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Abstract
【解決手段】一次画像信号を補正するフィードスルー補正回路を備え、当該フィードスルー補正回路は、発生が予想されるフィードスルーの値を相殺するように、一次画像信号を補正する。
【選択図】図3
Description
本発明の一態様が解決することができる課題について、図18および図19を参照しながら説明する。具体的には、液晶素子の劣化を防ぐための交流電圧を用いて液晶素子を駆動すると、フィードスルーによりフリッカーが発生し、表示装置の使用者が目に疲労を感じるという問題について説明する。
表示装置が備える表示部のブロック図、表示部の画素が備える画素回路の等価回路図並びに液晶素子を透過する偏光の透過率−電圧特性の模式図を図18に示す。
表示部930は表示装置の一部である。表示部930は、画素部931を有する(図18(A)参照)。
ノーマリーホワイト型の液晶素子を透過する偏光の透過率と、当該液晶素子に与える電圧の関係を、図18(C)に模式的に示す。縦軸は偏光の透過率に対応し、横軸は第2の電極に対する第1の電極の電位に対応する。
画素回路934の液晶素子935LCを、交流電圧を用いて駆動する方法について説明する。
トランジスタ934tの第2の電極の電位Vsは、ゲート電極の電位Vgの影響を受ける。これにより、トランジスタ934tの第1の電極に入力されるS信号の電位Vsa(二次画像信号の電位と同じ)とは異なる電位となる。以下に、基準電位VscよりVsa1だけ電位が高い期間とVsa2だけ電位が低い期間を有する二次画像信号がS駆動回路に入力され、S駆動回路が二次画像信号と同じ電位のS信号を生成する場合を例に説明する。
フィードスルーは、トランジスタ934tの寄生容量934tcによる容量結合に起因して発生する(図19(B)参照)。フィードスルーの大きさΔVは、下記数式(3)を用いて予測できる。なお、式中、VgLHはゲート電極の電位の振幅(VgHとVgLの差)、CLは液晶素子935LCの容量、Csは容量素子934cの容量、Cdgはトランジスタ934tの寄生容量934tcである。
トランジスタ934tのゲート電極に入力されるG信号は、完全な矩形波ではない。例えば、G信号が下底に比べて上底が短い台形状の信号である場合、入力されるS信号の電位Vsが高いときに比べて低いときに、トランジスタ934tがオン状態である時間が長くなる。これにより、Cdgの値がチャネル容量等の影響で変化するため、第2のフィードスルーΔV2は第1のフィードスルーΔV1より大きくなり、第1のフィードスルーΔV1と第2のフィードスルーΔV2の大きさが非対称になる。
振幅が一定に保たれた交流電圧を用いて液晶素子を駆動すると、液晶素子を透過する偏光の透過率は一定に保たれる。
神経系の目の疲労がある。
そこで、上記課題を解決するために、本発明の一態様は表示素子を交流電圧で駆動する際に発生するフィードスルーとS信号の関係に着眼した。
本実施の形態では、本発明の一態様の画像信号を補正するフィードスルー補正回路、当該フィードスルー補正回路を備える表示装置の構成について、図1および図2を参照しながら説明する。
表示装置640は、表示部630および制御部610を有する(図1(A)参照)。
表示部630は、画素部631と、G駆動回路632とを有する(図2(A)参照)。
制御部610は、表示部630に二次画像信号615_Vを出力する機能を有する。また、制御部610は、G駆動回路632に走査開始信号を含む二次制御信号615_Cを出力する機能を有する。
表示装置640は、一次制御信号625_Cおよび一次画像信号625_Vを、外部から入力できる機能を有する。
画素部631に設けられる配線の種類及びその数は、画素631pの構成、数及び配置によって決めることができる。例えば、図2(A)に示す画素部631の場合、x列×y行の画素631pがマトリクス状に配置されており、信号線S1乃至信号線Sx、走査線G1乃至走査線Gyが、画素部631内に配置されている。
画素回路634は、表示素子635の種類または駆動方法に応じた構成を選択して用いることができる。
トランジスタ634tは、信号線Sの電位を表示素子635の第1電極に与えるか否かを制御する。表示素子635の第2電極には、所定の共通電位Vcomが与えられている。
表示素子635は液晶素子635LCに限られず、例えば電圧を加えることでルミネッセンス(Electroluminescence)が発生するOLED素子や、電気泳動を用いる電子インクなど、さまざまな表示素子を適用できる。
光供給部650は、光源を有する。制御部610は、光供給部650が有する光源の駆動を制御する。
制御部610が有する機能について、図1および図3を参照しながら説明する。制御部610は一次画像信号から二次画像信号を生成する。
図3は、本発明の一態様の表示部630が備える制御部610の動作を説明するタイミングチャートおよび模式図である。図3(A)は、画素回路634のトランジスタ634tのゲート電極に入力されるG信号の電位Vgおよび第1の電極に入力されるS信号の電位Vsaのタイミングチャートである。なお、G信号がハイであるとき、電位VgはVgHであり、G信号がロウであるとき、電位VgはVgLである。また、第1のフレームF1と第1のフレームF1に続く第2のフレームF2が図示されている。
二次画像信号615_Vの極性は1フレーム毎に反転される。二次画像信号615_Vの極性は、極性決定回路612により決定される。例えば、第1のフレームF1において、基準電位Vscに対して正の電位となるように決定し、第2のフレームF2において負の電位となるように決定する。
フィードスルー補正回路611が一次画像信号625_Vの基準電位Vscからの振幅を補正して、二次画像信号615_Vの振幅を決定する。なお、フィードスルー補正回路611は、一の階調情報を含む一次画像信号625_Vの振幅を、極性が正である期間においてのみ補正しても、極性が負である期間においてのみ補正しても、両方の期間において補正してもよい。
フィードスルーはトランジスタ634tの寄生容量に起因して発生する。従って、フィードスルーの値は演算により予測することができる。なお、フィードスルーの値を、一次画像信号625_Vに含まれる階調情報ごとに経験的に求めることもできる。また、あらかじめ予測または求めたフィードスルーの値に対応する補正値をルックアップテーブル等に記録して、階調情報に応じて呼び出す構成とすることもできる。
S駆動回路633は、二次画像信号615_VからS信号633_Sを生成する。本実施の形態で例示するS駆動回路633が生成するS信号633_Sの電位は、二次画像信号615_Vの電位Vsbと等しい。
本実施の形態では、本発明の一態様の情報処理装置の構成について、図5乃至図7を参照しながら説明する。
ここで目の疲労について説明する。目の疲労には、神経系の疲労と筋肉系の疲労の2種類がある。
本実施の形態で説明する表示機能を有する情報処理装置600は、表示部630、制御部610、演算装置620並びに入力手段500を有する(図7参照)。
演算装置620は、一次画像信号625_Vおよびモード切り替え信号を含む一次制御信号625_Cを生成する。
制御部610は、一次画像信号625_Vから二次画像信号615_Vを生成し、当該二次画像信号615_Vを出力する(図7参照)。
入力手段500としては、タッチパネル、タッチパッド、マウス、ジョイスティック、トラックボール、データグローブ、撮像装置などを用いることができる。演算装置620は、入力手段500から入力される電気信号と表示部の座標を関連づけることができる。これにより、使用する者が表示部に表示される情報を処理するための命令を入力することができる。
本実施の形態では、実施の形態1で説明する表示部を駆動する方法の一例について、図8乃至図9を参照しながら説明する。
図2(A)または図8に例示する画素部631に、S信号633_Sを書き込む方法の一例を説明する。具体的には、S信号633_Sを、画素部631の、図2(B)に例示する画素回路を備える画素631pのそれぞれに書き込む方法を説明する。
第1フレームにおいて、走査線G1にパルスを有するG信号632_Gが入力されることで、走査線G1が選択される。選択された走査線G1に接続された複数の各画素631pにおいて、トランジスタ634tが導通状態になる。
また、表示部630の構成の変形例を図8に示す。
G駆動回路632が出力するG信号632_Gが入力された画素回路634に、S信号633_Sが入力される。G信号632_Gが入力されない期間、画素回路634は、S信号633_Sの電位を保持する。言い換えると、画素回路634は、S信号633_Sの電位が書き込まれた状態を保持する。
G駆動回路632の第1のモードは、G信号632_Gを、各画素に1秒間に30回以上好ましくは1秒間に60回以上960回未満の頻度で出力する。
G駆動回路632の第2のモードは、G信号632_Gを、各画素に1日に1回以上1秒間に0.1回未満、好ましくは1時間に1回以上1秒間に1回未満の頻度で出力する。
本実施の形態では、本発明の一態様の情報処理装置の情報処理方法について、図17を参照しながら説明する。
本発明の一態様は、第1の静止画像が表示された表示画像から、表示画像に連続する第2の静止画像に、緩やかに表示画像を切り替える、情報処理方法である。
以下に、互いに異なる画像Aと画像Bとを切り換える方法の一例について説明する。
トランジスタのチャネルが形成される領域に好適に用いることができる半導体及び半導体膜の一例について、以下に説明する。
本実施の形態では、実施の形態5で説明する酸化物半導体膜を適用したトランジスタの構成例について、図面を参照して説明する。
図10(A)に、以下で例示するトランジスタ100の上面概略図を示す。また図10(B)に図10(A)中に示す切断線A−Bにおけるトランジスタ100の断面概略図を示す。本構成例で例示するトランジスタ100はボトムゲート型のトランジスタである。
基板101の材質などに大きな制限はないが、少なくとも、後の熱処理に耐えうる程度の耐熱性を有する材料を用いる。例えば、ガラス基板、セラミック基板、石英基板、サファイヤ基板、YSZ(イットリア安定化ジルコニア)基板等を、基板101として用いてもよい。また、シリコンや炭化シリコンなどの単結晶半導体基板、多結晶半導体基板、シリコンゲルマニウムなどの化合物半導体基板、SOI基板等を適用することも可能である。また、これらの基板上に半導体素子が設けられたものを、基板101として用いてもよい。
ゲート電極102は、アルミニウム、クロム、銅、タンタル、チタン、モリブデン、タングステンから選ばれた金属、または上述した金属を成分とする合金か、上述した金属を組み合わせた合金等を用いて形成することができる。また、マンガン、ジルコニウムのいずれか一または複数から選択された金属を用いてもよい。また、ゲート電極102は、単層構造でも、二層以上の積層構造としてもよい。例えば、シリコンを含むアルミニウム膜の単層構造、アルミニウム膜上にチタン膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にチタン膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、窒化タンタル膜または窒化タングステン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、チタン膜と、そのチタン膜上にアルミニウム膜を積層し、さらにその上にチタン膜を形成する三層構造等がある。また、アルミニウムに、チタン、タンタル、タングステン、モリブデン、クロム、ネオジム、スカンジウムから選ばれた一または複数の金属を組み合わせた合金膜、もしくはこれらの窒化膜を用いてもよい。
絶縁層103は、ゲート絶縁膜として機能する。酸化物半導体層104の下面と接する絶縁層103は、非晶質膜であることが好ましい。
一対の電極105a及び105bは、トランジスタのソース電極またはドレイン電極として機能する。
絶縁層106は、化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁膜を用いることが好ましい。化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁膜は、加熱により一部の酸素が脱離する。化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁膜は、昇温脱離ガス分光法(TDS:Thermal Desorption Spectroscopy)分析にて、酸素原子に換算しての酸素の脱離量が1.0×1018atoms/cm3以上、好ましくは3.0×1020atoms/cm3以上である酸化物絶縁膜である。
続いて、図10に例示するトランジスタ100の作製方法の一例について説明する。
ゲート電極102の形成方法を以下に示す。はじめに、スパッタリング法、CVD法、蒸着法等により導電膜を形成し、導電膜上に第1のフォトマスクを用いてフォトリソグラフィ工程によりレジストマスクを形成する。次に、該レジストマスクを用いて導電膜の一部をエッチングして、ゲート電極102を形成する。その後、レジストマスクを除去する。
絶縁層103は、スパッタリング法、CVD法、蒸着法等で形成する。
次に、図11(B)に示すように、絶縁層103上に酸化物半導体層104を形成する。
次に、図11(C)に示すように、一対の電極105a、105bを形成する。
次に、図11(D)に示すように、酸化物半導体層104及び一対の電極105a、105b上に、絶縁層106を形成し、続いて絶縁層106上に絶縁層107を形成する。
以下では、トランジスタ100と一部が異なるトランジスタの構成例について説明する。
図12(A)に、以下で例示するトランジスタ110の断面概略図を示す。トランジスタ110は、酸化物半導体層の構成が異なる点で、トランジスタ100と相違している。
図12(B)に、以下で例示するトランジスタ120の断面概略図を示す。トランジスタ120は、酸化物半導体層の構成が異なる点で、トランジスタ100及びトランジスタ110と相違している。
以下では、本発明の一態様の酸化物半導体膜を適用可能な、トップゲート型のトランジスタの構成例について説明する。
図13(A)に、以下で例示するトップゲート型のトランジスタ150の断面概略図を示す。
以下では、トランジスタ150と一部が異なるトランジスタの構成例について説明する。
本実施の形態では、入力手段としてタッチセンサ(接触検出装置)が、表示部に重ねて設けられたタッチパネルの構成について、図14及び図15を参照しながら説明する。以下において、上記実施の形態と重複する部分については、説明を省略する場合がある。
第3の基板403には、タッチセンサ430と、タッチセンサ430と電気的に接続する複数の配線417を備える。タッチセンサ430は、第3の基板403の第2の基板402と対向する面側に設けられる。また複数の配線417は第3の基板403の外周部にまで引き回され、その一部がFPC415と電気的に接続するための外部接続電極416を構成している。なお、図14(B)では明瞭化のため、第3の基板403の裏面側(紙面奥側)に設けられるタッチセンサ430の電極や配線等を実線で示している。
表示部411は複数の画素を有する画素部413を有する。表示部411の画素部413に適用可能な表示素子としては、有機EL素子、液晶素子の他、電気泳動方式や電子粉流体方式などにより表示を行う表示素子など、様々な表示素子を用いることができる。
本実施の形態では、本発明の一態様の電子機器について説明する。具体的には、本発明の一態様の表示装置を有する電子機器について図16を用いて説明する。
101 基板
102 ゲート電極
103 絶縁層
104 酸化物半導体層
105a 電極
105b 電極
106 絶縁層
107 絶縁層
110 トランジスタ
114 酸化物半導体層
114a 酸化物半導体層
114b 酸化物半導体層
120 トランジスタ
124 酸化物半導体層
124a 酸化物半導体層
124b 酸化物半導体層
124c 酸化物半導体層
150 トランジスタ
151 絶縁層
152 絶縁層
160 トランジスタ
164 酸化物半導体層
164a 酸化物半導体層
164b 酸化物半導体層
164c 酸化物半導体層
164d 側壁保護層
400 タッチパネル
401 基板
402 基板
403 基板
404 FPC
405 外部接続電極
406 配線
411 表示部
412g ゲート駆動回路
412s ソース駆動回路
413 画素部
415 FPC
416 外部接続電極
417 配線
421 電極
422 電極
424 絶縁層
430 タッチセンサ
431 液晶
432 配線
433 絶縁層
434 接着層
435 カラーフィルタ層
436 封止材
437 スイッチング素子層
438 配線
439 接続層
440 センサ層
445 偏光板
500 入力手段
500_C 信号
600 情報処理装置
610 制御部
611 フィードスルー補正回路
612 極性決定回路
615_C 二次制御信号
615_V 二次画像信号
620 演算装置
625_C 一次制御信号
625_V 一次画像信号
630 表示部
631 画素部
631a 領域
631b 領域
631c 領域
631p 画素
632 G駆動回路
632_G G信号
633 S駆動回路
633_S S信号
634 画素回路
634c 容量素子
634t トランジスタ
635 表示素子
635LC 液晶素子
640 表示装置
650 光供給部
701 演算装置
702 記憶装置
703 グラフィックユニット
704 表示手段
930 表示部
931 画素部
931p 画素
932 G駆動回路
933 S駆動回路
934 画素回路
934c 容量素子
934t トランジスタ
934tc 寄生容量
935LC 液晶素子
7201 本体
7202 筐体
7203 表示部
7204 キーボード
7205 外部接続ポート
7206 ポインティングデバイス
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
7450 コンピュータ
7451L 筐体
7451R 筐体
7452L 表示部
7452R 表示部
7453 操作ボタン
7454 ヒンジ
7455L 左側スピーカ
7455R 右側スピーカ
7456 外部接続ポート
Claims (6)
- 表示光に420nmより短い波長の光を含まず且つ150ppi以上の精細度で設けられた複数の画素、前記複数の画素に列毎に第1の駆動信号を供給することができる複数の信号線並びに前記複数の画素に行毎に第2の駆動信号を供給することができる複数の走査線を備える画素部が設けられた表示部と、
前記表示部に二次画像信号を出力する制御部と、を有し、
前記画素は、第2の駆動信号が入力されるゲート電極と、第1の駆動信号が入力される第1の電極とを備えるトランジスタと、前記トランジスタの第2の電極に電気的に接続される第1の電極と、共通電位が供給される第2の電極を備える表示素子と、を具備し、
前記制御部は、前記二次画像信号の極性を決定する極性決定回路と、フィードスルー補正回路と、を具備し、
前記フィードスルー補正回路は、前記トランジスタに発生するフィードスルーを相殺するように補正された一次画像信号と基準電位の差を振幅とする前記二次画像信号を出力する機能を具備する、目にやさしい表示装置。 - 表示光に420nmより短い波長の光を含まず且つ150ppi以上の精細度で設けられた複数の画素、前記複数の画素に列毎に第1の駆動信号を供給することができる複数の信号線並びに前記複数の画素に行毎に第2の駆動信号を供給することができる複数の走査線を備える画素部が設けられた表示部と、
前記表示部に二次画像信号を出力する制御部と、を有し、
前記画素は、第2の駆動信号が入力されるゲート電極と、第1の駆動信号が入力される第1の電極とを備えるトランジスタと、前記トランジスタの第2の電極に電気的に接続される第1の電極と、共通電位が供給される第2の電極を備える表示素子と、を具備し、
前記制御部は、前記二次画像信号の極性を決定する極性決定回路と、フィードスルー補正回路と、を具備し、
前記フィードスルー補正回路は、前記極性が負である場合において前記極性が正である場合に比べて小さくなるように補正された一次画像信号と基準電位の差を振幅とする前記二次画像信号を出力する機能を具備する、目にやさしい表示装置。 - 表示光に420nmより短い波長の光を含まず且つ150ppi以上の精細度で設けられた複数の画素、前記複数の画素に列毎に第1の駆動信号を供給することができる複数の信号線並びに前記複数の画素に行毎に第2の駆動信号を供給することができる複数の走査線を備える画素部と、前記第2の駆動信号を供給することができるG駆動回路と、が設けられた表示部と、
前記表示部に二次画像信号を出力し且つ前記G駆動回路に走査開始信号を出力する制御部と、を有し、
前記画素は、第2の駆動信号が入力されるゲート電極と、第1の駆動信号が入力される第1の電極とを備えるトランジスタと、前記トランジスタの第2の電極に電気的に接続される第1の電極と、共通電位が供給される第2の電極を備える表示素子と、を具備し、
前記制御部は、前記二次画像信号の極性を決定する極性決定回路と、フィードスルー補正回路と、を具備し、
前記フィードスルー補正回路は、前記極性が負である場合において前記極性が正である場合に比べて小さくなるように補正された一次画像信号と基準電位の差を振幅とする前記二次画像信号を出力する機能を具備する、目にやさしい表示装置。 - 前記表示素子が液晶素子である請求項1乃至請求項4に記載の目にやさしい表示装置。
- 前記トランジスタが酸化物半導体層を有する請求項1乃至請求項5に記載の目にやさしい表示装置。
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Cited By (2)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140111558A1 (en) * | 2012-10-23 | 2014-04-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and program |
KR102298336B1 (ko) | 2014-06-20 | 2021-09-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기발광다이오드 표시장치 |
KR102214032B1 (ko) * | 2014-07-02 | 2021-02-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
KR102190230B1 (ko) * | 2014-07-22 | 2020-12-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널의 구동 방법 및 이를 수행하기 위한 표시 장치 |
KR101709087B1 (ko) * | 2014-08-01 | 2017-02-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 타이밍 제어부, 이를 포함하는 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
CN107347254B (zh) * | 2014-11-28 | 2020-10-23 | 株式会社半导体能源研究所 | 图像处理装置、显示***以及电子设备 |
US10008167B2 (en) | 2015-03-03 | 2018-06-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, method for driving semiconductor device, and program |
US10325131B2 (en) * | 2015-06-30 | 2019-06-18 | Synaptics Incorporated | Active matrix capacitive fingerprint sensor for display integration based on charge sensing by a 2-TFT pixel architecture |
CN108604437A (zh) * | 2016-01-28 | 2018-09-28 | 夏普株式会社 | 显示装置 |
CN106486061A (zh) * | 2016-08-24 | 2017-03-08 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种oled显示面板驱动***及静态图案处理方法 |
WO2018060817A1 (en) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display system and electronic device |
TWI652606B (zh) * | 2017-06-29 | 2019-03-01 | 日商阿爾普士電氣股份有限公司 | Input device |
CN107665687A (zh) * | 2017-10-26 | 2018-02-06 | 惠科股份有限公司 | 一种显示设备 |
US10416808B2 (en) * | 2018-01-17 | 2019-09-17 | Qualcomm Incorporated | Input event based dynamic panel mode switch |
CN111341277A (zh) * | 2020-03-19 | 2020-06-26 | 华南师范大学 | 一种电润湿显示器件驱动方法及*** |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001033825A (ja) * | 1999-05-20 | 2001-02-09 | Nec Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
JP2001290122A (ja) * | 2000-04-06 | 2001-10-19 | Canon Inc | 液晶表示素子の駆動方法 |
JP2002182622A (ja) * | 2000-10-04 | 2002-06-26 | Seiko Epson Corp | 画像信号補正回路、その補正方法、液晶表示装置及び電子機器 |
JP2007147790A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置 |
US20100128028A1 (en) * | 2008-11-27 | 2010-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of driving a display panel, and display apparatus for performing the method |
JP2011186449A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-09-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置及び電子機器 |
WO2012033014A1 (ja) * | 2010-09-08 | 2012-03-15 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
Family Cites Families (130)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60198861A (ja) | 1984-03-23 | 1985-10-08 | Fujitsu Ltd | 薄膜トランジスタ |
JPH0244256B2 (ja) | 1987-01-28 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn2o5deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPS63210023A (ja) | 1987-02-24 | 1988-08-31 | Natl Inst For Res In Inorg Mater | InGaZn↓4O↓7で示される六方晶系の層状構造を有する化合物およびその製造法 |
JPH0244260B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn5o8deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244258B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn3o6deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244262B2 (ja) | 1987-02-27 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn6o9deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244263B2 (ja) | 1987-04-22 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn7o10deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JP2989952B2 (ja) | 1992-01-13 | 1999-12-13 | 日本電気株式会社 | アクティブマトリクス液晶表示装置 |
JPH05251705A (ja) | 1992-03-04 | 1993-09-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP2626451B2 (ja) * | 1993-03-23 | 1997-07-02 | 日本電気株式会社 | 液晶表示装置の駆動方法 |
JP3479375B2 (ja) | 1995-03-27 | 2003-12-15 | 科学技術振興事業団 | 亜酸化銅等の金属酸化物半導体による薄膜トランジスタとpn接合を形成した金属酸化物半導体装置およびそれらの製造方法 |
DE69635107D1 (de) | 1995-08-03 | 2005-09-29 | Koninkl Philips Electronics Nv | Halbleiteranordnung mit einem transparenten schaltungselement |
JP3625598B2 (ja) | 1995-12-30 | 2005-03-02 | 三星電子株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
JP3062090B2 (ja) | 1996-07-19 | 2000-07-10 | 日本電気株式会社 | 液晶表示装置 |
JP2894329B2 (ja) | 1997-06-30 | 1999-05-24 | 日本電気株式会社 | 階調電圧発生回路 |
JP4170454B2 (ja) | 1998-07-24 | 2008-10-22 | Hoya株式会社 | 透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法 |
JP2000150861A (ja) | 1998-11-16 | 2000-05-30 | Tdk Corp | 酸化物薄膜 |
JP3276930B2 (ja) | 1998-11-17 | 2002-04-22 | 科学技術振興事業団 | トランジスタ及び半導体装置 |
TW460731B (en) | 1999-09-03 | 2001-10-21 | Ind Tech Res Inst | Electrode structure and production method of wide viewing angle LCD |
JP4089858B2 (ja) | 2000-09-01 | 2008-05-28 | 国立大学法人東北大学 | 半導体デバイス |
KR20020038482A (ko) | 2000-11-15 | 2002-05-23 | 모리시타 요이찌 | 박막 트랜지스터 어레이, 그 제조방법 및 그것을 이용한표시패널 |
JP3997731B2 (ja) | 2001-03-19 | 2007-10-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 基材上に結晶性半導体薄膜を形成する方法 |
JP2002289859A (ja) | 2001-03-23 | 2002-10-04 | Minolta Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP3925839B2 (ja) | 2001-09-10 | 2007-06-06 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置およびその試験方法 |
JP4090716B2 (ja) | 2001-09-10 | 2008-05-28 | 雅司 川崎 | 薄膜トランジスタおよびマトリクス表示装置 |
JP3906665B2 (ja) | 2001-10-05 | 2007-04-18 | カシオ計算機株式会社 | 液晶駆動装置 |
JP4164562B2 (ja) | 2002-09-11 | 2008-10-15 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ホモロガス薄膜を活性層として用いる透明薄膜電界効果型トランジスタ |
US7061014B2 (en) | 2001-11-05 | 2006-06-13 | Japan Science And Technology Agency | Natural-superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film |
JP4083486B2 (ja) | 2002-02-21 | 2008-04-30 | 独立行政法人科学技術振興機構 | LnCuO(S,Se,Te)単結晶薄膜の製造方法 |
CN1445821A (zh) | 2002-03-15 | 2003-10-01 | 三洋电机株式会社 | ZnO膜和ZnO半导体层的形成方法、半导体元件及其制造方法 |
JP3933591B2 (ja) | 2002-03-26 | 2007-06-20 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
US7339187B2 (en) | 2002-05-21 | 2008-03-04 | State Of Oregon Acting By And Through The Oregon State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University | Transistor structures |
JP2004022625A (ja) | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Murata Mfg Co Ltd | 半導体デバイス及び該半導体デバイスの製造方法 |
US7105868B2 (en) | 2002-06-24 | 2006-09-12 | Cermet, Inc. | High-electron mobility transistor with zinc oxide |
US7067843B2 (en) | 2002-10-11 | 2006-06-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Transparent oxide semiconductor thin film transistors |
JP4166105B2 (ja) | 2003-03-06 | 2008-10-15 | シャープ株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2004273732A (ja) | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板およびその製造方法 |
TW591594B (en) * | 2003-05-19 | 2004-06-11 | Au Optronics Corp | LCD and internal sampling circuit thereof |
JP4108633B2 (ja) | 2003-06-20 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス |
US7262463B2 (en) | 2003-07-25 | 2007-08-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Transistor including a deposited channel region having a doped portion |
US7297977B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-11-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Semiconductor device |
KR101078509B1 (ko) | 2004-03-12 | 2011-10-31 | 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬 | 박막 트랜지스터의 제조 방법 |
US7282782B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-10-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Combined binary oxide semiconductor device |
US7145174B2 (en) | 2004-03-12 | 2006-12-05 | Hewlett-Packard Development Company, Lp. | Semiconductor device |
US7211825B2 (en) | 2004-06-14 | 2007-05-01 | Yi-Chi Shih | Indium oxide-based thin film transistors and circuits |
JP2006100760A (ja) | 2004-09-02 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US7285501B2 (en) | 2004-09-17 | 2007-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a solution processed device |
TWI253051B (en) * | 2004-10-28 | 2006-04-11 | Quanta Display Inc | Gate driving method and circuit for liquid crystal display |
US7298084B2 (en) | 2004-11-02 | 2007-11-20 | 3M Innovative Properties Company | Methods and displays utilizing integrated zinc oxide row and column drivers in conjunction with organic light emitting diodes |
KR20070085879A (ko) | 2004-11-10 | 2007-08-27 | 캐논 가부시끼가이샤 | 발광 장치 |
WO2006051993A2 (en) | 2004-11-10 | 2006-05-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Amorphous oxide and field effect transistor |
US7791072B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-09-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Display |
US7863611B2 (en) | 2004-11-10 | 2011-01-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Integrated circuits utilizing amorphous oxides |
US7453065B2 (en) | 2004-11-10 | 2008-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor and image pickup device |
CA2585071A1 (en) | 2004-11-10 | 2006-05-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor employing an amorphous oxide |
US7829444B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor manufacturing method |
US7579224B2 (en) | 2005-01-21 | 2009-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a thin film semiconductor device |
TWI481024B (zh) | 2005-01-28 | 2015-04-11 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置,電子裝置,和半導體裝置的製造方法 |
TWI472037B (zh) | 2005-01-28 | 2015-02-01 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置,電子裝置,和半導體裝置的製造方法 |
US7858451B2 (en) | 2005-02-03 | 2010-12-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof |
US7948171B2 (en) | 2005-02-18 | 2011-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US20060187160A1 (en) * | 2005-02-24 | 2006-08-24 | Lai Chih C | Method for solving feed-through effect |
US20060197092A1 (en) | 2005-03-03 | 2006-09-07 | Randy Hoffman | System and method for forming conductive material on a substrate |
US8681077B2 (en) | 2005-03-18 | 2014-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device, driving method and electronic apparatus thereof |
WO2006105077A2 (en) | 2005-03-28 | 2006-10-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Low voltage thin film transistor with high-k dielectric material |
US7645478B2 (en) | 2005-03-31 | 2010-01-12 | 3M Innovative Properties Company | Methods of making displays |
US8300031B2 (en) | 2005-04-20 | 2012-10-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device comprising transistor having gate and drain connected through a current-voltage conversion element |
JP2006344849A (ja) | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
US7402506B2 (en) | 2005-06-16 | 2008-07-22 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7691666B2 (en) | 2005-06-16 | 2010-04-06 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7507618B2 (en) | 2005-06-27 | 2009-03-24 | 3M Innovative Properties Company | Method for making electronic devices using metal oxide nanoparticles |
KR100711890B1 (ko) | 2005-07-28 | 2007-04-25 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광표시장치 및 그의 제조방법 |
JP2007059128A (ja) | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Canon Inc | 有機el表示装置およびその製造方法 |
JP2007073705A (ja) | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Canon Inc | 酸化物半導体チャネル薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP4850457B2 (ja) | 2005-09-06 | 2012-01-11 | キヤノン株式会社 | 薄膜トランジスタ及び薄膜ダイオード |
JP4280736B2 (ja) | 2005-09-06 | 2009-06-17 | キヤノン株式会社 | 半導体素子 |
JP5116225B2 (ja) | 2005-09-06 | 2013-01-09 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体デバイスの製造方法 |
EP1998374A3 (en) | 2005-09-29 | 2012-01-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. | Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof |
JP5037808B2 (ja) | 2005-10-20 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置 |
KR20090130089A (ko) | 2005-11-15 | 2009-12-17 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 다이오드 및 액티브 매트릭스 표시장치 |
TWI292281B (en) | 2005-12-29 | 2008-01-01 | Ind Tech Res Inst | Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same |
US7867636B2 (en) | 2006-01-11 | 2011-01-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Transparent conductive film and method for manufacturing the same |
JP4977478B2 (ja) | 2006-01-21 | 2012-07-18 | 三星電子株式会社 | ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法 |
US7576394B2 (en) | 2006-02-02 | 2009-08-18 | Kochi Industrial Promotion Center | Thin film transistor including low resistance conductive thin films and manufacturing method thereof |
US7977169B2 (en) | 2006-02-15 | 2011-07-12 | Kochi Industrial Promotion Center | Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof |
KR20070101595A (ko) | 2006-04-11 | 2007-10-17 | 삼성전자주식회사 | ZnO TFT |
WO2007122777A1 (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | 液晶表示装置およびその駆動方法、テレビ受像機、液晶表示プログラム、液晶表示プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに駆動回路 |
US20070252928A1 (en) | 2006-04-28 | 2007-11-01 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure, transmission type liquid crystal display, reflection type display and manufacturing method thereof |
JP5028033B2 (ja) | 2006-06-13 | 2012-09-19 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP4999400B2 (ja) | 2006-08-09 | 2012-08-15 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP4609797B2 (ja) | 2006-08-09 | 2011-01-12 | Nec液晶テクノロジー株式会社 | 薄膜デバイス及びその製造方法 |
JP4332545B2 (ja) | 2006-09-15 | 2009-09-16 | キヤノン株式会社 | 電界効果型トランジスタ及びその製造方法 |
JP5164357B2 (ja) | 2006-09-27 | 2013-03-21 | キヤノン株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP4274219B2 (ja) | 2006-09-27 | 2009-06-03 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機薄膜半導体装置 |
US7622371B2 (en) | 2006-10-10 | 2009-11-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Fused nanocrystal thin film semiconductor and method |
US7772021B2 (en) | 2006-11-29 | 2010-08-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays |
JP2008140684A (ja) | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Toppan Printing Co Ltd | カラーelディスプレイおよびその製造方法 |
JP4938032B2 (ja) * | 2006-12-26 | 2012-05-23 | シャープ株式会社 | 液晶パネル、液晶表示装置、およびテレビジョン装置 |
KR101303578B1 (ko) | 2007-01-05 | 2013-09-09 | 삼성전자주식회사 | 박막 식각 방법 |
US8207063B2 (en) | 2007-01-26 | 2012-06-26 | Eastman Kodak Company | Process for atomic layer deposition |
KR100851215B1 (ko) | 2007-03-14 | 2008-08-07 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 이를 이용한 유기 전계 발광표시장치 |
US7795613B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-09-14 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure with transistor |
KR101325053B1 (ko) | 2007-04-18 | 2013-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법 |
KR20080094300A (ko) | 2007-04-19 | 2008-10-23 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판 디스플레이 |
KR101334181B1 (ko) | 2007-04-20 | 2013-11-28 | 삼성전자주식회사 | 선택적으로 결정화된 채널층을 갖는 박막 트랜지스터 및 그제조 방법 |
US8274078B2 (en) | 2007-04-25 | 2012-09-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Metal oxynitride semiconductor containing zinc |
TWI345206B (en) * | 2007-05-11 | 2011-07-11 | Chimei Innolux Corp | Liquid crystal display device and it's driving circuit and driving method |
TWI375198B (en) * | 2007-05-17 | 2012-10-21 | Tpo Displays Corp | A system for displaying images |
KR101345376B1 (ko) | 2007-05-29 | 2013-12-24 | 삼성전자주식회사 | ZnO 계 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 |
JP5215158B2 (ja) | 2007-12-17 | 2013-06-19 | 富士フイルム株式会社 | 無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス |
TWI385454B (zh) * | 2008-09-15 | 2013-02-11 | Chimei Innolux Corp | 液晶面板 |
JP4623179B2 (ja) | 2008-09-18 | 2011-02-02 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP5451280B2 (ja) | 2008-10-09 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置 |
CN102265327B (zh) * | 2008-12-25 | 2014-10-01 | 夏普株式会社 | 显示装置和显示装置的驱动方法 |
CN102239516A (zh) * | 2009-01-30 | 2011-11-09 | 夏普株式会社 | 显示装置和显示装置的驱动方法 |
WO2010106702A1 (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-23 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
KR101717460B1 (ko) | 2009-10-16 | 2017-03-17 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 액정 표시 장치 및 액정 표시 장치를 포함한 전자 기기 |
KR102375647B1 (ko) | 2009-10-16 | 2022-03-17 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 액정 표시 장치 및 이를 구비한 전자 장치 |
KR101582636B1 (ko) | 2009-10-21 | 2016-01-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 표시 장치를 갖는 전자 기기 |
CN102576172B (zh) | 2009-10-30 | 2016-01-27 | 株式会社半导体能源研究所 | 液晶显示设备、其驱动方法以及包括该液晶显示设备的电子电器 |
KR101750982B1 (ko) * | 2009-11-06 | 2017-06-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 반도체 장치의 제작 방법 |
KR102329497B1 (ko) | 2009-11-13 | 2021-11-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 이 표시 장치를 구비한 전자 기기 |
KR101840623B1 (ko) | 2009-12-04 | 2018-03-21 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기 |
CN102640207A (zh) | 2009-12-18 | 2012-08-15 | 株式会社半导体能源研究所 | 液晶显示装置及其驱动方法 |
CN104979369B (zh) * | 2010-03-08 | 2018-04-06 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件及其制造方法 |
WO2011135987A1 (en) * | 2010-04-28 | 2011-11-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
TWI419138B (zh) * | 2010-09-10 | 2013-12-11 | Au Optronics Corp | 可補償饋通效應之液晶顯示面板 |
US8797487B2 (en) * | 2010-09-10 | 2014-08-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Transistor, liquid crystal display device, and manufacturing method thereof |
KR20140024866A (ko) * | 2011-06-17 | 2014-03-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 그의 제조 방법 |
US8842063B2 (en) * | 2011-11-16 | 2014-09-23 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Driving method of liquid crystal display having different scan voltages |
-
2013
- 2013-11-19 JP JP2013238612A patent/JP2014130336A/ja not_active Withdrawn
- 2013-11-21 US US14/085,952 patent/US9390665B2/en active Active
- 2013-11-22 TW TW102142698A patent/TWI608472B/zh active
- 2013-11-27 KR KR1020130145420A patent/KR20140070423A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-11-29 CN CN201310628104.2A patent/CN103854619A/zh active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001033825A (ja) * | 1999-05-20 | 2001-02-09 | Nec Corp | アクティブマトリクス型液晶表示装置 |
JP2001290122A (ja) * | 2000-04-06 | 2001-10-19 | Canon Inc | 液晶表示素子の駆動方法 |
JP2002182622A (ja) * | 2000-10-04 | 2002-06-26 | Seiko Epson Corp | 画像信号補正回路、その補正方法、液晶表示装置及び電子機器 |
JP2007147790A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置 |
US20100128028A1 (en) * | 2008-11-27 | 2010-05-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of driving a display panel, and display apparatus for performing the method |
JP2011186449A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-09-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置及び電子機器 |
WO2012033014A1 (ja) * | 2010-09-08 | 2012-03-15 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105448255A (zh) * | 2015-11-24 | 2016-03-30 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置及其驱动方法 |
JP7477067B2 (ja) | 2020-05-09 | 2024-05-01 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | 表示パネル及びその製作方法、表示装置及びその製作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140152630A1 (en) | 2014-06-05 |
US9390665B2 (en) | 2016-07-12 |
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TW201426720A (zh) | 2014-07-01 |
CN103854619A (zh) | 2014-06-11 |
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