JPS63265179A - プリント基板検査治具用ピン - Google Patents
プリント基板検査治具用ピンInfo
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- JPS63265179A JPS63265179A JP62100751A JP10075187A JPS63265179A JP S63265179 A JPS63265179 A JP S63265179A JP 62100751 A JP62100751 A JP 62100751A JP 10075187 A JP10075187 A JP 10075187A JP S63265179 A JPS63265179 A JP S63265179A
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- Japan
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- printed circuit
- circuit board
- pin
- pitch
- inspection jig
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 4
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、プリント基板検査治具に配置され、検査装置
のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリン
ト基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所定
ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリント
基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用ピ
ンに関する。
のプローブピンと基板接点との電気的接続を行うプリン
ト基板検査治具用ピンに係わり、特に検査装置と、所定
ピッチ以外のピッチで配列された接点を有するプリント
基板との電気的接続に好適なプリント基板検査治具用ピ
ンに関する。
(従来の技術)
従来、例えばIC等の接点は、0.1インチ(2,54
IlIn)の所定のピッチで形成されるよう規格化され
ており、プリント基板の試験測定を行うプリント基板検
査装置には、この所定ピッチで多数のプローブピンが配
列されている。
IlIn)の所定のピッチで形成されるよう規格化され
ており、プリント基板の試験測定を行うプリント基板検
査装置には、この所定ピッチで多数のプローブピンが配
列されている。
そして、このような所定ピッチ以外のピッチで接点を形
成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例えば
第3図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試験
測定を行っている。 −すなわち、0.1インチの所
定ピッチで多数配列されたプローブピン21を備えた検
査波’l 20上に載置されるボトムボード1は、材質
例えばアクリル、ポリカーボネート等から構成されてお
り、上記プローブピン21と同ピツチで多数の透孔1a
が形成されている。
成されたプリント基板の試験測定を行う場合は、例えば
第3図に示すようなプリント基板検査治具を用いて試験
測定を行っている。 −すなわち、0.1インチの所
定ピッチで多数配列されたプローブピン21を備えた検
査波’l 20上に載置されるボトムボード1は、材質
例えばアクリル、ポリカーボネート等から構成されてお
り、上記プローブピン21と同ピツチで多数の透孔1a
が形成されている。
ボトムボード1の上部には、複数の支柱2によって支持
されたトップボード3が配置されている。
されたトップボード3が配置されている。
このトップボード3は、材質例えばアクリル、ボリカー
ボネート等から構成されており、プリント基板30に形
成された接点31の位置に対応して、複数の透孔3aが
形成されている。
ボネート等から構成されており、プリント基板30に形
成された接点31の位置に対応して、複数の透孔3aが
形成されている。
そして、トップボード3の透孔3aと、ボトムボード1
の透孔1aとの間には、プリント基板検査治具用ピン4
が配置され、検査装置20のプローブピン21と、プリ
ント基板30の接点31との電気的接続を行い測定を行
う。
の透孔1aとの間には、プリント基板検査治具用ピン4
が配置され、検査装置20のプローブピン21と、プリ
ント基板30の接点31との電気的接続を行い測定を行
う。
上記プリント基板検査治具用ビン4は、材質例えばBe
Cu等からなり、表面に例えばNi、 Rh等のメッキ
処理を施された直径例えば1 、01111〜2.On
+11の丸棒から構成されている。そして、このプリン
ト基板検査治具用ピン4の下側端部は、逆円錐形に形成
された測定装置側接続部4aとされ、上側端部は、円錐
形に形成されたプリント基板側接続部4bとされている
。したがって、測定装置側接続部4aとプリント基板側
接続部4bとは、同一軸上に配置されている。
Cu等からなり、表面に例えばNi、 Rh等のメッキ
処理を施された直径例えば1 、01111〜2.On
+11の丸棒から構成されている。そして、このプリン
ト基板検査治具用ピン4の下側端部は、逆円錐形に形成
された測定装置側接続部4aとされ、上側端部は、円錐
形に形成されたプリント基板側接続部4bとされている
。したがって、測定装置側接続部4aとプリント基板側
接続部4bとは、同一軸上に配置されている。
上記説明のプリント基板検査治具では、プローブピン2
1のピッチと、接点31のピッチとが興なる場合でも、
プローブピン21と接点31との間にプリント基板検査
治具用ピン4を斜めに配置することにより、プローブピ
ン21と接点31との電気的接続を行い、測定可能とす
るものである。
1のピッチと、接点31のピッチとが興なる場合でも、
プローブピン21と接点31との間にプリント基板検査
治具用ピン4を斜めに配置することにより、プローブピ
ン21と接点31との電気的接続を行い、測定可能とす
るものである。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら近年は、高集積化のなめ、基板に形成され
る接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッチ
で形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント基
板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチと異なるピッ
チ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数の
接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状体
がら構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに配
置することには限界が生じ、測定を行うことができない
という問題がある。
る接点のピッチは、所定の基準ピッチより小さなピッチ
で形成される場合が多い。上記説明の従来のプリント基
板検査治具用ピンでは、所定の基準ピッチと異なるピッ
チ、例えば所定の基準ピッチより小さなピッチで多数の
接点を連続して形成された基板等の場合、一本の棒状体
がら構成されたプリント基板検査治具用ピンを斜めに配
置することには限界が生じ、測定を行うことができない
という問題がある。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基準
ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成さ
れた基板等でも、試ILtl!l定を行うことのできる
プリント基板検査治具用ピンを提供しようとするもので
ある。
、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基準
ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成さ
れた基板等でも、試ILtl!l定を行うことのできる
プリント基板検査治具用ピンを提供しようとするもので
ある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
すなわち本発明は、一端に検査装置のプローブピンとの
接触部を有し、他端にプリント基板の接点との接触部を
有し、前記検査装置のプローブピンと前記プリント基板
の接点とを電気的に接続するプリント基板検査治具用ピ
ンにおいて、前記プローブピンとの接触部と、前記プリ
ント基板の接点との接触部とが、異なる軸上に位置する
よう構成したことを特徴とする。
接触部を有し、他端にプリント基板の接点との接触部を
有し、前記検査装置のプローブピンと前記プリント基板
の接点とを電気的に接続するプリント基板検査治具用ピ
ンにおいて、前記プローブピンとの接触部と、前記プリ
ント基板の接点との接触部とが、異なる軸上に位置する
よう構成したことを特徴とする。
(作 用)
本発明のプリント基板検査治具用ピンでは、プローブピ
ンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部とが、
異なる軸上に位置するよう構成されている。
ンとの接触部と、プリント基板の接点との接触部とが、
異なる軸上に位置するよう構成されている。
したがって、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば
所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形成
された接点を有するプリント基板等においても、これら
の接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置のプ
ローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うことが
できる。
所定の基準ピッチより小さなピッチで多数連続して形成
された接点を有するプリント基板等においても、これら
の接点と、該接点と異なる軸上に位置する検査装置のプ
ローブピンとを電気的に接続し、試験測定を行うことが
できる。
(実施例)
以下本発明のプリント基板検査治具用ピンを、第1図お
よび第2図を参照して実施例について説明する。
よび第2図を参照して実施例について説明する。
この実施例のプリント基板検査治具用ピン11は、棒状
のビン本体12と、このピン本体12上部に溶接等によ
り固着された板状部材13とから構成されている。
のビン本体12と、このピン本体12上部に溶接等によ
り固着された板状部材13とから構成されている。
上記ビン本体12は、材質例えばBeCu等からなり、
表面に例えばNi、 Rh等のメッキ処理を施された直
径例えば1.0iIl〜2.Onnの丸棒から構成され
ている。そして、このビン本体12の下側端部は、逆円
錐形に形成された測定装置側接続部12aとされている
。
表面に例えばNi、 Rh等のメッキ処理を施された直
径例えば1.0iIl〜2.Onnの丸棒から構成され
ている。そして、このビン本体12の下側端部は、逆円
錐形に形成された測定装置側接続部12aとされている
。
また、上記板状部材13は、材質例えばBeCu等から
なり、表面に例えばN1、Rh等のメッキ処理が施され
たほぼ長方形の板から構成されている。そして、固着部
13aにおいてピン本体12上部に、このピン本体12
とほぼ直角に固着されており、このピン本体12の軸心
から水平方向に所定間隔dを設けて三角形状に上方へ突
出するプリント基板側接続部13bが形成されている。
なり、表面に例えばN1、Rh等のメッキ処理が施され
たほぼ長方形の板から構成されている。そして、固着部
13aにおいてピン本体12上部に、このピン本体12
とほぼ直角に固着されており、このピン本体12の軸心
から水平方向に所定間隔dを設けて三角形状に上方へ突
出するプリント基板側接続部13bが形成されている。
また、このプリント基板側接続部13bの下側には、下
方へ向けて突出する固定用突起部13cが形成されてい
る。
方へ向けて突出する固定用突起部13cが形成されてい
る。
上記構成のプリント基板検査治具用ピン11は、第2図
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。
に示すようなプリント基板検査治具に配置される。
すなわち、0.1インチの所定ピッチで多数配列された
プローブピン21を備えた検査装置20上に817され
るボトムボード14は、材質例えばアクリル、ポリカー
ボネート等から構成されており、上記プローブピン21
と同ピツチで多数の透孔14aが形成されている。
プローブピン21を備えた検査装置20上に817され
るボトムボード14は、材質例えばアクリル、ポリカー
ボネート等から構成されており、上記プローブピン21
と同ピツチで多数の透孔14aが形成されている。
ボトムボード14の上部には、複数の支柱15によって
支持されたトップボード16が配置されている。このト
ップボード16は、材質例えばアクリル、ポリカーボネ
ート等から構成されており、プリント基板30に形成さ
れた接点31の位置に対応して、複数の透孔16aが形
成されている。
支持されたトップボード16が配置されている。このト
ップボード16は、材質例えばアクリル、ポリカーボネ
ート等から構成されており、プリント基板30に形成さ
れた接点31の位置に対応して、複数の透孔16aが形
成されている。
また、プリント基板30の接点31の位置が、所定ピッ
チと異なるピッチで配列されている部位には、接点31
の位置に対応する透孔16aの他に、この透孔16aの
近傍の所定ピッチ位置、すなわちボトムボード14の透
孔14aに対応した位置に透孔16bが形成されている
。
チと異なるピッチで配列されている部位には、接点31
の位置に対応する透孔16aの他に、この透孔16aの
近傍の所定ピッチ位置、すなわちボトムボード14の透
孔14aに対応した位置に透孔16bが形成されている
。
そして、プリント基板30の接点31が所定ピッチ以外
のピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列された
部位には、プリント基板検査治具用ピン11を配置する
。すなわち、ピン本体12を、トップボード16の透孔
16b上方からボトムボード14の透孔14aを貫通し
て配置する。
のピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列された
部位には、プリント基板検査治具用ピン11を配置する
。すなわち、ピン本体12を、トップボード16の透孔
16b上方からボトムボード14の透孔14aを貫通し
て配置する。
そして、固定用突起部13cを、接点31の位置に対応
する透孔16aに挿入して、プリント基板側接続部13
bをプリント基板30の接点31の位置に対応した位置
に固定する。
する透孔16aに挿入して、プリント基板側接続部13
bをプリント基板30の接点31の位置に対応した位置
に固定する。
なお、板状部材13のプリント基板側接続部13bと、
ピン本体12の軸心との間隔dは、あらかじめ、接点3
1の所定ピッチからのオフセット量に対応して設定して
おく。
ピン本体12の軸心との間隔dは、あらかじめ、接点3
1の所定ピッチからのオフセット量に対応して設定して
おく。
また、プリント基板30の接点31が所定ピッチで配列
されている部位には、前述の従来のプリント基板検査治
具用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン17を配
置する。
されている部位には、前述の従来のプリント基板検査治
具用ピンと同様なプリント基板検査治具用ピン17を配
置する。
上記構成のこの実施例のプリント基板検査治具用ピン1
1では、プリント基板30に0.1インチの所定ピッチ
と異なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列
された接点31と、検査装置20のプローブピン21と
の電気的接続を行うことができる。
1では、プリント基板30に0.1インチの所定ピッチ
と異なるピッチ、例えば所定ピッチより小ピツチで配列
された接点31と、検査装置20のプローブピン21と
の電気的接続を行うことができる。
なお、上記実施例では、板状部材13によりプリント基
板側接続部13bを形成し、ピン本体12の測定装置側
接続部12aと異なる軸」−にプリント基板側接続部1
3bを配置したが、本発明はかかる実施例に限定される
ものではなく、例えばピン本体12を曲折された形状に
する等、どのようにしてプリント基板側接続部13bと
測定装置側接続部12aとを異なる軸上に配置してもよ
いことは、もちろんである。
板側接続部13bを形成し、ピン本体12の測定装置側
接続部12aと異なる軸」−にプリント基板側接続部1
3bを配置したが、本発明はかかる実施例に限定される
ものではなく、例えばピン本体12を曲折された形状に
する等、どのようにしてプリント基板側接続部13bと
測定装置側接続部12aとを異なる軸上に配置してもよ
いことは、もちろんである。
[発明の効果]
上述のように、本発明のプリント基板検査治具用ピンで
は、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことができる。
は、所定の基準ピッチと異なるピッチ、例えば所定の基
準ピッチより小さなピッチで多数の接点を連続して形成
された基板等でも、試験測定を行うことができる。
第1図は本発明の一実施例のプリント基板検査治具用ピ
ンを示す側面図、第2図は第1図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第3図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。 11・・・・・・プリント基板検査治具用ピン、12・
・・・・・ピン本体、12a・・・・・・測定装置側接
続部、13・・・・・・板状部材、13b・・・・・・
プリント基板側接続部。 出願人 東京エレクトロン株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第2図
ンを示す側面図、第2図は第1図のプリント基板検査治
具用ピンを配置されたプリント基板検査治具を示す側面
図、第3図は従来のプリント基板検査治具用ピンを配置
されたプリント基板検査治具示す側面図である。 11・・・・・・プリント基板検査治具用ピン、12・
・・・・・ピン本体、12a・・・・・・測定装置側接
続部、13・・・・・・板状部材、13b・・・・・・
プリント基板側接続部。 出願人 東京エレクトロン株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第1図 第2図
Claims (1)
- (1)一端に検査装置のプローブピンとの接触部を有し
、他端にプリント基板の接点との接触部を有し、前記検
査装置のプローブピンと前記プリント基板の接点とを電
気的に接続するプリント基板検査治具用ピンにおいて、
前記プローブピンとの接触部と、前記プリント基板の接
点との接触部とが、異なる軸上に位置するよう構成した
ことを特徴とするプリント基板検査治具用ピン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62100751A JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62100751A JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63265179A true JPS63265179A (ja) | 1988-11-01 |
JP2609860B2 JP2609860B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=14282226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62100751A Expired - Lifetime JP2609860B2 (ja) | 1987-04-23 | 1987-04-23 | プリント基板検査治具用ピン |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2609860B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101192209B1 (ko) | 2008-09-05 | 2012-10-17 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 기판검사용 검사치구 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
JPS61228364A (ja) * | 1985-04-03 | 1986-10-11 | Fujitsu Ltd | プリント板試験台 |
-
1987
- 1987-04-23 JP JP62100751A patent/JP2609860B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6182173A (ja) * | 1984-06-11 | 1986-04-25 | ト−マス・ジヨンソン・ブラツク | プリント配線板試験用探子設定装置 |
JPS61228364A (ja) * | 1985-04-03 | 1986-10-11 | Fujitsu Ltd | プリント板試験台 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101192209B1 (ko) | 2008-09-05 | 2012-10-17 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 기판검사용 검사치구 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2609860B2 (ja) | 1997-05-14 |
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