JP2011179096A - 薄膜形成装置 - Google Patents

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一樹 滝澤
Naomasa Miyatake
直正 宮武
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Abstract

【課題】プラズマを用いて基板に薄膜を形成するとき、プラズマの発生密度を向上させて薄膜の形成を短時間で済ませる。
【解決手段】基板に薄膜を形成する薄膜形成装置は、減圧状態で基板に薄膜を形成する成膜空間を備える成膜容器と、前記成膜容器の前記成膜空間内に、薄膜用原料ガスを導入する原料ガス導入部と、前記成膜空間の前記薄膜用原料ガスを用いてプラズマを生成するプラズマ電極部と、を有する。プラズマ電極部は、電流が一方の端面から他方の端面に流れる板部材であって、前記板部材の第1の主面が前記成膜空間に向き、前記第1の主面に、電流の流れる方向に沿って延びる溝状の凹部が複数設けられている電極板をプラズマ生成用電極として備える。
【選択図】 図2

Description

本発明は、プラズマを用いて基板に薄膜を形成する薄膜形成装置に関する。
従来より、基板に薄膜を形成するためにCVD(Chemical Vapor Deposition)装置が用いられる。特に、CVD装置を用いて薄膜太陽電池に用いるアモルファスSi薄膜をガラス基板に形成するプロセスが注目されている。アモルファスSi薄膜の形成では、例えば、モノシラン(SiH4)をプラズマ化して、ガラス基板上にアモルファスSi薄膜を形成する。近年、薄膜太陽電池用パネルは大型化しており、大型のパネルに均一なアモルファスSi薄膜を形成することが望まれている。このために、プラズマCVD装置では、高密度なプラズマが均一に形成されること必要である。
例えば、プラズマCVD装置の一例として、プラズマ生成室内に複数本の高周波アンテナを設置し、該高周波アンテナにて該プラズマ生成室内ガスに高周波電力を印加して誘導結合型プラズマを発生させるプラズマ生成方法およびプラズマ生成装置が知られている(特許文献1)。
当該プラズマ生成方法およびプラズマ生成装置は、複数本の高周波アンテナのうち少なくとも一部の複数本の高周波アンテナについては、順次隣り合わせて、且つ、各隣り合うもの同士が互いに向かい合った並列配置となるように設置する。さらに、この複数本の高周波アンテナは、該順次隣り合わせて、且つ、各隣り合うもの同士が互いに向かい合った並列配置となるように設置する。この高周波アンテナのそれぞれに印加する高周波電圧の位相を制御することで誘導結合プラズマにおける電子温度を制御する。
また、真空容器と、前記真空容器の壁面に設けられた開口部と、前記開口部を気密に覆うように取り付けられる板状の高周波アンテナ導体と、を備えるプラズマ生成装置が知られている(特許文献2)。
当該プラズマ生成装置は、プラズマ生成装置の開口部に高周波アンテナ導体が取り付けられた構造のため、広い範囲に亘って均一性が高いプラズマを生成することができる。
特開2007−149639号公報 WO2009/142016A1
図5(a)は、板状の高周波アンテナ導体を用いたプラズマ成膜装置の一例の構成を簡略化して説明する図である。図5(a)に示すプラズマ成膜装置100は、電極板102が成膜容器104の成膜室外に、隔壁106を隔てて設けられ、隔壁106の、成膜空間に面する側の面には、誘電体108が設けられる。誘電体108の対向する位置には、薄膜を形成するためのガラス基板Gが配置される。ガラス基板Gは、ヒータ110上に設けられたサセプタ112に載置される。
図5(b)は、成膜空間に磁場を生成する電極板102の概略斜視図である。電極板102は、図5(b)に示すように、板状の電極である。電極板102の一方の端面は、数10MHzの高周波電源に接続され、電極板102の他方の端面は接地されている。電極板102では、電流がX方向に流れる。この電極板102を用いてプラズマを生成する方式では、上述の互いに隣り合わせた複数の高周波アンテナにより生成された高電圧を用いてプラズマを生成する装置と異なり、生成された磁場を用いてプラズマが生成される。
しかし、この電極板102により生成されるプラズマの密度は、アモルファスSi薄膜を形成するには十分でなく、成膜速度が遅いといった問題がある。また、複数本の高周波アンテナに高周波電力を給電することにより誘導結合型プラズマを発生させる上述の公知のプラズマ生成方法およびプラズマ生成装置についても十分なプラズマ密度を均一に生成することができないといった問題がある。
そこで、本発明は、上記問題点を解決するために、プラズマを用いて基板に薄膜を形成するとき、プラズマ密度を向上させて薄膜の形成を効率よく行うことのできる薄膜形成装置を提供することを目的とする。
本発明の一態様は、基板に薄膜を形成する薄膜形成装置であって、
減圧状態で基板に薄膜を形成する成膜空間を備える成膜容器と、
前記成膜容器の前記成膜空間内に、薄膜用原料ガスを導入する原料ガス導入部と、
前記成膜空間において、前記薄膜用原料ガスを用いてプラズマを生成させるプラズマ電極部と、を有し、
前記プラズマ電極部は、電流が一方の端面から他方の端面に流れる板部材であって、前記板部材の第1の主面が前記成膜空間に向くように配置され、前記第1の主面に、電流方向に沿って延びる溝状の凹部が複数設けられている電極板をプラズマ生成用電極として備える。
その際、前記電極板の前記第1の主面と対向する第2の主面の表面積は、前記第1の主面の表面積よりも小さい、ことが好ましい。
また、前記第1の主面と対向する第2の主面には、前記電流方向と直交する方向に沿って伸びる凹凸を備える、ことが好ましい。
前記電極板を、第1の電極板というとき、
前記プラズマ電極部は、電流が一方の端面から他方の端面に流れる板部材であって、前記板部材の第3の主面が前記成膜空間に向くように配置され、前記第3の主面に、電流方向に沿って延びる溝状の凹部が複数設けられている第2の電極板を、前記第1の電極板に離間して備え、
前記第2の電極板は、前記第1の電極板に並行するように配置され、
前記第1の電極板および前記第2の電極板のそれぞれにおいて、前記第1の電極板及び前記第2の電極板同士が隣り合う側の端に位置する凹部の深さが、他の凹部の深さに比べて深い、ことが好ましい。
前記電極板の前記凹部の最も深い場所と前記第2の主面との距離が0.2mmより長い、ことが好ましい。
上述の薄膜形成装置では、生成されるプラズマ密度を高くし、薄膜の形成を効率よく行うことができる。
本発明の一実施形態である薄膜形成装置の構成を表す概略図である。 図1に示す薄膜形成装置に用いる電極板の一例を示す斜視図である。 図1に示す薄膜形成装置に用いる電極板の他の例を示す斜視図である。 図1に示す薄膜形成装置に用いる電極板の他の例を示す図である。 (a),(b)は、従来の薄膜形成装置に用いる電極板の例を説明する図である。
以下、本発明の薄膜形成装置について詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態である薄膜形成装置10の構成を示す概略図である。
図1に示す薄膜形成装置10は、生成されるプラズマを用いて、基板に薄膜を形成するCVD装置である。薄膜形成装置10は、電極板を流れる電流によって生成される磁界により、プラズマを生成する方式である。この方式は、モノポールアンテナ等のアンテナ素子の共振により発生する高電圧によりプラズマを生成する方式と異なる。
(薄膜形成装置)
以下、薄膜としてアモルファスSi薄膜を形成する例を用いて、薄膜形成装置10について説明する。
薄膜形成装置10は、給電ユニット12と、成膜容器14と、ガス供給部16と、ガス排気部18と、を有する。
給電ユニット12は、高周波電源22と、高周波ケーブル24と、マッチングボックス26と、伝送線28,29と、電極板30と、を有する。
高周波電源22は、例えば、100〜3000Wで数10MHzの高周波電力を電極板30に給電する。マッチングボックス26は、高周波ケーブル24を通して提供される電力が電極板30に効率よく供給されるように、インピーダンスを整合する。マッチングボックス26は、キャパシタおよびインダクタ等の素子を設けた公知の整合回路を備える。
マッチングボックス26から延びる伝送線28は、例えば、一定の幅を備える銅板状の伝送線路であり、電極板30へ、例えば数アンペアの電流を流すことができる。
伝送線29は、電極板30から延び接地されている。
電極板30は、後述する隔壁32上に固定された一方向に長い板部材であって、この板部材の第1の主面が成膜容器14内の成膜空間に向いて隔壁32に対して並行に配置されている。電極板30は、伝送線28が接続されている端面と伝送線29が接続されている端面との間の、板部材の長手方向に沿って電流を流す。電極板30は、第1の主面に、電流の流れる方向に沿って延びる凹部が複数設けられている。この点は、後述する。
成膜容器14は、内部空間38を容器内に有し、内部空間38は、隔壁32により上部空間と下部の成膜空間40に区分けされている。成膜容器14は、例えば、アルミニウム等の材質で形成されて内部空間38を1〜100Paの減圧状態にできるように、密閉されている。成膜容器14の上部空間には、マッチングボックス26と、伝送線28,29と、電極板30と、を有する。隔壁32の上部空間に面する側には、電極板30が固定されている。電極板30の周囲には、周囲の隔壁32と絶縁するための絶縁部材34が設けられている。一方、隔壁32の成膜空間40に面する側には、誘電体36が設けられている。誘電体36には、例えば石英板が用いられる。誘電体36を設けるのは、プラズマによる電極板30の腐食を防ぎ、かつ効率よくプラズマへ電力を伝播させるためである。
成膜容器14の成膜空間40には、ヒータ42と、サセプタ44と、昇降機構46と、が設けられている。
ヒータ42は、サセプタ44に載置するガラス基板20を所定の温度、例えば250℃程度に加熱する。
サセプタ44は、ガラス基板20を載置する。
昇降機構46は、ガラス基板20を載置したサセプタ44をヒータ42ともに、成膜空間40内を自在に昇降する。成膜プロセス段階では、電極板30に近接するように、ガラス基板20を所定の位置にセットする。
ガス供給部16は、ガスタンク48と、マスフローコントローラ50と、を有する。
ガスタンク48は、薄膜用原料ガスであるモノシランガス(SiH4)を貯蔵する。
マスフローコントローラ50は、モノシランガスの流量を調整する部分である。例えば
形成される膜の膜厚や膜質等の結果に応じてモノシランガスの流量を調整することができる。モノシランガスは、成膜容器14の成膜空間40の側壁から成膜空間40内に供給される。
ガス排気部18は、成膜空間40内の側壁から延びる排気管と、ターボ分子ポンプ52と、ドライポンプ54と、を有する。ドライポンプ54は、成膜空間40内を粗引きし、ターボ分子ポンプ52は、成膜空間40内の圧力を1×10-4Pa以下に高精度に減圧を維持する。ターボ分子ポンプ52とドライポンプ54とは、排気管で接続されている。
(電極板)
図2は、給電ユニット12に用いられる電極板30の一例の斜視図である。
電極板30は、電極板30の第1の主面30aが内部空間40に向くように、隔壁32に固定されている。第1の主面30aには、電流方向(図中、X方向)に沿って延びる溝状の凹部30cが複数設けられている。電極板30は、例えば、銅、アルミニウム等が用いられる。
図2に示す例では、凹部30cとして、直線的に傾斜した傾斜面で凹部が形成されたX方向に延びる溝が4本設けられている。このため、電極板30は、第1の主面30aの表面積が第1の主面30aと反対側の第2の主面30bの表面積に対して大きい。電極板30を流れる高周波の電流は表面効果により、第1の主面30a,第2の主面30bの表層に集まる。しかし、第1の主面は、第2の主面30bに比べて表面積が大きいので、第1の主面30aの表層を流れる電流は、第2の主面30bに比べて大きい。このため、第1の主面30aの表層を流れる電流により、成膜空間40内に形成される磁場は、凹部30cが設けられていない電極板(図5(b)参照)に比べて大きくなる。このため、従来に比べて磁場により生成されるプラズマは高密度化される。しかも、電極板30を用いて磁場を生成するので、薄膜形成装置10は広範囲に均一な磁場を生成することができ、その結果、広範囲に高密度のプラズマを生成することができる。
なお、電極板30を流れる電流の表層は、電極板30の電気抵抗率、電流の周波数、および、電極板30の透磁率に依存して定まるが、銅あるいはアルミニウムを電極板30の材質とし、電流の周波数を数10MHzとする場合、表層の深さはおよそ0.1mm程度である。したがって、第1の主面30aと第2の主面30bの表層に流れる電流を考慮して、電極板20の厚さは、0.2mmより厚いことが好ましい。すなわち、電極板30の凹部30cの最も深い場所と第2の主面30bとの距離が0.2mmより長いことが好ましい。
図2に示す電極板30の凹部30cは、いずれも同じ深さの凹部であるが、凹部30cの深さは一定である必要はなく、分布を持たせることもできる。例えば、電極板30の幅方向(X方向と直交する方向)の中央部で凹部30cの深さを深くしてもよいし、電極板30の幅方向(X方向と直交する方向)の両側で凹部30cの深さを深くしてもよい。電極板30は、凹部の深さの代わりに、凸部の高さを変えてもよい。少なくとも、第1の主面30aの表面積が第2の主表面30bの表面積に対して大きければよい。
第1の主面30aに設ける凹部30cの数も限定されない。
また、電極板30の凹部30cの深さあるいは凸部の高さを、図2中のX方向(長手方向)に沿って徐々に変化させることもできる。例えば、電流の上流側の部分が下流側の部分に対してプラズマ密度が低い場合、上流側の表面積の差(第1の主面側の表面積と第2の主面側の表面積との差)を大きくし、下流側では表面積の差を小さくするとよい。
また、複数設けられる凹部30cの間隔も一定である必要はなく、間隔を幅方向(X方向と直交する方向)に変化させてもよい。
(第1変形例)
図3は、電極板30とは異なる電極板60の斜視図である。
電極板60の第1の主面60aは、電極板30の第1の主面30aに設けられる凹部30cと同様の凹部を備える。一方、第2の主面60bには、電流が流れるX方向に対して直交する方向に延びるフィン状の薄板部材60cが複数設けられている。第2の主面60bの側に薄板部材60cを設けるのは、電流の流れる方向の断面積を第2の主面60bの側で大きく変化させることにより、抵抗を大きくするためである。このため、第2の主表面69bに比べて抵抗が小さい第1の主面60aに電流が流れ易くなる。したがって、第1の主面60aに流れる電流を大きくし、第1の主面30aに流れる電流により、成膜空間40内に形成される磁場を、従来に比べて大きくすることができる。
また、薄板部材60cは、電極板60を電流が流れることにより発生する熱を放熱する点でも、有効である。なお、電極板60の第2の主面60bには、薄板部材60cが設けられることに限定されず、電流の流れる方向と直交する方向に沿って伸びる凹凸を備えればよい。電極板60には、少なくとも、第2の主面60bの表層を流れる電流の抵抗を大きくするような凹凸が設けられるとよい。
(第2変形例)
図4は、大面積のプラズマを生成するために、電極板62,64を設ける場合の例を説明する図である。
電極板62,64は、図1に示す隔壁32に固定される。このとき、電極板62,64は電流の流れる方向に並列するように配置される。電極板62,64は、電極板30の凹部30cと同様に、成膜空間40の側に向く第1の主面62a,64aの側に、凹部62c1,62c2,凹部64c1,64c2がX方向に沿って設けられている。凹部62c2は、電極板62,64が隣接する側の端に位置する凹部であり、凹部64c2は、電極板62,64が隣接する側の端に位置する凹部である。凹部62c2,凹部64c2の深さは、凹部62c1,凹部64c1の深さに比べて深くなっている。このように、電極板62,64が隣り合う側に位置する凹部の深さを深くするのは、第1の主面62a,64aにおける表面積を電極板62,64が隣り合う側で大きくして表面積を大きくすることで、電流を増大させるためである。図2に示す電極板30を2つ並列して配置した場合、2つの電極板が隣り合う部分では電流が流れ難い。このため、この部分の電流により生成される磁場も大きくならず、その結果、2つの電極板が隣り合う部分でのプラズマ密度は低い。そのため、均一なプラズマが生成されにくい。
しかし、深さの深い凹部62c2,凹部64c2を設けた電極板62,64を用いることで、2つの電極板が隣り合う部分の電流の低下を抑制でき、均一に電流を流すことができる。その結果、均一な磁場を形成することができ、均一かつ高密度なプラズマを生成することができる。
以上のように、プラズマを生成するために用いる電極板では、電流が一方の端面から他方の端面に流れる。この電極板の第1の主面が成膜空間に向き、この第1の主面に、電流方向に沿って延びる凹部が複数設けられている。このため、第1の主面に流れる電流を増大することができ、従来に比べて成膜空間内の磁場を高くすることができる。したがって、プラズマを高密度に生成することができる。
以上、本発明の薄膜形成装置について詳細に説明したが、本発明の薄膜形成装置は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
10 薄膜形成装置
12 給電ユニット
14,104 成膜容器
16 ガス供給部
18 ガス排気部
20 ガラス基板
22 高周波電源
24 高周波ケーブル
26 マッチングボックス
28,29 伝送線
30,60,62,64,102 電極板
30a,60a,62a,64a 第1の主面
30b,60b 第2の主面
30c,62c1,62c2,64c1,64c2 溝部
32,106 隔壁
34 絶縁部材
36,108 誘電体
38 内部空間
40 成膜空間
42,110 ヒータ
44,112 サセプタ
46 昇降機構
48 ガスタンク
50 マスフローコントローラ
52 ターボ分子ポンプ
54 ドライポンプ
60c 薄板部材
100 プラズマ成膜装置

Claims (5)

  1. 基板に薄膜を形成する薄膜形成装置であって、
    減圧状態で基板に薄膜を形成する成膜空間を備える成膜容器と、
    前記成膜容器の前記成膜空間内に、薄膜用原料ガスを導入する原料ガス導入部と、
    前記成膜空間において、前記薄膜用原料ガスを用いてプラズマを生成させるプラズマ電極部と、を有し、
    前記プラズマ電極部は、電流が一方の端面から他方の端面に流れる板部材であって、前記板部材の第1の主面が前記成膜空間に向くように配置され、前記第1の主面に、電流方向に沿って延びる溝状の凹部が複数設けられている電極板をプラズマ生成用電極として備える、ことを特徴とする薄膜形成装置。
  2. 前記第2の主面は、電流方向に沿って平坦形状を成し、
    前記電極板の前記第1の主面と対向する第2の主面の表面積は、前記第1の主面の表面積よりも小さい、請求項1に記載の薄膜形成装置。
  3. 前記第1の主面と対向する第2の主面には、前記電流方向と直交する方向に沿って伸びる凹凸を備える、請求項1に記載の薄膜形成装置。
  4. 前記電極板を、第1の電極板というとき、
    前記プラズマ電極部は、電流が一方の端面から他方の端面に流れる板部材であって、前記板部材の第3の主面が前記成膜空間に向くように配置され、前記第3の主面に、電流方向に沿って延びる溝状の凹部が複数設けられている第2の電極板を、前記第1の電極板に離間して備え、
    前記第2の電極板は、前記第1の電極板に並行するように配置され、
    前記第1の電極板および前記第2の電極板のそれぞれにおいて、前記第1の電極板及び前記第2の電極板同士が隣り合う側の端における凹部の深さが、他の位置における凹部の深さに比べて深い、請求項1〜3のいずれか1項に記載の薄膜形成装置。
  5. 前記電極板の前記凹部の最も深い場所と前記第2の主面との距離が0.2mmより長い、請求項1〜4のいずれか1項に記載の薄膜形成装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130104803A1 (en) * 2010-03-03 2013-05-02 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. Thin film forming apparatus

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01226148A (ja) * 1988-03-07 1989-09-08 Mitsui Toatsu Chem Inc 膜形成装置
JPH01227426A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Mitsui Toatsu Chem Inc 成膜装置
JPH03247769A (ja) * 1990-02-23 1991-11-05 Ulvac Japan Ltd プラズマcvd装置用電極装置
JPH04341570A (ja) * 1991-05-16 1992-11-27 Seikosha Co Ltd 放電電極並びに反応装置
JPH09232612A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Canon Inc 非単結晶半導体薄膜の形成装置および方法
WO2009142016A1 (ja) * 2008-05-22 2009-11-26 株式会社イー・エム・ディー プラズマ生成装置およびプラズマ処理装置
JP2011054950A (ja) * 2009-08-07 2011-03-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 微結晶半導体膜及び薄膜トランジスタの作製方法
WO2011058608A1 (ja) * 2009-11-13 2011-05-19 日新電機株式会社 プラズマ処理装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01226148A (ja) * 1988-03-07 1989-09-08 Mitsui Toatsu Chem Inc 膜形成装置
JPH01227426A (ja) * 1988-03-08 1989-09-11 Mitsui Toatsu Chem Inc 成膜装置
JPH03247769A (ja) * 1990-02-23 1991-11-05 Ulvac Japan Ltd プラズマcvd装置用電極装置
JPH04341570A (ja) * 1991-05-16 1992-11-27 Seikosha Co Ltd 放電電極並びに反応装置
JPH09232612A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Canon Inc 非単結晶半導体薄膜の形成装置および方法
WO2009142016A1 (ja) * 2008-05-22 2009-11-26 株式会社イー・エム・ディー プラズマ生成装置およびプラズマ処理装置
JP2011054950A (ja) * 2009-08-07 2011-03-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 微結晶半導体膜及び薄膜トランジスタの作製方法
WO2011058608A1 (ja) * 2009-11-13 2011-05-19 日新電機株式会社 プラズマ処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130104803A1 (en) * 2010-03-03 2013-05-02 Mitsui Engineering & Shipbuilding Co., Ltd. Thin film forming apparatus

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