JP2016036789A - 検査振分システム - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 435
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 196
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 634
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 181
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 35
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 39
- 230000009471 action Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 157
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 28
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 12
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 12
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 11
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 10
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
- B07C5/361—Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
- B07C5/363—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution by means of air
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3307—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts source and detector fixed; object moves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/618—Specific applications or type of materials food
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/652—Specific applications or type of materials impurities, foreign matter, trace amounts
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Toxicology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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Abstract
【解決手段】検査振分システム100は、搬送装置10と、X線検査装置20と、振分装置30と、を備える。搬送装置は、被検査物を搬送する。X線検査装置は、搬送される被検査物を検査する。振分装置は、搬送される被検査物を振り分ける振分動作を実行するエアー振分機構31を有する。振分装置は、振分情報受信部33aと、基準信号受信部33bと、振分機構制御部33dと、を有する。振分情報受信部は、X線検査装置の検査結果に基づいた被検査物の振り分けに関する振分情報を受信する。基準信号受信部は、搬送装置の搬送に関する定間隔の基準信号を受信する。振分機構制御部は、振分情報に基づいた振分動作を、基準信号により調整するタイミングで実行するようエアー振分機構を制御する。
【選択図】図4
Description
本発明の第1実施形態に係る検査振分システム100について説明する。
第1実施形態に係る検査振分システム100は、搬送中の食品等の被検査物P(物品)の検査を行い、検査結果に基づいて被検査物Pを振り分けるシステムである。具体的には、検査振分システム100は、被検査物Pの異物検査の結果に基づき、異物が混入していない良品を後段の工程(例えば、箱詰め工程など)に搬送し、異物が混入している不良品をラインから排除するように振り分ける。
以下に、検査振分システム100の搬送装置10、X線検査装置20、および振分装置30について詳細を説明する。
搬送装置10は、被検査物Pを搬送する搬送手段の一例である。搬送装置10は、上流コンベアユニット60が搬送してくる被検査物Pを受け取り、被検査物PがX線検査装置20の後述するシールドボックス21内を通過するように搬送する。また、搬送装置10は、シールドボックス21内を通過した被検査物Pを、X線検査装置20の下流側の振分装置30へと搬送する。より具体的には、搬送装置10は、シールドボックス21内を通過した被検査物Pを、後述する振分装置30のエアー振分機構31の近傍を通過するよう搬送する。さらに、搬送装置10は、振分装置30のエアー振分機構31により振り分けられなかった被検査物P(検査の結果、良品と判断された被検査物P)を、更に下流へと搬送する。
X線検査装置20は、搬送装置10により搬送される被検査物Pを検査する検査装置の一例である。X線検査装置20は、搬送装置10により連続的に搬送される被検査物Pに対してX線を照射し、被検査物Pを透過したX線量に基づいて被検査物Pに異物が混入しているか否かの検査を行う。
シールドボックス21は、内部にX線照射器22、ラインセンサ23、コントローラ24等を収容する筐体である。また、シールドボックス21の正面上部には、モニタ25の他、キーの差込口および電源スイッチ等が配置されている(図2参照)。シールドボックス21の左右の側面には、開口21aが形成されている(図2参照)。
X線照射器22は、シールドボックス21内の、コンベアベルト11の上方に配置されている(図3参照)。X線照射器22は、コンベアベルト11の搬送面の下方に配置されるラインセンサ23に向かって、扇形状の照射範囲YにX線を照射する(図3のハッチング部参照)。X線照射器22のX線の照射範囲Yは、コンベアベルト11の被検査物Pの搬送面に対して直交するように延びる。また、照射範囲Yは、コンベアベルト11の搬送方向(図3中の矢印A参照)に対して交差する方向に扇形状に広がる。言い換えれば、X線照射器22から照射されるX線は、コンベアベルト11の幅方向に広がる。
ラインセンサ23は、コンベアベルト11の搬送面の下方に配置されており、被検査物Pやコンベアベルト11を透過してくるX線を検出する。ラインセンサ23は、主に多数のX線検出素子23aを有する。X線検出素子23aは、コンベアベルト11の搬送方向(図3中の矢印A参照)に直交する向きに、言い換えればコンベアベルト11の幅方向に、一直線に水平配置されている(図3参照)。
モニタ25は、液晶ディスプレイである。モニタ25は、被検査物PのX線画像や、被検査物Pの検査結果等を表示する。モニタ25は、タッチパネル機能も有しており、オペレータによる検査パラメータ等の入力を受け付ける。
コントローラ24は、X線検査装置20の各部を制御するコンピュータである。コントローラ24は、演算や制御を行うCPU(Central Processing Unit)や、情報を記憶する記憶部としてのROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、およびハードディスク等を主に有する。
基準信号送信部24bは、搬送装置10の搬送に関する定間隔の基準信号Sを出力する。基準信号送信部24bによる基準信号Sの発信は、異物検査の処理とは独立して行われる処理である。
振分装置30は、X線検査装置20での異物検査の結果に基づいて、被検査物Pの振り分けを行う装置である。具体的には、振分装置30は、X線検査装置20での異物検査の結果、異物を混入していると判断された被検査物Pを、搬送装置10のコンベアベルト11上から排除する装置である。
エアー振分機構31は、搬送装置10により搬送される被検査物Pを振り分ける振分動作を実行する振分機構の一例である。エアー振分機構31は、コントローラ33の振分機構制御部33dからの指令を受けて、コンベアベルト11で搬送されてくる被検査物Pを振り分ける。
(2−3−2)コントローラ
コントローラ33は、振分装置30の各部を制御するコンピュータである。コントローラは、演算や制御を行うCPUや、情報を記憶する記憶部としてのROM、RAM、およびハードディスク等を有する。
振分情報受信部33aは、第1受信部の一例である。振分情報受信部33aは、X線検査装置20のコントローラ24の振分情報送信部24aが送信する、X線検査装置20の検査結果に基づいた被検査物Pの振り分けに関する振分情報Dを受信する。振分情報送信部24aが送信する振分情報Dは、上記のように、5つの単位振分情報dを繋げた情報である。上記のように、単位振分情報dは、Nビットの情報であることから、振分情報送信部24aが送信する振分情報Dは(N×5)ビットの情報である。振分情報受信部33aは、振分情報Dを受信すると、振分情報Dを振分情報記憶領域33caに記憶させる。
基準信号受信部33bは、搬送装置10の搬送に関する定間隔の基準信号Sを受信する。基準信号Sは、上述したように、搬送装置10がコンベアベルト11を幅Lの2倍の距離だけ搬送する毎に、搬送装置10がコンベアベルト11を幅Lだけ搬送する間発信される信号である。なお、基準信号Sは、搬送装置10の搬送速度が一定の場合には、一定時間毎に基準信号送信部24bから送信される信号である。
(2−3−2−3−1)振分情報記憶領域
振分情報記憶領域33caには、振分情報受信部33aが受信した振分情報Dが記憶される。振分情報Dは、前述したように、単位振分情報dを5つ繋げた(N×5)ビットの情報である。振分情報記憶領域33caに記憶される内容は、振分情報受信部33aが振分情報Dを受信すると、受信した(最新の)振分情報Dに書き換えられる。
振分動作記憶領域33cbには、後述する振分機構制御部33dの振分動作記憶書換部33daにより、振分情報記憶領域33caに記憶されている振分情報Dの中の、搬送装置10の搬送方向における最下流側の単位振分情報d、言い換えれば時系列的に最も古いNビット分の情報が書き込まれ記憶される。振分動作記憶領域33cbの内容は、基準信号受信部33bが受信する基準信号Sにより調整するタイミングで書き換えられる。
振分機構制御部33dは、振分情報受信部33aが受信した振分情報Dに基づいた振分動作を、基準信号受信部33bが受信した基準信号Sにより調整するタイミングで実行するよう、エアー振分機構31を制御する。
振分動作記憶書換部33daは、振分情報記憶領域33caに記憶されている振分情報Dに基づいて、基準信号受信部33bが受信した基準信号Sにより調整するタイミングで振分動作記憶領域33cbに記憶される内容を書き換える。後述するように、振分動作記憶領域33cbの内容が書き換えられると、指令生成部33dbは、そのタイミングで書き換えられた内容に基づいたエアー振分機構31の制御を開始するから、振分動作記憶領域33cbの内容の書き換えタイミングが、エアー振分機構31の振分動作のタイミングを決定することになる。
指令生成部33dbは、振分動作記憶領域33cbに記憶された内容で、エアー振分機構31に対する指示を生成し、エアー振分機構31に対して送信する。具体的には、指令生成部33dbは、振分動作記憶領域33cbの内容が書き換えられると、そのタイミングで、振分動作記憶領域33cbに記憶された時系列の情報に応じた動作を、時系列の先頭から順にエアー振分機構31が実行するよう、エアー振分機構31に対する指令を生成して、エアー振分機構31に送信する。以下に、具体的に説明する。
振分装置30が実行する処理、特に、振分情報記憶領域33caおよび振分動作記憶領域33cbの書換処理について、図6を用いて説明する。
(4−1)
第1実施形態に係る検査振分システム100は、搬送手段の一例としての搬送装置10と、検査装置の一例としてのX線検査装置20と、振分装置30と、を備える。搬送装置10は、被検査物P(物品)を搬送する。X線検査装置20は、搬送装置10により搬送される被検査物Pを検査する。振分装置30は、搬送装置10により搬送される被検査物Pを振り分ける振分動作を実行するエアー振分機構31を有する。エアー振分機構31は、振分機構の一例である。振分装置30は、第1受信部の一例としての振分情報受信部33aと、第2受信部の一例としての基準信号受信部33bと、振分機構制御部33dと、を有する。振分情報受信部33aは、X線検査装置20の検査結果に基づいた被検査物Pの振り分けに関する振分情報Dを受信する。基準信号受信部33bは、搬送装置10の搬送に関する定間隔の基準信号Sを受信する。振分機構制御部33dは、振分情報Dに基づいた振分動作を、基準信号Sにより調整するタイミングで実行するようエアー振分機構31を制御する。
上記実施形態に係る検査振分システム100では、基準信号Sは、搬送装置10が幅Lの2倍の距離(第1距離)を搬送する毎に、搬送装置10が幅Lを搬送する間だけ、基準信号受信部33bに対して発信される信号である。
上記実施形態に係る検査振分システム100では、X線検査装置20はラインセンサ23を有する。ラインセンサ23は、1回の撮像毎に、搬送装置の搬送方向に沿って所定幅(撮像幅u)を撮像する。上記の幅Lの2倍の距離(第1距離)は、所定幅の整数倍である。具体的には、幅Lの2倍の距離は、撮像幅uのN×2倍である。
上記実施形態に係る検査振分システム100では、X線検査装置20は、被検査物Pの異物検査を行うことで、被検査物Pの良/不良を検査する。
上記実施形態に係る検査振分システム100では、エアー振分機構31が振分情報Dに基づいた振分動作を実行するタイミングは、エアー振分機構31の特性によって決まる一定の遅延時間Tdに基づいて決定される。具体的には、上記のタイミングは、基準信号Sの立ち上がり又は立ち下がりの時点から、{(遅延調整幅α/搬送装置10の搬送速度V)−遅延時間Td}で求められる時間だけ調整される。
本発明の第2実施形態に係る検査振分システム200について説明する。
第2実施形態に係る検査振分システム200は、搬送される、食品等の被検査物P(物品)のランクを検査し、検査結果に基づいて被検査物Pを振り分けるシステムである。具体的には、検査振分システム100は、被検査物Pの重量推定結果に基づき、重量に応じたランクで被検査物Pを振り分ける。
以下に、検査振分システム200のX線検査装置220、および振分装置230について詳細を説明する。
X線検査装置220は、搬送装置10により搬送される被検査物Pを検査する検査装置の一例である。X線検査装置220は、搬送装置10により連続的に搬送される被検査物Pに対してX線を照射し、被検査物Pを透過したX線量に基づいて被検査物Pの重量を推定し、重量に応じて被検査物Pを3段階のランクに分類する。
コントローラ224は、X線検査装置220の各部を制御するコンピュータである。コントローラ224は、第1実施形態のコントローラ24と同様に、演算や制御を行うCPUや、情報を記憶する記憶部としてのROM、RAM、およびハードディスク等を有する。
振分装置230は、X線検査装置220でのランク検査の結果に基づいて、被検査物Pの振り分けを行う。具体的には、振分装置230は、X線検査装置220のランク検査の結果に基づいて、被検査物Pを図示しない3つのコンベアにランク別に振り分ける。
第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cの各々は、第1実施形態のエアー振分機構31と同様である。第1エアー振分機構231aは、第1ノズル232aと、第1ノズル232aに高圧空気を供給するエアー経路を開閉する電磁弁(図示せず)と、を有する。第2エアー振分機構231bは、第2ノズル232bと、第2ノズル232bに高圧空気を供給するエアー経路を開閉する電磁弁(図示せず)と、を有する。第3エアー振分機構231cは、第3ノズル232cと、第3ノズル232cに高圧空気を供給するエアー経路を開閉する電磁弁(図示せず)と、を有する。第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cは、コントローラ233により各々独立的に制御される機構である。
コントローラ233は、振分装置230の各部を制御するコンピュータである。コントローラ233は、演算や制御を行うCPUや、情報を記憶する記憶部としてのROM、RAM、およびハードディスク等を有する。
振分情報受信部233aは、X線検査装置220のコントローラ224の振分情報送信部224aが送信する、X線検査装置20の検査結果に基づいた被検査物Pの振り分けに関する振分情報Eを受信する。振分情報受信部233aは、受信する情報の内容が異なる(受診する情報が、振分情報Dではなく振分情報Eである)以外は第1実施形態と同様であるので、詳細な説明は省略する。
基準信号受信部233bは、第1実施形態と同様であるので、説明は省略する。
(2−2−2−3−1)振分情報記憶領域
振分情報記憶領域233caには、振分情報受信部233aが受信した振分情報Eが記憶される。振分情報Eは、前述したように、単位振分情報eを5つ繋げた(N×5)個の数値からなる情報である。振分情報記憶領域233caに記憶される内容は、振分情報受信部233aが振分情報Eを受信すると、受信した(最新の)振分情報Eに書き換えられる。
振分動作記憶領域233cbには、後述する振分機構制御部233dの振分動作記憶書換部233daにより、振分情報記憶領域233caに記憶されている振分情報Eの中の、搬送装置10の搬送方向における最下流側の単位振分情報e、言い換えれば時系列的に最も古いN個の数値情報が書き込まれ記憶される。振分動作記憶領域233cbの内容は、基準信号受信部233bが受信する基準信号Sにより調整するタイミングで書き換えられる。
振分機構制御部233dは、振分情報受信部233aが受信した振分情報Eに基づいた振分動作を、基準信号受信部233bが受信した基準信号Sにより調整するタイミングで実行するよう、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cを制御する。
振分動作記憶書換部233daは、振分情報記憶領域233caに記憶されている振分情報Eに基づいて、基準信号受信部233bが受信した基準信号Sにより調整するタイミングで振分動作記憶領域233cbに記憶される内容を書き換える。後述するように、指令生成部233dbは、振分動作記憶領域233cbの内容が書き換えられると、そのタイミングで書き換えられた内容に基づいた第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cの制御を開始するから、振分動作記憶領域233cbの内容の書き換えタイミングが、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cの振分動作のタイミングを決定することになる。
指令生成部233dbは、振分動作記憶領域233cbに記憶された内容で、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cに対する指示を生成し、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cに対して送信する。具体的には、指令生成部233dbは、振分動作記憶領域233cbの内容が書き換えられると、そのタイミングで、振分動作記憶領域233cbに記憶された時系列の情報に応じた動作を、時系列の先頭から順に第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cが実行するよう、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cに対する指令を生成して、第1〜第3エアー振分機構231a,231b,231cに送信する。以下に、具体的に説明する。
振分情報記憶領域233caおよび振分動作記憶領域233cbの書換処理については第1実施形態と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
検査振分システム200は、第1実施形態に係る検査振分システム100の(4−1)〜(4−3)、および(4−5)と同様の特徴を有する。その他、第2実施形態に係る検査振分システム200は、以下の特徴を有する。
上記実施形態に係る検査振分システム100では、X線検査装置20は、被検査物Pの重量に基づくランク検査を行う。
本発明の第3実施形態に係る検査振分システム300について説明する。
第3実施形態に係る検査振分システム300は、第1実施形態の検査振分システム100と同様に、被検査物Pの異物検査の結果に基づき、異物が混入していない良品を後段の工程(例えば、箱詰め工程など)に搬送し、異物が混入している不良品をラインから排除するように振り分ける。検査振分システム300は、更に、振分装置30による振り分けが正しく実施されたか否かを確認する。
以下に、検査振分システム300の確認装置40について詳細を説明する。搬送装置10、X線検査装置320、および振分装置30については、説明を省略する。
確認装置40は、X線検査装置320での異物検査の結果に基づいて、被検査物Pが振分装置30により正しく振り分けられたかを確認する装置である。
光電センサ41は、エアー振分機構31のノズル32の、搬送装置10の搬送方向における下流側で、被検査物Pを検知する搬送確認用センサの一例である(図10参照)。光電センサ41は、コンベアベルト11を挟んで配置される一対の投光器41a及び受光器41bから構成されている(図10参照)。光電センサ41が被検査物Pを検知したか否か、言い換えれば、投光器41aが発した光を受光器41bが検出したか否かは、連続的にコントローラ43に送信される。
コントローラ43は、確認装置40の各部を制御するコンピュータである。コントローラは、演算や制御を行うCPUや、情報を記憶する記憶部としてのROM、RAM、およびハードディスク等を有する。
振分情報受信部43aは、X線検査装置20のコントローラ24の振分情報送信部24aが送信する、X線検査装置20の検査結果に基づいた被検査物Pの振り分けに関する振分情報Dを受信する。振分情報受信部43aの機能は、振分装置30の振分情報受信部33aと同様である。ここでは、振分情報受信部43aについての詳細な説明は省略する。
基準信号受信部43bは、搬送装置10の搬送に関する定間隔の基準信号Sを受信する。基準信号受信部43bの機能は、振分装置30の基準信号受信部33bと同様である。ここでは、基準信号受信部43bについての詳細な説明は省略する。
(2−1−2−3−1)振分情報記憶領域
振分情報記憶領域43caには、振分情報受信部43aが受信した振分情報Dが記憶される。振分情報記憶領域43caの機能は、振分装置30の振分情報記憶領域33caと同様である。ここでは、振分情報記憶領域43caについての詳細な説明は省略する。
振分動作記憶領域43cbには、後述する処理部43dの振分動作記憶書換部43daにより、振分情報記憶領域43caに記憶されている振分情報Dの中の、搬送装置10の搬送方向における最下流側の単位振分情報d、言い換えれば時系列的に最も古いNビット分の情報が書き込まれ記憶される。振分動作記憶領域43cbの内容は、基準信号受信部43bが受信する基準信号Sにより調整するタイミングで書き換えられる。
処理部43dは、振分情報受信部43aが受信した振分情報Dに基づいて、基準信号受信部43bが受信した基準信号Sにより調整する確認タイミングで光電センサ41が被検査物Pを検知するか否かで、エアー振分機構31による振り分けの成否を判断する。処理部43dは、判断部の一例である。
振分動作記憶書換部43daは、振分情報記憶領域43caに記憶されている振分情報Dに基づいて、基準信号受信部43bが受信した基準信号Sにより調整するタイミングで振分動作記憶領域43cbに記憶される内容を書き換える。後述するように、判定部43dbは、振分動作記憶領域43cbの内容が書き換えられると、そのタイミングを用いて書き換えられた内容に基づいた判断を開始するから、振分動作記憶領域43cbの内容の書き換えタイミングが、判定部43dbによる判定のタイミングを決定することになる。
判定部43dbは、振分動作記憶領域43cbに記憶された内容と、リアルタイムで送信されてくる光電センサ41の検知結果とに基づいて、振分装置30により振り分けられているべき被検査物Pがコンベアベルト11により搬送されていないか判定する。具体的には、判定部43dbは、振分動作記憶領域43cbの内容が書き換えられると、そのタイミングで、振分動作記憶領域43cbに記憶された時系列の情報に応じた振分動作がエアー振分機構31により実行されたか、振分動作記憶領域43cbの内容と、リアルタイムで送信されてくる光電センサ41の検知結果との比較を開始する。以下に、具体的に説明する。
振分装置30の実行する処理は、第1実施形態と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略する。
確認装置40が実行する処理、特に、振分情報記憶領域43caおよび振分動作記憶領域43cbの書換処理について、図12を用いて説明する。
検査振分システム300は、第1実施形態に係る検査振分システム100と同様の特徴を有する。
第3実施形態に係る検査振分システム300は、搬送確認用センサの一例としての光電センサ41と、判断部の一例としての処理部43dとを備える。光電センサ41は、エアー振分機構31の搬送装置10の搬送方向における下流側で被検査物Pを検知する。処理部43dは、光電センサ41の検知結果に基づいて、エアー振分機構31による振り分けの成否を判断する。処理部43dは、振分情報Dに基づいて、基準信号Sにより調整する確認タイミングで光電センサ41が被検査物Pを検知するか否かに応じて、エアー振分機構31による振り分けの成否を判断する。
上記第1実施形態〜第3実施形態は、互いに矛盾の無い範囲で組み合わされてもよい。例えば、検査振分システムは、第1実施形態の振分装置30と、第2実施形態の振分装置230とを両方備え、X線検査装置20が行う異物検査およびランク検査の結果に基づいて、被検査物Pの良/不良と、被検査物Pのランクと、に応じて被検査物Pの振り分けが行われてもよい。
上記実施形態では、振分装置30,230は、振分動作記憶領域33cb,233cbを有し、振分動作記憶書換部33da,233daが、書き込みを行うタイミングを基準信号Sで調整するが、これに限定されるものではない。
上記実施形態では、振分装置30,230は、エアー振分機構31,231a,231b,231cによりエアーを噴射して被検査物Pの振り分けを実行するものであるが、振分機構はこのようなエアーを噴射して被検査物Pを振り分けるものに限定されるものではない。例えば、振分機構は、モータやエアシリンダ等により駆動されるアームを駆動して、被検査物Pを振り分けるものであってもよい。
上記実施形態では、検査装置はX線検査装置20,220であるが、これに限定されるものではない。例えば、検査装置は、被検査物Pを透過する近赤外線を検知してシール部の噛み込み検査等を行い被検査物Pの良/不良を検査する近赤外線検査装置や、磁界の検知結果を用いて被検査物Pへの金属の混入を検知する金属検知装置等であってもよい。
第3実施形態では、振分装置30と確認装置40とは別の装置であるが、これに限定されるものでなく、振分装置30のコントローラ33が、光電センサ41の検知結果に基づきエアー振分機構31による振り分けの成否を判断するように構成されてもよい。
上記実施形態では、X線検査装置20,220が基準信号Sを送信するが、これに限定されるものではない。例えば、X線検査装置20,220が基準信号Sを送信する代わりに、搬送装置10が基準信号Sと同様の信号を送信するよう構成されてもよい。
上記実施形態では、基準信号Sは搬送装置10の搬送距離が幅Lとなる毎に、信号のオン/オフが切り替わる信号であるが、これに限定されるものではない。
上記実施形態では、振分対象の被検査物Pがノズル32,232a,232b,232cの前を通過する間、エアー振分機構31,231a,231b,231cは常にエアーを噴出するように制御されるが、これに限定されるものではない。エアー振分機構31,231a,231b,231cの振分動作を決定する単位振分情報d,eは、エアー振分機構31,231a,231b,231cが実行する振分動作が、振分対象の被検査物Pを振り分けることが可能な内容であればよい。
上記実施形態では、エアー振分機構31,231a,231b,231cのエアーの噴出/停止は、最も短い場合、搬送装置10の搬送距離がラインセンサ23の撮像幅uとなる毎に切り替えられるが、これに限定されるものではない。例えば、エアー振分機構31,231a,231b,231cのエアーの噴出/停止は、最も短くても、搬送装置10の搬送距離がラインセンサ23の撮像幅uの整数倍(例えば3倍)とならないと切り替えられないように制御されてもよい。
上記実施形態では、基準信号Sは、搬送装置10が所定距離を搬送する毎に基準信号受信部33bに対して発信される信号であるが、これに限定されるものではない。例えば、搬送装置10の搬送速度が一定である場合には、搬送装置10の搬送に関する定間隔の基準信号は、定時間間隔で発信される信号であってもよい。
上記実施形態では、振分装置30は、エアーにより被検査物Pを搬送装置10のコンベアベルト11上から排除するものであるが、これに限定されるものではない。例えば、振分装置は、コンベアベルト11上から被検査物Pを排除する代わりに、被検査物Pの良/不良に基づいて印字機構等を駆動して、被検査物Pにマーキングをすることで(例えば不良品だけにマーキングをすることで)、被検査物Pを振り分ける振分動作を実行するものであってもよい。
20,220 X線検査装置(検査装置)
23 ラインセンサ
30,230 振分装置
31 エアー振分機構(振分機構)
231a 第1エアー振分機構(振分機構)
231b 第2エアー振分機構(振分機構)
231c 第3エアー振分機構(振分機構)
33a 振分情報受信部(第1受信部)
33b 基準信号受信部(第2受信部)
33d 振分機構制御部
41 光電センサ(搬送確認用センサ)
43d 処理部(判断部)
100,200,300 検査振分システム
D,E 振分情報
P 被計量物(物品)
S 基準信号
Claims (6)
- 物品を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段により搬送される前記物品を検査する検査装置と、
前記搬送手段により搬送される前記物品を振り分ける振分動作を実行する振分機構を有する振分装置と、
を備え、
前記振分装置は、
前記検査装置の検査結果に基づいた前記物品の振り分けに関する振分情報を受信する第1受信部と、
前記搬送手段の搬送に関する定間隔の基準信号を受信する第2受信部と、
前記振分情報に基づいた前記振分動作を、前記基準信号により調整するタイミングで実行するよう前記振分機構を制御する振分機構制御部と、
を有する、
検査振分システム。 - 前記基準信号は、前記搬送手段が第1距離を搬送する毎に前記第2受信部に対して発信される信号である、
請求項1に記載の検査振分システム。 - 前記検査装置は、ラインセンサを備えたX線検査装置であり、
前記ラインセンサは、1回の撮像毎に、前記搬送手段の搬送方向に沿って所定幅を撮像し、
前記第1距離は、前記所定幅の整数倍である、
請求項2に記載の検査振分システム。 - 前記検査装置は、前記物品の良/不良、又は、ランクを検査する、
請求項1から3のいずれか1項に記載の検査振分システム。 - 前記搬送手段の搬送方向における前記振分機構の下流側で前記物品を検知する搬送確認用センサと、
前記搬送確認用センサの検知結果に基づいて、前記振分機構による振り分けの成否を判断する判断部と、
を更に備え、
前記判断部は、前記振分情報に基づいて、前記基準信号により調整する確認タイミングで前記搬送確認用センサが前記物品を検知するか否かに応じて、前記振分機構による振り分けの成否を判断する、
請求項1から4のいずれか1項に記載の検査振分システム。 - 前記タイミングは、前記振分機構の特性によって決まる一定の遅延時間に基づいて決定される、
請求項1から5のいずれか1項に記載の検査振分システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014163088A JP6487649B2 (ja) | 2014-08-08 | 2014-08-08 | 検査振分システム |
PCT/JP2015/072181 WO2016021623A1 (ja) | 2014-08-08 | 2015-08-05 | 検査振分システム |
EP15829654.1A EP3178571B1 (en) | 2014-08-08 | 2015-08-05 | Inspection and sorting system |
DK15829654.1T DK3178571T3 (da) | 2014-08-08 | 2015-08-05 | Inspektions- og sorteringssystem |
US15/501,967 US10376926B2 (en) | 2014-08-08 | 2015-08-05 | Inspection and sorting system |
CN201580039062.6A CN106660076B (zh) | 2014-08-08 | 2015-08-05 | 检查分配*** |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014163088A JP6487649B2 (ja) | 2014-08-08 | 2014-08-08 | 検査振分システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016036789A true JP2016036789A (ja) | 2016-03-22 |
JP6487649B2 JP6487649B2 (ja) | 2019-03-20 |
Family
ID=55263884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014163088A Active JP6487649B2 (ja) | 2014-08-08 | 2014-08-08 | 検査振分システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10376926B2 (ja) |
EP (1) | EP3178571B1 (ja) |
JP (1) | JP6487649B2 (ja) |
CN (1) | CN106660076B (ja) |
DK (1) | DK3178571T3 (ja) |
WO (1) | WO2016021623A1 (ja) |
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- 2015-08-05 DK DK15829654.1T patent/DK3178571T3/da active
- 2015-08-05 US US15/501,967 patent/US10376926B2/en active Active
- 2015-08-05 CN CN201580039062.6A patent/CN106660076B/zh active Active
- 2015-08-05 WO PCT/JP2015/072181 patent/WO2016021623A1/ja active Application Filing
- 2015-08-05 EP EP15829654.1A patent/EP3178571B1/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106660076B (zh) | 2019-08-23 |
US20170225200A1 (en) | 2017-08-10 |
US10376926B2 (en) | 2019-08-13 |
DK3178571T3 (da) | 2022-01-03 |
EP3178571A4 (en) | 2017-07-26 |
CN106660076A (zh) | 2017-05-10 |
JP6487649B2 (ja) | 2019-03-20 |
EP3178571B1 (en) | 2021-12-15 |
EP3178571A1 (en) | 2017-06-14 |
WO2016021623A1 (ja) | 2016-02-11 |
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