JP3644846B2 - 描画装置の移動誤差検出装置及びその方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント回路基板などの処理対象物に対して画像の描画を施す描画装置の移動誤差検出装置及びその方法に係り、特に載置台と処理部とを相対移動させる際に生じる移動誤差を検出する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のこの種の装置として、例えば、プリント回路基板製造装置が挙げられる。
この装置は、プリント回路基板を載置する描画ステージと、所定の処理位置で描画ステージに対してレーザービームを偏向照射する処理部とを備え、レーザービームにより基板に所要のパターンを直接的に描画するものである。描画ステージは、直動ガイド上に搭載されているとともにモータ軸に連結された送りネジによって処理部に対して移動されるようになっている。
【0003】
このような装置においては、描画ステージの移動に伴って生じる誤差が問題となる。つまり、基板の所望位置を処理位置に移動させようと、モータを駆動して描画ステージを移動させても、実際にはその距離よりも移動距離が短かったり長かったりして基板の所望位置を処理位置に一致させることができない事態が起きる。このような移動誤差の主要因は、送りネジ周りに生じる『ローリング』や、描画ステージ面上で移動方向に生じる『ヨーイング』や、描画ステージ面に直交する面で移動方向に生じる『ピッチング』などの各挙動である。
【0004】
これらの挙動は、装置構造の関係上、完全に無くすことができないので、これらを測定して移動位置における移動誤差を検出し、この移動誤差に基づきモータの駆動量を補正する副走査の補正や、レーザーの偏向を補正する主走査の補正を行うのが一般的である。例えば、オートコリメータやレーザー測長器などの計測器を用いて、ローリング,ヨーイング,ピッチングをそれぞれ独立して計測したりする(第1の構成)。一方、上記の装置に比較して高価な描画機やステッパ等では、移動方向やそれに直交する方向の移動誤差をリアルタイムにレーザー測長器で計測しながら補正を行うように構成されている(第2の構成)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。
すなわち、第1の構成では、上記のような挙動を独立して測定することは可能であるが、必要なのは移動位置に応じた移動誤差であって各挙動ではない。したがって、各挙動に基づき移動誤差を求める必要があるが、複数の挙動が絡み合った複合的な移動誤差を求めることは困難である。
【0006】
一方、第2の構成では、移動誤差を正確に求めることができるが、システムがかなり複雑になることや、装置が極めて高価なものとなるといった問題の他に、目的以上の精度となってオーバースペックとなるといった問題もある。
【0007】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、載置台上の基準パターンを撮影手段で撮影することに基づき、各挙動を含んだ『ずれ量』を求めて比較的簡易で安価、かつ、適度な精度で移動誤差を検出することができる処理装置の移動誤差検出装置することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の描画装置の移動誤差検出装置は、処理対象物を載置する載置台と画像を描画する処理部とを相対的に一方向に移動させ、前記処理対象物に対して処理位置にて画像の描画を施す描画装置の移動誤差検出装置において、前記載置台と前記処理部との相対的な移動方向を挟み、前記載置台の面上の両端部付近に移動方向に沿って所定の間隔で形成された複数の基準パターンと、前記載置台と前記処理部との相対的な移動に伴って、前記載置台に対して相対的に移動し、前記載置台の両端部に設けられた基準パターンを各々撮影可能なように前記基準パターンに対応して配設された少なくとも2台の撮影手段と、前記載置台と前記処理部とを前記所定の間隔ずつ相対的に移動させながら前記2台の撮影手段で基準パターンを撮影し、各移動位置における各々の撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求める演算手段と、前記各基準パターンのずれ量を移動位置に対応付けて記憶する記憶手段と、を備えていることを特徴とするものである。
【0009】
また、請求項2に記載の描画装置の移動誤差検出装置は、請求項1に記載の描画装置の移動誤差検出装置において、前記撮影手段が処理位置の近傍に配設されていることを特徴とするものである。
【0010】
また、請求項3に記載の描画装置の移動誤差検出装置は、請求項1または2に記載の描画装置の移動誤差検出装置において、前記少なくとも2台の撮影手段は、処理対象物に設けられた位置合わせ穴を撮像して、処理対象物の位置ずれ量を求めるための複数のアライメントスコープのうちの2台を用いることを特徴とするものである。
【0011】
また、請求項4に記載の描画装置の移動誤差検出方法は、処理対象物を載置する載置台と画像を描画する処理部とを相対的に一方向に移動させ、前記処理対象物に対して処理位置にて画像の描画を施す描画装置の移動誤差検出方法において、前記載置台と前記処理部との相対的な移動方向を挟んで前記載置台の面上の両端部付近に移動方向に沿って所定の間隔で形成された複数の基準パターンを、前記載置台と前記処理部との相対的な移動に伴って、前記載置台に対して相対的に移動し、前記載置台の両端部に設けられた基準パターンを各々撮影可能なように前記基準パターンに対応して配設された少なくとも2台の撮影手段で前記載置台と前記処理部とを相対的に前記所定の間隔ずつ移動させながら撮影する過程と、各移動位置における各々の撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求める過程と、前記各基準パターンのずれ量を移動位置に対応付けて記憶する過程と、を備えていることを特徴とするものである。
【0012】
【作用】
請求項1に記載の発明の作用は次のとおりである。
載置台と処理部とを相対的に移動させて2台の撮影手段で載置台面上の基準パターンを撮影し、演算手段により各移動位置における各々の撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求める。この『ずれ量』は、ピッチング,ヨーイング,ローリングなどの挙動が平面的に撮影手段に対して投影されたものとなる。この『ずれ量』と各移動位置とを対応付けて記憶手段に記憶しておけば、載置台に処理対象物を載置して処理を行う際に移動位置に応じて移動誤差を検出することができる。
【0013】
なお、上記の記憶手段は、半導体メモリやハードディスク装置等の他に、プロッタやCRTなどの装置も含むものである。
【0014】
また、請求項2に記載の発明によれば、実際に処理対象物に対して処理が行われるのは処理位置であるので、撮影手段がその位置に近いほど処理位置における移動誤差の検出精度を高めることができる。
【0015】
また、請求項3に記載の発明によれば、処理対象物の位置ずれ量を求めるために備えられている複数のアライメントスコープのうちの2台を用いて各基準パターンのずれ量を求める。
【0016】
また、請求項4に記載の発明によれば、まず、基準パターンを撮影手段で撮影する過程の後に、撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求め、次いで各基準パターンのずれ量を移動位置に関連付けて記憶しておくことにより、載置台に処理対象物を載置して処理を行う際に移動位置に応じて移動誤差を検出することができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
図1は、プリント回路基板製造装置の概要説明に供する斜視図であり、図2は詳細な平面図、図3は詳細な側面図である。
【0018】
基台1の上面には、一対のガイドレール3が配設されており、それらのガイドレール3の間には、サーボモータ7によって回転される送りネジ9が配備されている。送りネジ9には、描画ステージ5がその下部で螺合されている。この描画ステージ5は、鉛直のz軸周りに回転させるための回転機構11と、鉛直のz方向に昇降させるための昇降機構13とを下から順に備え、最上部にプリント回路基板(処理対象物)を吸着載置するための載置テーブル15を備えている。
【0019】
本発明の載置台に相当する描画ステージ5の上部には、基準パターンPRが形成された基準マスクRMが載置テーブル15の基準位置(図示省略してあるが載置テーブル15の左上隅)にその左上隅を一致させるようにして配設されている。基準パターンPRは、後述する処理が容易なように十字形状であり、送りネジ9を挟んで基準マスクRMの両端部付近に形成されている。
【0020】
また、描画ステージ5がサーボモータ7の駆動により移動されるy方向(副走査方向)には、処理位置EPにて描画用のレーザービームLBをx方向(主走査方向)に偏向しながら下方に向けて照射する処理部21が配設されている。処理部21は門型フレームによって基台1の上部に配設されており、サーボモータ7が駆動されると描画ステージ5が処理部21の下部に進出するようになっている。
【0021】
基台1には、図1に示す待機位置にある描画ステージ5の上方を覆うようにアライメントスコープユニット31が配設されている。このアライメントスコープユニット31は、水平面内でそれぞれ独立に移動可能な4台のアライメントスコープ33,35,37,39を備えている。各アライメントスコープ33,35,37,39は、CCDカメラ33a,35a,37a,39aとレンズ部33b,35b,37b,39bとを備えている。これらのアライメントスコープ33,35,37,39は、本来、描画ステージ5に載置されたプリント回路基板の四隅の位置合わせ穴の位置を計測して、描画ステージ5に載置された基板の位置ずれ量を求めてそのずれを補正するために利用されるものであるが、後述するように本発明においては処理位置EP側に配備されている2台のアライメントスコープ33,35を描画ステージ5の移動誤差の検出にも利用するようになっている。
【0022】
なお、上述した2台のアライメントスコープ33,35は、本発明における撮影手段に相当する。
【0023】
図4のブロック図を参照する。
各アライメントスコープ33,35,37,39のCCDカメラ33a,35a,37a,39aは全て画像処理部41に接続されており、ここにおいて各映像信号が処理されて重心位置の算出や『ずれ量』の演算が行われる。また、画像処理部41には、処理の開始などを指示するキーボード43や、各アライメントスコープ33,35,37,39が捉えている映像を映し出したり、処理内容などを表示したりするCRT45が接続されている。
【0024】
この装置全体を統括的に制御するのはシステム制御部47である。ここには、主走査制御回路49と、副走査制御回路51と、誤差テーブル記憶部53などが接続されている。システム制御部47は、描画時には、ラスタ変換回路55から主走査制御回路49へ順次に送られたラスターデータに基づきレーザビームLBのx方向の位置を制御するビーム位置制御回路57を制御する。ビーム位置制御回路57は、システム制御部47からの指示とラスターデータに基づいて電子シャッタ59を制御する。X軸センサ61は、x方向に配設された図示しないXリニアスケールからの光信号を検出して、レーザビームLBの主走査方向の偏向距離を測定するためのものである。ここからの信号は、信号処理回路63で適宜に処理されてからシステム制御部47に取り込まれ、この信号に基づいて副走査制御回路51の駆動回路65へのクロックパルスが生成される。
【0025】
副走査制御回路51のサーボモータ7は、レーザビームLBの主走査に応じて生成されたクロックパルスに基づいて駆動回路65によって駆動される。これにより描画ステージ5がy方向(副走査方向)に移動される。その移動位置は、図示しないYリニアスケールからの光信号を検出するY軸センサ67によって検出され、信号処理回路69により移動位置に応じた信号に変換されてシステム制御部47に与えられる。システム制御部47は、その信号に応じてサーボモータ7の駆動にフィードバックをかける。
【0026】
上記の誤差テーブル記憶部53は、システム制御部47が基準マスクRMを配備した描画ステージ5を移動した際に、処理部21側に配備されている2台のアライメントスコープ33,35からの映像信号を画像処理部41が処理することにより得られる基準パターンPRの『ずれ量』を各移動位置ごとに対応付けて『誤差テーブル』として格納するものである。
【0027】
なお、上述した画像処理部41が本発明の演算手段に相当し、誤差テーブル記憶部53が本発明における記憶手段に相当する。
【0028】
本実施例における基準マスクRMは、図5に示すように構成されている。
すなわち、y方向に沿って長線が描かれているとともに、所定の間隔でx方向に沿った短線がn本描かれてなる。上述したように基準マスクRMは、載置テーブル15の基準位置に合わせて取り付けられているので、例えば、各基準パターンPRの座標は、左側が(x1,y1),……(x1,y2),……(x1,yn)となり、右側が(xm,y1),……(xm,y2),……(xm,yn)となる。
【0029】
また、上述した『ずれ量』とは、図6に示すように、各CCDカメラ33a,35aで捉えた視野像Vの視野中心Cと、基準パターンPRの長線と短線の交点とのずれをx方向(Δx)とy方向(Δy)について求めたものである。したがって、『ずれ量』がxy方向ともに『0』である場合には、図6における基準パターンPRの交点と視野中心Cとが一致することになる。上述した誤差テーブル記憶部53の誤差テーブルとは、上記のΔx,Δyを、各移動位置、つまり設計的に基準パターンPRの交点が視野中心Cに一致するように駆動されたサーボモータ7の駆動量に対応付けた移動誤差である。
【0030】
なお、図2および図3に示すように2台のアライメントスコープ33,35は処理位置EPからy方向に間隔Lだけ離れている。この装置における処理は、処理位置EPにて施されるので、処理位置EPと間隔Lが近いほど処理位置EPにおける移動誤差の検出精度を高めるができる。したがって、間隔Lを処理位置EPに近づけて配設するほど、処理位置EPにおける補正をより正確に行うことができる。
【0031】
次に、図7のフローチャートを参照して移動誤差の検出処理について説明する。
【0032】
まずは、描画ステージ5を待機位置においた状態にて、2台のアライメントスコープ33,35の各々の視野中心Cのx方向が、基準パターンPRの長線と一致するように各アライメントスコープ33,35の位置を予め調整しておく。
【0033】
ステップS1
所定距離だけ描画ステージ5が移動するようにサーボモータ7を駆動する。この駆動によって基準パターンPRの最初の交点が視野内に位置する。
【0034】
ステップS2
撮影した基準パターンPRに対して画像処理を行って、図6に示したような『ずれ量』(Δx,Δy)を基準パターンPRのそれぞれについて演算によって求める。
【0035】
ステップS3
基準パターンPRの各短線の間隔だけ描画ステージ5を移動する。通常は、この移動によって各アライメントスコープ33,35の視野内に基準パターンPRの次の交点が位置する。
【0036】
ステップS4
視野内の画像を処理して基準パターンPRが存在するか否かを判断し、存在するならばステップS2に戻って上記の処理を繰り返し、存在しなければステップS5に移行する。
【0037】
ステップS5
上記のようにして求めた各『ずれ量』を各移動位置と対応付けて誤差テーブルを生成し、これを誤差テーブル記憶部53に記憶する。
【0038】
このようにして生成された誤差テーブルは、アライメントスコープ33,35の中心位置に両基準パターンPRの交点が一致するように描画ステージ5を移動した場合における、各中心位置に対する交点の『ずれ量』である。この『ずれ量』は、描画ステージ5を移動した際に生じる挙動、つまりローリング,ヨーイング,ピッチングなどが平面的にアライメントスコープ33,35に対して投影されたものである。
【0039】
したがって、製品を処理するためにプリント回路基板を描画ステージ5にセットして描画処理を行う際には、ずれ量を含む誤差テーブルを読み出すことによって描画ステージ5の移動位置に応じた移動誤差を検出することができる。したがって、サーボモータ7の駆動量や、図示しないθ軸駆動機構、あるいはビーム位置制御回路57などを『ずれ量』に応じて制御することにより処理位置EPにおける描画ステージ5の移動誤差を補正することができる。
【0040】
しかも、製品の処理に先立って誤差テーブルを生成するだけでよいので、レーザー測長器で計測しながらリアルタイムに補正を行うような従来例に比較して安価に構成でき、かつ適度な精度で移動誤差を検出することができる。また、定期的に上記の誤差テーブルの収集を実施すれば、長期間にわたって移動誤差を正確に検出することができ、処理を正確に施すことができる。
【0041】
なお、本発明は以下のように変形実施することも可能である。
【0042】
(1)基準マスクRMに形成した基準パターンは、上述したような長線と短線の十字形状だけに限定されるものではなく、パターンの重心位置が求められればどのような形状であってもよい。
【0043】
例えば、図8(a)のように円形状を所定の間隔で形成してもよいし、図8(b)のように長線と短線とをずらして形成してもよい。これらのように形成しても円の重心や短線の重心を画像処理で求めることができるので『ずれ量』を容易に求めることができる。
【0044】
また、基準パターンPRを両端部だけに形成するのではなく、基準マスクRMの全面に形成しておいて必要な部分だけを使用するようにしてもよい。
【0045】
(2)基準パターンPRを基準マスクRMに形成することなく、直接的に載置テーブル15の上面に形成しておいてもよい。
【0046】
(3)本発明の記憶手段としては、誤差テーブル記憶部53のようなメモリに限定されるものではなく、各移動位置とずれ量とをプロットして表示したり、輝線により表示することで記憶するプロッタやCRTであってもよい。
【0047】
(4)撮影手段は、移動方向を挟んで少なくとも2台(アライメントスコープ33,35)あればローリングなどの挙動を含むずれ量を得ることができるので、撮影手段として3台以上を使用するようにしてもよい。
【0048】
(5)上述した実施例では、処理部21が固定で描画ステージ5が移動する構成であったが、逆に処理部21が移動する構成であっても本発明を適用できる。
【0049】
(6)上述した実施例ではプリント回路基板製造装置を例に採って説明したが、本発明はこのような装置に限定されるものではなく、例えば、PDP基板製造装置などであっても適用可能である。
【0050】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、請求項1に記載の装置発明によれば、ローリング,ヨーイング,ピッチングなどの挙動が平面的に撮影手段に対して投影された『ずれ量』と各移動位置とを対応付けて記憶手段に記憶しておくので、レーザー測長器で計測しながらリアルタイムに補正を行うような従来例に比較して安価に構成でき、かつ適度な精度で移動誤差を検出することができる。したがって、載置台に処理対象物を載置して処理を行う際には、移動位置に応じて誤差を補正することができ、処理対象物に対して正確に処理を施すことができる。
【0051】
また、請求項2に記載の装置発明によれば、撮影手段を処理位置の近傍に配設することにより、処理位置における移動誤差の検出精度を高めるができる。したがって、処理位置における補正をより正確に行うことができる。
【0052】
また、請求項3に記載の装置発明によれば、処理対象物の位置ずれ量を求めるために備えられている複数のアライメントスコープのうちの2台を用いて各基準パターンのずれ量を求めることができる。
【0053】
また、請求項4に記載の方法発明によれば、まず、基準パターンを撮影手段で撮影し、各基準パターンのずれ量を求め、各基準パターンのずれ量を移動位置に関連付けて記憶しておくことにより、移動誤差を適度な精度で検出することができる。したがって、載置台に処理対象物を載置して処理を行う際には移動位置に応じて補正することができ、処理対象物に対して正確に処理を施すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るプリント回路基板製造装置の概要説明に供する斜視図である。
【図2】 プリント回路基板製造装置の詳細な平面図である。
【図3】 プリント回路基板製造装置の詳細な側面図である。
【図4】 プリント回路基板製造装置のブロック図である。
【図5】 基準マスクに形成された基準パターンの説明図である。
【図6】 CCDカメラの視野像を示した模式図である。
【図7】 移動誤差の検出処理を示したフローチャートである。
【図8】 基準マスクに形成された基準パターンの変形例を示した図である。
【符号の説明】
1 … 基台
3 … ガイドレール
5 … 描画ステージ(載置台)
7 … サーボモータ
9 … 送りネジ
PR … 基準パターン
RM … 基準マスク
EP … 処理位置
LB … レーザビーム
21 … 処理部
33,35,37,39 … アライメントスコープ(撮影手段)
41 … 画像処理部(演算手段)
53 … 誤差テーブル記憶部(記憶手段)
Claims (4)
- 処理対象物を載置する載置台と画像を描画する処理部とを相対的に一方向に移動させ、前記処理対象物に対して処理位置にて画像の描画を施す描画装置の移動誤差検出装置において、
前記載置台と前記処理部との相対的な移動方向を挟み、前記載置台の面上の両端部付近に移動方向に沿って所定の間隔で形成された複数の基準パターンと、
前記載置台と前記処理部との相対的な移動に伴って、前記載置台に対して相対的に移動し、前記載置台の両端部に設けられた基準パターンを各々撮影可能なように前記基準パターンに対応して配設された少なくとも2台の撮影手段と、
前記載置台と前記処理部とを前記所定の間隔ずつ相対的に移動させながら前記2台の撮影手段で基準パターンを撮影し、各移動位置における各々の撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求める演算手段と、
前記各基準パターンのずれ量を移動位置に対応付けて記憶する記憶手段と、
を備えていることを特徴とする描画装置の移動誤差検出装置。 - 請求項1に記載の描画装置の移動誤差検出装置において、
前記撮影手段が処理位置の近傍に配設されていることを特徴とする描画装置の移動誤差検出装置。 - 請求項1または2に記載の描画装置の移動誤差検出装置において、
前記少なくとも2台の撮影手段は、処理対象物に設けられた位置合わせ穴を撮像して、処理対象物の位置ずれ量を求めるための複数のアライメントスコープのうちの2台を用いることを特徴とする描画装置の移動誤差検出装置。 - 処理対象物を載置する載置台と画像を描画する処理部とを相対的に一方向に移動させ、前記処理対象物に対して処理位置にて画像の描画を施す描画装置の移動誤差検出方法において、
前記載置台と前記処理部との相対的な移動方向を挟んで前記載置台の面上の両端部付近に移動方向に沿って所定の間隔で形成された複数の基準パターンを、前記載置台と前記処理部との相対的な移動に伴って、前記載置台に対して相対的に移動し、前記載置台の両端部に設けられた基準パターンを各々撮影可能なように前記基準パターンに対応して配設された少なくとも2台の撮影手段で前記載置台と前記処理部とを相対的に前記所定の間隔ずつ移動させながら撮影する過程と、
各移動位置における各々の撮影手段に対する各基準パターンのずれ量を求める過程と、
前記各基準パターンのずれ量を移動位置に対応付けて記憶する過程と、
を備えていることを特徴とする描画装置の移動誤差検出方法。
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