JP2010175275A - 自動分析装置及び自動分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、を有する。
【選択図】図1
Description
具体的に、この発明の第1の形態は、電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、を有することを特徴とする自動分析装置である。
また、この発明の第2の形態は、電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、前記被検液の電極電位が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、前記被検液の電極電位が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、を有することを特徴とする自動分析装置である。
さらに、この発明の第3の形態は、電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、前記校正液の電極電位が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、次の前記被検液を導入する前に導入した前記校正液の電極電位が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、を有することを特徴とする自動分析装置である。
さらに、この発明の第4の形態は、電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、前記被検液を前記電極部内に導入し、該導入した前記被検液を該電極部内から排出するまでの期間中に、所定の複数回だけ前記被検液の電極電位を計測する計測部と、前記所定の複数回だけ計測した前記被検液の電極電位の変化が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、前記被検液の電極電位の変化が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、を有することを特徴とする自動分析装置である。
さらに、この発明の第6の形態は、プローブにより被検液を電極部内に吸引する被検液吸引ステップと、前記導入した前記被検液の電極電位を計測する被検液計測ステップと、前記被検液計測ステップの後に、前記吸引した前記被検液を前記電極部内から排出すると共に、前記プローブにより校正液を前記電極部内に吸引する校正液吸引ステップと、前記吸引した前記校正液の電極電位を計測する校正液計測ステップと、前記被検液の電位と前記校正液の電位との電位差を求めるステップと、前記被検液の電位と前記校正液の電位との電位差が予め定められた値を超えた場合、次の前記被検液吸引ステップの前に、予め定められた態様で、前記電極部内を洗浄することを特徴とする自動分析方法である。
(構成)
この発明の第1の実施形態に係る自動分析装置の構成について図1及び図2を参照して説明する。図1は、自動分析装置の各構成を概念的に示した構成図、図2は、自動分析装置の機能ブロック図である。
次に、この自動分析装置の動作について図4を参照にして説明する。図4は、自動分析装置の動作を示すフローチャートである。
次に、この発明の第2の実施形態に係る自動分析装置について図2及び図5を参照にして説明する。図5は被検液及び校正液の吸排動作と、被検液の電極電位等とを対応させて示すタイムチャート図である。
次に、この発明の第3の実施形態に係る自動分析装置について図2及び図6を参照にして説明する。図6は、被検液及び校正液の吸排動作と、被検液の電極電位等とを対応させて示すタイムチャート図である。
次に、この発明の第4の実施形態に係る自動分析装置について図2及び図7を参照にして説明する。図7は、被検液及び校正液の吸排動作と、被検液の電極電位の変化とを対応させて示すタイムチャート図である。
14 参照電極内部液ボトル 15 校正液ボトル 16 廃液ボトル
17 洗浄剤カップ 20 電極センサ 21 イオン選択性電極
22 参照電極 23 電位計 31 制御部 32 判断部
33 電位差算出部 34 電解質濃度算出部 35 電位変化算出部
36 記憶部 37 電解質濃度対応テーブル
Claims (6)
- 電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、
前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、
予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、
前記被検液の電極電位と前記校正液の電極電位との電位差が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、
を有することを特徴とする自動分析装置。 - 電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、
前記被検液の電極電位が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、
予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、
前記被検液の電極電位が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、
を有することを特徴とする自動分析装置。 - 電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、
前記校正液の電極電位が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、
予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、
次の前記被検液を導入する前に導入した前記校正液の電極電位が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、
を有することを特徴とする自動分析装置。 - 電極部内に導入した被検液の電極電位を計測し、前記被検液を前記電極部内から排出した後に、前記電極部内に導入した校正液の電極電位を計測し、前記校正液及び前記被検液の各電極電位を基に、被検液の電解質濃度を測定する自動分析装置であって、
前記被検液を前記電極部内に導入し、該導入した前記被検液を該電極部内から排出するまでの期間中に、所定の複数回だけ前記被検液の電極電位を計測する計測部と、
前記所定の複数回だけ計測した前記被検液の電極電位の変化が予め定められた値を超えたか否かを判断する判断部と、
予め定められた態様で前記電極部内を洗浄する洗浄部と、
前記被検液の電極電位の変化が予め定められた値を超えたことを前記判断部が判断した場合、次の被検液を導入する前に、前記洗浄部に前記予め定められた態様で前記電極部内を洗浄させる制御部と、
を有することを特徴とする自動分析装置。 - 前記予め定められた態様は、校正液を前記電極部内に導入し、該導入した前記校正液を電極部内から排出する動作を所定の回数だけ繰り返す態様を含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の自動分析装置。
- プローブにより被検液を電極部内に吸引する被検液吸引ステップと、
前記導入した前記被検液の電極電位を計測する被検液計測ステップと、
前記被検液計測ステップの後に、前記吸引した前記被検液を前記電極部内から排出すると共に、前記プローブにより校正液を前記電極部内に吸引する校正液吸引ステップと、
前記吸引した前記校正液の電極電位を計測する校正液計測ステップと、
前記被検液の電位と前記校正液の電位との電位差を求めるステップと、
前記被検液の電位と前記校正液の電位との電位差が予め定められた値を超えた場合、次の前記被検液吸引ステップの前に、予め定められた態様で、前記電極部内を洗浄することを特徴とする自動分析方法。
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