JP2609617B2 - 電流発生回路 - Google Patents

電流発生回路

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JP2609617B2
JP2609617B2 JP62199735A JP19973587A JP2609617B2 JP 2609617 B2 JP2609617 B2 JP 2609617B2 JP 62199735 A JP62199735 A JP 62199735A JP 19973587 A JP19973587 A JP 19973587A JP 2609617 B2 JP2609617 B2 JP 2609617B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はトランジスタ回路で構成される半導体集積回
路において相補トランジスタのベース・エミッタ間電圧
偏差がもたらす精度低下を補償するに好適な電流発生回
路に関する。
〔従来の技術〕
従来の相補トランジスタのベース・エミッタ間電圧偏
差を利用して電流を発生させる電流発生回路として、特
開昭57−83911号公報に記載されたものがある。第3図
は従来のこの電流発生回路を例示する回路図である。ト
ランジスタのコレクタ電流Icとベース・エミッタ間VBE
は一般に次式で与えられる。
ここで、ISSはトランジスタの逆飽和電流、VTは0.026
V(温度27℃)である。
次に(0)式を使ってトランジスタQ8のコレクタ電流
Ic8を以下求める。第3図において、定電流源I4から相
補トランジスタ対Q8,Q9の入力点に入力すると、トラ
ンジスタQ8のコレクタからは各トランジスタの逆飽和電
流比によって次式で与えられる電流IC8が流れる。
IC8=(ISS(N)/ISS(P))・I4 (1) ただしISS(N)はNPNトランジスタQ8の逆飽和電流、I
SS(P)はPNPトランジスタQ9の逆飽和電流である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は第3図のように単に相補トランジスタ
を組み合せただけでは相補トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧偏差に比例した電流を発生させることができ
ず、トランジスタ回路の精度補償用には十分でない問題
があった。
本発明の目的は、相補トランジスタを用いたトランジ
スタ回路においてベース・エミッタ間電圧偏差によって
生じる精度低下を補償するための電流発生回路を提供す
るにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、互いに相補なトランジスタのベース・エ
ミッタ度電圧偏差に比例し該互いに相補なトランジスタ
に接続される抵抗の抵抗値に反比例した入・出力電流偏
差成分を発生するカレントミラー回路と、該カレントミ
ラー回路の入・出力に等しい電流値の電流を入力する2
つの定電流回路とからなり、上記カレントミラー回路の
出力点より上記互いに相補なトランジスタのベース・エ
ミッタ間電圧偏差に比例した電流成分のみを取り出す電
流発生回路により達成される。
〔作用〕
上記電流発生回路では、互いに相補なトランジスタ対
によりベース・エミッタ間電圧偏差を発生させ該トラン
ジスタ対に接続される抵抗で電流に変換することにより
カレントミラー回路の入・出力電流間に上記トランジス
タ対のベース・エミッタ間電圧偏差に比例した電流偏差
を発生させ、上記2つの定電流回路から上記カレントミ
ラー回路の入・出力に等しい電流値の電流を入力するこ
とにより該カレントミラー回路の出力点より上記トラン
ジスタ対のベース・エミッタ間偏差に比例した電流成分
のみを出力させると共に、上記2つの定電流回路による
上記相補トランジスタ対の動作電流と補償しようとする
トランジスタ回路のトランジスタの動作バイアス電流の
値を一致させより高精度の精度補償が実現できる。
〔実施例〕
以下に本発明の一実施例を第1図と第2図により説明
する。
第1図は本発明による電流発生回路の一実施例を示す
回路図である。第1図において、1は相補トランジスタ
のベース・エミッタ間電圧偏差に比例した入・出力電流
偏差を生じるカレントミラー回路、2,3はカレントミラ
ー回路1の入・出力にそれぞれ接続された電流値IOの等
しい2つの定電流回路である。Q2,Q3はカレントミラー
回路1を構成するそれぞれNPN,PNP形の相補トランジス
タ対、R1,R2はそれぞれ相補トランジスタ対Q3,Q2に接
続される抵抗値R1,R2の等しい抵抗である。Q1はカレン
トミラー回路1の出力用トランジスタである。4は出力
点、5はアース点である。
上記の構成で、抵抗R1,R2の電圧降下がトランジスタ
Q2,Q3のベース・エミッタ間電圧偏差ΔVBEより十分大
であり、トランジスタQ1,Q2,Q3の直流電流増幅率hFE
が十分大きいとしてカレントミラー回路1の定電流回路
2よりの入力電流IOに対する出力電流(トランジスタQ1
のコレクタ電流)Ic1を以下に求める。
トランジスタQ1,Q2,Q3のhFEが十分大きいので、ト
ランジスタQ2のコレクタ電流Ic2=I0、トランジスタQ1
とQ3のコレクタ電流Ic1,Ic3は等しくなる。第1図にお
いて、トランジスタQ2のベース電位=トランジスタQ3
エミッタ電位よりR2Ic2+VBE2=R1Tc3+VBE3となる。ま
たΔVBE=VBE3−VBE2=R2Ic3=R1(Ic2−Ic3)となり、
一方Ic1=Ic3,Ic2=I0より、 すなわちカレントミラー回路1の出力には入力電流I0
対し相補トランジスタ対Q2,Q3のベース・エミッタ電圧
偏差ΔVBEに比例し該相補トランジスタ対Q2,Q3に接続
された抵抗R1,R2の抵抗値R1=R2に反比例した入・出力
電流偏差−ΔVBE/R1を発生する。よって、カレントミ
ラー回路1の出力に対し入力電流I0と等しい電流値をも
つ定電流回路3よりの電流I0を注入すると、出力点4よ
り相補トランジスタ対Q2,Q3のベース・エミッタ間電圧
偏差ΔVBEに比例した次式の電流IXを取り出すことがで
きる。
IX=−ΔVBE/R1 (2)′ 第2図は本発明による電流発生回路を応用した電流検
出回路の一実施例を示す回路図である。
第2図において、この電流検出回路は異電源系VBB
電流検出抵抗RAに流れ込む負荷電流IAを相補トランジス
タ対Q4,Q5よりなる2段エミッタホロワ型の電流検出器
で電流検出し、GND系に電流検出出力VOUTを取り出す構
成であり、6はこれに付加する第1図の電流発生回路で
ある。I1はトランジスタQ4のバイアス電流源である。
上記の構成で、電流発生回路6がない場合のGND系の
電流検出出力VOUT′は次式となる。
VOUT′=(R3/R4)RA・IA+(R3/R4)ΔVBE (3) この(3)式の第2項は相補トランジスタ対Q4,Q5によ
る電流検出誤差である。この状態から電流発生回路6を
付加すると、(2)′式より電流検出出力VOUTは次式と
なる。
VOUT=(R3/R4)RA・IA+(R3/R4)ΔVBE−(R3
R1)ΔVBE (4) ここに抵抗値R4=R1とすることにより第2項は第3項に
より打ち消され、電流検出出力VOUTには電流検出器用ト
ランジスタQ4,Q5のベース・エミッタ間電圧偏差ΔVBE
の影響を受けない精度改良された高精度の電流検出出力
VOUTがえられる。ここで第2図の電流検出回路を半導体
集積回路化する場合に、第1図の定電流回路2,3の電流
値I0を第2図の電流検出用トランジスタQ4,Q5の動作電
流値に近く設定すれば相補トランジスタQ4,Q5のベース
・エミッタ間電圧偏差ΔVBEの補償をより高精度に行う
ことができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、トランジスタ回路を半導体集積回路
化する場合に相補トランジスタのベース・エミッタ間電
圧偏差によって生じる精度低下の改善が可能となり、半
導体集積回路の高精度化と応用範囲拡大に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による電流発生回路の一実施例を示す回
路図、第2図は本発明による電流発生回路を応用した電
流検出回路の一実施例を示す回路図、第3図は従来技術
に係る電流発生回路の例を示す図である。 1……カレントミラー回路 2,3……定電流回路 4……出力点 6……電流発生回路 Q1……出力用トランジスタ Q2,Q3……相補トランジスタ対 R1,R2……抵抗

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】互いに相補なトランジスタのベース・エミ
    ッタ間電圧偏差に比例し該相補なトランジスタに接続さ
    れる抵抗の抵抗値に反比例した入・出力電流偏差を発生
    するカレントミラー回路と、該カレントミラー回路の入
    ・出力にそれぞれ接続された電流値の等しい2つの定電
    流回路とからなり、上記カレントミラー回路の出力より
    上記相補なトランジスタのベース・エミッタ間電圧偏差
    に比例した定電流を発生する電流発生回路。
JP62199735A 1987-08-12 1987-08-12 電流発生回路 Expired - Lifetime JP2609617B2 (ja)

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JPS6444109A JPS6444109A (en) 1989-02-16
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