JPS63265179A

JPS63265179A - プリント基板検査治具用ピン

Info

Publication number: JPS63265179A
Application number: JP62100751A
Authority: JP
Inventors: Jun Goto; 潤後藤
Original assignee: Tokyo Electron Ltd
Current assignee: Tokyo Electron Ltd
Priority date: 1987-04-23
Filing date: 1987-04-23
Publication date: 1988-11-01
Anticipated expiration: 2012-05-14
Also published as: JP2609860B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的コ（産業上の利用分野）本発明は、プリント基板検査治具に配置され、検査装置
のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリン
ト基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所定
ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリント
基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用ピ
ンに関する。

（従来の技術）従来、例えばＩＣ等の接点は、０．１インチ（２，５４
ＩｌＩｎ）の所定のピッチで形成されるよう規格化され
ており、プリント基板の試験測定を行うプリント基板検
査装置には、この所定ピッチで多数のプローブピンが配
列されている。

そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を形
成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例えば
第３図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試験
測定を行っている。　　−すなわち、０．１インチの所
定ピッチで多数配列されたプローブピン２１を備えた検
査波’ｌ　２０上に載置されるボトムボード１は、材質
例えばアクリル、ポリカーボネート等から構成されてお
り、上記プローブピン２１と同ピツチで多数の透孔１ａ
が形成されている。

ボトムボード１の上部には、複数の支柱２によって支持
されたトップボード３が配置されている。

このトップボード３は、材質例えばアクリル、ボリカー
ボネート等から構成されており、プリント基板３０に形
成された接点３１の位置に対応して、複数の透孔３ａが
形成されている。

そして、トップボード３の透孔３ａと、ボトムボード１
の透孔１ａとの間には、プリント基板検査治具用ピン４
が配置され、検査装置２０のプローブピン２１と、プリ
ント基板３０の接点３１との電気的接続を行い測定を行
う。

上記プリント基板検査治具用ビン４は、材質例えばＢｅ
Ｃｕ等からなり、表面に例えばＮｉ、　Ｒｈ等のメッキ
処理を施された直径例えば１　、０１１１１〜２．Ｏｎ
＋１１の丸棒から構成されている。そして、このプリン
ト基板検査治具用ピン４の下側端部は、逆円錐形に形成
された測定装置側接続部４ａとされ、上側端部は、円錐
形に形成されたプリント基板側接続部４ｂとされている
。したがって、測定装置側接続部４ａとプリント基板側
接続部４ｂとは、同一軸上に配置されている。

上記説明のプリント基板検査治具では、プローブピン２
１のピッチと、接点３１のピッチとが興なる場合でも、
プローブピン２１と接点３１との間にプリント基板検査
治具用ピン４を斜めに配置することにより、プローブピ
ン２１と接点３１との電気的接続を行い、測定可能とす
るものである。

（発明が解決しようとする問題点）しかしながら近年は、高集積化のなめ、基板に形成され
る接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッチ
で形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント基
板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチと異なるピッ
チ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数の
接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状体
がら構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに配
置することには限界が生じ、測定を行うことができない
という問題がある。

本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基準
ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成さ
れた基板等でも、試ＩＬｔｌ！ｌ定を行うことのできる
プリント基板検査治具用ピンを提供しようとするもので
ある。

［発明の構成］（問題点を解決するための手段）すなわち本発明は、一端に検査装置のプローブピンとの
接触部を有し、他端にプリント基板の接点との接触部を
有し、前記検査装置のプローブピンと前記プリント基板
の接点とを電気的に接続するプリント基板検査治具用ピ
ンにおいて、前記プローブピンとの接触部と、前記プリ
ント基板の接点との接触部とが、異なる軸上に位置する
よう構成したことを特徴とする。

（作　用）本発明のプリント基板検査治具用ピンでは、プローブピ
ンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部とが、
異なる軸上に位置するよう構成されている。

したがって、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば
所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形成
された接点を有するプリント基板等においても、これら
の接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置のプ
ローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うことが
できる。

（実施例）以下本発明のプリント基板検査治具用ピンを、第１図お
よび第２図を参照して実施例について説明する。

この実施例のプリント基板検査治具用ピン１１は、棒状
のビン本体１２と、このピン本体１２上部に溶接等によ
り固着された板状部材１３とから構成されている。

上記ビン本体１２は、材質例えばＢｅＣｕ等からなり、
表面に例えばＮｉ、　Ｒｈ等のメッキ処理を施された直
径例えば１．０ｉＩｌ〜２．Ｏｎｎの丸棒から構成され
ている。そして、このビン本体１２の下側端部は、逆円
錐形に形成された測定装置側接続部１２ａとされている
。

また、上記板状部材１３は、材質例えばＢｅＣｕ等から
なり、表面に例えばＮ１、Ｒｈ等のメッキ処理が施され
たほぼ長方形の板から構成されている。そして、固着部
１３ａにおいてピン本体１２上部に、このピン本体１２
とほぼ直角に固着されており、このピン本体１２の軸心
から水平方向に所定間隔ｄを設けて三角形状に上方へ突
出するプリント基板側接続部１３ｂが形成されている。

また、このプリント基板側接続部１３ｂの下側には、下
方へ向けて突出する固定用突起部１３ｃが形成されてい
る。

上記構成のプリント基板検査治具用ピン１１は、第２図
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。

すなわち、０．１インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン２１を備えた検査装置２０上に８１７され
るボトムボード１４は、材質例えばアクリル、ポリカー
ボネート等から構成されており、上記プローブピン２１
と同ピツチで多数の透孔１４ａが形成されている。

ボトムボード１４の上部には、複数の支柱１５によって
支持されたトップボード１６が配置されている。このト
ップボード１６は、材質例えばアクリル、ポリカーボネ
ート等から構成されており、プリント基板３０に形成さ
れた接点３１の位置に対応して、複数の透孔１６ａが形
成されている。

また、プリント基板３０の接点３１の位置が、所定ピッ
チと異なるピッチで配列されている部位には、接点３１
の位置に対応する透孔１６ａの他に、この透孔１６ａの
近傍の所定ピッチ位置、すなわちボトムボード１４の透
孔１４ａに対応した位置に透孔１６ｂが形成されている
。

そして、プリント基板３０の接点３１が所定ピッチ以外
のピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列された
部位には、プリント基板検査治具用ピン１１を配置する
。すなわち、ピン本体１２を、トップボード１６の透孔
１６ｂ上方からボトムボード１４の透孔１４ａを貫通し
て配置する。

そして、固定用突起部１３ｃを、接点３１の位置に対応
する透孔１６ａに挿入して、プリント基板側接続部１３
ｂをプリント基板３０の接点３１の位置に対応した位置
に固定する。

なお、板状部材１３のプリント基板側接続部１３ｂと、
ピン本体１２の軸心との間隔ｄは、あらかじめ、接点３
１の所定ピッチからのオフセット量に対応して設定して
おく。

また、プリント基板３０の接点３１が所定ピッチで配列
されている部位には、前述の従来のプリント基板検査治
具用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン１７を配
置する。

上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具用ピン１
１では、プリント基板３０に０．１インチの所定ピッチ
と異なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列
された接点３１と、検査装置２０のプローブピン２１と
の電気的接続を行うことができる。

なお、上記実施例では、板状部材１３によりプリント基
板側接続部１３ｂを形成し、ピン本体１２の測定装置側
接続部１２ａと異なる軸」−にプリント基板側接続部１
３ｂを配置したが、本発明はかかる実施例に限定される
ものではなく、例えばピン本体１２を曲折された形状に
する等、どのようにしてプリント基板側接続部１３ｂと
測定装置側接続部１２ａとを異なる軸上に配置してもよ
いことは、もちろんである。

［発明の効果］上述のように、本発明のプリント基板検査治具用ピンで
は、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具用ピ
ンを示す側面図、第２図は第１図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第３図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。１１・・・・・・プリント基板検査治具用ピン、１２・
・・・・・ピン本体、１２ａ・・・・・・測定装置側接
続部、１３・・・・・・板状部材、１３ｂ・・・・・・
プリント基板側接続部。出願人　　東京エレクトロン株式会社代理人　弁理士　　須　山　佐　− 第１図第２図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）一端に検査装置のプローブピンとの接触部を有し
、他端にプリント基板の接点との接触部を有し、前記検
査装置のプローブピンと前記プリント基板の接点とを電
気的に接続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、
前記プローブピンとの接触部と、前記プリント基板の接
点との接触部とが、異なる軸上に位置するよう構成した
ことを特徴とするプリント基板検査治具用ピン。