JP2015184209A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015184209A5
JP2015184209A5 JP2014062508A JP2014062508A JP2015184209A5 JP 2015184209 A5 JP2015184209 A5 JP 2015184209A5 JP 2014062508 A JP2014062508 A JP 2014062508A JP 2014062508 A JP2014062508 A JP 2014062508A JP 2015184209 A5 JP2015184209 A5 JP 2015184209A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
physical quantity
quantity sensor
signal
signal processing
processing unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014062508A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6369086B2 (ja
JP2015184209A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2014062508A priority Critical patent/JP6369086B2/ja
Priority claimed from JP2014062508A external-priority patent/JP6369086B2/ja
Priority to US14/666,922 priority patent/US10067156B2/en
Priority to CN201510134544.1A priority patent/CN104949667B/zh
Publication of JP2015184209A publication Critical patent/JP2015184209A/ja
Publication of JP2015184209A5 publication Critical patent/JP2015184209A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6369086B2 publication Critical patent/JP6369086B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

通信プロトコルを用いたソフトウェアトリガー方式は、兼用される割り込み端子を他の用途に使用する機会を減少させない点で優れている。
(9)本発明の一態様では、前記信号処理部は、前記プログラマブルゲインアンプの出力をアナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル変換器をさらに有し、前記制御回路は、前記アナログ−デジタル変換器が前記複数の検出軸の一軸の物理量信号をデジタル変換した後から、前記複数の検出軸の他の一軸の物理量信号をデジタル変換する前に、前記アナログ−デジタル変換器をディスイネーブルにすることができる。
(10)本発明の一態様では、前記物理量センサー素子は、温度センサー素子を含み、
前記信号処理部は、前記温度センサー素子からの温度信号と、前記物理量信号とを、前記処理期間中にシリアル処理し、前記制御回路は、前記温度信号をシリアル処理する分割処理期間にて、前記プログラマブルゲインアンプをイネーブルとした後に、前記アナログ−デジタル変換器をイネーブルにすることができる。
物理量信号を温度補償するために温度信号が必要となる場合がある。そのために、物理量信号と共に温度信号が検出される。処理期間または間欠測定モードの当初にて温度信号をシリアル処理する分割処理期間にて、温度信号が入力されるプログラマブルゲインアンプが先ずイネーブルされ、その後にアナログ−デジタル変換器をイネーブルしている。プログラマブルゲインアンプで信号処理している間は、アナログ−デジタル変換器をイネーブルさせるタイミングを遅らせることで、消費電力を低減できる。
(11)本発明の他の態様に係るセンサーユニットでは、(1)〜(10)に記載の物理量センサーである第1物理量センサーと、前記第1物理量センサーが検出する物理量以外の物理量を検出する第2物理量センサーと、を有し、前記第1物理量センサーの前記信号処理部と、前記第2物理量センサーの信号処理部とは、前記外部トリガーに基づいて信号処理を開始するセンサーユニットに関する。
第1物理量センサーの信号処理部と、第2物理量センサーの信号処理部とが、外部トリガーに基づいて信号処理を開始することで、2つの異なる物理量検出信号の位相を一致させることができる。それにより、例えば第1物理量信号が加速度信号であり、第2物理量信号が脈波信号である時、脈波信号に含まれる体動を加速度信号に基づいて除去することができる。
(12)本発明のさらに他の態様に係るセンサーユニットでは、(1)〜(10)に記載の物理量センサーである第1物理量センサーと、前記第1物理量センサーが検出する物理量以外の物理量を検出する第2物理量センサーと、を有し、前記第1物理量センサーの前記信号処理部と、前記第2物理量センサーの信号処理部とは、同一周波数にて信号処理することができる。
ここで、可動電極31Aと固定電極21とのペアと、可動電極31Bと固定電極23とのペアとを、第1容量形成部41と称する。同様に、可動電極31Aと固定電極22とのペアと、可動電極31Bと固定電極24とのペアとを、第2容量形成部42と称する。差動容量型加速度センサー素子10は、第1容量形成部41の一端11と、第2容量形成部42の一端12と、第1,第2容量形成部41,42の共通端13とを含む。図2(B)に示す加速度aが作用したとき、第1容量形成部41の容量値は減少する一方で、第2容量形成部42の容量値は増大する。このため、共通端13に電荷を供給した状態で錘部31に加速度aが作用すると、第1,第2容量形成部41,42の一端11,12からそれぞれ出力される電荷(信号)は絶対値が等しく符号が逆の差動信号対となる。
(3)加速度センサーの回路図
図2(B)は、加速度aが作用する一軸方向の加速度を検出する例について説明した。図3に示すか速度センサー1には、検出軸をN(Nは2以上の整数)軸とし、例えばN=3とする場合の直交三軸(広義には交差N軸)であるX軸、Y軸およびZ軸をそれぞれの検出軸とする第1〜第3の差動容量型加速度センサー素子10X,10Y,10Zが設けられている。
第1〜第3の差動容量型加速度センサー素子10X,10Y,10Zの各々は、図2(A)に示す第1,第2容量形成部41,42を有し、第1,第2容量形成部41,42の固定容量間には軸毎に異なるオフセットがある。オフセットがあるまま加速度を検出すると、加速度が作用しない時でも加速度が存在する値が出力されてしまう。そこで、オフセット調整(キャリブレーション)が必要となる。
マルチプレクサー110の後段には、アナログ回路である容量検出回路(広義には信号処理部)130として、例えば電荷−電圧変換(QV)アンプ131、プログラマブルゲインアンプ(PGA)132及びアナログ−デジタル変換器(ADC)133等を有する。QVアンプ131は、時分割入力される差動容量型加速度センサー素子10X,10Y,10Zからの電荷を電圧に変換する。差動容量型加速度センサー素子10X,10Y,10Zからの出力は差動信号であるから、QVアンプ131は差動増幅回路として機能する。PGA132は、QVアンプ131の出力を、各軸毎に設定されたゲインで増幅する。ADC133は、PGA132の出力をアナログ−デジタル変換する。
IC100には、外部から電源電圧VDD,GNDが入力される。IC100には、電源電圧VDD(例えば3V)を降圧してロジック電源電圧VDDL(例えば1.8V)を生成する第1レギュレータREG1と、電源電圧VDDを降圧してアナログ電源電圧VDDA(例えば1.8V)を生成する第2レギュレータREG2とが設けられている。なお、第1レギュレータREG1は、加速度センサー1の起動によりイネーブルとなり、加速度センサー1が稼働している間(スタンバイ、休止期間等を含む)に亘ってロジック電源電圧VDDLを生成するロジック電源回路である。一方、第2レギュレータREG2は、イネーブルまたはディスイネーブルに切り替えられるアナログ電源回路であり、イネーブル期間のみアナログ電源電圧VDDAを生成する。
また、PGA132のイネーブル期間は、サンプルA期間とサンプルB期間とに二分される。同様に、ADC133の動作期間は、サンプリング期間と比較期間とに二分される。PGA132のサンプルB期間は、ADC133のサンプリング期間と時間軸上で重複して設定できる。また、ADC133の比較期間は、PGA132のサンプルA期間と時間軸上で重複して設定できる。それにより、温度計測、X軸加速度計測、Y軸加速度計測及びZ軸加速度計測の各期間を短縮でき、トータルの1回計測期間も短縮される。
(7)第1レギュレータREG1
図12に、第1レギュレータREG1の一例を示す。第1レギュレータREG1は、非反転入力端子と反転入力端子の間に、仕事関数差電圧によるオフセット電圧VOFFを有する差動型の増幅回路AMと、増幅回路AMの出力ノードNQ1と第1の電源ノードVSSとの間に直列に設けられる第1の抵抗RB1及び第2の抵抗RB2と、第1の抵抗RB1と第2の抵抗RB2の接続ノードNQ2に一端が接続される位相補償用キャパシターC0を含む。第1、第2の抵抗RB1、RB2の接続ノードNQ2の信号が、増幅回路AMの非反転入力端子に帰還され、増幅回路AMの出力ノードNQ1の信号が、増幅回路AMの反転入力端子に帰還される。
図13に示す第1レギュレータREG1では、図12の増幅回路AMの破線で囲まれた個所に素子または回路を増設し、起動時とアクティブ時に増幅回路AMに流れる動作電流IOPを増大させ、能力を増大させている。図13に示すように、増幅回路AMの出力部QBの接地端側に設けられた出力トランジスタT1と並列にトランジスタT2を追加した。増幅回路AMの差動部DFに増設したトランジスタT3と、トランジスタT3と同一ゲート電圧が印加されるトランジスタT4とで、カレントミラー回路CMを構成している。カレントミラー回路CMの電流源として、起動時に動作する第1電流源IS1と、アクティブ時に動作する第2電流源IS2とが追加されている。起動時に動作する第1電流源IS1では、起動によりスタートスイッチSTSTRがオンされて、カレントミラー回路CMに電流を流す。
スタンバイ時ではカレントミラーCMに電流が流れず、増幅回路AMは弱反転領域で動作して、差動部DFに例えば150nAが流れ、出力部QBに例えば550nAが流れ、動作電流IOPとして700nAが流れる。起動時にスタートスイッチSTSTRがオンすると、カレントミラー回路CMの動作によって、増設されたトランジスタT2及びT3に破線の矢印で示すように20μAが流れ、動作電流IOPを50μAまで増大させることができる。なお、スタートスイッチSTSTRはパワーオンリセット信号を用いて、起動後の所定定時間経過後にオフされる。第2レギュレータRGE2がイネーブルとなったアクティブ時には、第1電流源IS1に代わって第2電流源IS2がオンされ、動作電流IOPを例えば30μAまで増大させることができる。こうして、第1レギュレータREG1の起動時及びアクティブ時(過負荷時)の能力を高めることができる。
本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。したがって、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれる。例えば、明細書または図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語とともに記載された用語は、明細書または図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えられることができる。また、アナログ電源回路REG2、信号処理部(アナログ回路)130、制御回路170等の構成および動作も本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形が可能である。また、本発明が適用される物理量検出回路は、デジタル出力するものに限らず、ADC133を有しないアナログ出力にも適用することができる。物理量センサーとしては、加速度センサーに限らず、例えば、角速度センサー、圧力センサーなど、物理量を検出する各種センサーに適用できる。
1 加速度センサー、10 加速度センサー素子、100 IC、130 信号処理部、131 QVアンプ(差動増幅回路)、132 プログラマブルゲインアンプ(PGA)、133 アナログ−デジタル変換器(ADC)、150 レジスタ(第2レジスタ)、150D 第1レジスタ(ビジーフラグレジスタ)、200 CPU、300 他の物理量検出センサー(脈波センサー)、310 信号処理部、320 センサーユニット、REG1 ロジック電源回路(第1レギュレータ)、REG2 アナログ電源回路(第2レギュレータ)

Claims (15)

  1. 物理量センサー素子と、前記物理量センサー素子に接続されたICと、を有し、
    前記ICは、
    アナログ電源回路と、
    前記アナログ電源回路から電圧が供給され、前記物理量センサー素子からの信号を処理する信号処理部と、
    外部トリガーに基づく処理期間において前記アナログ電源回路をイネーブルに設定し、前記物理量センサー素子からの物理量信号を前記信号処理部にて処理させ、前記処理期間以外において前記アナログ電源回路をディスイネーブルに設定する制御回路と、
    を有することを特徴とする物理量センサー。
  2. 請求項1において、
    前記制御回路は、
    前記外部トリガーが設定される毎に前記処理期間において前記アナログ電源回路をイネーブルに設定する間欠計測モードと、
    前記アナログ電源回路をイネーブルに設定し、前記物理量センサー素子からの物理量信号を前記信号処理部が連続的に処理する連続計測モードと、
    切り替え可能であることを特徴とする物理量センサー。
  3. 請求項1または2において、
    前記ICは、前記外部トリガーが入力される外部端子を有することを特徴とする物理量センサー。
  4. 請求項1または2において、
    前記ICは、インターフェイス回路を有し、
    前記制御回路には、前記インターフェイス回路を介して前記外部トリガーが入力されることを特徴とする物理量センサー。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項において、
    前記ICは、前記外部トリガーに基づいて生成されるビジーフラグを格納する第1レジスタをさらに有し、
    前記制御回路は、前記第1レジスタのビジーフラグに基づいて、前記処理期間中に入力される外部トリガーを無視することを特徴とする物理量センサー。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項において、
    前記物理量センサー素子は、第1容量形成部と第2容量形成部とを含み、前記第1容量形成部および前記第2容量形成部からの差動信号を出力し、
    前記信号処理部は、
    前記差動信号の差分を増幅する差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力を、異なるゲインで増幅できるプログラマブルゲインアンプと、
    を有し、
    前記制御回路は、前記処理期間中に、前記差動増幅回路をイネーブルに設定した後に、前記プログラマブルゲインアンプをイネーブルに設定することを特徴とする物理量センサー。
  7. 請求項6において、
    前記信号処理部は、
    前記差動信号が入力される第1の差動信号線および第2の差動信号線と、
    前記第1容量形成部と前記第2容量形成部との間のオフセット量を格納する第2レジスタと、
    前記オフセット量に基づいて容量が設定され、前記第1の差動信号線および前記第2の差動信号線の少なくとも一方に接続される可変容量と、
    をさらに有し、
    前記制御回路は、前記差動増幅回路をイネーブルに設定した後であって、前記プログラマブルゲインアンプをイネーブルに設定する前に、前記可変容量をリセットすることを特徴とする物理量センサー。
  8. 請求項7において、
    前記物理量センサーは、複数の検出軸の各々に対して、前記第1容量形成部と前記第2容量形成部とを備え
    前記第2レジスタは、前記複数の検出軸毎に前記オフセット量を格納し、
    前記信号処理部は、前記複数の検出軸の物理量信号を、前記処理期間中にシリアル処理し、
    前記制御回路は、前記処理期間を前記複数の検出軸毎に分割した分割処理期間の各々にて、前記プログラマブルゲインアンプをイネーブルに設定する前に、前記可変容量をリセットすることを特徴とする物理量センサー。
  9. 請求項8において、
    前記信号処理部は、前記プログラマブルゲインアンプの出力をアナログ−デジタル変換するアナログ−デジタル変換器をさらに有し、
    前記制御回路は、前記アナログ−デジタル変換器が前記複数の検出軸のうちの第一の軸の物理量信号をデジタル変換した後であって、前記複数の検出軸のうちの第二の軸の物理量信号をデジタル変換する前に、前記アナログ−デジタル変換器をディスイネーブルに設定することを特徴とする物理量センサー。
  10. 請求項9において、
    前記物理量センサー素子は、温度センサー素子を含み、
    前記信号処理部は、前記温度センサー素子からの温度信号と、前記物理量信号とを、前記処理期間中にシリアル処理し、
    前記制御回路は、前記温度信号をシリアル処理する分割処理期間にて、前記プログラマブルゲインアンプをイネーブルに設定した後に、前記アナログ−デジタル変換器をイネーブルに設定することを特徴とする物理量センサー。
  11. 請求項1乃至10のいずれか一項記載の物理量センサーである第1物理量センサーと、
    前記第1物理量センサーが検出する物理量以外の物理量を検出する第2物理量センサーと、
    を有し、
    前記第1物理量センサーの前記信号処理部と、前記第2物理量センサーの信号処理部とは、前記外部トリガーに基づいて信号処理を開始することを特徴とするセンサーユニット。
  12. 請求項1乃至10のいずれか一項記載の物理量センサーである第1物理量センサーと、
    前記第1物理量センサーが検出する物理量以外の物理量を検出する第2物理量センサーと、
    を有し、
    前記第1物理量センサーの前記信号処理部と、前記第2物理量センサーの信号処理部とは、同一周波数にて信号処理することを特徴とするセンサーユニット。
  13. 請求項1乃至10のいずれか一項記載の物理量センサーを有することを特徴とする電子機器。
  14. 請求項1乃至10のいずれか一項記載の物理量センサーを有することを特徴とする移動体。
  15. 外部トリガーに基づいて処理期間を設定し、
    前記処理期間に亘ってアナログ電源回路をイネーブルに設定し、
    イネーブルに設定された前記アナログ電源回路から信号処理部に電圧を供給し、
    物理量センサー素子から入力される信号を前記処理期間毎に間欠的に処理することを特徴とする物理量検出方法。
JP2014062508A 2014-03-25 2014-03-25 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体 Expired - Fee Related JP6369086B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014062508A JP6369086B2 (ja) 2014-03-25 2014-03-25 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体
US14/666,922 US10067156B2 (en) 2014-03-25 2015-03-24 Physical quantity sensor, sensor unit, electronic apparatus, moving object, and physical quantity detection method
CN201510134544.1A CN104949667B (zh) 2014-03-25 2015-03-25 物理量传感器、传感器单元、电子设备以及移动体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014062508A JP6369086B2 (ja) 2014-03-25 2014-03-25 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015184209A JP2015184209A (ja) 2015-10-22
JP2015184209A5 true JP2015184209A5 (ja) 2017-04-27
JP6369086B2 JP6369086B2 (ja) 2018-08-08

Family

ID=54164513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014062508A Expired - Fee Related JP6369086B2 (ja) 2014-03-25 2014-03-25 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10067156B2 (ja)
JP (1) JP6369086B2 (ja)
CN (1) CN104949667B (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017006562A1 (ja) * 2015-07-07 2017-01-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 慣性力センサ
JP6720532B2 (ja) * 2016-01-06 2020-07-08 セイコーエプソン株式会社 回路装置、発振器、電子機器及び移動体
US10191124B2 (en) * 2016-08-26 2019-01-29 Sii Semiconductor Corporation Sensor circuit
US10228555B2 (en) * 2016-09-06 2019-03-12 Stmicroelectronics Ltd Resonance MEMS mirror control system
DE102017205984A1 (de) * 2017-04-07 2018-10-11 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor und Verfahren zum Betrieb eines Drehratensensors
CN107246890B (zh) * 2017-04-19 2020-08-28 上海矽睿科技有限公司 电容式传感器检测电路及双采样斩波级联结构
DE102018000884A1 (de) * 2018-02-03 2019-08-08 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Kapazitives Messsystem
JP7172177B2 (ja) * 2018-06-27 2022-11-16 セイコーエプソン株式会社 物理量検出回路、物理量検出装置、電子機器及び移動体
US11368645B2 (en) * 2018-06-27 2022-06-21 Prophesee Sa Image sensor with a plurality of super-pixels
CN112997057B (zh) * 2018-09-26 2023-07-18 德克萨斯仪器股份有限公司 具有集成校准机制的方法和传感器***
US11015914B2 (en) * 2019-01-21 2021-05-25 Novatek Microelectronics Corp. Capacitive image sensing device and capacitive image sensing method
JP7331419B2 (ja) * 2019-04-01 2023-08-23 セイコーエプソン株式会社 集積回路装置、発振器、電子機器及び移動体
JP2021071382A (ja) * 2019-10-31 2021-05-06 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、電子機器及び移動体
JP2022071486A (ja) * 2020-10-28 2022-05-16 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び慣性計測装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08101420A (ja) * 1994-10-03 1996-04-16 Nikon Corp 振れ補正装置とそれを備えたカメラシステム、カメラボディ及びレンズ鏡筒
JPH09243366A (ja) 1996-03-07 1997-09-19 Hitachi Cable Ltd 送電線用運動計測装置
JP4040595B2 (ja) * 2004-04-14 2008-01-30 日本電信電話株式会社 大気汚染物質モニタリングシステム及びセンサ接続インタフェース制御方法
US20060229520A1 (en) * 2005-04-08 2006-10-12 Shunzo Yamashita Controller for sensor node, measurement method for biometric information and its software
JP2007071654A (ja) 2005-09-06 2007-03-22 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 振動ジャイロ
JP4820692B2 (ja) * 2006-05-30 2011-11-24 Okiセミコンダクタ株式会社 センサ制御回路
JP5018028B2 (ja) * 2006-11-10 2012-09-05 セイコーエプソン株式会社 基準電圧供給回路、アナログ回路及び電子機器
JP4449972B2 (ja) * 2006-11-10 2010-04-14 セイコーエプソン株式会社 検出装置、センサ及び電子機器
JP2008229248A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Toshiba Corp 睡眠制御装置、方法およびプログラム
US7716000B2 (en) * 2007-08-28 2010-05-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Sensor apparatus having sensor element
CN101340588B (zh) * 2008-08-20 2010-06-23 炬力集成电路设计有限公司 运动估计方法、装置和多媒体处理器
US10077994B2 (en) * 2010-11-08 2018-09-18 Silicon Laboratories Norway As Low energy sensor interface
JP5821290B2 (ja) * 2011-05-31 2015-11-24 セイコーエプソン株式会社 モジュールおよび電子機器
JP5915192B2 (ja) * 2012-01-12 2016-05-11 ミツミ電機株式会社 センサ出力補正回路及びセンサ出力補正装置
JP5768822B2 (ja) * 2013-01-31 2015-08-26 株式会社デンソー センサ信号処理装置およびセンサ装置
JP6197323B2 (ja) 2013-03-22 2017-09-20 セイコーエプソン株式会社 検出装置、センサー、ジャイロセンサー、電子機器及び移動体
CN103472251B (zh) * 2013-08-22 2016-05-18 浙江工业大学 一种降低流速剖面仪信号处理单元功耗的方法及装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015184209A5 (ja)
JP6369086B2 (ja) 物理量センサー、センサーユニット、電子機器及び移動体
JP2015184208A5 (ja)
JP6299322B2 (ja) 物理量検出センサー、電子機器、移動体および電子回路
US10288426B2 (en) Circuit device, physical-quantity detecting apparatus, electronic apparatus, and moving object
JP6277689B2 (ja) 検出装置、センサー、電子機器及び移動体
US6850178B2 (en) Analog-to-digital conversion method and device
US9804190B2 (en) Apparatus and method for calibration of capacitance mismatch and temperature variations in a MEMS device
JP6080497B2 (ja) 抵抗補正回路、抵抗補正方法、及び半導体装置
TW201140001A (en) Method of measuring a physical parameter and electronic interface circuit for a capacitive sensor for implementing the same
JP6479619B2 (ja) インピーダンス測定回路
US20180347983A1 (en) Circuit device, electronic apparatus, moving object and method of manufacturing of physical quantity detection device
JP2016189515A (ja) 回路装置、電子機器及び移動体
US20130300437A1 (en) Method of measuring a physical parameter and electronic interface circuit for a capacitive sensor for implementing the same
US20100066582A1 (en) Current mode double-integration conversion apparatus
US9143151B2 (en) Pulse generator and analog-digital converter including the same
JP6158682B2 (ja) 磁気センサ回路
KR101996505B1 (ko) 센서 신호 처리 장치 및 이를 포함하는 리드아웃 회로부
JP6809115B2 (ja) 回路装置、発振器、電子機器及び移動体
JP2018191169A (ja) スイッチトキャパシタ増幅回路、電圧増幅方法及び赤外線センサ装置
WO2017016273A1 (zh) 加速度器
JP2002107256A (ja) 圧力センサ回路
US9369117B2 (en) Delay circuit, oscillation circuit, and semiconductor device
JP6160812B2 (ja) 半導体集積回路、振動デバイス、電子機器、移動体および半導体集積回路の検査方法
JP2008298455A (ja) 温度センサ