JP2013143513A - 真空処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】大気搬送室の背面側で内部にウエハを搬送する真空搬送ロボットが配置された複数の真空搬送室の各々に少なくとも1つずつ連結された複数の真空処理室を備え、カセット内の複数のウエハを取り出して順次前記複数の真空処理室へ搬送して処理を行った後前記カセットに戻す真空処理装置であって、前記複数枚のウエハの搬送の動作を設定しこの動作を調節する制御部は、任意の前記ウエハが前記複数の真空搬送室のうち最も奥側に配置された真空搬送室に連結された前記真空処理室の全てに搬送されるように調節した後、次のウエハの搬送を、前記任意のウエハが前記最も奥側の真空搬送室に連結された前記真空処理室から搬出可能になる前に当該次のウエハを搬入可能な前記真空処理室であって最も後方に配置された真空処理室に搬送されるように調節する。
【選択図】 図1
Description
102 真空側ブロック
103 第一の真空処理室
104 第二の真空処理室
105 第三の真空処理室
106 第四の真空処理室
107 第一の真空搬送室
108 ロック室
109 筐体
110 カセット台
111 真空搬送ロボット
112 大気搬送ロボット
113 第二の真空搬送室
114 真空搬送中間室
120 バルブ
201 第一アーム
202 第二アーム
Claims (6)
- 大気搬送室の背面側に配置され相互に連結され減圧された内部にウエハを搬送する真空搬送ロボットが配置された複数の真空搬送室と、これらの真空搬送室の各々に少なくとも1つずつ連結された複数の真空処理室とを備え、前記大気搬送室の前面側に配置されるカセット内の複数のウエハをこのカセットから取り出して順次前記複数の真空処理室へ前記真空搬送ロボットにより搬送して処理を行った後前記カセットに戻す真空処理装置であって、
前記複数枚のウエハの搬送の動作を設定しこの動作を調節する制御部を有し、この制御部は、任意の前記ウエハが前記複数の真空搬送室のうち最も奥側に配置された真空搬送室に連結された前記真空処理室の全てに搬送されるように調節した後、次のウエハの搬送を、前記任意のウエハが前記最も奥側の真空搬送室に連結された前記真空処理室から搬出可能になる前に当該次のウエハを搬入可能な前記真空処理室であって最も後方に配置された真空処理室に搬送されるように調節する真空処理装置。 - 請求項1に記載の真空処理装置であって、
前記制御部は、前記次のウエハの搬送を、前記最も奥の前記真空搬送室より前方に配置された前記真空搬送室に連結された前記複数の真空処理室のうちで前記最も後方の真空搬送室に連結された真空処理室に搬送されるように調節する真空処理装置。 - 請求項1または2に記載の真空処理装置であって、
隣り合った前記複数の真空搬送室同士の間でこれらを連結して配置され前記真空搬送室と連通された内部に複数の前記ウエハを収納可能な中間室と、前記複数の真空搬送室のうち最も前方に配置された真空搬送室と前記大気搬送室との間でこれらを連結して配置された少なくとも1つのロック室とを備え、
前記真空搬送ロボットによる前記ウエハの搬送は、前記真空処理室と前記中間室または前記ロック室との間での搬送に要する時間は前記中間室または前記ロック室の間での搬送に要する時間より長い真空処理装置。 - 請求項1または2に記載の真空処理装置であって、
隣り合った前記複数の真空搬送室同士の間でこれらを連結して配置され前記真空搬送室と連通された内部に複数の前記ウエハを収納可能な中間室と、前記複数の真空搬送室のうち最も前方に配置された真空搬送室と前記大気搬送室との間でこれらを連結して配置され内部に前記ウエハを収納可能な少なくとも1つのロック室とを備え、
前記複数の真空処理室各々は、その内部に前記ウエハがその上面に載せられて保持される試料台であって、内部に配置され上下に移動し前記上面より先端を上方に移動させた状態で前記ウエハをこの先端に載せて保持する複数のピン及び前記上面を構成してその上に前記ウエハが載せられた状態で形成された静電気力により前記ウエハが吸着して保持される誘電体製の膜を有した試料台を備え、
前記中間室及び前記ロック室内に前記ウエハが載せられて保持される固定された保持部とを備えた真空処理装置。 - 請求項1乃至4の何れかに記載の真空処理装置であって、
前記複数の真空搬送室のうち最も前方側の真空搬送室から後方の真空搬送室の各々に連結された前記真空処理室の1つずつに前記ウエハを一枚ずつ搬送し、前記最も奥の真空搬送室に連結された全ての前記真空処理室に前記ウエハを搬送した後に、前記次のウエハの搬送を、前記最も奥側の真空搬送室に連結された前記真空処理室に搬送された前記ウエハが当該真空処理室から搬出可能になる前に当該次のウエハを搬入可能な前記真空処理室であって最も後方に配置された真空処理室に搬送されるように調節する真空処理装置。
- 大気搬送室の背面側に配置され相互に連結され減圧された内部にウエハを搬送する真空搬送ロボットが配置された複数の真空搬送室と、これらの真空搬送室の各々に少なくとも1つずつ連結された複数の真空処理室とを備え、前記大気搬送室の前面側に配置される複数のカセット台上に載せられる複数のカセット内の複数のウエハを当該カセットから取り出して順次前記複数の真空処理室のうちこのカセットに対応付けられた真空処理室へ前記真空搬送ロボットにより搬送して処理を行った後前記カセットに戻す真空処理装置であって、
前記複数枚のウエハの搬送の動作を設定しこの動作を調節する制御部を有し、この制御部は、前記複数のカセット各々から順次1枚ずつウエハを取り出して前記複数の真空搬送室のうち最も前方側の真空搬送室から前記最も奥の真空搬送室の各々に連結された前記真空処理室の1つずつに前記ウエハを一枚ずつ搬送し、前記最も奥の真空搬送室に連結された全ての前記真空処理室に前記ウエハを搬送した後に、前記最も前方の真空搬送室までの各々の真空搬送室に連結された真空処理室うちの1つずつに前記ウエハを搬送するように調節する真空処理装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015122502A (ja) * | 2013-12-20 | 2015-07-02 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | 基板処理モジュール、これを含む基板処理装置及び基板搬送方法 |
JP2016213393A (ja) * | 2015-05-13 | 2016-12-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置およびその運転方法 |
JP2017228626A (ja) * | 2016-06-22 | 2017-12-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置およびその運転方法 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5785712B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2015-09-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置 |
JP2015514019A (ja) * | 2012-04-12 | 2015-05-18 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 独立して回転可能なウェストを有するロボットシステム、装置、および方法 |
JP2014036025A (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置または真空処理装置の運転方法 |
JP6002532B2 (ja) * | 2012-10-10 | 2016-10-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置及び真空処理方法 |
KR102238649B1 (ko) * | 2014-09-16 | 2021-04-09 | 삼성전자주식회사 | 반도체 칩 본딩 장치 |
US10062599B2 (en) * | 2015-10-22 | 2018-08-28 | Lam Research Corporation | Automated replacement of consumable parts using interfacing chambers |
KR20190058469A (ko) * | 2016-10-18 | 2019-05-29 | 맷슨 테크놀로지, 인크. | 워크피스 처리를 위한 시스템 및 방법 |
US11482434B2 (en) | 2016-10-18 | 2022-10-25 | Belting E-Town Semiconductor Technology Co., Ltd | Systems and methods for workpiece processing |
CN109936340A (zh) * | 2017-12-19 | 2019-06-25 | 成都晶宝时频技术股份有限公司 | 一种石英谐振器连续微调***及方法 |
US11077535B2 (en) * | 2018-02-14 | 2021-08-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Process system having locking pin and locking pin |
DE102018113786A1 (de) * | 2018-06-08 | 2019-12-12 | Vat Holding Ag | Waferübergabeeinheit und Waferübergabesystem |
US11293551B2 (en) | 2018-09-30 | 2022-04-05 | ColdQuanta, Inc. | Break-seal system with breakable-membrane bridging rings |
US12014908B2 (en) | 2020-03-24 | 2024-06-18 | Hitachi High-Tech Corporation | Vacuum processing apparatus |
CN211879343U (zh) * | 2020-04-10 | 2020-11-06 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 一种半导体加工设备 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010147250A (ja) * | 2008-12-18 | 2010-07-01 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
JP2010192571A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム及び基板搬送方法 |
JP2011124564A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体被処理基板の真空処理システム及び半導体被処理基板の真空処理方法 |
JP2011124496A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体処理システム及びプログラム |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100267617B1 (ko) * | 1993-04-23 | 2000-10-16 | 히가시 데쓰로 | 진공처리장치 및 진공처리방법 |
CN1902031A (zh) * | 2003-11-10 | 2007-01-24 | 布卢希弗特科技公司 | 用于处理基于真空的半导体处理***中的工件的方法和*** |
US7486498B2 (en) * | 2004-01-12 | 2009-02-03 | Case Western Reserve University | Strong substrate alloy and compressively stressed dielectric film for capacitor with high energy density |
KR100839191B1 (ko) * | 2007-03-28 | 2008-06-17 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 방법 |
CN101855717B (zh) * | 2007-11-09 | 2011-10-19 | 佳能安内华股份有限公司 | 在线型晶圆输送装置 |
JP2011091334A (ja) * | 2009-10-26 | 2011-05-06 | Ulvac Japan Ltd | 基板処理装置 |
TW201123340A (en) * | 2009-11-12 | 2011-07-01 | Hitachi High Tech Corp | Vacuum processing system and vacuum processing method of semiconductor processing substrate |
JP5476162B2 (ja) * | 2010-03-02 | 2014-04-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置及びプログラム |
JP2012009519A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
-
2012
- 2012-01-12 JP JP2012003692A patent/JP2013143513A/ja active Pending
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010147250A (ja) * | 2008-12-18 | 2010-07-01 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
JP2010192571A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム及び基板搬送方法 |
JP2011124564A (ja) * | 2009-11-12 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体被処理基板の真空処理システム及び半導体被処理基板の真空処理方法 |
JP2011124496A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Hitachi High-Technologies Corp | 半導体処理システム及びプログラム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015122502A (ja) * | 2013-12-20 | 2015-07-02 | ユ−ジーン テクノロジー カンパニー.リミテッド | 基板処理モジュール、これを含む基板処理装置及び基板搬送方法 |
JP2016213393A (ja) * | 2015-05-13 | 2016-12-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置およびその運転方法 |
JP2017228626A (ja) * | 2016-06-22 | 2017-12-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空処理装置およびその運転方法 |
Also Published As
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