JP2545857Y2 - 光学測定器 - Google Patents
光学測定器Info
- Publication number
- JP2545857Y2 JP2545857Y2 JP90292U JP90292U JP2545857Y2 JP 2545857 Y2 JP2545857 Y2 JP 2545857Y2 JP 90292 U JP90292 U JP 90292U JP 90292 U JP90292 U JP 90292U JP 2545857 Y2 JP2545857 Y2 JP 2545857Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- mounting table
- condenser lens
- measured
- lens
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、被測定物の底面像を観
察測定するようにした光学測定器に関するものである。
察測定するようにした光学測定器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、例えば足型を測定する場合に
は、その底面像すなわち足裏形状を観察測定する必要が
あり、この底面形状をレーザー光を利用してスキャンす
ることで計測するようにした測定器が実用化されてい
る。
は、その底面像すなわち足裏形状を観察測定する必要が
あり、この底面形状をレーザー光を利用してスキャンす
ることで計測するようにした測定器が実用化されてい
る。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかして、上記のよう
なレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ
てコスト面でも不利となる。
なレーザー光を利用した測定器では、装置が大型となっ
てコスト面でも不利となる。
【０００４】また、載置台に載置した被測定物の底面像
を撮影する場合に、該底面像から被測定物の大きさを求
めるについて、被測定物の載置台への接触部分の形状だ
けでなく、それより上方に載置台への接触位置より外側
に張り出して位置する輪郭部分の形状についても正確に
撮影して、大きさの計測が精度良く行えるようにするこ
とが切望されている。
を撮影する場合に、該底面像から被測定物の大きさを求
めるについて、被測定物の載置台への接触部分の形状だ
けでなく、それより上方に載置台への接触位置より外側
に張り出して位置する輪郭部分の形状についても正確に
撮影して、大きさの計測が精度良く行えるようにするこ
とが切望されている。
【０００５】上記点に対し、撮像装置の撮影レンズは径
が小さく、載置台から反射系を介して撮影される底面像
は、撮影レンズの一点から放射状に広がって被測定物を
見た像となり、中心側から斜め外側に延びる光路による
形状を得ることになり、その視差によって載置台から上
方に離れた位置が内方にずれて撮影され、その底面像か
ら大きさを計測すると実際の輪郭形状の大きさより小さ
く計測される測定誤差を生起するものである。
が小さく、載置台から反射系を介して撮影される底面像
は、撮影レンズの一点から放射状に広がって被測定物を
見た像となり、中心側から斜め外側に延びる光路による
形状を得ることになり、その視差によって載置台から上
方に離れた位置が内方にずれて撮影され、その底面像か
ら大きさを計測すると実際の輪郭形状の大きさより小さ
く計測される測定誤差を生起するものである。
【０００６】そこで本考案は上記事情に鑑み、被測定物
の底面投影像を正確に視差なく撮影して良好な計測が行
えるようにした光学測定器を提供することを目的とする
ものである。
の底面投影像を正確に視差なく撮影して良好な計測が行
えるようにした光学測定器を提供することを目的とする
ものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本考案の光学測定器は、下方から被測定物の底面が観視
可能な載置台に被測定物を載置し、この被測定物の底面
像を反射手段を介して撮影するものであって、前記載置
台の上面または下面にフレネルレンズ等のコンデンサレ
ンズを設け、該コンデンサレンズの焦点位置に撮影レン
ズを設置して構成したものである。
本考案の光学測定器は、下方から被測定物の底面が観視
可能な載置台に被測定物を載置し、この被測定物の底面
像を反射手段を介して撮影するものであって、前記載置
台の上面または下面にフレネルレンズ等のコンデンサレ
ンズを設け、該コンデンサレンズの焦点位置に撮影レン
ズを設置して構成したものである。
【０００８】
【作用】上記のような光学測定器では、被測定物の底面
像は載置台の上面または下面に設けたコンデンサレンズ
を経て反射手段によって撮像装置側に反射されて撮像さ
れるものであるが、その際、コンデンサレンズの焦点位
置に撮影レンズがあることから、観察像は撮影レンズか
ら放射状に拡大する光路がコンデンサレンズで光軸に平
行となり、被測定物の底面接触部分より上方で外側に張
り出している輪郭部分の形状も光軸と平行に投影され
て、視差がなく寸法等が正確な底面像を得るようにして
いる。
像は載置台の上面または下面に設けたコンデンサレンズ
を経て反射手段によって撮像装置側に反射されて撮像さ
れるものであるが、その際、コンデンサレンズの焦点位
置に撮影レンズがあることから、観察像は撮影レンズか
ら放射状に拡大する光路がコンデンサレンズで光軸に平
行となり、被測定物の底面接触部分より上方で外側に張
り出している輪郭部分の形状も光軸と平行に投影され
て、視差がなく寸法等が正確な底面像を得るようにして
いる。
【０００９】
【実施例】以下、図面に沿って本考案の実施例を説明す
る。図１に一実施例の光学測定器の概略構成を示す。
る。図１に一実施例の光学測定器の概略構成を示す。
【００１０】測定器10は、足などの被測定物Ｗを載置す
る水平状態に設置された載置台11を備えている。この載
置台11は、その下面から被測定物Ｗの底面が観視可能な
透明部材で構成され、その表面は反射防止面に形成され
ている。
る水平状態に設置された載置台11を備えている。この載
置台11は、その下面から被測定物Ｗの底面が観視可能な
透明部材で構成され、その表面は反射防止面に形成され
ている。
【００１１】上記載置台11の上面には、コンデンサレン
ズ20（フレネルレンズ）が凹凸面を上にして配設され、
この凹凸面上に前記被測定物Ｗが載置される。一方、前
記載置台11の下方には、被測定物Ｗの底面像を側方に反
射する第１の反射手段12が配設されている。この第１の
反射手段12としては、例えば、平面鏡（半透鏡）が側方
に向けて45度に傾斜配設されている。
ズ20（フレネルレンズ）が凹凸面を上にして配設され、
この凹凸面上に前記被測定物Ｗが載置される。一方、前
記載置台11の下方には、被測定物Ｗの底面像を側方に反
射する第１の反射手段12が配設されている。この第１の
反射手段12としては、例えば、平面鏡（半透鏡）が側方
に向けて45度に傾斜配設されている。
【００１２】また、上記第１の反射手段12の側方には、
第１の反射手段12によって反射された被測定物Ｗの底面
像を上方に反射する第２の反射手段13が配設されてい
る。この第２の反射手段13としては、例えば、平面鏡が
第１の反射手段12に対して約90度に傾斜配設されてい
る。すなわち、上記第１の反射手段12と第２の反射手段
13とによって、被測定物Ｗの底面像を上方に反射するよ
うに構成されている。
第１の反射手段12によって反射された被測定物Ｗの底面
像を上方に反射する第２の反射手段13が配設されてい
る。この第２の反射手段13としては、例えば、平面鏡が
第１の反射手段12に対して約90度に傾斜配設されてい
る。すなわち、上記第１の反射手段12と第２の反射手段
13とによって、被測定物Ｗの底面像を上方に反射するよ
うに構成されている。
【００１３】さらに、上記第２の反射手段13の上方には
第３の反射手段14によって水平方向に反射された側面像
を撮影レンズ15a を経て撮影するテレビカメラ等の撮像
装置15が設置されている。なお、上記第３の反射手段14
および撮像装置15は、実際には90°回転した紙面と垂直
な方向に配設されている。
第３の反射手段14によって水平方向に反射された側面像
を撮影レンズ15a を経て撮影するテレビカメラ等の撮像
装置15が設置されている。なお、上記第３の反射手段14
および撮像装置15は、実際には90°回転した紙面と垂直
な方向に配設されている。
【００１４】前記第１の反射手段12は半透鏡で構成さ
れ、その背部（側方）には光源17が設置され、第１の反
射手段12を通して照明を行うようにしている。この光源
17は、長手方向に延びる蛍光灯等によって構成される。
れ、その背部（側方）には光源17が設置され、第１の反
射手段12を通して照明を行うようにしている。この光源
17は、長手方向に延びる蛍光灯等によって構成される。
【００１５】そして、前記コンデンサレンズ20はフレネ
ルレンズで構成され、その焦点距離が撮像装置15におけ
る撮影レンズ15a の設置位置となるように、撮像装置15
の配設位置との関係が設定され、テレセントリック光学
系が構成されている。
ルレンズで構成され、その焦点距離が撮像装置15におけ
る撮影レンズ15a の設置位置となるように、撮像装置15
の配設位置との関係が設定され、テレセントリック光学
系が構成されている。
【００１６】撮影状態は、載置台11（コンデンサレンズ
20）上に被測定物Ｗが載置され、光源17からの照明光が
半透鏡による第１の反射手段12を通して上記載置台11上
の被測定物Ｗの底面を照明する。また、底面像はコンデ
ンサレンズ20を通して第１ないし第３の反射手段12〜14
を経て撮像装置15によって撮影される。その際、前記コ
ンデンサレンズ20の介装に伴うテレセントリック光学系
により、コンデンサレンズ20より上方の光路は光軸と平
行になり、載置台11（コンデンサレンズ20）から離れた
部分の輪郭形状についても視差による形状比率が変化す
ることなく、正確に投影された底面像が撮影される。そ
して、撮影された画像は、画像処理装置によって処理さ
れて例えば輪郭が認識され、これに基づき足裏形状の各
部の寸法等を測定するものである。
20）上に被測定物Ｗが載置され、光源17からの照明光が
半透鏡による第１の反射手段12を通して上記載置台11上
の被測定物Ｗの底面を照明する。また、底面像はコンデ
ンサレンズ20を通して第１ないし第３の反射手段12〜14
を経て撮像装置15によって撮影される。その際、前記コ
ンデンサレンズ20の介装に伴うテレセントリック光学系
により、コンデンサレンズ20より上方の光路は光軸と平
行になり、載置台11（コンデンサレンズ20）から離れた
部分の輪郭形状についても視差による形状比率が変化す
ることなく、正確に投影された底面像が撮影される。そ
して、撮影された画像は、画像処理装置によって処理さ
れて例えば輪郭が認識され、これに基づき足裏形状の各
部の寸法等を測定するものである。
【００１７】本例によれば、コンデンサレンズ20の設置
によって簡単な構成で被測定物Ｗの底面の輪郭形状を視
差を生じることなく正確に投影撮影でき、精度のよい計
測が可能となる。
によって簡単な構成で被測定物Ｗの底面の輪郭形状を視
差を生じることなく正確に投影撮影でき、精度のよい計
測が可能となる。
【００１８】なお、前記コンデンサレンズ20としては、
上記のようなフレネルレンズが薄く実用性の点などから
好適であるが、他の集光レンズを利用したものが適宜採
用可能である。上記コンデンサレンズ20を前記実施例で
は載置台11と別体にその上面側に設けているが、このコ
ンデンサレンズ20を載置台11の下面側に設けるようにし
てもよく、また、コンデンサレンズ20と載置台11を一体
的に形成するようにしてもよい。さらに、上記実施例で
は、撮像装置15を上部で水平に配設することから３つの
反射手段を設置しているが、第１または第２の反射手段
12,13 による像を直接撮影するように構成してもよい。
上記のようなフレネルレンズが薄く実用性の点などから
好適であるが、他の集光レンズを利用したものが適宜採
用可能である。上記コンデンサレンズ20を前記実施例で
は載置台11と別体にその上面側に設けているが、このコ
ンデンサレンズ20を載置台11の下面側に設けるようにし
てもよく、また、コンデンサレンズ20と載置台11を一体
的に形成するようにしてもよい。さらに、上記実施例で
は、撮像装置15を上部で水平に配設することから３つの
反射手段を設置しているが、第１または第２の反射手段
12,13 による像を直接撮影するように構成してもよい。
【００１９】一方、上記実施例では片足の撮影について
示したが、両足を同時に撮影するようにしてもよい。す
なわち、図１と対称に他方の載置台と各反射手段と撮像
装置およびコンデンサレンズを配設すればよいものであ
る。
示したが、両足を同時に撮影するようにしてもよい。す
なわち、図１と対称に他方の載置台と各反射手段と撮像
装置およびコンデンサレンズを配設すればよいものであ
る。
【００２０】さらに、上記実施例では底面像のみを撮影
するようにしているが、側面像をも同時に撮影するよう
にしてもよい。例えば、前記載置台11の側方に被測定物
Ｗの側面像を前記第３の反射手段14に向けて反射する反
射手段を設け、前記撮像装置15によって同一視野内に側
面像と底面像とを隣接して同時に撮影するのが好適であ
る。この場合、側面像の撮影系にもコンデンサレンズを
介装してテレセントリック光学系に形成するのが好適で
ある。
するようにしているが、側面像をも同時に撮影するよう
にしてもよい。例えば、前記載置台11の側方に被測定物
Ｗの側面像を前記第３の反射手段14に向けて反射する反
射手段を設け、前記撮像装置15によって同一視野内に側
面像と底面像とを隣接して同時に撮影するのが好適であ
る。この場合、側面像の撮影系にもコンデンサレンズを
介装してテレセントリック光学系に形成するのが好適で
ある。
【００２１】本考案における被測定物Ｗは前記実施例の
ような足に限らず、底面からの輪郭画像が必要な各種物
品に対して適用可能である。
ような足に限らず、底面からの輪郭画像が必要な各種物
品に対して適用可能である。
【００２２】
【考案の効果】上記のような光学測定器によれば、載置
台に載置した被測定物の底面像を反射手段を介して撮像
するについて、載置台の上面または下面にコンデンサレ
ンズを設け、該コンデンサレンズの焦点位置に撮影レン
ズを設置したことにより、観察像は撮影レンズから放射
状に拡大する光路がコンデンサレンズで光軸に平行とな
り、載置台への接触部分より上方で外側に張り出してい
る輪郭部分の形状も光軸と平行に投影されて、視差がな
く寸法等が正確な底面像を得ることができ、この底面像
に基づく精度のよい測定を行うことができる。
台に載置した被測定物の底面像を反射手段を介して撮像
するについて、載置台の上面または下面にコンデンサレ
ンズを設け、該コンデンサレンズの焦点位置に撮影レン
ズを設置したことにより、観察像は撮影レンズから放射
状に拡大する光路がコンデンサレンズで光軸に平行とな
り、載置台への接触部分より上方で外側に張り出してい
る輪郭部分の形状も光軸と平行に投影されて、視差がな
く寸法等が正確な底面像を得ることができ、この底面像
に基づく精度のよい測定を行うことができる。
【図１】本考案の一実施例における光学測定器の概略構
成を示す正面構成図
成を示す正面構成図
10 測定器 Ｗ 被測定物 11 載置台 12 第１の反射手段 13 第２の反射手段 15 撮像装置 15a 撮影レンズ 17 光源 20 コンデンサレンズ
Claims (1)
- 【請求項１】 下方から被測定物の底面が観視可能な載
置台に被測定物を載置し、この被測定物の底面像を反射
手段を介して撮影するようにした光学測定器であって、
前記載置台の上面または下面にフレネルレンズ等のコン
デンサレンズを設け、該コンデンサレンズの焦点位置に
撮影レンズを設置したことを特徴とする光学測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP90292U JP2545857Y2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | 光学測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP90292U JP2545857Y2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | 光学測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0559220U JPH0559220U (ja) | 1993-08-06 |
| JP2545857Y2 true JP2545857Y2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=11486616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP90292U Expired - Lifetime JP2545857Y2 (ja) | 1992-01-14 | 1992-01-14 | 光学測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2545857Y2 (ja) |
-
1992
- 1992-01-14 JP JP90292U patent/JP2545857Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0559220U (ja) | 1993-08-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970311 |