JP2012527611A - フラットベッド・スキャン・モジュール、フラットベッド・スキャン・システム、フラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定用ジグ及びこれを用いたフラットベッド・スキャン・モジュールのアライメント誤差測定方法 - Google Patents

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010276554A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Bridgestone Corp 形状測定装置の精度判別方法、精度判別装置及び精度判別基準治具

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014130895A1 (en) 2013-02-21 2014-08-28 Nlight Photonics Corporation Laser patterning multi-layer structures
US10618131B2 (en) * 2014-06-05 2020-04-14 Nlight, Inc. Laser patterning skew correction
US9837783B2 (en) 2015-01-26 2017-12-05 Nlight, Inc. High-power, single-mode fiber sources
US10050404B2 (en) 2015-03-26 2018-08-14 Nlight, Inc. Fiber source with cascaded gain stages and/or multimode delivery fiber with low splice loss
CN105091767B (zh) * 2015-05-27 2017-10-10 北京理工大学 一种手持式板材安装质量检测仪
TWI557393B (zh) * 2015-10-08 2016-11-11 微星科技股份有限公司 雷射測距校正方法與應用此方法的裝置
WO2017127573A1 (en) 2016-01-19 2017-07-27 Nlight, Inc. Method of processing calibration data in 3d laser scanner systems
US10673198B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-coupled laser with time varying beam characteristics
WO2018063452A1 (en) 2016-09-29 2018-04-05 Nlight, Inc. Adjustable beam characteristics
US10730785B2 (en) 2016-09-29 2020-08-04 Nlight, Inc. Optical fiber bending mechanisms
US10673199B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-based saturable absorber
US10673197B2 (en) 2016-09-29 2020-06-02 Nlight, Inc. Fiber-based optical modulator
WO2018187489A1 (en) 2017-04-04 2018-10-11 Nlight, Inc. Optical fiducial generation for galvanometric scanner calibration
CN113532881B (zh) * 2021-07-22 2022-09-20 中国第一汽车股份有限公司 一种整车碰撞试验方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62145106A (ja) * 1985-12-20 1987-06-29 N H K Eng Service 被写体形状認識方式
JPH0755440A (ja) * 1993-08-19 1995-03-03 Fuji Facom Corp 形状認識装置
JPH0825087A (ja) * 1994-07-07 1996-01-30 Tanaka Seisakusho Kk 鋼材加工装置
JPH0886616A (ja) * 1994-09-16 1996-04-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ３次元画像計測方法及び装置
JP2000055619A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Tsubakimoto Chain Co 積付位置検出装置
US6094269A (en) * 1997-12-31 2000-07-25 Metroptic Technologies, Ltd. Apparatus and method for optically measuring an object surface contour
JP2001059720A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Fuji Photo Film Co Ltd シート材検査装置
JP2004309344A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Act Denshi Kk 断面形状測定方法と、それに使用される基準治具と、支持具付断面形状測定装置と、断面形状測定装置用支持具
JP2007206797A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Omron Corp 画像処理方法および画像処理装置
JP2007240323A (ja) * 2006-03-08 2007-09-20 Toppan Printing Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2009008578A (ja) * 2007-06-29 2009-01-15 Toyota Motor Corp 実装基板の検査装置および検査方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59112211A (ja) * 1982-09-29 1984-06-28 テクニカル、ア−ツ、コ−ポレ−シヨン 加工物の空間座標決定方法および装置
US4645348A (en) * 1983-09-01 1987-02-24 Perceptron, Inc. Sensor-illumination system for use in three-dimensional measurement of objects and assemblies of objects
JP2869477B2 (ja) * 1994-09-01 1999-03-10 五洋建設株式会社 搬送容量計測装置
JP2002310625A (ja) * 2001-04-13 2002-10-23 Omron Corp 三次元計測方法及びその装置
US7460250B2 (en) * 2003-10-24 2008-12-02 3Dm Devices Inc. Laser triangulation system
CN2676151Y (zh) * 2003-12-26 2005-02-02 暨南大学 双侧光刀型高度测量范围可调的三维轮廓测量装置
KR20070070733A (ko) * 2005-12-29 2007-07-04 삼성중공업 주식회사 곡판 부재 계측 장치
JP4380663B2 (ja) * 2006-06-08 2009-12-09 コニカミノルタセンシング株式会社 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法
JP2009036589A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Omron Corp 校正用ターゲット、校正支援装置、校正支援方法、および校正支援プログラム
KR20090027369A (ko) * 2007-09-12 2009-03-17 삼성중공업 주식회사 계측시스템의 모서리 검출 방법

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62145106A (ja) * 1985-12-20 1987-06-29 N H K Eng Service 被写体形状認識方式
JPH0755440A (ja) * 1993-08-19 1995-03-03 Fuji Facom Corp 形状認識装置
JPH0825087A (ja) * 1994-07-07 1996-01-30 Tanaka Seisakusho Kk 鋼材加工装置
JPH0886616A (ja) * 1994-09-16 1996-04-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ３次元画像計測方法及び装置
US6094269A (en) * 1997-12-31 2000-07-25 Metroptic Technologies, Ltd. Apparatus and method for optically measuring an object surface contour
JP2000055619A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Tsubakimoto Chain Co 積付位置検出装置
JP2001059720A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Fuji Photo Film Co Ltd シート材検査装置
JP2004309344A (ja) * 2003-04-08 2004-11-04 Act Denshi Kk 断面形状測定方法と、それに使用される基準治具と、支持具付断面形状測定装置と、断面形状測定装置用支持具
JP2007206797A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Omron Corp 画像処理方法および画像処理装置
JP2007240323A (ja) * 2006-03-08 2007-09-20 Toppan Printing Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2009008578A (ja) * 2007-06-29 2009-01-15 Toyota Motor Corp 実装基板の検査装置および検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010276554A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Bridgestone Corp 形状測定装置の精度判別方法、精度判別装置及び精度判別基準治具

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