JP2016100497A - Wiring board and manufacturing method of the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、配線基板及び配線基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a wiring board and a manufacturing method of the wiring board.
パーソナルコンピュータやスマートフォン等の電子機器には様々な配線基板が使用される。配線基板は、絶縁性の基板や層間絶縁膜の上に配線を形成してなるが、その配線の形成方法として印刷法がある。 Various wiring boards are used for electronic devices such as personal computers and smartphones. The wiring substrate is formed by forming wiring on an insulating substrate or an interlayer insulating film, and there is a printing method as a method for forming the wiring.
印刷法においては、金属微粒子を含むインクを下地の上に配線形状に塗布し、焼成によりインク中に金属粒子を析出させることで配線を形成する。これによれば、めっき法等で使用されるめっき槽等の大掛かりな装置が不要なため、安価に簡単に配線を形成することができる。 In the printing method, an ink containing fine metal particles is applied in the form of a wiring on a base, and the wiring is formed by depositing the metal particles in the ink by baking. According to this, since a large-scale apparatus such as a plating tank used in a plating method or the like is unnecessary, wiring can be easily formed at low cost.
インクを焼成する前においては、未乾燥のインク中を金属微粒子が移動して、場所によって金属微粒子の濃度が異なるようになることがある。このような現象はコーヒーステイン現象と呼ばれ、パッドのように広い面積のパターンを印刷した場合にはそのパターンの周縁部に金属微粒子が集まることが知られている。 Before firing the ink, the metal fine particles may move in the undried ink, and the concentration of the metal fine particles may vary depending on the location. Such a phenomenon is called a coffee stain phenomenon, and it is known that when a pattern having a large area such as a pad is printed, metal fine particles gather at the peripheral portion of the pattern.
しかしながら、前述のようにコーヒーステイン現象が発生すると、塗布後のインクにおいて金属微粒子の濃度差が発生し、濃度が低い部分で配線の膜厚が不足して抵抗が上昇してしまう。 However, when the coffee stain phenomenon occurs as described above, a difference in the concentration of metal fine particles occurs in the ink after application, and the thickness of the wiring is insufficient at a low concentration portion, resulting in an increase in resistance.
開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであって、印刷法で形成された配線の抵抗が上昇するのを抑制することが可能な配線基板及び配線基板の製造方法を提供することを目的とする。 The disclosed technology has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a wiring board capable of suppressing an increase in resistance of a wiring formed by a printing method and a method for manufacturing the wiring board. And
以下の開示の一観点によれば、基板の上に、配線本体と、パッドと、前記配線本体から分岐して同一の前記パッドに繋がる複数の分岐配線とを一括して印刷法で形成する工程を有する配線基板の製造方法が提供される。 According to one aspect of the following disclosure, a step of collectively forming a wiring body, a pad, and a plurality of branch wirings branched from the wiring body and connected to the same pad on a substrate by a printing method A method of manufacturing a wiring board having the above is provided.
また、その開示の他の観点によれば、基板と、前記基板の上に印刷され、配線本体と、パッドと、前記配線本体から分岐して同一の前記パッドに繋がる複数の分岐配線とを備えた導体パターンとを有する配線基板が提供される。 According to another aspect of the disclosure, the apparatus includes a substrate, a wiring body printed on the substrate, a wiring body, a pad, and a plurality of branch wirings branched from the wiring body and connected to the same pad. A wiring board having a conductive pattern is provided.
以下の開示によれば、印刷法で配線本体とパッドとを一括で形成するときに、両者の間に分岐配線を複数設けるので、コーヒーステイン現象で各分岐配線が薄くなったとしても、配線本体とパッドとの間の電気抵抗が上昇するのを抑制できる。 According to the following disclosure, when the wiring main body and the pad are collectively formed by the printing method, a plurality of branch wirings are provided between the two, so even if each branch wiring becomes thin due to the coffee stain phenomenon, the wiring main body An increase in electrical resistance between the pad and the pad can be suppressed.
本実施形態の説明に先立ち、本願発明者が検討した事項について説明する。 Prior to the description of the present embodiment, items studied by the inventor will be described.
図1は、その検討に使用した配線基板の拡大平面図である。 FIG. 1 is an enlarged plan view of a wiring board used for the examination.
この配線基板1は、絶縁性の基板2とその上に形成された導体パターン3とを有する。
The
導体パターン3は、パッド3pと配線3wとを有しており、印刷法により形成される。印刷法では銅や銀等の導体パターンを形成できるが、ここでは導体パターン3の材料は特に問わない。
The
導体パターン3の形成にあたっては、最初にインクジェット法で基板2の上にインクを塗布する。そして、インクが乾燥した後に、インクを加熱して焼成することで導体パターン3を形成する。
In forming the
焼成前のインクにおいては、銅や銀等の金属微粒子がインク中で流動し、これが原因で前述のコーヒーステイン現象が発生する。 In the ink before baking, metal fine particles such as copper and silver flow in the ink, and this causes the above-mentioned coffee stain phenomenon.
そして、そのコーヒーステイン現象により、導体パターン3には膜厚が厚い部分と薄い部分とが生じてしまう。
Due to the coffee stain phenomenon, the
図2は、図1の領域Aを配線3wの延在方向に沿って切断した拡大断面図である。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of the region A in FIG. 1 cut along the extending direction of the
図2に示すように、コーヒーステイン現象が原因で、配線3wの膜厚T1はパッド3pの周縁部の膜厚T2よりも薄くなる。これは、インクの乾燥途中で配線3wの金属微粒子がパッド3pに吸収され、金属微粒子が配線3wにおいて不足するためと考えらえる。
As shown in FIG. 2, due to the coffee stain phenomenon, the film thickness T 1 of the
このように膜厚T1が薄くなると配線3wの電気抵抗が上昇してしまい、好ましくない。
Thus the electric resistance of the
図3は、配線3wの電気抵抗が上昇するのを抑制するために案出された導体パターン3の拡大平面図である。
FIG. 3 is an enlarged plan view of the
図3の例では、配線3wとパッド3pとの間にテーパ部3tを設ける。
In the example of FIG. 3, a
テーパ部3tは、配線3wからパッド3pに向かって幅Wが広がるような平面形状を有する。
The
この構造によれば、テーパ部3tによって配線3wがパッド3pから隔てられるため、パッド3pから配線3wにコーヒーステイン現象が及ぶ可能性が低減できる。
According to this structure, since the
また、コーヒーステイン現象によってテーパ部3tの膜厚が減少しても、テーパ部3tの幅Wは配線3wのそれよりも広いので、配線3wとパッド3pとの間の電気抵抗が上昇する可能性も少ない。
Further, even if the film thickness of the
しかしながら、このように幅Wが広いテーパ部3tを設けると、導体パターン3の印刷面積が広がってしまうため、インクの消費量が増大すると共に、テーパ部3tを印刷するための作業時間も増える。
However, when the
なお、配線3wよりも先にパッド3pを印刷し、パッド3pが乾燥してから配線3wを印刷することで、コーヒーステイン現象によって配線3wの金属微粒子がパッド3pに吸収されるのを防ぐことも考えられる。但し、このように二回に分けて導電パターン3を形成したのでは、導電パターン3を形成するのに要する作業が増え、作業時間が増大してしまう。
The
以下に、インクの消費量や作業時間を抑制しながら、コーヒーステイン現象が生じても配線の電気抵抗が上昇するのを抑制できる本実施形態について説明する。 In the following, the present embodiment will be described in which the increase in the electrical resistance of the wiring can be suppressed even if the coffee stain phenomenon occurs while suppressing the ink consumption and the working time.
(第1実施形態)
本実施形態では、印刷法で形成された導体パターンの電気抵抗が上昇するのを以下のように抑制する。
(First embodiment)
In the present embodiment, an increase in the electrical resistance of the conductor pattern formed by the printing method is suppressed as follows.
図4(a)、(b)は、本実施形態に係る配線基板の製造途中の拡大平面図である。 4A and 4B are enlarged plan views in the middle of manufacturing the wiring board according to the present embodiment.
まず、図4(a)に示すように、インクジェット法等の印刷法で絶縁性の基板10の上にインクを塗布することにより、基板10に印刷パターン11を形成する。
First, as shown in FIG. 4A, a
その印刷法で使用されるインクには銀の微粒子が含有される。そのようなインクとしては、例えば、ハリマ化成グループ株式会社製のNPS-JLがある。 The ink used in the printing method contains silver fine particles. An example of such an ink is NPS-JL manufactured by Harima Chemical Group.
なお、銀に代えて銅の微粒子を含むインクを使用してもよい。 Ink containing copper fine particles may be used instead of silver.
また、基板10としては、例えばプリプレグを硬化してなる樹脂基板を使用し得る。
Moreover, as the board |
更に、インクの流れ出しを防止するために印刷パターン11の周囲にバンクを形成してもよいが、この例ではバンクを形成せずに基板10の平坦面上に印刷パターン11を形成する。
Further, a bank may be formed around the
次に、図4(b)に示すように、不図示の炉の中で上記の印刷パターン11を約150℃の温度で約1時間加熱することで焼成し、厚さが約0.8μmの導体パターン12を得る。
Next, as shown in FIG. 4B, the printed
なお、焼成に代えて、光硬化により導体パターン12を形成してもよい。
Instead of firing, the
以上により、導体パターン12を備えた本実施形態に係る配線基板13の基本構造を得る。
As described above, the basic structure of the
その導体パターン12は、配線本体12wと、該配線本体12wから分岐した複数の分岐配線12bと、分岐配線12bの各々に繋がるパッド12pとを有しており、上記の印刷法ではこれらの各部が一括して形成されることになる。
The
パッド12pは、例えば導体パターン12においてはんだバンプが接合される部位であり、配線本体12wや各分岐配線12bよりも広い幅の矩形状である。
The
このようなパッド12pと分岐配線12bの幅の相違に起因して、焼成前の導体パターン12には前述のコーヒーステイン現象が起きることがある。そのコーヒーステイン現象によって分岐配線12bの銀微粒子が矢印Aのようにパッド12pに吸収され、分岐配線12bの膜厚がパッド12pのそれよりも薄くなることがある。
Due to the difference in width between the
このように膜厚が薄くなっても、配線本体12wとパッド12pとの間で複数の分岐配線12bが並列に接続されているため、導体パターン12の全体の抵抗が上昇するのが抑制される。
Even when the film thickness is reduced in this way, since the plurality of
しかも、配線本体12wとパッド12pとが分岐配線12bで隔てられているため、コーヒーステイン現象がパッド12pから配線本体12wにまで及びにくくなり、配線本体12wの膜厚が低下するのを抑制することもできる。
In addition, since the wiring
更に、分岐配線12bは配線本体12wやパッド12pと同時に形成されるので、分岐配線12bを形成するための余分な作業は不要であり、作業時間が増大するのを抑制することもできる。
Furthermore, since the
そして、各分岐配線12bの間には隙間があるため、その隙間によって印刷面積を低減でき、インクの消費量が増大するのを抑制できる。
Since there is a gap between the
なお、分岐配線12wの各々の幅W2を加算して得た総和Sが配線本体12wの幅W1よりも狭いと、各分岐配線12wの合成抵抗が配線本体12wの抵抗よりも低くなるので、総和Sを幅W1以上とするのが好ましい。
Incidentally, the sum S obtained by adding the width W 2 of each of the
また、この例では一つのパッド12pに繋がる分岐配線12bの本数を5本としているが、分岐配線12bの本数はパッド12pの大きさに合わせて適宜設定すればよい。
In this example, the number of
更に、隣接する分岐配線12b同士間隔Tが狭いと、インクの濡れ広がりによって分岐配線12b同士が接触してしまうおそれがある。間隔Tは、このように分岐配線12b同士が接触してしまうのを防止できる程度に広くするのが好ましく、この例では間隔Tを約0.1mm〜0.2mm程度とする。
Furthermore, if the interval T between
次に、本実施形態の効果を確認するために本願発明者が行った調査について説明する。 Next, an investigation conducted by the present inventor in order to confirm the effect of the present embodiment will be described.
・第1の調査
本調査では、二つのパッド12p間の電気抵抗が導体パターン12の形状によってどのように変化するのかが調査された。
-1st investigation In this investigation, it was investigated how the electrical resistance between the two
図5〜図6は、その調査で使用した導体パターン12の形状について説明するための平面図である。
5-6 is a top view for demonstrating the shape of the
このうち、図5(a)〜(c)は比較例に係る導体パターンを示す平面図である。 Among these, FIGS. 5A to 5C are plan views showing conductor patterns according to comparative examples.
図5(a)は、分岐配線12bを形成せずに、配線本体12wとパッド12pとを直接繋いだ例である。
FIG. 5A shows an example in which the
二つのパッド12p同士の間隔Lは10mmであり、パッド12pは一辺の長さXが3mmの正方形状である。そして、配線本体12wの幅W1は0.1mmである。これら間隔L、長さX、及び幅W1の値は、図5(b)、(c)、及び図6(a)〜(d)の全てについて同様である。
The distance L between the two
図5(b)は、配線本体12wとパッド12pとの間に長方形の補助パターン12aを設けた例である。
FIG. 5B shows an example in which a rectangular
その補助パターン12aを設けたことで、配線本体12wとパッド12pとは距離Dだけ隔てられる。距離Dは1mmである。この距離Dの値については、図5(c)、及び図6(a)〜(d)についても同様である。
By providing the
図5(c)は、補助パターン12aをテーパ状にした場合の平面図である。
FIG. 5C is a plan view when the
図6(a)〜(d)は、本実施形態と同一の導体パターンを示す平面図であって、分岐配線12bの本数をそれぞれ5本、4本、3本、2本とした例である。なお、分岐配線12bの各々の幅W2は、図6(a)〜(d)の全てにおいて0.1mmである。
6A to 6D are plan views showing the same conductor pattern as in this embodiment, and are examples in which the number of
更に、図5(a)〜(c)と図6(a)〜(d)のいずれの導電パターンにおいても、その膜厚、焼成条件、及びインクは図4(a)、(b)で説明したのと同じである。これについては、後述の第2〜第4の調査でも同様である。 Further, in any of the conductive patterns of FIGS. 5A to 5C and FIGS. 6A to 6D, the film thickness, firing conditions, and ink are described in FIGS. 4A and 4B. Is the same as The same applies to the second to fourth investigations described later.
図7は、上記した各々の導体パターンの余剰印刷面積Sと全体抵抗値RTの測定結果をまとめた図である。 FIG. 7 is a table summarizing the measurement results of the excess print area S and the overall resistance value RT of each of the above-described conductor patterns.
なお、余剰印刷面積Sは、図5(b)、(c)については補助パターン12aの面積であり、図6(a)〜(d)については分岐配線12bの面積の総和である。
The surplus printing area S is the area of the
また、全体抵抗値RTは、二つのパッド12pの間の電気抵抗を四端子法で測定して得られた値である。
The overall resistance value RT is a value obtained by measuring the electrical resistance between the two
図7に示すように、全体抵抗値RTは図5(a)の例が最も大きい。これは、コーヒーステイン現象により配線本体12wの膜厚が低減して、配線本体12wそのものの電気抵抗が上昇したためと考えられる。
As shown in FIG. 7, the overall resistance value RT is the largest in the example of FIG. This is presumably because the electrical resistance of the wiring
一方、本実施形態(図6(a)〜(d))においては、比較例(図5(b)、(c))よりも余剰印刷面積Sが少ないにも関わらず、全体抵抗値RTが比較例よりも小さくなることが明らかとなった。 On the other hand, in the present embodiment (FIGS. 6A to 6D), the overall resistance value R T , although the surplus printing area S is smaller than that of the comparative example (FIGS. 5B and 5C). It became clear that becomes smaller than a comparative example.
本実施形態でこのように全体抵抗値RTが低減したのは、コーヒーステイン現象が起きる範囲が分岐配線12bに留まり、更に各分岐配線12bを並列に接続したためと考えられる。
In this embodiment, the overall resistance value RT is thus reduced because the range in which the coffee stain phenomenon occurs is limited to the
この結果により、本実施形態では、導体パターン12の印刷パターンが増加するのを抑制しながら、コーヒーステイン現象に起因した抵抗増加を抑制できることが確認できた。
From this result, in this embodiment, it has been confirmed that an increase in resistance due to the coffee stain phenomenon can be suppressed while suppressing an increase in the printed pattern of the
・第2の調査
本調査では、第1の調査とは異なる大きさの導体パターン12を形成し、全体抵抗値RTを測定した。
-2nd investigation In this investigation, the
その結果を図8に示す。 The result is shown in FIG.
図8に示すように、この例ではパッド12pの一辺の長さLが3mmの場合と2mmの場合について調査した。また、距離Dが1mmと1.5mmの場合についても調査した。
As shown in FIG. 8, in this example, the case where the length L of one side of the
図8の結果から分かるように、長さLと距離Dの如何を問わず、本実施形態では比較例よりも全体抵抗値RTが低い。 As can be seen from the results of FIG. 8, the overall resistance value RT is lower in this embodiment than in the comparative example regardless of the length L and the distance D.
・第3の調査
本調査では、分岐配線12bの幅W2を変えると全体抵抗値RTがどのように変化するのかが調べられた。
- In the third study the study, or to change how the total resistance R T when changing the width W 2 of the
図9(a)〜(c)は、その調査で使用した導体パターン12の形状について説明するための平面図である。
FIGS. 9A to 9C are plan views for explaining the shape of the
このうち、図9(a)は分岐配線12bの本数を2本にした場合の平面図であり、図9(b)は分岐配線12bの本数を3本にした場合の平面図である。
9A is a plan view when the number of
また、図9(c)は比較例に係るパターンを示す平面図である。この比較例においては、分岐配線12bを形成せずに、配線本体12wとパッド12pとを直接繋いだ。
FIG. 9C is a plan view showing a pattern according to a comparative example. In this comparative example, the
図9(a)〜(c)のいずれにおいても、二つのパッド12p同士の間隔Lは4mmであり、パッド12pは一辺の長さXが3mmの正方形状であり、配線本体12wの幅W1は0.1mmである。
9A to 9C, the distance L between the two
また、図9(a)、(b)においては、配線本体12wとパッド12pとの距離Dを1mmとした。
In FIGS. 9A and 9B, the distance D between the
そして、図9(a)〜(c)のパターンの各々について、二つのパッド12pの間の電気抵抗を四端子法で測定することにより全体抵抗値RTを得た。
For each of the patterns of FIGS. 9A to 9C, the overall resistance value RT was obtained by measuring the electrical resistance between the two
また、この調査では、以下のようにして配線本体12wのみの配線抵抗値RWも合わせて調べられた。
Also, in this study, it was studied also combined wiring resistance value R W only
図10(a)、(b)は、その配線抵抗値RWを調べるために用意したパターンの拡大平面図である。 Figure 10 (a), (b) is an enlarged plan view of a pattern prepared to examine the wiring resistance R W.
このうち、図10(a)は、2本の分岐配線12bでパッド12pを直接繋いだパターンを示す平面図である。そして、図10(b)は、3本の分岐配線12bでパッド12pを直接繋いだパターンを示す平面図である。
Among these, FIG. 10A is a plan view showing a pattern in which
図10(a)、(b)のどちらにおいても、分岐配線12wの長さDは図9(a)、(b)と同じ1mmとした。また、正方形のパッド12pの一辺の長さXも、図9(a)、(b)と同じ3mmとした。
In both FIGS. 10A and 10B, the length D of the
図10(a)において二つのパッド12pの間の電気抵抗を四端子法で測定すると、パッド12pと分岐配線12bとを合わせた抵抗値R0が得られる。その抵抗値R0を2倍した値を図9(a)の導体パターン12の全体抵抗値RTから減算した値を、分岐配線12bが2本の場合における配線本体12wのみの配線抵抗値RWとみなす。
In FIG. 10A, when the electrical resistance between the two
これと同様な方法を用いることで、図9(b)と図10(b)の各パターンから分岐配線12bが3本の場合における配線本体12wのみの配線抵抗値RWが得られる。
By using this same method, and FIG. 9 (b) and the wiring resistance R W of only the wiring
図11に、配線本体12wの幅W1を0.1mmに固定しつつ、分岐配線12bの幅W2を0.05mm〜0.5mmの範囲で0.05mm刻みで変化させた場合の全体抵抗値RTと配線抵抗値RWの測定結果を示す。
11, while the width W 1 of the wiring
図11に示すように、分岐配線12bが2本の場合には、分岐配線12bの幅W2が0.05mmから増加して0.2mmになるまでは全体抵抗値RTが減少傾向となる。
As shown in FIG. 11, when the
一方、幅W2が0.2mm〜0.25mmよりも広がると全体抵抗値RTは増加に転じる。 On the other hand, total resistance R T when the width W 2 spreads than 0.2mm~0.25mm turns to increase.
この結果より、配線本体12wの幅W1の2倍を超える値に幅W2を設定しても、全体抵抗値RTを低下させることはできず、むしろ幅W2の拡幅によりインクの消費量が無駄になることが明らかとなった。
From this result, even if the width W 2 is set to a value exceeding twice the width W 1 of the
このように幅W2を広げても全体抵抗値RTが増加するのは、幅W2が増加すると、各分岐配線12bの抵抗減少よりも、配線本体12wの配線抵抗値RWの上昇の方が優勢になるためと考えられる。これは、各幅W1、W2の相違に起因したコーヒーステイン現象が配線本体12wと分岐配線12bの境界で発生し、これにより配線本体12wの膜厚が減少することが原因と推測される。
This way the width W 2 of the total resistance R T be spread is increased, the width W 2 is increased, than the resistance decrease of each
また、分岐配線12bが3本の場合には、幅W2が0.2mm〜0.25mmを超えると全体抵抗値RTが増加し始める。よって、この場合においても、幅W1の2倍を超える値に幅W2を設定しても全体抵抗値RTを低下させることはできないことが明らかとなった。
In the case of
以上の結果より、インクの消費量を抑制しながら全体抵抗値RTを低減するには、分岐配線12wの幅W2を配線本体12wの幅W1の2倍以下にするのが好ましいことが明らかとなった。
These results, in order to reduce the total resistance R T while suppressing the consumption of the ink, it is preferable that the width W 2 of
・第4の調査
本調査では、配線本体12wの幅W1を0.2mmに固定しつつ、分岐配線12bの幅W2を0.05mm〜0.8mmの範囲で0.05mm刻みで変化させて全体抵抗値RTを測定した。なお、間隔L、長さX、及び距離Dの各値は第3の調査におけるのと同じである。
· In the fourth study the study, while the width W 1 of the wiring
その調査結果を図12に示す。 The result of the investigation is shown in FIG.
図12に示すように、分岐配線12bの本数が2本と3本のいずれの場合においても、分岐配線12wの幅W2が増加して0.4mm程度となったところで全体抵抗値RTが飽和し、幅W2をむやみに広げても全体抵抗値RTが低減できないことが分かった。
As shown in FIG. 12, when the number of the
よって、配線本体12wの幅W1が0.2mmの場合においても、分岐配線12wの幅W2を配線本体12wの幅W1の2倍以下にすることで、インクの消費量を抑制しながら全体抵抗値RTを低減できることが確認された。
Therefore, even when the width W 1 of the
(第2実施形態)
第1実施形態では、図4(b)に示したように、各分岐配線12bは互いに平行であり、パッド12pの一辺と垂直に交わる。分岐配線12bの向きはこれに限定されない。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, as shown in FIG. 4B, each
図13は、本実施形態に係る配線基板13の拡大平面図である。なお、図13において、第1実施形態で説明したのと同じ要素には第1実施形態におけるのと同じ符号を付し、以下ではその説明を省略する。
FIG. 13 is an enlarged plan view of the
図13に示すように、本実施形態においては、配線本体12wの一点pからパッド12pに向けて分岐配線12bを放射状に形成する。このような形状であっても、第1実施形態と同様の理由により、コーヒーステイン現象に起因した導体パターン12の抵抗増加を抑制できる。
As shown in FIG. 13, in this embodiment, the
(第3実施形態)
本実施形態では、第1実施形態で説明した導体パターン12を多層配線構造に適用した例について説明する。
(Third embodiment)
In the present embodiment, an example in which the
図14は、本実施形態に係る配線基板20の斜視図である。
FIG. 14 is a perspective view of the
この配線基板20は、絶縁性の基板21の上に層間絶縁膜22と導体パターン12とを交互に積層した多層配線構造を有する。
The
基板21としては例えばプリプレグを硬化してなる樹脂基板を使用し、層間絶縁膜22の材料としては例えばエポキシ樹脂がある。
For example, a resin substrate obtained by curing a prepreg is used as the
層間絶縁膜22には、例えばめっき法により形成された銅の導体ビア23が埋め込まれており、その導体ビア23によって上下に隣接する導体パターン12同士が接続される。
A copper conductor via 23 formed by, for example, a plating method is embedded in the
このような構造においては、配線本体12wよりも幅が広いパッド12pにより、導体パターン12と導体ビア23との接続面積が増え、これによりパッド12pと導体ビア23とが電気的に確実に接続される。
In such a structure, the connection area between the
また、最上層の層間絶縁膜22の上に導体パターン12を形成することで、その導体パターン12のパッド12pにはんだバンプやボンディングワイヤを接合することもできるようになる。
In addition, by forming the
以上説明した各実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。 The following additional notes are disclosed for each embodiment described above.
(付記1) 基板の上に、配線本体と、パッドと、前記配線本体から分岐して同一の前記パッドに繋がる複数の分岐配線とを一括して印刷法で形成する工程を有することを特徴とする配線基板の製造方法。 (Additional remark 1) It has the process of forming on a board | substrate a wiring main body, a pad, and the several branch wiring branched from the said wiring main body and connected to the said same pad collectively by the printing method, It is characterized by the above-mentioned. A method of manufacturing a wiring board.
(付記2) 前記分岐配線の幅は、前記配線本体の幅の2倍以下であることを特徴とする付記1に記載の配線基板の製造方法。
(Additional remark 2) The manufacturing method of the wiring board of
(付記3) 複数の前記分岐配線の各々の幅を加算して得た総和は、前記配線本体の幅以上であることを特徴とする付記1に記載の配線基板の製造方法。
(Additional remark 3) The manufacturing method of the wiring board of
(付記4) 基板と、
前記基板の上に印刷され、配線本体と、パッドと、前記配線本体から分岐して同一の前記パッドに繋がる複数の分岐配線とを備えた導体パターンと、
を有することを特徴とする配線基板。
(Appendix 4) a substrate,
Printed on the substrate, a conductor pattern comprising a wiring body, a pad, and a plurality of branch wirings branched from the wiring body and connected to the same pad;
A wiring board comprising:
(付記5) 前記分岐配線の幅は、前記配線本体の幅の2倍以下であることを特徴とする付記4に記載の配線基板。 (Additional remark 5) The width | variety of the said branch wiring is 2 times or less of the width | variety of the said wiring main body, The wiring board of Additional remark 4 characterized by the above-mentioned.
(付記6) 複数の前記分岐配線の各々の幅を加算して得た総和は、前記配線本体の幅以上であることを特徴とする付記4に記載の配線基板。 (Additional remark 6) The wiring board of Additional remark 4 characterized by the sum total obtained by adding each width | variety of the said some branch wiring being more than the width | variety of the said wiring main body.
1、13、20…配線基板、2、10、21…基板、3、12…導体パターン、3p…パッド、3w…配線、3t…テーパ部、11…印刷パターン、12a…補助パターン、12b…分岐配線、12p…パッド、12w…配線本体、22…層間絶縁膜、23…導体ビア。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記基板の上に印刷され、配線本体と、パッドと、前記配線本体から分岐して同一の前記パッドに繋がる複数の分岐配線とを備えた導体パターンと、
を有することを特徴とする配線基板。 A substrate,
Printed on the substrate, a conductor pattern comprising a wiring body, a pad, and a plurality of branch wirings branched from the wiring body and connected to the same pad;
A wiring board comprising:
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JP2014237350A JP2016100497A (en) | 2014-11-25 | 2014-11-25 | Wiring board and manufacturing method of the same |
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2014
- 2014-11-25 JP JP2014237350A patent/JP2016100497A/en active Pending
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