JP2010199427A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010199427A JP2010199427A JP2009044566A JP2009044566A JP2010199427A JP 2010199427 A JP2010199427 A JP 2010199427A JP 2009044566 A JP2009044566 A JP 2009044566A JP 2009044566 A JP2009044566 A JP 2009044566A JP 2010199427 A JP2010199427 A JP 2010199427A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- substrate
- wafer
- transfer
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 208
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 158
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 246
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 14
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 8
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 abstract description 328
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 20
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 101100221837 Arabidopsis thaliana CPL4 gene Proteins 0.000 description 6
- 101100536545 Arabidopsis thaliana TCL2 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 5
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 101100221835 Arabidopsis thaliana CPL2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100221836 Arabidopsis thaliana CPL3 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100065702 Arabidopsis thaliana ETC3 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150016835 CPL1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100468774 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RIM13 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H01L21/67781—Batch transfer of wafers
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70975—Assembly, maintenance, transport or storage of apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67775—Docking arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67784—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks
- H01L21/6779—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks the workpieces being stored in a carrier, involving loading and unloading
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【解決手段】ウエハ搬入部211にてウエハWが払い出されたキャリアCを退避用載置部22に移載すると共に、ウエハ搬入部211に未処理ウエハWを収納した新たなキャリアを移載し、この新たなキャリアから処理ブロックS2へウエハWを受け渡すにあたり、例えば100枚のウエハWを棚状に保持する基板保持部4を用意し、キャリアCからウエハ移載手段A1によりこの基板保持部4に5枚のウエハWを一括して移載し、次いで基板保持部4から受け渡し手段A2により処理ブロックS2に一枚ずつウエハWを受け渡す。基板保持部4には一度に5枚のウエハWが受け渡される一方、基板保持部4から取り出されるウエハWは一枚ずつであるので、処理ブロックS2へのウエハの払い出しが途切れることがなく、当該ウエハWの払い出しを速やかに行うことができる。
【選択図】 図9
Description
前記キャリアを載置するために、前記受け渡し用載置部とは別個に設けられた複数の退避用載置部と、
前記受け渡し用載置部にて基板が払い出されたキャリアを前記退避用載置部に移載すると共に、前記受け渡し用載置部に未処理の基板を収納した新たなキャリアを移載するキャリア移載手段と、
少なくとも一つのキャリアに収納される最大枚数の基板を棚状に保持する基板保持部と、
前記受け渡し用載置部に載置されたキャリアから複数枚の基板を一括して受け取って前記基板保持部に移載するために、前記基板を保持する複数枚の保持アームを備えた基板移載手段と、
前記基板保持部から前記基板を一枚ずつ受け取って前記処理ブロックに受け渡す受け渡し手段と、を備えたことを特徴とする。
1及び、キャリアCの有無を確認するための有無センサ232が夫々設けられると共に、中段の退避用載置部221〜224及び載置部21Aには前記位置センサ231が設けられている。これら位置センサ231や有無センサ232としては、反射型光センサや、キャリアCをこれら載置部21、21A、22に載置したときに、当該キャリアCの底部に当たってその位置や有無を検出するストライカーの動きを見るセンサ等が用いられる。
基板保持部4の搬入エリア44及び搬出エリア45をブロックに分割せずに、例えば搬入エリア44又は搬出エリア45のステージに上から順に5枚の保持アーム又は1枚の保持アームによりウエハWの移載を行うようにしてもよい。
少なくとも一つのキャリアに収納される最大枚数のウエハWを棚状に保持する基板保持部4を用意し、キャリアCからウエハ移載手段A1により複数枚のウエハをこの基板保持部4に一括して移載し、次いで基板保持部4から受け渡し手段A2により処理ブロックS2に一枚ずつウエハWを受け渡しているので、キャリアCから処理ブロックS2へのウエハWの払い出しをスムーズに行うことができる。
温調モジュールCPL4との間でウエハWの受け渡しを行うように、進退自在、昇降自在、鉛直軸周りに回転自在に構成されている。このように受け渡し手段A2をキャリアブロックS1に設ける構成では、従来の処理ブロックのレイアウトを変更しなくても済むという利点がある。
C キャリア
S1 キャリアブロック
S2 処理ブロック
S3 インターフェイスブロック
S4 露光装置
A1 ウエハ移載手段
A2 受け渡し手段
A3,A4 メインアーム
21(211、212) 受け渡し用載置部
22(221〜228) 退避用載置部
3 キャリア移載手段
4 基板保持部
8 制御部
83 搬送スケジュール格納部
84 移載スケジュール格納部
85 受け渡し制御部
Claims (8)
- 複数枚の基板を収納するキャリアが載置されると共に、キャリア毎に用意される受け渡し用載置部を備え、当該受け渡し用載置部に載置されたキャリアから払い出された基板に対して処理ブロックにおいて一枚ずつ処理を行った後、当該基板を前記受け渡し用載置部上の元のキャリアに戻す基板処理装置において、
前記キャリアを載置するために、前記受け渡し用載置部とは別個に設けられた複数の退避用載置部と、
前記受け渡し用載置部にて基板が払い出されたキャリアを前記退避用載置部に移載すると共に、前記受け渡し用載置部に未処理の基板を収納した新たなキャリアを移載するキャリア移載手段と、
少なくとも一つのキャリアに収納される最大枚数の基板を棚状に保持する基板保持部と、
前記受け渡し用載置部に載置されたキャリアから複数枚の基板を一括して受け取って前記基板保持部に移載するために、前記基板を保持する複数枚の保持アームを備えた基板移載手段と、
前記基板保持部から前記基板を一枚ずつ受け取って前記処理ブロックに受け渡す受け渡し手段と、を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 前記受け渡し載置部は複数個設けられていることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部は前記処理ブロックにて処理された後の処理済み基板を保持し、
前記受け渡し手段は、前記処理ブロックから前記処理済み基板を一枚ずつ受け取って前記基板保持部に受け渡し、
前記基板移載手段は、前記基板保持部から複数枚の前記処理済み基板を一括して受け取って受け渡し載置部上の元のキャリアに移載し、
前記キャリア移載手段は、基板移載手段が基板保持部に保持されたロットの先頭の処理済み基板を受け取るまでに、当該ロットに対応する元のキャリアを前記受け渡し載置部に移載することを特徴とする請求項1又は2記載の基板処理装置。 - 前記基板保持部は、前記未処理基板を保持すると共に、前記処理ブロックにて処理された後の処理済み基板を保持することを特徴とする請求項3記載の基板処理装置。
- 前記基板保持部は、一つのキャリアに収納される基板の最大枚数の2倍以上の基板を保持することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一つに記載の基板処理装置。
- 前記基板移載手段における保持アームの数は、前記キャリアに収納される基板の最大枚数の約数であることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一つに記載の基板処理装置。
- 前記基板移載手段は、一枚の保持アームのみを進退させる第1の進退機構と、残りの保持アームを一括して進退させる第2の進退機構と、を備えていることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか一つに記載の基板処理装置。
- 前記処理ブロックは、前記基板に対して塗布膜を形成すると共に露光後の基板に対する現像を行うために、基板に対して処理を行うか又は基板が載置される複数のモジュールと、これら複数のモジュールの間で基板の搬送を行う基板搬送手段を備えることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一つに記載の基板処理装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009044566A JP4973675B2 (ja) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
KR1020100013793A KR101295494B1 (ko) | 2009-02-26 | 2010-02-16 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
TW099105162A TWI379377B (en) | 2009-02-26 | 2010-02-23 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
US12/712,255 US20100212585A1 (en) | 2009-02-26 | 2010-02-25 | Substrate processing apparatus |
CN2010101263627A CN101819921B (zh) | 2009-02-26 | 2010-02-26 | 基板处理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009044566A JP4973675B2 (ja) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010199427A true JP2010199427A (ja) | 2010-09-09 |
JP4973675B2 JP4973675B2 (ja) | 2012-07-11 |
Family
ID=42629805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009044566A Active JP4973675B2 (ja) | 2009-02-26 | 2009-02-26 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100212585A1 (ja) |
JP (1) | JP4973675B2 (ja) |
KR (1) | KR101295494B1 (ja) |
CN (1) | CN101819921B (ja) |
TW (1) | TWI379377B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013058735A (ja) * | 2011-08-12 | 2013-03-28 | Shibaura Mechatronics Corp | 処理システムおよび処理方法 |
WO2013187290A1 (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送方法及び基板搬送装置 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5722092B2 (ja) * | 2011-03-18 | 2015-05-20 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
KR101311616B1 (ko) * | 2011-08-12 | 2013-09-26 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 처리 시스템 및 처리 방법 |
US8888434B2 (en) * | 2011-09-05 | 2014-11-18 | Dynamic Micro System | Container storage add-on for bare workpiece stocker |
US8985929B2 (en) * | 2011-09-22 | 2015-03-24 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing apparatus, substrate processing method and storage medium |
US9606532B2 (en) * | 2014-01-29 | 2017-03-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Method and manufacturing system |
JP6607744B2 (ja) * | 2015-09-04 | 2019-11-20 | リンテック株式会社 | 供給装置および供給方法 |
CN108819269B (zh) * | 2015-12-31 | 2020-07-17 | 徐州德坤电气科技有限公司 | 一种可自动喷涂的智能钣金件生产*** |
JP6789384B2 (ja) * | 2017-04-06 | 2020-11-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置および基板搬送方法 |
JP7158238B2 (ja) * | 2018-10-10 | 2022-10-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07106402A (ja) * | 1993-10-04 | 1995-04-21 | Tokyo Electron Ltd | 板状体搬送装置 |
JPH07326654A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Nec Kyushu Ltd | ウェーハ受渡し機構 |
JPH10107121A (ja) * | 1996-09-26 | 1998-04-24 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板処理装置、基板搬送機および基板搬送装置 |
JP2006232468A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-09-07 | Tokyo Electron Ltd | 処理システム |
JP2007088286A (ja) * | 2005-09-22 | 2007-04-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送システム、基板搬送装置、基板搬送方法及び記憶媒体 |
JP2007288029A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送処理装置 |
JP2009010287A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Tokyo Electron Ltd | 基板の処理システム |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100221983B1 (ko) * | 1993-04-13 | 1999-09-15 | 히가시 데쓰로 | 처리장치 |
US5788868A (en) * | 1995-09-04 | 1998-08-04 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate transfer method and interface apparatus |
US5980195A (en) * | 1996-04-24 | 1999-11-09 | Tokyo Electron, Ltd. | Positioning apparatus for substrates to be processed |
KR100646906B1 (ko) * | 1998-09-22 | 2006-11-17 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 기판처리장치 및 기판처리방법 |
KR100745867B1 (ko) * | 2000-08-23 | 2007-08-02 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 수직열처리장치 및 피처리체를 운송하는 방법 |
JP2005510055A (ja) * | 2001-11-13 | 2005-04-14 | エフエスアイ インターナショナル インコーポレイテッド | マイクロエレクトロニクス基板の自動処理用の低減フットプリントツール |
US20030110649A1 (en) * | 2001-12-19 | 2003-06-19 | Applied Materials, Inc. | Automatic calibration method for substrate carrier handling robot and jig for performing the method |
JP4124449B2 (ja) * | 2003-03-28 | 2008-07-23 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
JP2005294460A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Tokyo Electron Ltd | 塗布、現像装置 |
JP4266197B2 (ja) * | 2004-10-19 | 2009-05-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
JP4955977B2 (ja) * | 2005-01-21 | 2012-06-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布、現像装置及びその方法 |
US7694688B2 (en) * | 2007-01-05 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Wet clean system design |
-
2009
- 2009-02-26 JP JP2009044566A patent/JP4973675B2/ja active Active
-
2010
- 2010-02-16 KR KR1020100013793A patent/KR101295494B1/ko active IP Right Grant
- 2010-02-23 TW TW099105162A patent/TWI379377B/zh active
- 2010-02-25 US US12/712,255 patent/US20100212585A1/en not_active Abandoned
- 2010-02-26 CN CN2010101263627A patent/CN101819921B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07106402A (ja) * | 1993-10-04 | 1995-04-21 | Tokyo Electron Ltd | 板状体搬送装置 |
JPH07326654A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Nec Kyushu Ltd | ウェーハ受渡し機構 |
JPH10107121A (ja) * | 1996-09-26 | 1998-04-24 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板処理装置、基板搬送機および基板搬送装置 |
JP2006232468A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-09-07 | Tokyo Electron Ltd | 処理システム |
JP2007088286A (ja) * | 2005-09-22 | 2007-04-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送システム、基板搬送装置、基板搬送方法及び記憶媒体 |
JP2007288029A (ja) * | 2006-04-19 | 2007-11-01 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送処理装置 |
JP2009010287A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Tokyo Electron Ltd | 基板の処理システム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013058735A (ja) * | 2011-08-12 | 2013-03-28 | Shibaura Mechatronics Corp | 処理システムおよび処理方法 |
WO2013187290A1 (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板搬送方法及び基板搬送装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100212585A1 (en) | 2010-08-26 |
CN101819921A (zh) | 2010-09-01 |
KR101295494B1 (ko) | 2013-08-09 |
TW201032284A (en) | 2010-09-01 |
KR20100097601A (ko) | 2010-09-03 |
JP4973675B2 (ja) | 2012-07-11 |
TWI379377B (en) | 2012-12-11 |
CN101819921B (zh) | 2012-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4973675B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP4464993B2 (ja) | 基板の処理システム | |
JP4760919B2 (ja) | 塗布、現像装置 | |
JP4356936B2 (ja) | 塗布、現像装置及びその方法 | |
JP4376072B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP4614455B2 (ja) | 基板搬送処理装置 | |
JP5023679B2 (ja) | 塗布、現像装置及びその方法並びに記憶媒体 | |
JP5151383B2 (ja) | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 | |
JP5187274B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | |
JP5168300B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
KR101010779B1 (ko) | 도포, 현상 장치, 그 방법 및 기억 매체 | |
JP5223778B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | |
JP5880247B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | |
JP4770938B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP4080405B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5348290B2 (ja) | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 | |
JP2013168676A (ja) | 基板処理装置 | |
JP5267691B2 (ja) | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 | |
JP2004319768A (ja) | 基板処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101102 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110411 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110620 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120313 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120326 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4973675 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150420 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |