JP2009204903A - 光走査装置及びその異常検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】ミラーの反射率低下や光軸ずれ等の起因する異常を検出可能な表示装置及びその
異常検出方法を提供する。
【解決手段】本実施形態に係る光走査装置は、光源101と、光源101から出射された
光を偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数のミラー1,104を含む光
学系と、各ミラー1,104の反射面を所定の位置に固定した状態で、光学系を通過した
光を受光して、当該光の強度を測定する光センサ106と、光センサ106により測定さ
れた光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定
手段113と、を有する。
【選択図】図4
異常検出方法を提供する。
【解決手段】本実施形態に係る光走査装置は、光源101と、光源101から出射された
光を偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数のミラー1,104を含む光
学系と、各ミラー1,104の反射面を所定の位置に固定した状態で、光学系を通過した
光を受光して、当該光の強度を測定する光センサ106と、光センサ106により測定さ
れた光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定
手段113と、を有する。
【選択図】図4
Description
本発明は、光源からの光を偏向させることにより画像を表示させる光走査装置及びその
異常検出方法に関する。
異常検出方法に関する。
近年、マイクロメカニクス技術を用いたマイクロアクチュエータの開発が盛んである。
例えば、一対の弾性支持部(トーションバー)でねじり回転可能に支持された振動ミラー
を備えた光走査装置は、簡便な構成で画像表示装置を形成することが可能なデバイスとし
て開発が進んでいる(特許文献1参照)。
特開2005−169553号公報
例えば、一対の弾性支持部(トーションバー)でねじり回転可能に支持された振動ミラー
を備えた光走査装置は、簡便な構成で画像表示装置を形成することが可能なデバイスとし
て開発が進んでいる(特許文献1参照)。
このような光走査装置において、光を偏向させる1つ又は複数のミラーの反射率の低下
や光軸ずれ等は、表示異常に直結する要素である。したがって、これらの光走査装置を実
用化する際には、実際に画像を表示する前に、このような異常を検出できるようにするこ
とが望まれる。
や光軸ずれ等は、表示異常に直結する要素である。したがって、これらの光走査装置を実
用化する際には、実際に画像を表示する前に、このような異常を検出できるようにするこ
とが望まれる。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的の一つは、ミラーの反射
率低下や光軸ずれ等の起因する異常を検出可能な表示装置及びその異常検出方法を提供す
ることにある。
率低下や光軸ずれ等の起因する異常を検出可能な表示装置及びその異常検出方法を提供す
ることにある。
上記の目的を達成するため、本発明の光走査装置は、光源と、光源から出射された光を
偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数のミラーを含む光学系と、各ミラ
ーの反射面を所定の位置に固定した状態で光学系を通過した光を受光して、当該光の強度
を測定する光センサと、光センサにより測定された光の強度と、基準強度とを比較して、
比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定手段と、を有する。
偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数のミラーを含む光学系と、各ミラ
ーの反射面を所定の位置に固定した状態で光学系を通過した光を受光して、当該光の強度
を測定する光センサと、光センサにより測定された光の強度と、基準強度とを比較して、
比較結果に応じてエラーの有無を判定する判定手段と、を有する。
上記構成では、各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で、光学系を通過した光
が光センサに受光され、当該光の強度が測定される。そして、判定手段により、光センサ
により測定された光の強度と、基準強度とが比較されて、比較結果に応じてエラーの有無
が判定される。例えば、ミラーの反射率低下や、光軸ずれが存在する場合には、光センサ
により測定される光強度は低下する。従って、光強度と基準強度の差が規定値範囲内であ
ればエラー無しと判定され、両者の差が規定値範囲外であればエラー有りと判定される。
これにより、実際に表示させなくても、異常が検出される。
が光センサに受光され、当該光の強度が測定される。そして、判定手段により、光センサ
により測定された光の強度と、基準強度とが比較されて、比較結果に応じてエラーの有無
が判定される。例えば、ミラーの反射率低下や、光軸ずれが存在する場合には、光センサ
により測定される光強度は低下する。従って、光強度と基準強度の差が規定値範囲内であ
ればエラー無しと判定され、両者の差が規定値範囲外であればエラー有りと判定される。
これにより、実際に表示させなくても、異常が検出される。
光センサは、外部への光の出射口とは異なる位置に設けられている。これにより、異常
検出処理中において、外部への光の漏洩が防止される。
検出処理中において、外部への光の漏洩が防止される。
外部への光の出射口の開閉を制御するシャッターをさらに有し、光センサは、シャッタ
ーの内側に設けられている。これにより、異常検出処理中において、光の出射口に重なる
位置に光センサを設けつつ、異常検出処理中における外部への光の漏洩が防止される。
ーの内側に設けられている。これにより、異常検出処理中において、光の出射口に重なる
位置に光センサを設けつつ、異常検出処理中における外部への光の漏洩が防止される。
さらに、上記の目的を達成するため、本発明の光走査装置の異常検出方法は、光源から
の光を1つ又は複数のミラーを含む光学系を用いて偏向させることにより画像を表示する
光走査装置の異常検出方法であって、起動時に、各ミラーの反射面を所定の位置に固定し
た状態で、光学系へ向けて光源から光を出射する工程と、ミラーを含む光学系を通過した
光の強度を測定する工程と、測定された光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に
応じてエラーの有無を判定する工程と、を有する。
の光を1つ又は複数のミラーを含む光学系を用いて偏向させることにより画像を表示する
光走査装置の異常検出方法であって、起動時に、各ミラーの反射面を所定の位置に固定し
た状態で、光学系へ向けて光源から光を出射する工程と、ミラーを含む光学系を通過した
光の強度を測定する工程と、測定された光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に
応じてエラーの有無を判定する工程と、を有する。
上記構成では、各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で、光学系を通過した光
の強度が測定される。そして、測定された光の強度と、基準強度とが比較されて、比較結
果に応じてエラーの有無が判定される。例えば、ミラーの反射率低下や、光軸ずれが存在
する場合には、測定される光強度は低下する。従って、光強度と基準強度の差が許容範囲
内であればエラー無しと判定され、両者の差が規定値範囲外であればエラー有りと判定さ
れる。これにより、実際に表示させなくても、異常が検出される。
の強度が測定される。そして、測定された光の強度と、基準強度とが比較されて、比較結
果に応じてエラーの有無が判定される。例えば、ミラーの反射率低下や、光軸ずれが存在
する場合には、測定される光強度は低下する。従って、光強度と基準強度の差が許容範囲
内であればエラー無しと判定され、両者の差が規定値範囲外であればエラー有りと判定さ
れる。これにより、実際に表示させなくても、異常が検出される。
光を出射する工程において、各ミラーの反射面を、光学系を通過した光が外部へ出射さ
れない位置に固定する。これにより、異常検出処理中における外部への光の漏洩が防止さ
れる。
れない位置に固定する。これにより、異常検出処理中における外部への光の漏洩が防止さ
れる。
光を出射する工程は、外部への光の出射口をシャッターにより閉じた状態で行なう。こ
れにより、異常検出処理中における外部への光の漏洩が確実に防止される。
れにより、異常検出処理中における外部への光の漏洩が確実に防止される。
光走査装置は、互いに異なる波長帯域の光を出射する複数の光源を有し、光を出射する
工程及び光の強度を測定する工程は、光源毎に別々に行なう。これにより、複数の光源が
存在する場合には、光源毎の光軸ずれが検出可能となる。
工程及び光の強度を測定する工程は、光源毎に別々に行なう。これにより、複数の光源が
存在する場合には、光源毎の光軸ずれが検出可能となる。
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態に係る光走査装置に使用される振動ミラーの一例を示す平面図であ
る。図2は、図1のII−II線における断面図である。
図1は、本実施形態に係る光走査装置に使用される振動ミラーの一例を示す平面図であ
る。図2は、図1のII−II線における断面図である。
振動ミラー1は、可動板11と、支持枠12と、可動板11を支持枠12に対してねじ
り回転可能に支持する一対の弾性支持部13とを有する。可動板11、支持枠12、及び
弾性支持部13は、例えば、シリコン基板をエッチング加工することにより一体形成され
る。
り回転可能に支持する一対の弾性支持部13とを有する。可動板11、支持枠12、及び
弾性支持部13は、例えば、シリコン基板をエッチング加工することにより一体形成され
る。
可動板11上には反射膜21が形成されている。また、可動板11の反射膜21と反対
側には、磁石22が接合されている。磁石22は、可動板11を平面視したときに、可動
板11の回転中心軸である軸線Xに直交する方向に磁化されている。すなわち、磁石22
は、軸線Xを介して対向する互いに極性の異なる一対の磁極を有している。支持枠12は
、ホルダ20に接合されており、ホルダ20上には、可動板11を駆動させるためのコイ
ル23が配置されている。
側には、磁石22が接合されている。磁石22は、可動板11を平面視したときに、可動
板11の回転中心軸である軸線Xに直交する方向に磁化されている。すなわち、磁石22
は、軸線Xを介して対向する互いに極性の異なる一対の磁極を有している。支持枠12は
、ホルダ20に接合されており、ホルダ20上には、可動板11を駆動させるためのコイ
ル23が配置されている。
上記の振動ミラー1では、周期的に変化する電流(交流)がコイル23に供給される。
これにより、コイル23は上方(可動板11側)に向く磁界と、下方に向く磁界とを交互
に発生させる。これにより、コイル23に対し磁石22の一対の磁極のうち一方の磁極が
接近し他方の磁極が離間するようにして、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板
11がX軸回りに回動させられる。
これにより、コイル23は上方(可動板11側)に向く磁界と、下方に向く磁界とを交互
に発生させる。これにより、コイル23に対し磁石22の一対の磁極のうち一方の磁極が
接近し他方の磁極が離間するようにして、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板
11がX軸回りに回動させられる。
図1では、磁石22とコイル23間の電磁力を利用した駆動方式の振動ミラーを示して
いる。しかしながら、本発明は、静電引力を利用した方式や、圧電素子を利用した方式を
採用してもよい。例えば、静電引力を利用した方式の場合には、磁石22は不要であり、
コイル23の代わりに可動板11に対向する1つ又は複数の電極が設置される。そして、
可動板11と電極との間に周期的に変化する交流電圧を印加することにより、可動板11
と電極との間に静電引力を作用させて、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板1
1をX軸回りに回動させる。
いる。しかしながら、本発明は、静電引力を利用した方式や、圧電素子を利用した方式を
採用してもよい。例えば、静電引力を利用した方式の場合には、磁石22は不要であり、
コイル23の代わりに可動板11に対向する1つ又は複数の電極が設置される。そして、
可動板11と電極との間に周期的に変化する交流電圧を印加することにより、可動板11
と電極との間に静電引力を作用させて、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板1
1をX軸回りに回動させる。
図3は、上記の振動ミラー1を含む光走査装置の概略構成図である。図3に示す光走査
装置は、水平ミラーとして図1に示す振動ミラー1を用いている。
装置は、水平ミラーとして図1に示す振動ミラー1を用いている。
図3に示す光走査装置は、振動ミラー1の他に、レーザ光源101と、ダイクロイック
ミラー102と、フォトダイオード103と、垂直ミラー104とを備える。本発明の光
学系には、ダイクロイックミラー102、振動ミラー1及び垂直ミラー104が含まれる
。
ミラー102と、フォトダイオード103と、垂直ミラー104とを備える。本発明の光
学系には、ダイクロイックミラー102、振動ミラー1及び垂直ミラー104が含まれる
。
レーザ光源101は、赤色レーザ光を出射する赤色レーザ光源101Rと、青色レーザ
光を出射する青色レーザ光源101Bと、緑色レーザ光を出射する緑色レーザ光源101
Gとを有する。ただし、2色以下又は4色以上のレーザ光源を用いてもよい。
光を出射する青色レーザ光源101Bと、緑色レーザ光を出射する緑色レーザ光源101
Gとを有する。ただし、2色以下又は4色以上のレーザ光源を用いてもよい。
ダイクロイックミラー102は、赤色レーザ光源101Rからの赤色レーザ光を反射す
るダイクロイックミラー102Rと、青色レーザ光を反射し赤色レーザ光を透過させるダ
イクロイックミラー102Bと、緑色レーザ光を反射し青色レーザ光及び赤色レーザ光を
透過させるダイクロイックミラー102Gとを有する。この3種のダイクロイックミラー
102により、赤色レーザ光、青色レーザ光、及び緑色レーザ光の合成光が振動ミラー1
に入射する。
るダイクロイックミラー102Rと、青色レーザ光を反射し赤色レーザ光を透過させるダ
イクロイックミラー102Bと、緑色レーザ光を反射し青色レーザ光及び赤色レーザ光を
透過させるダイクロイックミラー102Gとを有する。この3種のダイクロイックミラー
102により、赤色レーザ光、青色レーザ光、及び緑色レーザ光の合成光が振動ミラー1
に入射する。
フォトダイオード103は、各ダイクロイックミラー102R,102G,102Bに
反射されずに透過した赤色レーザ光、緑色レーザ光、青色レーザ光の光量を検出する。
反射されずに透過した赤色レーザ光、緑色レーザ光、青色レーザ光の光量を検出する。
振動ミラー1は、ダイクロイックミラー102から送られたレーザ光を水平方向(軸線
Xの垂直方向)に走査する。振動ミラー1は、上述したように、MEMSにより形成され
た、共振型ミラーである。
Xの垂直方向)に走査する。振動ミラー1は、上述したように、MEMSにより形成され
た、共振型ミラーである。
垂直ミラー104は、振動ミラー1により反射されたレーザ光を垂直方向に走査する。
垂直ミラー104は、例えば、ガルバノミラーにより構成される。ガルバノミラーとはミ
ラーに軸を付け、電気信号に応じてミラーの回転角を変えられるようにした偏向器である
。振動ミラー1によるレーザ光の水平走査、及び垂直ミラー104によるレーザ光の垂直
走査により画像が表示される。
垂直ミラー104は、例えば、ガルバノミラーにより構成される。ガルバノミラーとはミ
ラーに軸を付け、電気信号に応じてミラーの回転角を変えられるようにした偏向器である
。振動ミラー1によるレーザ光の水平走査、及び垂直ミラー104によるレーザ光の垂直
走査により画像が表示される。
本実施形態に係る光走査装置は、上記のレーザ光源101、振動ミラー1、垂直ミラー
104の駆動制御系として、さらに、レーザ光源101を駆動するレーザ駆動手段110
と、水平ミラーとしての振動ミラー1を駆動する水平ミラー駆動手段111と、垂直ミラ
ー104を駆動する垂直ミラー駆動手段112と、全体の動作の制御を担う制御手段11
3と、記憶手段114とを有する。
104の駆動制御系として、さらに、レーザ光源101を駆動するレーザ駆動手段110
と、水平ミラーとしての振動ミラー1を駆動する水平ミラー駆動手段111と、垂直ミラ
ー104を駆動する垂直ミラー駆動手段112と、全体の動作の制御を担う制御手段11
3と、記憶手段114とを有する。
記憶手段114は、例えば、各種のプログラムを収納するROMと、変数等を収納する
RAMと、不揮発性メモリとにより構成される。本実施形態では、記憶手段114は、後
述する基準強度を保持している。
RAMと、不揮発性メモリとにより構成される。本実施形態では、記憶手段114は、後
述する基準強度を保持している。
制御手段113は、パーソナルコンピュータや携帯電話等の各種の映像ソース115か
ら送られた画像情報に基づいて、これらの画像を表示すべく、レーザ駆動手段110、水
平ミラー駆動手段111、垂直ミラー駆動手段112の動作を制御する。また、制御手段
113は、起動時において、後述する異常検出処理を実施する。
ら送られた画像情報に基づいて、これらの画像を表示すべく、レーザ駆動手段110、水
平ミラー駆動手段111、垂直ミラー駆動手段112の動作を制御する。また、制御手段
113は、起動時において、後述する異常検出処理を実施する。
図4は、光走査装置の異常検出機構を示す概略構成図である。
図4に示すように、振動ミラー1及び垂直ミラー104を含む光学系を収容する筐体1
05の内部に、光センサ106が設置されている。
図4に示すように、振動ミラー1及び垂直ミラー104を含む光学系を収容する筐体1
05の内部に、光センサ106が設置されている。
光センサ106は、筐体105に設けられた光出射口107とは異なる位置、換言すれ
ば光出射口107に重ならない位置に設けられている。光センサ106は、例えばフォト
ダイオードからなる。光センサ106として、RGBの全ての波長帯域において感度を有
するフォトダイオードを用いることが好ましい。これにより、1つの光センサ106を用
いてRGBの全てのレーザ光源101の異常検出処理が可能となる。
ば光出射口107に重ならない位置に設けられている。光センサ106は、例えばフォト
ダイオードからなる。光センサ106として、RGBの全ての波長帯域において感度を有
するフォトダイオードを用いることが好ましい。これにより、1つの光センサ106を用
いてRGBの全てのレーザ光源101の異常検出処理が可能となる。
振動ミラー1は、異常検出処理時においては、基準位置に固定される。この基準位置と
は、弾性支持部13が捩れ振動を起こしていない場合における、振動ミラー1の位置であ
る。
は、弾性支持部13が捩れ振動を起こしていない場合における、振動ミラー1の位置であ
る。
垂直ミラー104は、異常検出処理時には図中点線で示すように、垂直ミラー104に
より反射された光が光センサ106に結合するように、所定の位置に、換言すれば、反射
面が所定の角度に固定される。なお、垂直ミラー104は、通常動作時には、図中実線で
示すように光出射口107へ向けて光を反射する。
より反射された光が光センサ106に結合するように、所定の位置に、換言すれば、反射
面が所定の角度に固定される。なお、垂直ミラー104は、通常動作時には、図中実線で
示すように光出射口107へ向けて光を反射する。
制御手段113は、本発明の判定手段の処理を実行する。この制御手段113は、光セ
ンサ106からの出力に基づいて、振動ミラー1及び垂直ミラー104の反射率の低下や
光軸ずれ等の異常の有無を検出する。
ンサ106からの出力に基づいて、振動ミラー1及び垂直ミラー104の反射率の低下や
光軸ずれ等の異常の有無を検出する。
次に、本実施形態に係る光走査装置の異常検出方法について、図5のフローチャートを
参照して説明する。本実施形態では、光走査装置の起動時において、RGBの各レーザ光
源101R、101G,101Bについて、図5に示す処理を別々に行う。
参照して説明する。本実施形態では、光走査装置の起動時において、RGBの各レーザ光
源101R、101G,101Bについて、図5に示す処理を別々に行う。
まず、制御手段113は、各駆動手段111、112を制御して、振動ミラー1を基準
位置に固定し、垂直ミラー104を所定の位置に固定する(ステップST1)。異常検出
処理における各ミラーの反射面の角度については、図4を参照して説明した通りである。
位置に固定し、垂直ミラー104を所定の位置に固定する(ステップST1)。異常検出
処理における各ミラーの反射面の角度については、図4を参照して説明した通りである。
次に、制御手段113は、3つのレーザ光源101R、101G,101Bのうち、い
ずれか一つを駆動させて、レーザ光を出射させる。これにより、レーザ光源101から出
射されたレーザ光は、振動ミラー1及び垂直ミラー104により反射されて光センサ10
6に受光され、光センサ106により光強度が測定される(ステップST2)。制御手段
113は、光センサ106から受光した光強度に応じた信号を入力する。
ずれか一つを駆動させて、レーザ光を出射させる。これにより、レーザ光源101から出
射されたレーザ光は、振動ミラー1及び垂直ミラー104により反射されて光センサ10
6に受光され、光センサ106により光強度が測定される(ステップST2)。制御手段
113は、光センサ106から受光した光強度に応じた信号を入力する。
次に、制御手段113は、予め記憶手段114に保持された基準強度と、光センサ10
6により測定された光強度とを比較して、両者の差が規定値範囲内か否かを判定する(ス
テップST3)。ここで、基準強度とは、初期の光走査装置において同様の条件で光セン
サ106にレーザを入射させた場合における光強度を示す。
6により測定された光強度とを比較して、両者の差が規定値範囲内か否かを判定する(ス
テップST3)。ここで、基準強度とは、初期の光走査装置において同様の条件で光セン
サ106にレーザを入射させた場合における光強度を示す。
振動ミラー1や垂直ミラー104の反射率が低下した場合には、光センサ106により
測定される光の強度は小さくなる。また、レーザ光源の光軸ずれが発生している場合にも
、光センサ106により測定される光の強度は小さくなる。従って、測定された光強度と
基準強度との差が規定値範囲外となった場合には、反射率の低下又は光軸ずれに起因する
異常が存在するものとして、エラー判定がなされる(ステップST4)。エラー判定がな
された場合には、光走査装置の動作を停止させる。また、アラーム、ランプの点滅、表示
エリアへの書き込み等の手段を用いて、エラーをユーザに知らせる。
測定される光の強度は小さくなる。また、レーザ光源の光軸ずれが発生している場合にも
、光センサ106により測定される光の強度は小さくなる。従って、測定された光強度と
基準強度との差が規定値範囲外となった場合には、反射率の低下又は光軸ずれに起因する
異常が存在するものとして、エラー判定がなされる(ステップST4)。エラー判定がな
された場合には、光走査装置の動作を停止させる。また、アラーム、ランプの点滅、表示
エリアへの書き込み等の手段を用いて、エラーをユーザに知らせる。
両者の光強度の差が規定値範囲内の場合には、通常の表示動作を開始する(ステップS
T5)。ただし、本実施形態のように、3つのレーザ光源101R、101G,101B
を有する場合には、全てのレーザ光源の処理を行なって異常無しとの判定が得られた後に
、通常の表示動作を開始する。
T5)。ただし、本実施形態のように、3つのレーザ光源101R、101G,101B
を有する場合には、全てのレーザ光源の処理を行なって異常無しとの判定が得られた後に
、通常の表示動作を開始する。
以上説明したように、本実施形態に係る光走査装置によれば、起動時に、振動ミラー1
及び垂直ミラー104で反射された光の強度を測定することにより、ミラーの反射率の低
下や光軸ずれ等の異常を検出することができる。
及び垂直ミラー104で反射された光の強度を測定することにより、ミラーの反射率の低
下や光軸ずれ等の異常を検出することができる。
また、光の強度を測定するための光センサ106を光出射口107に重ならない位置に
設け、振動ミラー1及び垂直ミラー104によりこの光センサ106へ向けて光を反射さ
せることにより、異常検出処理時において、光出射口107から外部へ光が漏洩すること
を防止することができる。各ミラーを固定した状態においては、1点へ向けて光強度の強
いレーザ光が照射されるため、安全性の面からも、このときのレーザ光を外部へ出射させ
ないことが好ましいからである。
設け、振動ミラー1及び垂直ミラー104によりこの光センサ106へ向けて光を反射さ
せることにより、異常検出処理時において、光出射口107から外部へ光が漏洩すること
を防止することができる。各ミラーを固定した状態においては、1点へ向けて光強度の強
いレーザ光が照射されるため、安全性の面からも、このときのレーザ光を外部へ出射させ
ないことが好ましいからである。
(第2実施形態)
図6は、第2実施形態に係る光走査装置の異常検出機構を示す図である。
図6は、第2実施形態に係る光走査装置の異常検出機構を示す図である。
本実施形態に係る光走査装置は、光出射口107を開閉可能なシャッター108と、シ
ャッター108を駆動するシャッター駆動手段116とを有する。
ャッター108を駆動するシャッター駆動手段116とを有する。
本実施形態では、異常検出処理中において、シャッター108により光出射口107を
塞いでおく。すなわち、図5のステップST1に移行する前に、制御手段113はシャッ
ター駆動手段116を制御して、シャッター108を閉じさせる又は閉じたままにしてお
く。その他の基本的な異常検出処理のステップについては、第1実施形態と同様である。
塞いでおく。すなわち、図5のステップST1に移行する前に、制御手段113はシャッ
ター駆動手段116を制御して、シャッター108を閉じさせる又は閉じたままにしてお
く。その他の基本的な異常検出処理のステップについては、第1実施形態と同様である。
本実施形態によれば、振動ミラー1及び垂直ミラー104の反射面の位置により想定さ
れる反射光(図中、点線で示す)以外の迷光が生じた場合であっても、これらの光を確実
に筐体105内に閉じ込めることができ、異常検出処理中において、光出射口107から
外部へ光が漏洩することを確実に防止することができる。従って、第1実施形態よりも安
全性を高めることができる。
れる反射光(図中、点線で示す)以外の迷光が生じた場合であっても、これらの光を確実
に筐体105内に閉じ込めることができ、異常検出処理中において、光出射口107から
外部へ光が漏洩することを確実に防止することができる。従って、第1実施形態よりも安
全性を高めることができる。
(第3実施形態)
図7は、第3実施形態に係る光走査装置の異常検出機構を示す図である。
図7は、第3実施形態に係る光走査装置の異常検出機構を示す図である。
本実施形態に係る光走査装置は、光出射口107を開閉可能なシャッター108と、シ
ャッター108を駆動するシャッター駆動手段116とを備え、さらに、このシャッター
108の内側に光センサ106が設けられているものである。
ャッター108を駆動するシャッター駆動手段116とを備え、さらに、このシャッター
108の内側に光センサ106が設けられているものである。
本実施形態では、異常検出処理中において、第2実施形態と同様に、シャッター108
により光出射口107を塞いでおく。また、異常検出処理のステップST1において、垂
直ミラー104からの反射光が光センサ106に結合されるように、垂直ミラー104の
反射面が固定される。その他の基本的な異常検出処理のステップについては、第1実施形
態と同様である。
により光出射口107を塞いでおく。また、異常検出処理のステップST1において、垂
直ミラー104からの反射光が光センサ106に結合されるように、垂直ミラー104の
反射面が固定される。その他の基本的な異常検出処理のステップについては、第1実施形
態と同様である。
本実施形態によれば、光出射口107に重なる位置に光センサ106を設けた場合であ
っても、外部へのレーザ光の漏洩を防止しつつ、異常検出処理を実行することができる。
このように、シャッターを利用することにより、光センサ106の配置の制約をなくすこ
とができる。
っても、外部へのレーザ光の漏洩を防止しつつ、異常検出処理を実行することができる。
このように、シャッターを利用することにより、光センサ106の配置の制約をなくすこ
とができる。
本発明は、上記の実施形態の説明に限定されない。
例えば、振動ミラー1の構造に限定はない。例えば、可動板11は円形以外の多角形で
もよい。また、本実施形態では、1次元1自由度で駆動するタイプの振動ミラー1を例示
したが、2次元に駆動するタイプの振動ミラーであってもよく、また、1次元2自由度で
駆動するタイプの振動ミラーであってもよい。2次元に駆動するタイプの振動ミラーを用
いた場合には、垂直ミラー104は不要である。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
例えば、振動ミラー1の構造に限定はない。例えば、可動板11は円形以外の多角形で
もよい。また、本実施形態では、1次元1自由度で駆動するタイプの振動ミラー1を例示
したが、2次元に駆動するタイプの振動ミラーであってもよく、また、1次元2自由度で
駆動するタイプの振動ミラーであってもよい。2次元に駆動するタイプの振動ミラーを用
いた場合には、垂直ミラー104は不要である。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
1…振動ミラー、11…可動板、12…支持枠、13…弾性支持部、20…ホルダ、2
1…反射膜、22…磁石、23…コイル、101…レーザ光源、101R…赤色レーザ光
源、101G…緑色レーザ光源、101B…青色レーザ光源、102,102R,102
G,102B…ダイクロイックミラー、103,103R,103G,103B…フォト
ダイオード、104…垂直ミラー、105…筐体、106…光センサ、107…光出射口
、108…シャッター、110…レーザ駆動手段、111…水平ミラー駆動手段、112
…垂直ミラー駆動手段、113…制御手段、114…記憶手段、115…映像ソース、1
16…シャッター駆動手段
1…反射膜、22…磁石、23…コイル、101…レーザ光源、101R…赤色レーザ光
源、101G…緑色レーザ光源、101B…青色レーザ光源、102,102R,102
G,102B…ダイクロイックミラー、103,103R,103G,103B…フォト
ダイオード、104…垂直ミラー、105…筐体、106…光センサ、107…光出射口
、108…シャッター、110…レーザ駆動手段、111…水平ミラー駆動手段、112
…垂直ミラー駆動手段、113…制御手段、114…記憶手段、115…映像ソース、1
16…シャッター駆動手段
Claims (7)
- 光源と、
前記光源から出射された光を偏向させることにより画像を表示させる、1つ又は複数の
ミラーを含む光学系と、
各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で前記光学系を通過した光を受光して、
当該光の強度を測定する光センサと、
前記光センサにより測定された光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に応じて
エラーの有無を判定する判定手段と、
を有する光走査装置。 - 前記光センサは、外部への光の出射口とは異なる位置に設けられている、
請求項1記載の光走査装置。 - 外部への光の出射口の開閉を制御するシャッターをさらに有し、
前記光センサは、前記シャッターの内側に設けられている、
請求項1記載の光走査装置。 - 光源からの光を1つ又は複数のミラーを含む光学系を用いて偏向させることにより画像
を表示する光走査装置の異常検出方法であって、
起動時に、各ミラーの反射面を所定の位置に固定した状態で、前記光学系へ向けて前記
光源から光を出射する工程と、
前記ミラーを含む光学系を通過した光の強度を測定する工程と、
測定された前記光の強度と、基準強度とを比較して、比較結果に応じてエラーの有無を
判定する工程と、
を有する光走査装置の異常検出方法。 - 前記光を出射する工程において、各ミラーの反射面を、前記光学系を通過した光が外部
へ出射されない位置に固定する、
請求項4記載の光走査装置の異常検出方法。 - 前記光を出射する工程は、外部への光の出射口をシャッターにより閉じた状態で行なう
、
請求項4記載の光走査装置の異常検出方法。 - 前記光走査装置は、互いに異なる波長帯域の光を出射する複数の光源を有し、
前記光を出射する工程及び前記光の強度を測定する工程は、前記光源毎に別々に行なう
、
請求項4記載の光走査装置の異常検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008047303A JP2009204903A (ja) | 2008-02-28 | 2008-02-28 | 光走査装置及びその異常検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008047303A JP2009204903A (ja) | 2008-02-28 | 2008-02-28 | 光走査装置及びその異常検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009204903A true JP2009204903A (ja) | 2009-09-10 |
Family
ID=41147237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008047303A Withdrawn JP2009204903A (ja) | 2008-02-28 | 2008-02-28 | 光走査装置及びその異常検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009204903A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014149478A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Seiko Epson Corp | 画像表示装置およびヘッドマウントディスプレイ |
JP2018165810A (ja) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | 株式会社デンソーテン | 発光装置および測距システム |
CN110088645A (zh) * | 2016-10-19 | 2019-08-02 | 罗伯特·博世有限公司 | 3d激光雷达传感器 |
-
2008
- 2008-02-28 JP JP2008047303A patent/JP2009204903A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014149478A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Seiko Epson Corp | 画像表示装置およびヘッドマウントディスプレイ |
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JP2022003344A (ja) * | 2016-10-19 | 2022-01-11 | ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh | 3dライダセンサ |
JP7507133B2 (ja) | 2016-10-19 | 2024-06-27 | ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 3dライダセンサ |
JP2018165810A (ja) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | 株式会社デンソーテン | 発光装置および測距システム |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20110510 |