JP2017015654A - 測距装置及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】一般的な発光装置が有する部材を利用した簡易な構成で光源から物体までの距離に関する情報を得ることができる測距装置を提供する。
【解決手段】測距装置100は、物体に光を照射する光源110と、光源から発せられて物体で反射した光である反射光を検出する検出部120−1、120−2と、光源から物体までの距離が基準距離であるときの検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部130と、基準検出値と、検出部の現在の検出値とに基づいて、光源から物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する第1取得手段140と、を有する。
【選択図】図1
【解決手段】測距装置100は、物体に光を照射する光源110と、光源から発せられて物体で反射した光である反射光を検出する検出部120−1、120−2と、光源から物体までの距離が基準距離であるときの検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部130と、基準検出値と、検出部の現在の検出値とに基づいて、光源から物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する第1取得手段140と、を有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、測距装置及びその制御方法に関する。
光源、光源に対向する位置に設けられた光学シート、及び、光源から発せられて光学シートで反射した光である反射光の輝度を検出する輝度センサ、を有する発光装置(直下型発光装置)が一般的に知られている。このような発光装置では、輝度センサの検出値が目標値に一致するように、光源の発光輝度が制御される。しかしながら、このような発光装置では、光学シートのたわみにより、光源から光学シートまで距離が変化し、光源から発せられた光の拡散距離が変化する。そして、拡散距離の変化により、発光装置から発せられた光の輝度ムラが生じる。例えば、発光装置の発光面において、光源が設けられた位置に近いほど輝度が高い又は低い輝度ムラが生じる。発光装置の発光面は、例えば、光学シートのシート面である。
物体までの距離の測定に関する技術(測距技術)として、様々な従来技術が提案されている。例えば、特許文献1に開示の測距技術では、レンズを用いてスポット光が物体に照射され、位置センサを用いて物体表面におけるスポット光の位置が検出される。そして、三角測量に基づく方法により、物体表面におけるスポット光の位置から、物体までの距離が検出される。三角測量に基づく方法で距離を測定する測距技術は、例えば、撮像装置の合焦、試料の位置調整、等に利用されている。
しかしながら、従来の測距技術では、距離の測定のためだけに使用されるユニット(測距ユニット;レンズ、位置センサ、等)が必要である。そのため、従来の測距技術は、コストの増加を招く。また、従来の測距技術を発光装置に適用すると、測距ユニットが影を作ることによって、新たな輝度ムラが発生する虞がある。
本発明は、一般的な発光装置が有する部材を利用した簡易な構成で光源から物体までの距離に関する情報を得ることができる技術を提供することを目的とする。
本発明の第1の態様は、
物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部と、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する第1取得手段と、
を有することを特徴とする測距装置である。
物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部と、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する第1取得手段と、
を有することを特徴とする測距装置である。
本発明の第2の態様は、
物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光の輝度を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する記憶部と、
を有する測距装置の制御方法であって、
前記検出部の現在の検出値を取得する検出ステップと、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する取得ステップと、
を有することを特徴とする測距装置の制御方法である。
物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光の輝度を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する記憶部と、
を有する測距装置の制御方法であって、
前記検出部の現在の検出値を取得する検出ステップと、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する取得ステップと、
を有することを特徴とする測距装置の制御方法である。
本発明の第3の態様は、上述した測距装置の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラムである。
本発明によれば、一般的な発光装置が有する部材を利用した簡易な構成で光源から物体までの距離に関する情報を得ることができる。
以下、本発明の実施形態に係る測距装置及びその制御方法について説明する。本実施形態に係る測距装置は、例えば、画像表示装置の発光装置(直下型発光装置)として使用することができる。発光装置を有する画像表示装置では、表示パネル(表示部)が発光装置からの光を変調(透過)することで画面に画像が表示される。表示パネルとしては、例えば、複数の液晶素子を有する液晶パネル、液晶素子の代わりにMEMS(Micro Electro Mechanical System)シャッターを用いたMEMSシャッター方式パネル、等を使用することができる。表示パネルとして液晶パネルを有する画像表示装置は「液晶表示装置」と呼ばれ、液晶表示装置の発光装置は「バックライト装置」と呼ばれる。本実施形態に係る測距装置は、街灯、室内照明、顕微鏡照明、等の照明装置としても使用することができる。なお、本実施形態に係る測距装置は、発光装置や照明装置として使用されなくてもよい。
図1は、本実施形態に係る測距装置100の機能構成の一例を示すブロック図である。図1に示すように、測距装置100は、光源110、光検出部120−1,120−2、記憶部130、及び、距離判断部140を有する。図2は、測距装置100の断面の一例を示す断面図である。図2には、光源110、光検出部120−1,120−2、物体210、及び、基体220が図示されている。
光源110は、物体210に光を照射する。光源110は、1つ以上の発光素子を有する。発光素子としては、例えば、発光ダイオード(LED)、冷陰極管素子、有機EL素
子、等を使用することができる。光源110の発光特性は特に限定されない。本実施形態では、ランバート配向の発光特性を有する1つのLEDが光源110として使用されたとする。「ランバート配向の発光特性」は、強度分布が略ランバート分布である指向性を有する光を発する発光特性である。
子、等を使用することができる。光源110の発光特性は特に限定されない。本実施形態では、ランバート配向の発光特性を有する1つのLEDが光源110として使用されたとする。「ランバート配向の発光特性」は、強度分布が略ランバート分布である指向性を有する光を発する発光特性である。
光源110から発せられて物体210に照射された光の少なくとも一部は、物体210で反射される。物体210はどのような物体であってもよい。例えば、測距装置100が発光装置や照明装置として使用される場合には、光源110から発せられた光を光学的な変化を与えて透過する光学シートが、物体210として使用され得る。光学的な変化は、光の集光、光の拡散、等である。光学シートは、1枚のシートで構成されてもよいし、複数のシートで構成されてもよい。測距装置100が顕微鏡で使用される場合には、物体210として観察対象物が使用され得る。物体210は測距装置100の一部であってもよいし、そうでなくてもよい。
光検出部120−1,120−2は、光源110から発せられて物体210で反射した光である反射光を検出する検出部である。即ち、本実施形態では、測距装置100は検出部を複数有する。光検出部120−1,120−2は、光の輝度を検出する輝度センサ、光の色を検出する色センサ、光の輝度と色の両方を検出する光センサ、等を有する。輝度センサとしては、例えば、フォトダイオード、フォトトランジスタ、等を使用することができる。上述したセンサの検出値がアナログ値である場合には、光検出部120−1,120−2は、センサの検出値をアナログ値からデジタル値に変換するAD変換器をさらに有する。本実施形態では、光検出部120−1が、光検出部120−1に入射した光の光量に応じた輝度値を検出値として出力し、光検出部120−2が、光検出部120−2に入射した光の光量に応じた輝度値を検出値として出力する例を説明する。即ち、本実施形態では、光検出部120−1,120−2が反射光の輝度を検出する例を説明する。
光検出部120−1,120−2の検出方向は特に限定されない。即ち、光検出部120−1,120−2は、どの方向からの光を検出してもよい。図2の光線L201は、光源110から物体210までの距離Hが距離h0である場合に光検出部120−1に入射する光線を示し、光線L202は、距離H=h0の場合に光検出部120−1に入射する光線を示す。本実施形態では、光線L201に示すように、光検出部120−1は、光検出部120−1の直上からの光を検出する。そして、光線L202に示すように、光検出部120−2は、光検出部120−2の直上からの光を検出する。「直上」は、光源110と光検出部120−1,120−2の配列方向に垂直な方向において、光検出部に対して物体210の側に存在する位置を意味する。
図2に示すように、光源110と光検出部120−1,120−2は、基体220上に設けられている。光検出部120−1は光源110から距離x1だけ離れた位置に設けられており、光検出部120−2は光源110から距離x2だけ離れた位置に設けられている。図2の例では基体220として、板状の基板が使用されている。なお、基体220の形状は特に限定されない。基体220は測距装置100の一部であってもよいし、そうでなくてもよい。また、光源110は、光検出部120−1,120−2が設けられる基体と異なる基体に設けられてもよい。例えば、基体220が、光源110が設けられる第1の基体と、光検出部120−1,120−2が設けられる第2の基体とを有していてもよい。光検出部120−1は、光検出部120−2が設けられる基体と異なる基体に設けられていてもよい。光源110と光検出部120−1,120−2は、同じ平面上に設けられていてもよいし、そうでなくてもよい。
なお、光源110と光検出部120−1,120−2を含む範囲において物体210の大きく且つランダムな歪みが生じないように、光源110と光検出部120−1,120
−2の配置、物体210の構成、等が工夫されていることが好ましい。例えば、光源110から光検出部120−1までの範囲と、光源110から光検出部120−2までの範囲とにおいて基体220と物体210の間の距離が常に略一定となるように、配置や構成が工夫されていることが好ましい。それにより、より正確な距離情報を得ることができる。
−2の配置、物体210の構成、等が工夫されていることが好ましい。例えば、光源110から光検出部120−1までの範囲と、光源110から光検出部120−2までの範囲とにおいて基体220と物体210の間の距離が常に略一定となるように、配置や構成が工夫されていることが好ましい。それにより、より正確な距離情報を得ることができる。
記憶部130は、光源110から物体210までの距離Hが基準距離であるときの検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部である。本実施形態では、記憶部130は、複数の検出部のそれぞれについて、距離Hが基準距離であるときの検出部の検出値である基準検出値を記憶する。具体的には、図3に示すように、記憶部130は、距離H=h0のときの光検出部120−1の検出値Lv201と光検出部120−2の検出値Lv202とを、それぞれ基準検出値として記憶する。記憶部130としては、例えば、磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ、等を使用することができる。半導体メモリとしては、例えば、不揮発性メモリであるNOR型フラッシュメモリを使用することができる。
距離判断部140は、記憶部130が記憶する基準検出値と、検出部の現在の検出値とに基づいて、光源110から物体210までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する(第1取得処理)。本実施形態では、距離判断部140は、各検出部の基準検出値と、各検出部の現在の検出値とに基づいて、距離情報を取得する。具体的には、距離判断部140は、光検出部120−1の基準検出値、光検出部120−2の基準検出値、光検出部120−1の現在の検出値、及び、光検出部120−2の現在の検出値に基づいて、距離情報を取得する。距離判断部140としては、例えば、中央処理装置(CPU)を使用することができる。
光源110から物体210までの距離の変化によって光検出部120−1,120−2の検出値が変化することについて、図4を用いて説明する。図4は、測距装置100の断面の一例を示す断面図である。図4では、物体210が、光源110から距離hだけ離れている。図4の光線L401は、光源110から物体210までの距離Hが距離hである場合に光検出部120−1に入射する光線を示し、光線L402は、距離H=hの場合に光検出部120−1に入射する光線を示す。
距離Hが基準距離h0から距離hに変化すると、光検出部120−1に入射する光線が光線L201から光線L401に変化し、光検出部120−2に入射する光線が光線L202から光線L402に変化する。
光線L201から光線L401に光線が変化しても、光検出部120−1に入射する光線の入射角度は変化しない。入射角度は、光検出部120−1に光線が入射する際の光線の方向を示す角度である。入射角度は、例えば、光源110と光検出部120−1,120−2の配列方向に垂直な方向に対する角度である。
しかしながら、光線L201から光線L401に光線が変化すると、光検出部120−1に入射する光線の出射角度や光路が変化する。出射角度は、光源110が光線を出射する際の光線の方向示す角度である。出射角度は、例えば、光源110と光検出部120−1,120−2の配列方向に垂直な方向に対する角度である。距離Hが基準距離h0から増加すると、出射角度(光源110と光検出部120−1,120−2の配列方向に垂直な方向)は低減し、光路長は増加する。距離Hが基準距離h0から低減すると、出射角度は増加し、光路長は低減する。
光源110がランバート配向の発光特性を有するため、出射角度が小さいほど、光源110による光線の出射時における光線の光強度は高く、出射角度が大きいほど、光源11
0による光線の出射時における光線の光強度は低い。そして、光路長が長いほど、光検出部に対する光線の入射時における光線の光強度は低く、光路長が短いほど、光検出部に対する光線の入射時における光線の光強度は高い。光線L201から光線L401に光線が変化すると、これらの光強度の変化により、光検出部120−1の検出値(輝度値)が変化する。即ち、距離Hの変化によって光検出部120−1の検出値が変化する。なお、出射角度や光路長に依存して光線の色が変化することもある。
0による光線の出射時における光線の光強度は低い。そして、光路長が長いほど、光検出部に対する光線の入射時における光線の光強度は低く、光路長が短いほど、光検出部に対する光線の入射時における光線の光強度は高い。光線L201から光線L401に光線が変化すると、これらの光強度の変化により、光検出部120−1の検出値(輝度値)が変化する。即ち、距離Hの変化によって光検出部120−1の検出値が変化する。なお、出射角度や光路長に依存して光線の色が変化することもある。
同様に、光線L202から光線L402への光線の変化により、光検出部120−2に入射する光線の出射角度や光路が変化する。それにより、光検出部120−2の検出値(輝度値)が変化する。即ち、距離Hの変化によって光検出部120−2の検出値も変化する。
図5を用いて、検出値(輝度値)の変化について具体的に説明する。図5は、基体220上の位置と、基体220上における反射光の輝度値との対応関係の一例を示す図である。図5のy軸は、基体220上における反射光の輝度値を示し、図5のx軸は、基体220上の位置を示す。具体的には、x軸は、光源110が設けられた位置からの距離を示す。カーブL200は、光源110から物体210までの距離Hが基準距離h0である場合の輝度分布を示す。カーブL300は、距離Hが基準距離h0よりも短い距離h1である場合の輝度分布を示す。カーブL400は、距離Hが基準距離h0よりも長い距離h2である場合の輝度分布を示す。
図5に示すように、カーブL200、カーブL300、及び、カーブL400は、距離x=x234において交差する。即ち、距離x=x234では、距離Hの変化による輝度値の変化は生じない。距離x=234の位置における輝度値は、輝度値Lv234である。本実施形態では、距離x≠x234の位置に光検出部120−1,120−2が配置される。図5から、距離x<x234において、距離Hの増加に伴い輝度値が低下することがわかる。また、距離x>x234において、距離Hの増加に伴い輝度値が増加することがわかる。光検出部120−1は、距離x=x1<x234の位置に配置されており、光検出部120−2は、距離x=x2>x234の位置に配置されている。光検出部120−1では、距離H=h0の場合に輝度値Lv201が得られ、距離H=h1の場合に輝度値Lv301が得られ、距離H=h2の場合に輝度値Lv401が得られる。このように、光検出部120−1(第1検出部)では、距離Hの増加に伴い低下する検出値(輝度値)が得られる。光検出部120−2では、距離H=h0の場合に輝度値Lv202が得られ、距離H=h1の場合に輝度値Lv302が得られ、距離H=h2の場合に輝度値Lv402が得られる。このように、光検出部120−2(第2検出部)では、距離Hの増加に伴い増加する検出値(輝度値)が得られる。光検出部120−1の検出値の増減と、光検出部120−2の検出値の増減とから、距離Hの増減を検出できる。
距離判断部140の処理の具体例について説明する。距離判断部140は、光検出部120−1の現在の検出値(輝度値)と、光検出部120−1の基準検出値とを比較し、光検出部120−2の現在の検出値と、光検出部120−2の基準検出値とを比較する。距離判断部140は、光検出部120−1の現在の検出値が基準検出値よりも小さく、且つ、光検出部120−2の現在の検出値が基準検出値よりも大きい場合に、現在の距離Hが基準距離h0よりも大きいと判断する。距離判断部140は、光検出部120−1の現在の検出値が基準検出値よりも大きく、且つ、光検出部120−2の現在の検出値が基準検出値よりも小さい場合に、現在の距離Hが基準距離h0よりも小さいと判断する。そして、距離判断部140は、光検出部120−1の現在の検出値が基準検出値と等しく、且つ、光検出部120−2の現在の検出値が基準検出値と等しい場合に、現在の距離Hが基準距離h0と等しいと判断する。現在の検出値と基準検出値との比較の結果のパターンは、上述した3パターンのいずれかである。図6は、現在の検出値と、現在の距離Hとの対応
関係の一例を示す。距離判断部140は、上述した判断の結果に基づいて、現在の距離Hと基準距離h0との大小関係を示す距離情報を生成する。
関係の一例を示す。距離判断部140は、上述した判断の結果に基づいて、現在の距離Hと基準距離h0との大小関係を示す距離情報を生成する。
ここで、光検出部120−1の検出値が図5の輝度値Lv401であり、且つ、光検出部120−2の検出値が輝度値Lv402であった場合を考える。この場合、輝度値Lv401は、光検出部120−1の基準検出値である輝度値Lv201よりも小さく、且つ、輝度値Lv402は、光検出部120−2の基準検出値である輝度値Lv202よりも大きい。そのため、現在の距離Hが基準距離h0よりも大きいと判断される。次に、光検出部120−1の検出値が輝度値Lv301であり、且つ、光検出部120−2の検出値が輝度値Lv302であった場合を考える。この場合、輝度値Lv301は輝度値Lv201よりも大きく、且つ、輝度値Lv302は輝度値Lv202よりも小さい。そのため、現在の距離Hが基準距離h0よりも小さいと判断される。
以上述べたように、本実施形態によれば、光源と光検出部を用いて得られた検出値から、現在の距離Hに関する情報が得られる。光源や光検出は、一般的な発光装置(照明装置)に設けられている。また、記憶部やCPUも一般的な発光装置に設けられた部材を利用して、第1記憶部や距離判断部を実現することもできる。そのため、本実施形態によれば、一般的な発光装置が有する部材を利用した簡易な構成で光源から物体までの距離に関する情報を得ることができる。
なお、基準距離の値は、メーカーによって予め定められた固定値であってもよいし、ユーザが変更可能な値であってもよい。基準検出値は、メーカーによって予め定められた固定値であってもよいし、ユーザが変更可能な値であってもよい。基準距離が変更された場合には、変更後の基準距離に対応する検出値を基準検出値として取得すればよい。基準距離に対応する検出値は、光源の劣化により変化することがある。そのため、基準距離に対応する検出値を取得し、取得した検出値に基準検出値を更新する更新処理が繰り返し行われることが好ましい。更新処理は定期的に行われてもよいし、そうでなくてもよい。更新処理は、自動で行われてもよいし、ユーザ操作に応じて行われてもよい。
基準距離や基準検出値が変化しても、光源から物体までの距離の増減と、光検出部の検出値の増減との対応関係は変化しない。例えば、基準距離や基準検出値が変化しても、図5の対応関係(光検出部120−1の検出値の増減、光検出部120−2の検出値の増減、及び、距離Hの増減の対応関係)が維持される。カーブ200の輝度値が低下した場合には、カーブL200、カーブL300、及び、カーブL400は、距離x=x234において交差するように、カーブL300とカーブL400の輝度値も低下する。カーブ200の輝度値が増加した場合には、カーブL200、カーブL300、及び、カーブL400は、距離x=x234において交差するように、カーブL300とカーブL400の輝度値も増加する。そのため、基準距離や基準検出値が変化しても、上記方法により距離情報を取得することができる。
なお、本実施形態では、光源が基準の発光輝度で発光する場合の例を説明した。しかしながら、発光装置では、光源の発光輝度(光源を駆動する駆動信号の値)が制御されることがある。そして、光源の発光輝度が変化すると、基準距離に対応する検出値も変化する。そのため、光源の発光輝度(光源を駆動する駆動信号の値)が基準値から変更された場合に、変更後の発光輝度に基づいて、基準検出値を補正する補正部を、測距装置がさらに有していてもよい。補正部では、例えば、発光輝度が10%低減された場合に、基準検出値を10%低減する補正が行われる。
なお、本実施形態では、光源から物体までの現在の距離と基準距離との大小関係を示す距離情報が取得される例を説明したが、距離情報はこれに限らない。距離情報として、光
源から物体までの現在の距離を示す情報が取得されてもよい。距離情報として、光源から物体までの現在の距離と基準距離の差を示す情報が取得されてもよい。現在の距離と基準距離の差は、現在の距離と基準距離の一方から他方を減算した値であってもよいし、現在の距離と基準距離の一方に対する他方の割合であってもよい。これらの距離情報は、例えば、光源から物体までの距離に関する値、及び、光検出部の検出値と基準検出値の差、の対応関係を示す関係情報(テーブルや関数)をさらに用いることで得ることができる。関係情報を使用する場合には、関係情報を記憶する第2記憶部が必要となる。第2記憶部は、図1の記憶部130とは別体の記憶部であってもよいし、そうでなくてもよい。記憶部130は、第1記憶部と第2記憶部の両方を兼ねてもよい。測距装置が複数の検出部(光検出部)を有する場合には、第2記憶部は、複数の検出部のそれぞれについて、関係情報を記憶してもよい。そして、各検出部の関係情報をさらに用いて距離情報が取得されてもよい。関係情報は、メーカーによって予め定められた固定の情報であってもよいし、ユーザが変更可能な情報であってもよい。
源から物体までの現在の距離を示す情報が取得されてもよい。距離情報として、光源から物体までの現在の距離と基準距離の差を示す情報が取得されてもよい。現在の距離と基準距離の差は、現在の距離と基準距離の一方から他方を減算した値であってもよいし、現在の距離と基準距離の一方に対する他方の割合であってもよい。これらの距離情報は、例えば、光源から物体までの距離に関する値、及び、光検出部の検出値と基準検出値の差、の対応関係を示す関係情報(テーブルや関数)をさらに用いることで得ることができる。関係情報を使用する場合には、関係情報を記憶する第2記憶部が必要となる。第2記憶部は、図1の記憶部130とは別体の記憶部であってもよいし、そうでなくてもよい。記憶部130は、第1記憶部と第2記憶部の両方を兼ねてもよい。測距装置が複数の検出部(光検出部)を有する場合には、第2記憶部は、複数の検出部のそれぞれについて、関係情報を記憶してもよい。そして、各検出部の関係情報をさらに用いて距離情報が取得されてもよい。関係情報は、メーカーによって予め定められた固定の情報であってもよいし、ユーザが変更可能な情報であってもよい。
図7は、関係情報の一例を示す図である。図7の関係情報は、光検出部120−1と光検出部120−2の関係情報を示す。図7の関係情報は、光源から物体までの距離Hと基準距離h0の差、光検出部120−1の検出値と基準検出値の差、及び、光検出部120−2の検出値と基準検出値の差の対応関係を示す。図7の関係情報をさらに用いることで、現在の距離H、現在の距離Hと基準距離h0の差、等を示す距離情報を得ることができる。ここで、光検出部120−1の現在の検出値が基準検出値の2%だけ基準検出値よりも小さく、且つ、光検出部120−2の現在の検出値が基準検出値の2%だけ基準検出値よりも大きい場合を考える。この場合には、現在の距離Hが基準距離h0より2mmだけ大きいことを示す距離情報を得ることができる。
なお、関係情報において、光源から物体までの距離に関する値は、距離Hと基準距離h0の差に限らない。例えば、光源から物体までの距離に関する値は、距離Hであってもよい。距離Hと基準距離h0の差は、距離Hと基準距離h0の一方から他方を減算した値であってもよいし、距離Hと基準距離h0の一方に対する他方の割合であってもよい。
なお、本実施形態では、光源に対して同じ側に複数の光検出部が設けられている例を説明したが、複数の光検出部の配置はこれに限らない。光源からの距離が異なる複数の位置に複数の光検出部が配置されていれば、光検出部の位置は特に限定されない。例えば、図8に示すように、光源110から光検出部120−1へ向かう方向が、光源110から光検出部120−2へ向かう方向と異なる方向となるように、光検出部120−1,120−2が配置されてもよい。
なお、本実施形態では、2つの光検出部を使用する例を説明したが、光検出部の数はこれに限らない。3つ以上の光検出部が使用されてもよいし、1つの光検出部が使用されてもよい。光源から物体までの距離の変化によって反射光の輝度が変化する位置に設けられた光検出部が使用されれば、光検出部の数は特に限定されない。また、本実施形態では、複数の光検出部が第1検出部と第2検出部を含む例を説明したが、複数の光検出部の全てが第1検出部であってもよいし、複数の光検出部が第2検出部であってもよい。第1検出部は、光源から物体までの距離が増加した際に反射光の輝度が低下する位置に設けられた光検出部であり、第2検出部は、光源から物体までの距離が増加した際に反射光の輝度が増加する位置に設けられた光検出部である。
なお、使用する光検出部のパターン(組み合わせ)が互いに異なる複数の第1取得処理が行われ、複数の第1取得処理によって得られた複数の距離情報を代表する距離情報が、最終的な距離情報として取得されてもよい。複数の距離情報を代表する距離情報は、例えば、複数の距離情報の平均の情報、複数の距離情報の最頻の情報、複数の距離情報の中間
の情報、等である。これにより、より高精度な距離情報を得ることができる。
の情報、等である。これにより、より高精度な距離情報を得ることができる。
例えば、図9に示すように、4つの光検出部120−1,120−2,120−3,120−4が使用されてもよい。図9の光線L403は、距離H=hの場合に光検出部120−3に入射する光線を示し、光線L404は、距離H=hの場合に光検出部120−4に入射する光線を示す。光検出部120−1と光検出部120−3は光源110から距離x1だけ離れており、光検出部120−2と光検出部120−4は光源110から距離x2だけ離れている。この場合、光検出部120−1と光検出部120−2の現在の検出値を用いて第1の距離情報が取得され、光検出部120−3と光検出部120−4の現在の検出値を用いて第2の距離情報が取得されてもよい。そして、第1の距離情報と第2の距離情報の平均が、最終的な距離情報として取得されてもよい。
なお、使用する光検出部のパターンに含まれる一部の光検出部が、他のパターンに含まれていてもよい。また、1つのパターンに含まれる光検出部の数は、1つであってもよいし、3つより多くてもよい。
なお、本実施形態では、1つの光源についてのみ説明したが、測距装置は複数の光源を有していてもよい。そして、複数の光源のそれぞれについて、その光源に対応する光検出部を用いて、当該光源から物体までの距離に関する距離情報が取得されてもよい。例えば、図10に示すように、2つの光源110,110−1が使用されてもよい。図10の例では、光源110に対応する光検出部として、光検出部120−1,120−2が使用されており、光源110−1に対応する光検出部として、光検出部120−3,120−4が使用されている。
図10の光線L501は、光検出部120−1に入射する光線を示し、光線L502は、光検出部120−2に入射する光線を示す。光線L503は、光検出部120−3に入射する光線を示し、光線L504は、光検出部120−4に入射する光線を示す。光検出部120−1は光源110から距離x1だけ離れており、光検出部120−2は光源110から距離x2だけ離れている。光検出部120−3は光源110−1から距離x3だけ離れており、光検出部120−4は光源110−1から距離x4だけ離れている。
この場合、光検出部120−1,120−2を用いて、光源110から物体210までの現在の距離H1に関する距離情報が取得される。そして、光検出部120−3,120−4を用いて、光源110−1から物体210までの現在の距離H2に関する距離情報が取得される。複数の位置についての距離情報を得ることにより、基体220から物体210までの距離の分布を把握することができる。
なお、得られた距離情報と、光検出部の現在の検出値とに基づいて、光源の現在の発光輝度と発光色の少なくとも一方を示す発光情報を取得する第2取得処理がさらに行われてもよい。第2取得処理は、第1取得処理を行う機能部(距離判断部140)と同じ機能部で行われてもよいし、そうでなくてもよい。例えば、測距装置が、第1取得処理を行う機能部とは別に、第2取得処理を行う機能部をさらに有していてもよい。第2取得処理では、例えば、距離情報に基づいて光検出部の検出値を補正することにより、距離情報が取得される。
<その他の実施例>
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
100:測距装置 110,110−1:光源 120−1〜120−4:光検出部
130:記憶部 140:距離判断部
130:記憶部 140:距離判断部
Claims (12)
- 物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する第1記憶部と、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する第1取得手段と、
を有することを特徴とする測距装置。 - 前記検出部を複数有し、
前記第1記憶部は、複数の検出部のそれぞれについて、前記基準検出値を記憶し、
前記第1取得手段は、各検出部の前記基準検出値と、各検出部の現在の検出値とに基づいて、前記距離情報を取得する
ことを特徴とする請求項1に記載の測距装置。 - 前記光源から前記物体までの距離に関する値、及び、前記検出部の検出値と前記基準検出値の差、の対応関係を示す関係情報を記憶する第2記憶部、をさらに有し、
前記第1取得手段は、前記基準検出値、前記検出部の現在の検出値、及び、前記関係情報に基づいて、前記距離情報を取得する
ことを特徴とする請求項1に記載の測距装置。 - 前記関係情報は、
前記光源から前記物体までの距離、及び、前記検出部の検出値と前記基準検出値の差、の対応関係、または、
前記光源から前記物体までの距離と前記基準距離の差、及び、前記検出部の検出値と前記基準検出値の差、の対応関係
を示す
ことを特徴とする請求項3に記載の測距装置。 - 前記検出部を複数有し、
前記第1記憶部は、複数の検出部のそれぞれについて、前記基準検出値を記憶し、
前記第2記憶部は、前記複数の検出部のそれぞれについて、前記関係情報を記憶し、
前記第1取得手段は、各検出部の前記基準検出値、各検出部の現在の検出値、及び、各検出部の前記関係情報に基づいて、前記距離情報を取得する
ことを特徴とする請求項3または4に記載の測距装置。 - 各検出部は、前記反射光の輝度を検出し、
前記複数の検出部は、前記光源から前記物体までの距離が増加した際に前記反射光の輝度が低下する位置に設けられた第1検出部と、前記光源から前記物体までの距離が増加した際に前記反射光の輝度が増加する位置に設けられた第2検出部と、を含む
ことを特徴とする請求項2または5に記載の測距装置。 - 前記第1取得手段は、使用する光検出部のパターンが互いに異なる複数の処理によって複数の距離情報を取得し、前記複数の距離情報を代表する距離情報を、最終的な距離情報として取得する
ことを特徴とする請求項2、5、及び、6のいずれか1項に記載の測距装置。 - 前記第1取得手段は、前記複数の距離情報の平均を、最終的な距離情報として取得することを特徴とする請求項7に記載の測距装置。
- 前記第1取得手段で取得された距離情報と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源の現在の発光輝度と発光色の少なくとも一方を示す発光情報を取得する第2取得手段、をさらに有する
ことを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の測距装置。 - 前記距離情報は、前記光源から前記物体までの現在の距離と前記基準距離との大小関係、前記光源から前記物体までの現在の距離、または、前記光源から前記物体までの現在の距離と前記基準距離の差、を示す
ことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の測距装置。 - 物体に光を照射する光源と、
前記光源から発せられて前記物体で反射した光である反射光の輝度を検出する検出部と、
前記光源から前記物体までの距離が基準距離であるときの前記検出部の検出値である基準検出値を記憶する記憶部と、
を有する測距装置の制御方法であって、
前記検出部の現在の検出値を取得する検出ステップと、
前記基準検出値と、前記検出部の現在の検出値とに基づいて、前記光源から前記物体までの現在の距離に関する情報である距離情報を取得する取得ステップと、
を有することを特徴とする測距装置の制御方法。 - 請求項11に記載の測距装置の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015135369A JP2017015654A (ja) | 2015-07-06 | 2015-07-06 | 測距装置及びその制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015135369A JP2017015654A (ja) | 2015-07-06 | 2015-07-06 | 測距装置及びその制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017015654A true JP2017015654A (ja) | 2017-01-19 |
Family
ID=57830242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015135369A Pending JP2017015654A (ja) | 2015-07-06 | 2015-07-06 | 測距装置及びその制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017015654A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021523370A (ja) * | 2018-05-09 | 2021-09-02 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1つの保管ユニットの充填レベルを決定する方法及び装置 |
-
2015
- 2015-07-06 JP JP2015135369A patent/JP2017015654A/ja active Pending
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