
きい各２つのネットワークについてだけ短絡試験を行う
第２の手段を備えた装置。 - 【請求項９】前記第２の手段が、測定インピーダンス値
から、少なくとも２つのポイントを含むネットワークに
ついて、導電路の単位長さ当りの最低インピーダンスに
関する第１の値と、１つのポイントだけを含むネットワ
ークの最低インピーダンスに関する第２の値とを計算
し、さらに前記第２手段が該第１及び第２の値を用い
て、ほぼ同じインピーダンス値を持つ各２つのネットワ
ークに関する前記推定の最低インピーダンス値を、これ
ら２つのネットワークの形状特性の知見から計算する請
求の範囲第８項記載の装置。 - 【請求項１０】前記インピーダンス値の測定手段が、各
々のネットワークと基準との間の容量値を測定する容量
測定手段からなる請求の範囲第８または第９項記載の装
置。 - 【請求項１１】前記測定されたインピーダンス値を記憶
するメモリ手段を含み、前記第２手段が該メモリ手段を
走査して、同じ測定インピーダンス値であるネットワー
クを識別する請求の範囲第８から10項の内いずれか１項
記載の装置。 - 【請求項１２】前記短絡試験手段が抵抗値の試験手段で
ある請求の範囲第８から11項の内いずれか１項記載の装
置。 - 【請求項１３】前記電気回路に対して移動可能で、イン
ピーダンス値を測定する際前記測定手段によって使わ
れ、また短絡試験を行う際前記第２の手段によって使わ
れる少なくとも２つのプローブ手段を含む請求の範囲第
８から12項の内いずれか１項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8824272,2 | 1988-10-17 | ||
| GB888824272A GB8824272D0 (en) | 1988-10-17 | 1988-10-17 | Testing electrical circuits |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04503105A JPH04503105A (ja) | 1992-06-04 |
| JP2630846B2 true JP2630846B2 (ja) | 1997-07-16 |
Family
ID=10645308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1511095A Expired - Lifetime JP2630846B2 (ja) | 1988-10-17 | 1989-10-13 | 電気回路の試験 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0438491B1 (ja) |
| JP (1) | JP2630846B2 (ja) |
| DE (1) | DE68916969T2 (ja) |
| GB (1) | GB8824272D0 (ja) |
| WO (1) | WO1990004792A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015105908A (ja) * | 2013-12-02 | 2015-06-08 | 日本シイエムケイ株式会社 | プリント配線板の導通検査方法 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5266901A (en) * | 1992-05-29 | 1993-11-30 | International Business Machines Corp. | Apparatus and method for resistive detection and waveform analysis of interconenction networks |
| FR2706042B1 (fr) * | 1993-06-03 | 1995-08-11 | Matra Cap Systems Sa | Procédé de contrôle des pistes d'un circuit d'interconnexion et circuit permettant de mette en Óoeuvre un tel procédé. |
| JP3558434B2 (ja) * | 1995-11-30 | 2004-08-25 | 富士通オートメーション株式会社 | 電気的配線検査方法及び装置 |
| DE19541307C2 (de) | 1995-11-06 | 2001-09-27 | Atg Test Systems Gmbh | Verfahren zum Prüfen von elektrischen Leiteranordnungen und Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens |
| JP2994259B2 (ja) | 1996-03-28 | 1999-12-27 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 基板検査方法および基板検査装置 |
| JP4582869B2 (ja) * | 2000-06-29 | 2010-11-17 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置 |
| JP4678989B2 (ja) * | 2001-06-05 | 2011-04-27 | 日置電機株式会社 | 短絡検査対象設定方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
| JP4663918B2 (ja) * | 2001-06-28 | 2011-04-06 | 日置電機株式会社 | 静電容量測定方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
| JP2010133836A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
| JP5307085B2 (ja) * | 2010-07-20 | 2013-10-02 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4229693A (en) * | 1978-11-24 | 1980-10-21 | Honeywell Information Systems Inc. | Method and apparatus for capacitance testing printed circuit boards |
| DE3013215A1 (de) * | 1980-04-03 | 1981-10-15 | Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf | Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet |
| US4565966A (en) * | 1983-03-07 | 1986-01-21 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method and apparatus for testing of electrical interconnection networks |
| US4583042A (en) * | 1983-04-18 | 1986-04-15 | The Boeing Company | Capacitive circuit board testing system and method using a conductive pliant elastomeric reference plane |
-
1988
- 1988-10-17 GB GB888824272A patent/GB8824272D0/en active Pending
-
1989
- 1989-10-13 EP EP89911851A patent/EP0438491B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-13 WO PCT/GB1989/001216 patent/WO1990004792A1/en active IP Right Grant
- 1989-10-13 DE DE68916969T patent/DE68916969T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-13 JP JP1511095A patent/JP2630846B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015105908A (ja) * | 2013-12-02 | 2015-06-08 | 日本シイエムケイ株式会社 | プリント配線板の導通検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0438491A1 (en) | 1991-07-31 |
| EP0438491B1 (en) | 1994-07-20 |
| JPH04503105A (ja) | 1992-06-04 |
| DE68916969D1 (de) | 1994-08-25 |
| WO1990004792A1 (en) | 1990-05-03 |
| GB8824272D0 (en) | 1988-11-23 |
| DE68916969T2 (de) | 1995-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5006808A (en) | Testing electrical circuits | |
| US4565966A (en) | Method and apparatus for testing of electrical interconnection networks | |
| KR0138160B1 (ko) | 랜 케이블 테스트장치 및 방법 | |
| TWI394961B (zh) | Insulation inspection equipment and insulation inspection methods | |
| JP2625623B2 (ja) | 回路試験装置および方法 | |
| EP0573159A2 (en) | Identification of pin-open faults by capacitive coupling through the integrated circuit package | |
| JP2630846B2 (ja) | 電気回路の試験 | |
| GB2307754A (en) | Test/reference capacitance ratio used to assess a conductive pattern on a pcb | |
| US5256975A (en) | Manually-operated continuity/shorts test probe for bare interconnection packages | |
| US5363048A (en) | Method and system for ensuring interconnect integrity in a micro-chip-module | |
| EP1039389B1 (en) | Method and apparatus for adaptively learning test error sources to reduce the total number of test measurements required in real-time | |
| JP3183195B2 (ja) | 電気導体組立体の試験方法および装置 | |
| US5432460A (en) | Apparatus and method for opens and shorts testing of a circuit board | |
| US6724209B1 (en) | Method for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester | |
| JP5208787B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
| CN116266579A (zh) | 测试结构及测试方法 | |
| US4785235A (en) | Shorts testing technique reducing phantom shorts problems | |
| JP3566205B2 (ja) | 電気構成群のテスト方法 | |
| JP3049446B2 (ja) | 回路基板検査装置における測定用ピンの接触不良検出方法 | |
| JPS5817377A (ja) | フラットケ−ブルの導通検査装置 | |
| CN117148091B (zh) | 一种半导体测试方法、***、终端及存储介质 | |
| CN116314963B (zh) | 燃料电池电堆单体阻抗在线诊断方法及巡检控制器 | |
| JP6472616B2 (ja) | データ生成装置およびデータ生成方法 | |
| JPH01199173A (ja) | 静電容量測定式基板検査装置 | |
| JPH05264633A (ja) | 試験ボード配線導通試験回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 4 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070725 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080725 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090725 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100725 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120725 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |