JP2009225095A - 光電流・電圧変換回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ゲート端子に基準電位Vrefが印加された第1トランジスタ11とゲート端子に同一チップ上のフォトダイオードPDが接続されると共に第1トランジスタ11と差動接続された第2トランジスタ12とで構成されるトランジスタ対TPおよびトランジスタ対TPから出力される電圧Vdを出力するバッファ回路15を有する差動増幅回路2と、差動増幅回路2の出力信号Voutを第2トランジスタ12のゲート端子に帰還させる帰還回路3と、制御信号Sc1,Sc2によってオン・オフ制御されてオン状態のときに第1トランジスタ11に定電流I1を供給する定電流回路4およびオン状態のときに第2トランジスタ12に定電流I2を供給する定電流回路5とを備えている。
【選択図】図1
Description
2,2A 差動増幅回路
3 帰還回路
4,5 定電流回路
Ip 光電流
11 第1トランジスタ
12 第2トランジスタ
PD フォトダイオード
Vout 出力信号
Claims (2)
- 受光素子と同一チップ上に配設されて、当該受光素子に流れる光電流を電圧に変換して出力する光電流・電圧変換回路であって、
制御端子に基準電圧が印加された第1トランジスタと制御端子に前記受光素子が接続されると共に前記第1トランジスタと差動接続された第2トランジスタとで構成されるトランジスタ対、および当該トランジスタ対から出力される電圧を出力するバッファ回路を有する差動増幅回路と、
当該差動増幅回路の出力信号を前記第2トランジスタの前記制御端子に帰還させる帰還回路と、
制御信号によってオン・オフ制御されてオン状態のときに前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタのうちの一方のトランジスタの入力端子に定電流を供給する第1の定電流回路とを備えている光電流・電圧変換回路。 - 制御信号によってオン・オフ制御されてオン状態のときに前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタのうちの他方のトランジスタの入力端子に定電流を供給する第2の定電流回路を備えている請求項1記載の光電流・電圧変換回路。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018182895A1 (en) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | Xilinx, Inc. | Electrically testing an optical receiver |
JP2020136895A (ja) * | 2019-02-19 | 2020-08-31 | 新日本無線株式会社 | 駆動回路 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60213108A (ja) * | 1984-04-06 | 1985-10-25 | Hitachi Ltd | 増幅回路 |
JPH0279608A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-20 | Olympus Optical Co Ltd | 演算増幅器のオフセット調整装置 |
JPH08315573A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-11-29 | Sgs Thomson Microelectron Inc | 出力インピーダンスを減少させた出力ドライバ用電圧調整器 |
JPH09232885A (ja) * | 1996-02-21 | 1997-09-05 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 差動型増幅回路 |
JPH10135747A (ja) * | 1996-10-31 | 1998-05-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 電流電圧変換回路 |
JP2002098732A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-05 | Nec Microsystems Ltd | Iddqテスト回路 |
JP2003022697A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60213108A (ja) * | 1984-04-06 | 1985-10-25 | Hitachi Ltd | 増幅回路 |
JPH0279608A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-20 | Olympus Optical Co Ltd | 演算増幅器のオフセット調整装置 |
JPH08315573A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-11-29 | Sgs Thomson Microelectron Inc | 出力インピーダンスを減少させた出力ドライバ用電圧調整器 |
JPH09232885A (ja) * | 1996-02-21 | 1997-09-05 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 差動型増幅回路 |
JPH10135747A (ja) * | 1996-10-31 | 1998-05-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 電流電圧変換回路 |
JP2002098732A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-05 | Nec Microsystems Ltd | Iddqテスト回路 |
JP2003022697A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018182895A1 (en) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | Xilinx, Inc. | Electrically testing an optical receiver |
CN110476071A (zh) * | 2017-03-30 | 2019-11-19 | 赛灵思公司 | 对光学接收器进行电气测试 |
KR20190130009A (ko) * | 2017-03-30 | 2019-11-20 | 자일링크스 인코포레이티드 | 광 수신기의 전기적 테스트 |
JP2020515843A (ja) * | 2017-03-30 | 2020-05-28 | ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated | 光受信機の電気的な試験 |
CN110476071B (zh) * | 2017-03-30 | 2021-01-22 | 赛灵思公司 | 光电二极管仿真器、测试电路和仿真光电二极管的方法 |
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KR102468651B1 (ko) | 2017-03-30 | 2022-11-17 | 자일링크스 인코포레이티드 | 광 수신기의 전기적 테스트 |
JP2020136895A (ja) * | 2019-02-19 | 2020-08-31 | 新日本無線株式会社 | 駆動回路 |
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