JP2016114569A - 電子機器及びセンサ較正方法、センサ較正プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】3軸の磁気センサ110より取得される複数の磁気データを、磁気センサ110の複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間上にプロットした際に、それぞれが3個以上の第1の磁気データに対応する座標点を含む互いに異なる複数の平面FNを抽出する。抽出された各平面FNについて、各平面FNの近傍に存在しているとみなせる座標点に対応する第2の磁気データを抽出し、第1の磁気データと第2の磁気データとに対応する座標点に近接して各平面FN上に形成される円周CNを推定し、円周CNの中心座標PNを通り、かつ、平面FNに直交する垂直線LNを算出する。そして、各円周CNについて算出された垂直線LNが互いに交わる点Pbの座標を磁気センサ110のオフセット値として算出する。
【選択図】図3
Description
電子機器において、
前記電子機器の周囲の磁場を検出して、複数の軸方向の磁気データとして出力する磁気センサと、
前記磁気センサの移動に応じて該磁気センサより取得される複数の前記磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出する平面抽出部と、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出する中心座標算出部と、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出するオフセット値算出部と、
を有することを特徴とする。
移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出し、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、
前記複数の平面の各々に対し、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出し、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出すること、
を特徴とする。
コンピュータに、
移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出させ、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出させ、
前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに近接する円周を推定させて、前記円周の中心座標を算出させ、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出させ、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出させること、
を特徴とする。
<電子機器>
図1は、本発明に係る電子機器の複数の適用例を示す概略構成図である。また、図2は、本発明に係る電子機器の一実施形態を示す機能ブロック図である。
次に、本実施形態に係る電子機器における制御方法(センサ較正方法)について、図面を参照して説明する。ここで、以下のフローチャートに示す電子機器の制御方法は、上述した演算回路部170が所定の制御プログラム及びアルゴリズムプログラムに従って処理を実行することにより実現される。
まず、演算回路部170は、所定のサンプリング周波数で、移動している電子機器100の磁気センサ110より、時間の経過とともに複数の磁気(磁気データ群)データを取得する(ステップS106)。取得した磁気データ群は、メモリ部180の所定の記憶領域に保存される。
(x−XN)2+(y−YN)2+(z−ZN)2=RN 2 ・・・(11)
また、上記のステップS114において抽出した平面FNは、次の(12)式の方程式で表される。ここで、a、b、c、dは係数である。
ax+by+cz+d=0 ・・・(12)
aXN+bYN+cZN+d=0
ZN=−(aXN+bYN+d)/c ・・・(13)
ここで、A=−a/c、B=−b/c、C=−d/cとおくと、(13)式は、次の(14)式で表される。
ZN=AXN+BYN+C ・・・(14)
(x−XN)2+(y−YN)2+{z−(AXN+BYN+C)}2=RN 2・・・(15)
平面FN上に分布する磁気データ(xi,yi,zi)から円周CNの中心座標PN(XN,YN,ZN)までの距離diは次の(16)式で表される。
εi=di 2−RN 2 ・・・(17)
さらに、次の(18)式のように、推定誤差εiの二乗総和値Sを定義する。そして、この二乗総和値Sが最小となるような中心座標PN(XN,YN,ZN)を算出する。
S=Σεi 2 ・・・(18)
二乗総和値Sを表す(18)式は、次の(19)式のように書き換えることができる。
したがって、次の(24)式の連立方程式を解くことにより、独立変数であるXN,YN,DNが算出される。ここで、(24)式においては、(25)式のように定義する。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]
電子機器において、
前記電子機器の周囲の磁場を検出して、複数の軸方向の磁気データとして出力する磁気センサと、
前記磁気センサの移動に応じて該磁気センサより取得される複数の前記磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出する平面抽出部と、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出する中心座標算出部と、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出するオフセット値算出部と、
を有することを特徴とする電子機器。
前記オフセット値算出部は、
前記複数の垂直線が互いに交差する場合には、前記複数の垂直線の前記交差する点の座標を前記オフセット値として算出し、
前記複数の垂直線が互いに交差しない場合には、前記複数の垂直線の各々からの距離が最小となる点の座標を、前記オフセット値として算出することを特徴とする[1]に記載の電子機器。
前記磁気センサの前記オフセット値が変化したか否かを判定するオフセット値変化判定部を、さらに備え、
前記オフセット値変化判定部において前記オフセット値が変化したと判定されたときに、前記平面抽出部における前記複数の平面の抽出と、前記中心座標算出部における前記円周の中心座標の算出と、前記オフセット値算出部における前記オフセット値の算出と、が実行されることを特徴とする[1]又は[2]に記載の電子機器。
前記電子機器の移動動作を検知して、前記移動動作に基づく加速度データ及び角速度データを含むセンサデータを出力するモーションセンサを、さらに備え、
前記センサデータに基づいて前記電子機器の移動方向が変化したことが検知されたときに、前記平面抽出部における前記複数の平面の抽出と、前記中心座標算出部における前記円周の中心座標の算出と、前記オフセット値算出部における前記オフセット値の算出と、が実行されることを特徴とする[1]乃至[3]のいずれかに記載の電子機器。
移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出し、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、
前記複数の平面の各々に対し、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出し、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出すること、
を特徴とするセンサ較正方法。
コンピュータに、
移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出させ、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出させ、
前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに近接する円周を推定させて、前記円周の中心座標を算出させ、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出させ、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出させること、
を特徴とするセンサ較正プログラム。
110 磁気センサ
120 モーションセンサ
122 加速度センサ
124 角速度センサ
130 GPS受信回路
140 入出力I/F部
170 演算回路部
180 メモリ部
Claims (6)
- 電子機器において、
前記電子機器の周囲の磁場を検出して、複数の軸方向の磁気データとして出力する磁気センサと、
前記磁気センサの移動に応じて該磁気センサより取得される複数の前記磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出する平面抽出部と、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出する中心座標算出部と、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出するオフセット値算出部と、
を有することを特徴とする電子機器。 - 前記オフセット値算出部は、
前記複数の垂直線が互いに交差する場合には、前記複数の垂直線の前記交差する点の座標を前記オフセット値として算出し、
前記複数の垂直線が互いに交差しない場合には、前記複数の垂直線の各々からの距離が最小となる点の座標を、前記オフセット値として算出することを特徴とする請求項1に記載の電子機器。 - 前記磁気センサの前記オフセット値が変化したか否かを判定するオフセット値変化判定部を、さらに備え、
前記オフセット値変化判定部において前記オフセット値が変化したと判定されたときに、前記平面抽出部における前記複数の平面の抽出と、前記中心座標算出部における前記円周の中心座標の算出と、前記オフセット値算出部における前記オフセット値の算出と、が実行されることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子機器。 - 前記電子機器の移動動作を検知して、前記移動動作に基づく加速度データ及び角速度データを含むセンサデータを出力するモーションセンサを、さらに備え、
前記センサデータに基づいて前記電子機器の移動方向が変化したことが検知されたときに、前記平面抽出部における前記複数の平面の抽出と、前記中心座標算出部における前記円周の中心座標の算出と、前記オフセット値算出部における前記オフセット値の算出と、が実行されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の電子機器。 - 移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出し、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出し、
前記複数の平面の各々に対し、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに対応する座標点に近接する円周を推定し、前記円周の中心座標を算出し、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出し、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出すること、
を特徴とするセンサ較正方法。 - コンピュータに、
移動している磁気センサより取得される複数の軸方向の複数の磁気データに基づいて、前記磁気データの前記複数の軸方向を座標軸とする3次元座標空間において、それぞれ、互いに異なる3個以上の第1の磁気データに対応する座標点が含まれる、互いに異なる複数の平面を抽出させ、
前記複数の磁気データから、前記3次元座標空間において、前記第1の磁気データと異なる、前記平面との距離が所定の閾値以下の座標点に対応する前記磁気データを第2の磁気データとして抽出させ、
前記複数の平面の各々において、前記第1の磁気データと前記第2の磁気データとに近接する円周を推定させて、前記円周の中心座標を算出させ、
前記3次元座標空間において、前記複数の平面の各々に対し、前記中心座標を通って前記平面に直交する垂直線をそれぞれ算出させ、
前記複数の平面における複数の前記垂直線に最も近接する点の座標を、前記磁気センサのオフセット値として算出させること、
を特徴とするセンサ較正プログラム。
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JP2016114569A true JP2016114569A (ja) | 2016-06-23 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019128205A (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | カシオ計算機株式会社 | 磁気オフセット値算出方法及び磁気オフセット値算出プログラム、電子機器 |
CN111324172A (zh) * | 2018-12-13 | 2020-06-23 | 北京松果电子有限公司 | 遥杆的校准方法、装置、电子设备和存储介质 |
CN111707175A (zh) * | 2019-03-18 | 2020-09-25 | Tdk株式会社 | 信号处理电路、位置检测装置和磁传感器*** |
CN113711280A (zh) * | 2019-04-15 | 2021-11-26 | 索尼集团公司 | 信息处理装置、信息处理方法、通信终端、通信方法和程序 |
WO2022010156A1 (ko) * | 2020-07-09 | 2022-01-13 | 삼성전자 주식회사 | 전자 장치의 지자기 센서 보정 방법 및 그 전자 장치 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005061990A1 (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Asahi Kasei Emd Corporation | 方位角計測装置 |
WO2006009247A1 (ja) * | 2004-07-23 | 2006-01-26 | Yamaha Corporation | 方位処理装置、方位処理方法、方位処理プログラム、方位測定装置、傾斜オフセットの補正方法、方位計測方法、方位センサユニット及び携帯電子機器 |
JP2007524805A (ja) * | 2003-02-24 | 2007-08-30 | ジェンテックス コーポレイション | 電子コンパスシステム |
JP2010164444A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Aichi Micro Intelligent Corp | 電子コンパス |
JP2011185862A (ja) * | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Alps Electric Co Ltd | 磁界検知装置 |
JP2012189323A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-10-04 | Yamaha Corp | 磁気データ処理装置、磁気データ処理方法及び磁気データ処理プログラム。 |
JP2013002908A (ja) * | 2011-06-15 | 2013-01-07 | Yamaha Corp | 地磁気測定装置、オフセット決定方法、及びオフセット決定プログラム |
WO2013125242A1 (ja) * | 2012-02-24 | 2013-08-29 | 旭化成株式会社 | オフセット推定装置、オフセット推定方法、オフセット推定プログラムおよび情報処理装置 |
-
2014
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007524805A (ja) * | 2003-02-24 | 2007-08-30 | ジェンテックス コーポレイション | 電子コンパスシステム |
WO2005061990A1 (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Asahi Kasei Emd Corporation | 方位角計測装置 |
WO2006009247A1 (ja) * | 2004-07-23 | 2006-01-26 | Yamaha Corporation | 方位処理装置、方位処理方法、方位処理プログラム、方位測定装置、傾斜オフセットの補正方法、方位計測方法、方位センサユニット及び携帯電子機器 |
JP2010164444A (ja) * | 2009-01-16 | 2010-07-29 | Aichi Micro Intelligent Corp | 電子コンパス |
JP2011185862A (ja) * | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Alps Electric Co Ltd | 磁界検知装置 |
JP2012189323A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-10-04 | Yamaha Corp | 磁気データ処理装置、磁気データ処理方法及び磁気データ処理プログラム。 |
JP2013002908A (ja) * | 2011-06-15 | 2013-01-07 | Yamaha Corp | 地磁気測定装置、オフセット決定方法、及びオフセット決定プログラム |
WO2013125242A1 (ja) * | 2012-02-24 | 2013-08-29 | 旭化成株式会社 | オフセット推定装置、オフセット推定方法、オフセット推定プログラムおよび情報処理装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019128205A (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | カシオ計算機株式会社 | 磁気オフセット値算出方法及び磁気オフセット値算出プログラム、電子機器 |
JP7004155B2 (ja) | 2018-01-23 | 2022-01-21 | カシオ計算機株式会社 | 磁気オフセット値算出方法及び磁気オフセット値算出プログラム、電子機器 |
CN111324172A (zh) * | 2018-12-13 | 2020-06-23 | 北京松果电子有限公司 | 遥杆的校准方法、装置、电子设备和存储介质 |
CN111324172B (zh) * | 2018-12-13 | 2021-11-23 | 北京小米松果电子有限公司 | 遥杆的校准方法、装置、电子设备和存储介质 |
CN111707175A (zh) * | 2019-03-18 | 2020-09-25 | Tdk株式会社 | 信号处理电路、位置检测装置和磁传感器*** |
CN111707175B (zh) * | 2019-03-18 | 2022-07-29 | Tdk株式会社 | 信号处理电路、位置检测装置和磁传感器*** |
CN113711280A (zh) * | 2019-04-15 | 2021-11-26 | 索尼集团公司 | 信息处理装置、信息处理方法、通信终端、通信方法和程序 |
CN113711280B (zh) * | 2019-04-15 | 2024-06-04 | 索尼集团公司 | 信息处理装置、信息处理方法、通信终端、通信方法和程序 |
WO2022010156A1 (ko) * | 2020-07-09 | 2022-01-13 | 삼성전자 주식회사 | 전자 장치의 지자기 센서 보정 방법 및 그 전자 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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