JP2009246347A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009246347A5
JP2009246347A5 JP2009050844A JP2009050844A JP2009246347A5 JP 2009246347 A5 JP2009246347 A5 JP 2009246347A5 JP 2009050844 A JP2009050844 A JP 2009050844A JP 2009050844 A JP2009050844 A JP 2009050844A JP 2009246347 A5 JP2009246347 A5 JP 2009246347A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
electrically connected
resistance element
transistor
potential supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009050844A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5388632B2 (ja
JP2009246347A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2009050844A priority Critical patent/JP5388632B2/ja
Priority claimed from JP2009050844A external-priority patent/JP5388632B2/ja
Publication of JP2009246347A publication Critical patent/JP2009246347A/ja
Publication of JP2009246347A5 publication Critical patent/JP2009246347A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5388632B2 publication Critical patent/JP5388632B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (6)

  1. 機能回路と、第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子と、第3の抵抗素子と、N(Nは自然数)段のダイオードと、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、を有し、
    前記第1の抵抗素子の第1の端子は、第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記1段目のダイオードのアノードは、前記第1の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記K(Kは2乃至N−1のいずれか一)段目のダイオードのアノードは、前記K−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのアノードは、前記N−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのカソードは、第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第1の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第2の端子は、前記第2の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第3端子は、前記1段目乃至K段目のダイオードのいずれか一のカソードと電気的に接続され、
    前記第3の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第1の端子は、前記第3の抵抗素子の第1の端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第2の端子は、前記第3の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第3の端子は、前記第1のトランジスタの第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第1の端子は、前記第3の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第2の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  2. 機能回路と、第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子と、第3の抵抗素子と、第4の抵抗素子と、第5の抵抗素子と、N(Nは自然数)段のダイオードと、第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、第3のトランジスタと、第4のトランジスタと、を有し、
    前記第1の抵抗素子は、第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記1段目のダイオードのアノードは、前記第1の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記K(Kは2乃至N−1のいずれか一)段目のダイオードのアノードは、前記K−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのアノードは、前記N−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのカソードは、第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第1の端子は、前記第2の電位供給線と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第2の端子は、前記第2の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第1のトランジスタの第3の端子は、前記1段目乃至K段目のダイオードのいずれか一のカソードと電気的に接続され、
    前記第3の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第1の端子は、前記第3の抵抗素子の第1の端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第2の端子は、前記第3の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタの第3の端子は、前記第1のトランジスタの第2の端子と電気的に接続され、
    前記第4の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタの第1の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタの第2の端子は、前記第4の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第3のトランジスタの第3の端子は、前記第1のトランジスタの第1の端子と電気的に接続され、
    前記第5の抵抗素子の第1の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタの第1の端子は、前記第5の抵抗素子の第1の端子と電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタの第2の端子は、前記第5の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第4のトランジスタの第3の端子は、前記第3のトランジスタの第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第1の端子は、前記第3の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第2の端子は、前記第5の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  3. 機能回路と、第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子と、第3の抵抗素子と、N(Nは自然数)段のダイオードと、トランジスタと、を有し、
    前記第1の抵抗素子の第1の端子は、第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記1段目のダイオードのアノードは、前記第1の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記K(Kは2乃至N−1のいずれか一)段目のダイオードのアノードは、前記K−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのアノードは、前記N−1段目のダイオードのカソードと電気的に接続され、
    前記N段目のダイオードのカソードは、第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第3の抵抗素子の第1の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記トランジスタの第1の端子は、前記第2の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記トランジスタの第2の端子は、前記第3の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記トランジスタの第3の端子は、前記1段目乃至K段目のダイオードのいずれか一のカソードと電気的に接続され、
    前記機能回路の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第2の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  4. 分圧回路と、制御回路と、機能回路と、抵抗素子と、スイッチング素子と、を有し、
    前記分圧回路は、第1の電位供給端子と第2の電位供給端子との間の電圧を分圧し、分圧した電圧に応じた第1の電位を生成する機能を有し、
    前記制御回路は、前記第1の電位に応じて、前記スイッチング素子のオン状態又はオフ状態を制御するための第2の電位を生成する機能を有し、
    前記抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記スイッチング素子の第1の端子は、前記抵抗素子の第1の端子と電気的に接続され、
    前記スイッチング素子の第2の端子は、前記抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第1の端子は、前記抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第2の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
  5. 分圧回路と、機能回路と、第1の抵抗素子と、第2の抵抗素子と、スイッチング素子と、を有し、
    前記分圧回路は、第1の電位供給端子と第2の電位供給端子との間の電圧を分圧し、分圧した電圧に応じて、前記スイッチング素子のオン状態又はオフ状態を制御するための第1の電位を生成する機能を有し、
    前記第1の抵抗素子の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記第2の抵抗素子の第1の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記スイッチング素子の第1の端子は、前記第1の抵抗素子の第1の端子と電気的に接続され、
    前記スイッチング素子の第2の端子は、前記第2の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第1の端子は、前記第1の電位供給端子と電気的に接続され、
    前記機能回路の第2の端子は、前記第2の電位供給端子と電気的に接続されることを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれか一項において、
    前記機能回路は、光電変換素子と、第6の抵抗素子と、第5のトランジスタと、複数の第6のトランジスタと、を有し、
    前記光電変換素子のカソードは、前記機能回路の第1の端子と電気的に接続され、
    前記第6の抵抗素子の第1の端子は、前記機能回路の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第5のトランジスタの第1の端子は、前記光電変換素子のアノードと接続され、
    前記第5のトランジスタの第2の端子は、前記第6の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記第5のトランジスタの第3の端子は、前記第5のトランジスタの第1の端子と電気的に接続され、
    前記複数の第6のトランジスタの第1の端子のそれぞれは、前記機能回路の第1の端子と電気的に接続され、
    前記複数の第6のトランジスタの第2の端子のそれぞれは、前記第6の抵抗素子の第2の端子と電気的に接続され、
    前記複数の第6のトランジスタの第3の端子のそれぞれは、前記第5のトランジスタの第3の端子と電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
JP2009050844A 2008-03-14 2009-03-04 半導体装置 Expired - Fee Related JP5388632B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009050844A JP5388632B2 (ja) 2008-03-14 2009-03-04 半導体装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008065980 2008-03-14
JP2008065980 2008-03-14
JP2009050844A JP5388632B2 (ja) 2008-03-14 2009-03-04 半導体装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009246347A JP2009246347A (ja) 2009-10-22
JP2009246347A5 true JP2009246347A5 (ja) 2012-03-29
JP5388632B2 JP5388632B2 (ja) 2014-01-15

Family

ID=41062361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009050844A Expired - Fee Related JP5388632B2 (ja) 2008-03-14 2009-03-04 半導体装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8054596B2 (ja)
JP (1) JP5388632B2 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8363365B2 (en) * 2008-06-17 2013-01-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
WO2010131078A1 (en) * 2009-05-14 2010-11-18 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit and integrated circuit package
US20110132645A1 (en) * 2009-12-04 2011-06-09 Ning Shi Granular varistor and applications for use thereof
KR101773641B1 (ko) * 2010-01-22 2017-09-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
US9111810B2 (en) * 2010-04-30 2015-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Circuit board and display device including first and second channel layers made of different semiconductor materials
JP2012142502A (ja) * 2011-01-05 2012-07-26 Sony Corp 保護素子及び保護素子を備えた半導体装置
JP5711000B2 (ja) * 2011-02-16 2015-04-30 ラピスセミコンダクタ株式会社 過電圧保護回路及び半導体集積回路
US8643007B2 (en) 2011-02-23 2014-02-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US9030855B2 (en) * 2011-07-14 2015-05-12 Macronix International Co., Ltd. Semiconductor device, start-up circuit having first and second circuits and a single voltage output terminal coupled to a second node between the semiconductor unit and the first circuit, and operating method for the same
US8988839B2 (en) 2011-11-01 2015-03-24 Qualcomm Incorporated Block power switch with embedded electrostatic discharge (ESD) protection and adaptive body biasing
US9331689B2 (en) 2012-04-27 2016-05-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Power supply circuit and semiconductor device including the same
CN102752420A (zh) * 2012-06-29 2012-10-24 巫少芬 一种节能手机
JP6079070B2 (ja) * 2012-09-07 2017-02-15 株式会社ソシオネクスト 電圧生成回路
US8622313B1 (en) * 2012-09-25 2014-01-07 Cambridge Silicon Radio Limited Near field communications device
JP6033709B2 (ja) 2013-02-28 2016-11-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP6361442B2 (ja) * 2014-10-14 2018-07-25 富士電機株式会社 半導体装置
JP6566316B2 (ja) * 2015-10-23 2019-08-28 Tianma Japan株式会社 保護回路および電子機器
JP6438451B2 (ja) * 2016-11-30 2018-12-12 日本電信電話株式会社 光受信回路
US11811222B2 (en) * 2021-12-16 2023-11-07 Vanguard International Semiconductor Corporation Electrostatic discharge protection circuit

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01289381A (ja) * 1988-05-17 1989-11-21 Seiko Epson Corp 増幅型固体撮像装置
JP3071851B2 (ja) 1991-03-25 2000-07-31 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置
US5414442A (en) 1991-06-14 1995-05-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device and method of driving the same
US5463520A (en) * 1994-05-09 1995-10-31 At&T Ipm Corp. Electrostatic discharge protection with hysteresis trigger circuit
JP3444093B2 (ja) 1996-06-10 2003-09-08 株式会社デンソー 光センサ回路
FR2801745B1 (fr) 1999-11-30 2007-05-25 St Microelectronics Sa Transpondeur electromagnetique a desaccord en frequence
JP4718677B2 (ja) 2000-12-06 2011-07-06 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及びその作製方法
JP2002313949A (ja) * 2001-04-13 2002-10-25 Fuji Electric Co Ltd 過電圧保護回路
JP3899984B2 (ja) * 2002-04-09 2007-03-28 富士電機デバイステクノロジー株式会社 過電圧保護回路
US7592980B2 (en) 2002-06-05 2009-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7224560B2 (en) * 2003-02-13 2007-05-29 Medtronic, Inc. Destructive electrical transient protection
JP4102277B2 (ja) * 2003-09-12 2008-06-18 株式会社東芝 半導体集積回路装置
JP2005129909A (ja) * 2003-09-19 2005-05-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 光センサー装置および電子機器
JP4574158B2 (ja) 2003-10-28 2010-11-04 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体表示装置及びその作製方法
DE10356259B4 (de) 2003-12-03 2010-07-22 Atmel Automotive Gmbh Verfahren und Schaltungsanordnung zum Vergrößern einer Funktionsreichweite bei einer aus einem elektromagnetischen Feld mit Energie versorgten Vorrichtung
US7471188B2 (en) 2003-12-19 2008-12-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
WO2006035754A1 (ja) * 2004-09-28 2006-04-06 Rohm Co., Ltd 受信装置およびそれを用いた電子機器
JP4817636B2 (ja) * 2004-10-04 2011-11-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置およびその作製方法
US7532264B2 (en) * 2004-10-28 2009-05-12 Dpix Llc On-substrate ESD protection for array based image sensors
JP4619318B2 (ja) * 2005-05-23 2011-01-26 株式会社半導体エネルギー研究所 光電変換装置
US7813092B2 (en) * 2005-09-19 2010-10-12 The Regents Of The University Of California ESD unit protection cell for distributed amplifiers
TWI409934B (zh) 2005-10-12 2013-09-21 Semiconductor Energy Lab 半導體裝置
JP2007329998A (ja) * 2006-06-06 2007-12-20 Ricoh Co Ltd 過電圧保護回路、過電圧保護回路の過電圧保護方法及び過電圧保護回路を有する半導体装置
US7679870B2 (en) * 2006-10-02 2010-03-16 Win Semiconductors Corp. On-chip ESD protection circuit using enhancement-mode HEMT/MESFET technology
DE602007013986D1 (de) 2006-10-18 2011-06-01 Semiconductor Energy Lab ID-Funktransponder
JP5325415B2 (ja) 2006-12-18 2013-10-23 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5412034B2 (ja) 2006-12-26 2014-02-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US8358202B2 (en) 2006-12-26 2013-01-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US7923800B2 (en) 2006-12-27 2011-04-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and electronic device
JP2008270757A (ja) 2007-03-26 2008-11-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US8164933B2 (en) 2007-04-04 2012-04-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Power source circuit
US8115160B2 (en) 2008-03-14 2012-02-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Protection circuit and photoelectric conversion device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009246347A5 (ja)
JP4657799B2 (ja) 発光ダイオード駆動回路
JP2008181494A5 (ja)
JP2008161044A5 (ja)
ATE470267T1 (de) Optisch getriggerte bipolar- leistungsschaltbauelemente mit grossem bandabstand und schaltungen
JP2011171703A5 (ja)
JP5556726B2 (ja) スイッチング回路
US20160049872A1 (en) Dc-dc converter and organic light emitting display device having the same
JP2018124550A5 (ja) 半導体装置
JP2008040499A5 (ja)
KR20090113035A (ko) 앰비폴라 특성을 가진 탄소나노튜브 트랜지스터를 구비한전환가능한 논리회로
TWI543519B (zh) 橋式整流電路
US20120176043A1 (en) Light control signal generating circuit
JP2011008514A5 (ja)
TW201300792A (zh) 電源檢測電路及具有該電源檢測電路之電源電路
JP2019134520A (ja) 負電圧生成回路およびこれを用いた電力変換装置
TW201639302A (zh) 電源切換電路以及半導體裝置
JP2009246351A5 (ja) 静電保護回路、半導体装置、及び半導体装置を具備する電子機器
JP2008219856A5 (ja)
JP2005304285A5 (ja)
JP2010103503A5 (ja)
JP2015519741A5 (ja)
JP2011258827A5 (ja)
JP2017216325A5 (ja)
JP2004120373A5 (ja)