JP2022537294A - 加工物表面のoct走査領域を表示するための、及び/又は表面特徴を測定するための方法並びに関連するoctシステム - Google Patents
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Abstract
Description
- 加工物表面の画像を記録するステップと、
- 光コヒーレンス断層撮影機によって加工物表面を光学的に走査することにより、加工物表面の高さプロファイルを記録するステップと、
- 加工物表面の記録された画像及び記録された高さプロファイルを一緒に、とりわけ重ね合わされた方式で表示するステップと
を含む方法により、本発明に従って実現される。
- 加工物表面の画像を記録するステップと、
- 記録された画像に基づいて、測定される少なくとも1つの表面特徴を決定するステップと、
- 決定された少なくとも1つの表面特徴を測定するために、決定された少なくとも1つの表面特徴の位置において、光コヒーレンス断層撮影機によって加工物表面を光学的に走査することにより、加工物表面の高さプロファイルを記録するステップと
を含む方法にも関する。
2 加工物表面
3 加工物
4 カメラ
5 光コヒーレンス断層撮影機
6 レーザ源
7 処理レーザビーム
8 レーザスキャナ
9 OCT光源
10 OCTビーム
11 ビームスプリッタ
12 測定ビーム
13 参照ビーム
14 測定アーム
15 参照アーム
16 ミラー
17 空間分解検出器
18 OCTスキャナ
19 ミラー
20 ミラー
21 リング照明設備
22 照明設備
23 カメラ画像
24 ディスプレイ
25 選択装置
26 画像抜粋
27 コントローラ
28 高さプロファイル
Claims (14)
- 加工物表面(2)の光学走査領域を表示するための方法であって、以下のステップ:
- 前記加工物表面(2)の画像(23)を記録するステップと、
- 光コヒーレンス断層撮影機(5)によって前記加工物表面(2)を光学的に走査することにより、前記加工物表面(2)の高さプロファイル(28)を記録するステップと、
- 前記加工物表面(2)の前記記録された画像(23)及び前記記録された高さプロファイル(28)を一緒に、とりわけ重ね合わされた方式で表示するステップと
によって特徴付けられる方法。 - 画像抜粋(26)は、前記加工物表面(2)の前記表示画像(23)内で選択され、前記光コヒーレンス断層撮影機(5)によって後に走査される前記加工物表面(2)の前記領域は、前記画像抜粋に限定される、請求項1に記載の方法。
- 前記画像抜粋(26)は、前記表示画像(23)上においてグラフィカルに、とりわけマウスによって、ピンチズーム機能によって又は位置入力によって直接選択される、請求項2に記載の方法。
- 前記画像(23)は、前記光コヒーレンス断層撮影機(5)の測定アーム(14)に対して同軸上で記録される、請求項1~3の何れか一項に記載の方法。
- 加工物表面(2)の表面特徴を測定するための方法であって、以下のステップ:
- 前記加工物表面(2)の画像(23)を記録するステップと、
- 前記記録された画像(23)に基づいて、測定される少なくとも1つの表面特徴を決定するステップと、
- 前記決定された少なくとも1つの表面特徴を測定するために、前記決定された少なくとも1つの表面特徴の位置において、光コヒーレンス断層撮影機(5)によって前記加工物表面(2)を光学的に走査することにより、前記加工物表面(2)の高さプロファイル(28)を記録するステップと
によって特徴付けられる方法。 - 前記測定される少なくとも1つの表面特徴は、前記記録された画像(23)に基づいて、自動化された方式で決定される、請求項5に記載の方法。
- 前記測定される少なくとも1つの表面特徴は、前記表示画像(23)に基づいて手動で決定される、請求項5に記載の方法。
- 前記測定される表面特徴を有する画像抜粋(26)は、前記加工物表面(2)の前記表示画像(23)内で選択され、前記光コヒーレンス断層撮影機(5)によって後に走査される前記加工物表面(2)の領域は、前記画像抜粋に限定される、請求項7に記載の方法。
- 前記画像抜粋(26)は、前記表示画像(23)上においてグラフィカルに、とりわけマウスによって、ピンチズーム機能によって又は位置入力によって直接選択される、請求項8に記載の方法。
- 加工物表面(2)を光学的に走査することにより、前記加工物表面(2)の高さプロファイル(28)を記録するための、光コヒーレンス断層撮影機(5)を含むOCTシステム(1)であって、
- 前記加工物表面(2)の画像(23)を記録するためのカメラ(4)、
- 前記加工物表面(2)の前記記録された画像(23)及び前記記録された高さプロファイル(28)を一緒に、とりわけ重ね合わされた方式で表示するためのディスプレイ(24)及び/又は前記記録された画像(23)に基づいて、測定される少なくとも1つの表面特徴を決定するための画像処理設備
によって特徴付けられるOCTシステム(1)。 - 前記表示画像(23)内又は外で画像抜粋(26)を選択するための選択装置(25)と、前記光コヒーレンス断層撮影機(5)によって走査される前記加工物表面(2)の領域を、前記選択された画像抜粋(26)に限定するコントローラ(27)とによって特徴付けられる、請求項10に記載のOCTシステム。
- 前記選択装置(25)は、前記表示画像(23)内又は外で画像抜粋(26)をグラフィカルに選択するための入力手段を有する、請求項11に記載のOCTシステム。
- 前記選択装置(25)は、入力手段として、前記ディスプレイ(24)のタッチ式画面であって、前記画面上で前記画像抜粋(26)が選択される、タッチ式画面又は手動での位置入力のための入力パネルを有する、請求項12に記載のOCTシステム。
- 前記カメラ(4)は、前記光コヒーレンス断層撮影機(5)の測定アーム(14)に対して同軸上で前記加工物表面(2)に向けられる、請求項10~13の何れか一項に記載のOCTシステム。
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