JP2013535675A5 - - Google Patents
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本発明の実施形態について添付図面を参照しつつ詳細に説明を行ったが、様々な変更および調整が当業者にとって自明となった点に留意すべきである。かかる変更および調整は、特許請求の範囲により規定された本発明の実施形態の範囲内に含まれるものと理解される。
なお、本発明において、下記の形態が可能である。
[形態1]
上記第1の視点に係る装置のとおりである。
[形態2]
前記プロセッサは、さらに、整数の周波数比を有する複数の変調周波数での2以上の測定を用いて、前記少なくとも1つの画素における2以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する、形態1に記載の装置。
[形態3]
前記プロセッサは、さらに、非ゼロ変調周波数での前記1以上の測定を用いるとともに、前記ゼロ番目の空間周波数の測定、前記ゼロ番目の空間周波数の測定の近似、および、前記ゼロ番目の空間周波数の測定と同等の測定から成る一群から選択した1つを用いて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する、形態1に記載の装置。
[形態4]
前記プロセッサは、さらに、1以上の第2測定によって、1以上の前記第1測定を位相および振幅の少なくともいずれかについて正規化する、形態1に記載の装置。
[形態5]
前記プロセッサは、さらに、参照データ行列、数学的モデルおよび関数から成る一群から選択された1つに対して、1以上の前記正規化された測定を適用することによって、参照値を求める、形態4に記載の装置。
[形態6]
前記プロセッサは、さらに、前記1以上の第2測定を用いて、前記参照値を位相および振幅の少なくともいずれかについて非正規化することによって、解集合を生成する、形態5に記載の装置。
[形態7]
前記プロセッサは、さらに、前記非正規化された測定値、前記解集合、および、前記参照値の少なくともいずれかに基づいて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なとも1つの近似を与える、形態6に記載の装置。
[形態8]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記1以上の第2測定は第2非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記第1非ゼロ変調周波数および前記第2非ゼロ変調周波数は整数の周波数比であり、
前記プロセッサは、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定により、前記第1非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第1測定を、位相または振幅について正規化することによって、インデックス値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記インデックス値を参照データ行列に適用することによって参照値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定によって、前記参照値を位相および振幅について非正規化することによって、前記1以上の反射成分の前記距離特性および前記輝度特性の少なくとも1つを求める、形態4に記載の装置。
[形態9]
前記センサは、整数の周波数比を有する複数の異なる変調周波数で、複数の測定を行い、
前記プロセッサは、多項式の連立方程式
を解き、ここで、
は相対周波数
で行われた複素領域の測定nであり、
は反射成分の総数であり、
は反射成分のインデックス(current return)であり、
は反射成分の輝度を表し、
は反射成分の位相を表し、
は反射成分の距離範囲に跨る分布についての情報を表す、形態1に記載の装置。
[形態10]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、1以上の第2測定は(1)全積分輝度、(2)全積分輝度から環境光の寄与を差し引いたもの、(3)前記第1後方散乱信号のゼロ番目の空間周波数、(4)非常に低い変調周波数の変調信号、(5)全積分輝度と同等のもの、から成る一群から選択した1つを含み、
前記プロセッサは、さらに、前記1以上の第2測定の絶対値により前記1以上の第1測定の絶対値を正規化することによって、インデックス値を求め、
前記プロセッサは、さらに、参照データ行列、数学関数および演算子から成る一群から選択した1つに対して、前記インデックス値を適用することによって、モデル参照値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記少なくとも1つの画素における最も明るい反射成分の位相摂動の範囲(上限ないし下限)、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の位相の関係、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度の関係、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度、および、前記少なくとも1つの画素における反射成分の混合度の指標、から成る一群から選択された少なくとも1つを、前記参照値を用いて求める、形態4に記載の装置。
[形態11]
前記1以上の第1測定は相対周波数2の変調信号を含み、前記1以上の第2測定は相対周波数1の変調信号を含み、
前記プロセッサは、さらに、(1)前記1以上の第2測定によって、前記1以上の第1測定を位相および輝度について正規化した値
、(2)前記1以上の第2測定によって
を位相および輝度について非正規化した値
の少なくとも1つを求め、
前記プロセッサは、さらに、
および
を1以上含む関数を用いて、(1)前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の絶対位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の相対位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の相対輝度のうちの少なくとも1つの範囲、(2)前記少なくとも1つの画素における混合度の指標、のうちの少なくとも1つを求める、形態1に記載の装置。
[形態12]
振幅変調連続波(Amplitude Modulated Continuous Wave)距離画像化(range imaging)システムをさらに備える、形態1に記載の装置。
[形態13]
上記第2の視点に係る方法のとおりである。
[形態14]
前記少なくとも1つの画素における2以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、
整数の周波数比を有する複数の変調周波数での2以上の測定を行う、形態13に記載の方法。
[形態15]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、非ゼロ変調周波数での前記1以上の第1測定を行うとともに、前記ゼロ番目の空間周波数の測定、前記ゼロ番目の空間周波数の測定の近似、および、前記ゼロ番目の空間周波数の測定と同等の測定から成る一群から選択した1つを行う、形態13に記載の方法。
[形態16]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、1以上の第2測定によって、1以上の前記第1測定を位相または振幅の少なくともいずれかについて正規化する、形態13に記載の方法。
[形態17]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、参照データ行列、数学的モデルおよび関数から成る一群から選択された1つに対して、1以上の前記正規化された測定を適用することによって、参照値を求める、形態16に記載の方法。
[形態18]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記1以上の第2測定を用いて、前記参照値を位相および振幅の少なくともいずれかについて非正規化することによって解集合を生成する、形態17に記載の方法。
[形態19]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記非正規化された測定値、前記解集合、および、前記参照値の少なくともいずれかに基づいて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なとも1つの近似を与える、形態18に記載の方法。
[形態20]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、1以上の第2測定は第2非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記第1非ゼロ変調周波数および前記第2非ゼロ変調周波数は整数の周波数比であり、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定により、前記第1非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第1測定を、位相および振幅について正規化することによって、インデックス値を求め、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記インデックス値を参照データ行列に適用することによって参照値を求め、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定によって、前記参照値を位相および振幅について非正規化する、形態16に記載の方法。
なお、本発明において、下記の形態が可能である。
[形態1]
上記第1の視点に係る装置のとおりである。
[形態2]
前記プロセッサは、さらに、整数の周波数比を有する複数の変調周波数での2以上の測定を用いて、前記少なくとも1つの画素における2以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する、形態1に記載の装置。
[形態3]
前記プロセッサは、さらに、非ゼロ変調周波数での前記1以上の測定を用いるとともに、前記ゼロ番目の空間周波数の測定、前記ゼロ番目の空間周波数の測定の近似、および、前記ゼロ番目の空間周波数の測定と同等の測定から成る一群から選択した1つを用いて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する、形態1に記載の装置。
[形態4]
前記プロセッサは、さらに、1以上の第2測定によって、1以上の前記第1測定を位相および振幅の少なくともいずれかについて正規化する、形態1に記載の装置。
[形態5]
前記プロセッサは、さらに、参照データ行列、数学的モデルおよび関数から成る一群から選択された1つに対して、1以上の前記正規化された測定を適用することによって、参照値を求める、形態4に記載の装置。
[形態6]
前記プロセッサは、さらに、前記1以上の第2測定を用いて、前記参照値を位相および振幅の少なくともいずれかについて非正規化することによって、解集合を生成する、形態5に記載の装置。
[形態7]
前記プロセッサは、さらに、前記非正規化された測定値、前記解集合、および、前記参照値の少なくともいずれかに基づいて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なとも1つの近似を与える、形態6に記載の装置。
[形態8]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記1以上の第2測定は第2非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記第1非ゼロ変調周波数および前記第2非ゼロ変調周波数は整数の周波数比であり、
前記プロセッサは、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定により、前記第1非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第1測定を、位相または振幅について正規化することによって、インデックス値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記インデックス値を参照データ行列に適用することによって参照値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定によって、前記参照値を位相および振幅について非正規化することによって、前記1以上の反射成分の前記距離特性および前記輝度特性の少なくとも1つを求める、形態4に記載の装置。
[形態9]
前記センサは、整数の周波数比を有する複数の異なる変調周波数で、複数の測定を行い、
前記プロセッサは、多項式の連立方程式
を解き、ここで、
は相対周波数
で行われた複素領域の測定nであり、
は反射成分の総数であり、
は反射成分のインデックス(current return)であり、
は反射成分の輝度を表し、
は反射成分の位相を表し、
は反射成分の距離範囲に跨る分布についての情報を表す、形態1に記載の装置。
[形態10]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、1以上の第2測定は(1)全積分輝度、(2)全積分輝度から環境光の寄与を差し引いたもの、(3)前記第1後方散乱信号のゼロ番目の空間周波数、(4)非常に低い変調周波数の変調信号、(5)全積分輝度と同等のもの、から成る一群から選択した1つを含み、
前記プロセッサは、さらに、前記1以上の第2測定の絶対値により前記1以上の第1測定の絶対値を正規化することによって、インデックス値を求め、
前記プロセッサは、さらに、参照データ行列、数学関数および演算子から成る一群から選択した1つに対して、前記インデックス値を適用することによって、モデル参照値を求め、
前記プロセッサは、さらに、前記少なくとも1つの画素における最も明るい反射成分の位相摂動の範囲(上限ないし下限)、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の位相の関係、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度の関係、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度、および、前記少なくとも1つの画素における反射成分の混合度の指標、から成る一群から選択された少なくとも1つを、前記参照値を用いて求める、形態4に記載の装置。
[形態11]
前記1以上の第1測定は相対周波数2の変調信号を含み、前記1以上の第2測定は相対周波数1の変調信号を含み、
前記プロセッサは、さらに、(1)前記1以上の第2測定によって、前記1以上の第1測定を位相および輝度について正規化した値
、(2)前記1以上の第2測定によって
を位相および輝度について非正規化した値
の少なくとも1つを求め、
前記プロセッサは、さらに、
および
を1以上含む関数を用いて、(1)前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の絶対位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の相対位相、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の輝度、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の相対輝度のうちの少なくとも1つの範囲、(2)前記少なくとも1つの画素における混合度の指標、のうちの少なくとも1つを求める、形態1に記載の装置。
[形態12]
振幅変調連続波(Amplitude Modulated Continuous Wave)距離画像化(range imaging)システムをさらに備える、形態1に記載の装置。
[形態13]
上記第2の視点に係る方法のとおりである。
[形態14]
前記少なくとも1つの画素における2以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、
整数の周波数比を有する複数の変調周波数での2以上の測定を行う、形態13に記載の方法。
[形態15]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、非ゼロ変調周波数での前記1以上の第1測定を行うとともに、前記ゼロ番目の空間周波数の測定、前記ゼロ番目の空間周波数の測定の近似、および、前記ゼロ番目の空間周波数の測定と同等の測定から成る一群から選択した1つを行う、形態13に記載の方法。
[形態16]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、1以上の第2測定によって、1以上の前記第1測定を位相または振幅の少なくともいずれかについて正規化する、形態13に記載の方法。
[形態17]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、参照データ行列、数学的モデルおよび関数から成る一群から選択された1つに対して、1以上の前記正規化された測定を適用することによって、参照値を求める、形態16に記載の方法。
[形態18]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記1以上の第2測定を用いて、前記参照値を位相および振幅の少なくともいずれかについて非正規化することによって解集合を生成する、形態17に記載の方法。
[形態19]
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記非正規化された測定値、前記解集合、および、前記参照値の少なくともいずれかに基づいて、前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なとも1つの近似を与える、形態18に記載の方法。
[形態20]
前記1以上の第1測定は第1非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、1以上の第2測定は第2非ゼロ変調周波数の変調信号を含み、前記第1非ゼロ変調周波数および前記第2非ゼロ変調周波数は整数の周波数比であり、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定により、前記第1非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第1測定を、位相および振幅について正規化することによって、インデックス値を求め、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記インデックス値を参照データ行列に適用することによって参照値を求め、
前記少なくとも1つの画素における1以上の反射成分の前記距離特性および輝度特性の少なくともいずれかを決定する工程において、さらに、前記第2非ゼロ変調周波数の変調信号に対する前記1以上の第2測定によって、前記参照値を位相および振幅について非正規化する、形態16に記載の方法。
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