JP2018040801A - テスト用回路板及びその操作方法 - Google Patents
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Abstract
Description
10 回路板本体
100 観察口
111 プローブ
120 ケーブル
L1、L2、L3、L4、L1’、L2’ 回路
130 導電部材
D1、D2、D3、D4 第1の電気接続点
d1、d2、d3、d4、d1’、d2’ 第2の電気接続点
S1、S2、S3、S4 導電接点
T1、T2、T3、T4 テスト接点
Claims (13)
- 中央領域と周縁領域とが定義された回路板本体と、
前記回路板本体の前記中央領域に設けられた複数の第1の電気接続点と、
前記回路板本体の前記周縁領域に設けられた複数の第2の電気接続点と、
前記回路板本体に予め設けられ、前記第1の電気接続点のうちの対応するものと前記第2の電気接続点のうちの対応するものに接続された複数の回路と、
テスト信号を受信し、前記回路板本体の前記周縁領域であって前記複数の第2の電気接続点の付近に設けられる複数のテスト接点と、
を備えるテスト用回路板。 - 前記中央領域には複数のプローブが設けられている請求項1に記載のテスト用回路板。
- 前記複数の第1の電気接続点は前記プローブの周囲に設けられている請求項2に記載のテスト用回路板。
- 前記プローブの周囲には複数の導電接点がさらに設けられている請求項3に記載のテスト用回路板。
- 前記プローブは、前記複数の第1の電気接続点と前記複数の導電接点とに電気的に接続されている請求項4に記載のテスト用回路板。
- 前記第1の電気接続点、前記第2の電気接続点と前記テスト接点は、接地接点、電源接点または信号接点である請求項1に記載のテスト用回路板。
- 前記テスト接点は前記第2の電気接続点に電気的に接続されている請求項1に記載のテスト用回路板。
- 前記回路板本体はユニバーサルボード構造である請求項1に記載のテスト用回路板。
- 請求項1に記載のテスト用回路板を提供し、前記回路板本体の中央領域で前記複数の第1の電気接続点の周囲に位置して前記複数の第1の電気接続点と電気的に接続するように複数のプローブを設ける工程と、
前記複数のテスト接点を導電部材を介して前記第2の電気接続点のうちの対応するものに電気的に接続する工程と、
テスト信号を、前記テスト接点、前記第2の電気接続点、前記複数の回路、前記第1の電気接続点のうちの対応するもの、および前記プローブを介してテストする装置に伝送する工程と、
を備えるテスト用回路板の操作方法。 - 前記プローブの周囲には複数の導電接点が設けられている請求項9に記載のテスト用回路板の操作方法。
- 前記プローブはケーブルを介して前記第1の電気接続点に電気的に接続されている請求項9に記載のテスト用回路板の操作方法。
- 前記第1の電気接続点、前記第2の電気接続点と前記テスト接点は、接地接点、電源接点または信号接点である請求項9に記載のテスト用回路板の操作方法。
- 前記テスト接点は、導電ペースト、ピン、ジャンパー、スイッチングボード、スイッチまたは接続ソケットを介して前記第2の電気接続点に電気的に接続されている請求項9に記載のテスト用回路板の操作方法。
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