JP2015045548A - 基板検査装置および基板検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】回路基板100aの各ネット(N1〜N9)の中から検査対象のネットを複数選択して各ネットに接触させられているプローブを介して各ネットを直列接続させた状態で各ネットの導通状態を一括して検査する一括検査処理を実行する処理部を備え、処理部は、電子部品(R1〜R5)を介して互いに接続されているネットで構成されるネット群(G1〜G3)が存在する回路基板100aを検査する際に、ネット群から検査対象のネットを選択して一括検査処理を実行するときには、ネット群からは1つのネットのみを選択する。
【選択図】図2
Description
6 検査部
8 制御部
100a,100b,200 回路基板
Dp 回路基板データ
G1〜G3,G11〜G13 ネット群
N1〜N9,N11〜N19 ネット
R1〜R5,R11〜R15 導電性部品
Claims (6)
- 回路基板の各導体パターンの中から検査対象の前記導体パターンを複数選択して当該各導体パターンに接触させられているプローブを介して当該各導体パターンを直列接続させた状態で当該各導体パターンの導通状態を一括して検査する一括検査処理を実行する処理部を備え、
前記処理部は、電子部品を介して互いに接続されている前記導体パターンで構成される導体パターン群が存在する前記回路基板を検査する際に、当該導体パターン群から前記検査対象の導体パターンを選択して前記一括検査処理を実行するときには、当該導体パターン群からは1つの導体パターンのみを選択する基板検査装置。 - 前記処理部は、前記回路基板の構成を示す回路基板データに基づいて前記導体パターン群を特定する導体パターン群特定処理を実行する請求項1記載の基板検査装置。
- 前記処理部は、前記一括検査処理の結果が不良のときに当該一括検査処理の対象とした前記各導体パターンの一部を新たな検査対象として選択して前記一括検査処理を実行する工程を検査対象の当該導体パターンが2つになるまで繰り返して行った後に当該2つの導体パターンについての導通状態を検査して導通状態が不良の前記導体パターンを特定する不良導体パターン特定処理を実行する請求項1または2記載の基板検査装置。
- 回路基板の各導体パターンの中から検査対象の前記導体パターンを複数選択して当該各導体パターンに接触させられているプローブを介して当該各導体パターンを直列接続させた状態で当該各導体パターンの導通状態を一括して検査する一括検査処理を実行する基板検査方法であって、
電子部品を介して互いに接続されている前記導体パターンで構成される導体パターン群が存在する前記回路基板を検査する際に、当該導体パターン群から前記検査対象の導体パターンを選択して前記一括検査処理を実行するときには、当該導体パターン群からは1つの導体パターンのみを選択する基板検査方法。 - 前記回路基板の構成を示す回路基板データに基づいて前記導体パターン群を特定する導体パターン群特定処理を前記一括検査処理に先立って実行する請求項4記載の基板検査方法。
- 前記一括検査処理の結果が不良のときに、当該一括検査処理の対象とした前記各導体パターンの一部を新たな検査対象として選択して前記一括検査処理を実行する工程を検査対象の当該導体パターンが2つになるまで繰り返して行った後に当該2つの導体パターンについての導通状態を検査して導通状態が不良の前記導体パターンを特定する不良導体パターン特定処理を実行する請求項4または5記載の基板検査方法。
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