JP2505305B2 - Cmosマスタスライス - Google Patents

Cmosマスタスライス

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JP2505305B2
JP2505305B2 JP2214017A JP21401790A JP2505305B2 JP 2505305 B2 JP2505305 B2 JP 2505305B2 JP 2214017 A JP2214017 A JP 2214017A JP 21401790 A JP21401790 A JP 21401790A JP 2505305 B2 JP2505305 B2 JP 2505305B2
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mos transistor
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mos transistors
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正明 成石
昇 山河
収 大場
直康 関
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JFE Steel Corp
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Kawasaki Steel Corp
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ゲートアレー型LSIに用いられるマスタス
ライスに関するものであり、特に、pチャネルMOSトラ
ンジスタとnチャネルMOSトランジスタとを組み合わせ
て基本セルを構成し、この基本セルの集合を規則的に配
列したCMOSマスタスライスに関するものである。
〔従来の技術〕 第3図は従来のゲート敷き詰め型CMOSマスタスライス
に適用されている基本セルの一例を示す平面図である。
基本セル1はpチャネル領域2とnチャネル領域3から
なる。pチャネル領域2にはゲート4、5で示される2
個のpチャネル大MOSトランジスタとゲート6、7で示
される2個のpチャネル小MOSトランジスタが形成され
ている。nチャネル領域3にはゲート8、9で示される
2個のnチャネル大MOSトランジスタとゲート10、11で
示される2個のnチャネル小MOSトランジスタが形成さ
れている。なお符号12はn型半導体基板上に形成された
pウエル領域を示し、符号13〜17はゲート幅方向の配線
トラックを示している。
この基本セルは、pチャネル、nチャネルについてそ
れぞれ4個のMOSトランジスタを有するため、SRAMメモ
リ回路の一単位を一つの基本セルで効率よく構成できる
という特長を持っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、ロジック回路を構成する場合には、小MOSト
ランジスタのゲート6,7,10,11を用いない場合も多々有
り、2個のPチャネル大MOSトランジスタと2個のnチ
ャネル大MOSトランジスタで基本セルを構成した場合に
較べ集積効率が不十分であった。
本発明の課題は、このような問題点を解消することに
ある。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために本発明のCMOSマスタスライ
スは、基本セルが、pチャネル、nチャネルの各トラン
ジスタ領域毎に、ゲートが互いに平行に向かい合って配
置されたゲート幅がW1の2個の大MOSトランジスタと、
この大MOSトランジスタ対の両側においてこれらとゲー
トが平行に向かい合い、且つ、ゲート幅方向の位置が互
いに重複しないように配置されたゲート幅がW2(W2≦W1
/2)の2個の小MOSトランジスタとを備えており、両ト
ランジスタ領域は、pチャネル領域の第1MOSトランジス
タとnチャネル領域の第1MOSトランジスタとがそれぞれ
ゲート幅方向に同一線上に配置されるように隣接してお
り、各基本セルの第2MOSトランジスタが、左右において
隣接する他の基本セルの前記第2MOSトランジスタとゲー
ト幅方向に同一線上にのるように各基本セルが配置され
ているものである。
〔作用〕
基本セルを隙間なく配列したときに、各基本セルの小
MOSトランジスタは隣の基本セルの小MOSトランジスタと
同一のトラック上に並ぶ。したがって、1基本セルに対
して1トラック分だけ従来より面積が縮小する。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例であるCMOSマスタスライス
の基本セルを示す平面図である。
基本セル21はpチャネル領域22およびこれと隣接する
nチャネル領域23からなる。この実施例はn型半導体基
板上に多数の基本セルを配列した例であるので、nチャ
ネル領域23にp型ウエル領域32が形成されている。pチ
ャネル領域22にはゲート24、25で示される2個のpチャ
ネル大MOSトランジスタおよびゲート26、27で示される
2個のpチャネル小MOSトランジスタが形成されてい
る。nチャネル領域3にはゲート28、29で示される2個
のnチャネル大MOSトランジスタとゲート30、31で示さ
れる2個のnチャネル小MOSトランジスタが形成されて
いる。
小MOSトランジスタの各ゲート26、27、30、31のゲー
ト幅W2は、大MOSトランジスタの各ゲート24、25、28、2
9のゲート幅W1の2分の1以下に設定されている。
また、小MOSトランジスタのゲート26と27は、pチャ
ネル領域22においてゲート幅方向(y方向)に互いにず
れており、ゲート幅方向の位置が相互に重ならないよう
になっている。同様に、小MOSトランジスタのゲート3
0、31は、nチャネル領域23においてゲート幅方向に重
ならないようにずれている。
このように構成されているので、基本セル21の左隣の
基本セルの図示省略した小MOSトランジスタのうちの右
側の2個が、ゲート26および30を持つ小MOSトランジス
タの間に挟まれる。換言すると、これら4個の小MOSト
ランジスタが配線トラック33上に一列に並ぶことにな
る。一方、基本セル21の右隣の基本セルの図示省略した
小MOSトランジスタのうちの左側の2個は、ゲート27お
よび31を持つ小MOSトランジスタを挟むようにして、こ
れらと共に配線トラック37上に一列に配列される。した
がって、基本セルを横方向(x方向)に多数配列する
と、1基本セル当たりの平均の幅は4配線トラック分と
なる。これは、5配線トラック分の幅が必要であった従
来の基本セルに比べると面積は5分の4となり、したが
って、集積度は4分の5に向上したことになる。
第2図に示す回路図はSRAMメモリ回路の一単位を示し
たものであり、第1図の基本セルに配線を施すことによ
りこれを構成することができる。配線40〜53はその一例
を示したものであり、実線は第1層配線、破線は第2層
配線、〇印はコンタクト部を示している。なお、第2図
のpチャネルMOSトランジスタ61、62は、第1図のゲー
ト24、25を持つpチャネルMOSトランジスタに相当し、
第2図のnチャネルMOSトランジスタ63、64、65、66
は、それぞれ第1図のゲート28、29、30、31を持つnチ
ャネルMOSトランジスタに相当する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のCMOSマスタスライスに
よれば、従来の典型的な敷き詰め型CMOSマスタスライス
の5分の4の面積で基本セルを構成することができるの
で、全体としての集積度を4分の5に高めることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるCMOSマスタスライスの
基本セルを示す平面図、第2図はSRAMメモリ回路の一単
位を示す回路図、第3図は従来のCMOSマスタスライスの
基本セルを示す平面図である。 21……基本セル、22……pチャネル領域、23……nチャ
ネル領域、24〜27……pチャネルMOSトランジスタのゲ
ート、28〜31……nチャネルMOSトランジスタのゲー
ト。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 関 直康 東京都千代田区内幸町2丁目2番3号 川崎製鉄株式会社東京本社内 (56)参考文献 特開 昭60−254631(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】pチャネルMOSトランジスタが形成されて
    いるpトランジスタ領域と、このpトランジスタ領域に
    隣接しnチャネルMOSトランジスタが形成されているn
    トランジスタ領域とによって基本セルが構成され、この
    基本セルが規則的に多数個配列されて成るCMOSマスタス
    ライスにおいて、 前記基本セルは各トランジスタ領域毎に、 ゲートが互いに平行に向かい合って配置されたゲート幅
    がW1の2個の第1MOSトランジスタと、 この第1MOSトランジスタ対の両側においてこれらとゲー
    トが平行に向かい合い、且つ、ゲート幅方向の位置が互
    いに重複しないように配置されたゲート幅がW2(W2≦W1
    /2)の2個の第2MOSトランジスタとを備え、 この両トランジスタ領域は、pチャネル領域の第1MOSト
    ランジスタとnチャネル領域の第1MOSトランジスタとが
    それぞれゲート幅方向に同一線上に配置されるように隣
    接しており、 前記各基本セルの前記第2MOSトランジスタが、左右にお
    いて隣接する他の基本セルの前記第2MOSトランジスタと
    ゲート幅方向に同一線上にのるように前記各基本セルが
    配置されていることを特徴とするCMOSマスタスライス。
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