JPH0819533A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPH0819533A JPH0819533A JP17491994A JP17491994A JPH0819533A JP H0819533 A JPH0819533 A JP H0819533A JP 17491994 A JP17491994 A JP 17491994A JP 17491994 A JP17491994 A JP 17491994A JP H0819533 A JPH0819533 A JP H0819533A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
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- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 3
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】X線CT装置においては被検体内部に金属等の
X線高吸収体が混入した場合の、メタルアーチファクト
を低減することを目的とする。 【構成】本発明の構成は、再構成画像上から関心領域等
を手段1で設定し、その関心領域から領域設定手段と設
定された領域を補間処理手段2で補間処理し、補間処理
した投影データを再構成する。 【効果】本手法はメタルアーチファクトの特徴の1つで
ある投影データ上のピークを、金属体等の高吸収体の影
響を受けていないチャンネルのデータから補間処理によ
り投影データを推測することにより、この補正された投
影データを再構成することによりメタルアーチファクト
を低減させ、メタルアーチファクトによって隠されてい
た画像情報を周囲の状況に合うように表示化させる事が
できる。
X線高吸収体が混入した場合の、メタルアーチファクト
を低減することを目的とする。 【構成】本発明の構成は、再構成画像上から関心領域等
を手段1で設定し、その関心領域から領域設定手段と設
定された領域を補間処理手段2で補間処理し、補間処理
した投影データを再構成する。 【効果】本手法はメタルアーチファクトの特徴の1つで
ある投影データ上のピークを、金属体等の高吸収体の影
響を受けていないチャンネルのデータから補間処理によ
り投影データを推測することにより、この補正された投
影データを再構成することによりメタルアーチファクト
を低減させ、メタルアーチファクトによって隠されてい
た画像情報を周囲の状況に合うように表示化させる事が
できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線CT装置に関し、特
に被検体内部に金属等のX線高吸収体がある場合、再構
成画像に生じるメタルアーチファクトと呼ばれるストリ
ーク状のアーチファクトを低減するX線CT装置に関す
る。
に被検体内部に金属等のX線高吸収体がある場合、再構
成画像に生じるメタルアーチファクトと呼ばれるストリ
ーク状のアーチファクトを低減するX線CT装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】X線CT装置においては、被検体の内部
に金属等のX線高吸収体が混入すると、再構成画像上の
金属位置からと画像周辺部にメタルアーチファクトと呼
ばれる強いストリーク状のアーチファクトが発生し臨床
診断の妨げになっている。このメタルアーチファクトの
発生原因は様々あり、特徴としては被検体内部に金属体
成分等のX線高吸収体が混入した場合、投影データ上に
は鋭いピークとなってあらわれる。
に金属等のX線高吸収体が混入すると、再構成画像上の
金属位置からと画像周辺部にメタルアーチファクトと呼
ばれる強いストリーク状のアーチファクトが発生し臨床
診断の妨げになっている。このメタルアーチファクトの
発生原因は様々あり、特徴としては被検体内部に金属体
成分等のX線高吸収体が混入した場合、投影データ上に
は鋭いピークとなってあらわれる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】補正方法としては、メ
タルアーチファクトが発生している画像から、メタルア
ーチファクト成分のみ抽出し、このメタルアーチファク
ト成分を原画像から引くことにより補正とする手法等が
ある。しかしこの方法はメタルアーチファクト成分のみ
の抽出が非常に困難であることから実用的な補正画像は
得られていない。またその他の手法では、メタルアーチ
ファクトが発生している画像からメタル形状を抽出し各
投影角度から各計測データにおけるメタルの寄与度を算
出して線質硬化特性等を補正する方法もあるが、計算時
間が著しく増加してしまい実用にならない等の問題があ
る。
タルアーチファクトが発生している画像から、メタルア
ーチファクト成分のみ抽出し、このメタルアーチファク
ト成分を原画像から引くことにより補正とする手法等が
ある。しかしこの方法はメタルアーチファクト成分のみ
の抽出が非常に困難であることから実用的な補正画像は
得られていない。またその他の手法では、メタルアーチ
ファクトが発生している画像からメタル形状を抽出し各
投影角度から各計測データにおけるメタルの寄与度を算
出して線質硬化特性等を補正する方法もあるが、計算時
間が著しく増加してしまい実用にならない等の問題があ
る。
【0004】本発明の目的は再構成画像上のメタルアー
チファクトを低減し診断の低下を抑制すると共に、メタ
ル位置以外の撮影部位の劣化を起こさないでメタルアー
チファクトにより隠されてしまった画像情報を可視化す
るX線CT装置を提供することにある。
チファクトを低減し診断の低下を抑制すると共に、メタ
ル位置以外の撮影部位の劣化を起こさないでメタルアー
チファクトにより隠されてしまった画像情報を可視化す
るX線CT装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、メタルアー
チファクトが発生している画像の投影データに対して処
理対象領域を設定し、この設定した領域内を近傍のチャ
ンネルから補間処理で求めた値や、ある値以上のデータ
の場合は特定の値に計測データを置き換えることによ
り、原画像の画質を劣化させずにメタルアーチファクト
を低減することで達成される。
チファクトが発生している画像の投影データに対して処
理対象領域を設定し、この設定した領域内を近傍のチャ
ンネルから補間処理で求めた値や、ある値以上のデータ
の場合は特定の値に計測データを置き換えることによ
り、原画像の画質を劣化させずにメタルアーチファクト
を低減することで達成される。
【0006】
【作用】メタルアーチファクトが発生している画像上で
関心領域を設定することで、その関心領域に相当する投
影データ上の領域を計測幾何学位置関係から求めること
ができる。この領域内を処理対象として投影データを近
傍のチャンネルから補間処理で求めた値や特定値に置き
換えることによりメタルピーク値が連続的に抑制され
る。そのため、この補正された投影データを再構成する
ことによりメタルアーチファクトが低減され、またメタ
ルアーチファクトによって隠されていた部分がその周囲
の映像に合った形で可視化された画像を得ることができ
る。
関心領域を設定することで、その関心領域に相当する投
影データ上の領域を計測幾何学位置関係から求めること
ができる。この領域内を処理対象として投影データを近
傍のチャンネルから補間処理で求めた値や特定値に置き
換えることによりメタルピーク値が連続的に抑制され
る。そのため、この補正された投影データを再構成する
ことによりメタルアーチファクトが低減され、またメタ
ルアーチファクトによって隠されていた部分がその周囲
の映像に合った形で可視化された画像を得ることができ
る。
【0007】
(実施例1)以下、図面を用いて本発明の実施例1を詳
細に説明する。まず図1を用いて実施例全体の流れを説
明する。図1は全体のフローチャートである。操作者は
再構成画像上でメタルアーチファクトを含む関心領域を
設定する。この第1実施例では、メタルアーチファクト
を含む関心領域について着目し、その関心領域の中心座
標位置を指定し、取り込む。ここで中心座標位置の指定
はマウスカーソルで行う例、マウスカーソルを使わずに
ソフト的に求める例がある。つぎにそれら中心位置座標
から、サイノグラム上での金属体のピーク軌跡を求め、
このピーク軌跡から領域設定手段1により、関心領域に
相当するその画像の投影データ上の処理対象領域を求め
る。そして、この投影データ上の該領域内を、補間処理
手段2によって近傍の投影データからの補間処理により
求めた投影データに置き換える。置き換えられた投影デ
ータを再構成処理手段で再構成することによりメタルア
ーチファクトが低減された良好な画像が得られる。
細に説明する。まず図1を用いて実施例全体の流れを説
明する。図1は全体のフローチャートである。操作者は
再構成画像上でメタルアーチファクトを含む関心領域を
設定する。この第1実施例では、メタルアーチファクト
を含む関心領域について着目し、その関心領域の中心座
標位置を指定し、取り込む。ここで中心座標位置の指定
はマウスカーソルで行う例、マウスカーソルを使わずに
ソフト的に求める例がある。つぎにそれら中心位置座標
から、サイノグラム上での金属体のピーク軌跡を求め、
このピーク軌跡から領域設定手段1により、関心領域に
相当するその画像の投影データ上の処理対象領域を求め
る。そして、この投影データ上の該領域内を、補間処理
手段2によって近傍の投影データからの補間処理により
求めた投影データに置き換える。置き換えられた投影デ
ータを再構成処理手段で再構成することによりメタルア
ーチファクトが低減された良好な画像が得られる。
【0008】図2、図3は再構成画像から、サイノグラ
ムの上で金属体によるピークの軌跡の求め方の説明図で
ある。図2は、金属体4が被検体の断層部位に存在する
例であり、図2(イ)が、ある任意の投影角(ビュー角
とも云う)でのX線源3とX線検出器4との位置関係を
示す。座標系としては、投影角度から0゜(X線源3の
開始位置)の時のファンビーム中心線に重なる縦軸をY
軸とし、断層部位の中心位置を通り且つY軸に水平に直
交する横軸をX軸とするX−Y軸を想定するやり方(固
定座標系)、各投影角度毎に上記の如き関係に立つX−
Y軸を想定するやり方(回転座標系)のいずれかを採用
する。図2(ロ)は、図2(イ)における位置関係を示
す図であり再構成画像(断層像)上の金属体4によるア
ームファクトの中心座標を(x,y)とし、投影角をθ
(ここで投影角とは、固定座標系のもとでの、X軸から
ファンビームX線の中心線とのなす角である。前述の投
影角度0゜とは、この例では投影角度θ=90゜の例と
なる。この差は投影角の定義だけによる)とした例であ
る。
ムの上で金属体によるピークの軌跡の求め方の説明図で
ある。図2は、金属体4が被検体の断層部位に存在する
例であり、図2(イ)が、ある任意の投影角(ビュー角
とも云う)でのX線源3とX線検出器4との位置関係を
示す。座標系としては、投影角度から0゜(X線源3の
開始位置)の時のファンビーム中心線に重なる縦軸をY
軸とし、断層部位の中心位置を通り且つY軸に水平に直
交する横軸をX軸とするX−Y軸を想定するやり方(固
定座標系)、各投影角度毎に上記の如き関係に立つX−
Y軸を想定するやり方(回転座標系)のいずれかを採用
する。図2(ロ)は、図2(イ)における位置関係を示
す図であり再構成画像(断層像)上の金属体4によるア
ームファクトの中心座標を(x,y)とし、投影角をθ
(ここで投影角とは、固定座標系のもとでの、X軸から
ファンビームX線の中心線とのなす角である。前述の投
影角度0゜とは、この例では投影角度θ=90゜の例と
なる。この差は投影角の定義だけによる)とした例であ
る。
【0009】ここで、再構成画像上での中心座標(x,
y)は、マウスカーソル等で指定し取り込んだ値であ
る。この座標(x,y)のファンビーム開き角αを数1
により算出する。
y)は、マウスカーソル等で指定し取り込んだ値であ
る。この座標(x,y)のファンビーム開き角αを数1
により算出する。
【数1】 数1でのrとは、X−Y座標系の原点とX線源との距離
である。また、開き角αとは、X線源3と金属4との計
測幾何学位置関係から金属体を透過したX線ビームの角
度であり、具体的には、そのX線ビームとその時のX線
ファンビームの中心ビームとのなす角度である。
である。また、開き角αとは、X線源3と金属4との計
測幾何学位置関係から金属体を透過したX線ビームの角
度であり、具体的には、そのX線ビームとその時のX線
ファンビームの中心ビームとのなす角度である。
【0010】開き角αを算出しているのは、再構成画像
上の位置(x,y)を計測空間上の位置に逆変換するた
めである。このことを図3で説明する。図3(イ)はプ
ロファイルデータ例を示し、図3(ロ)はサイノグラム
データ例を示し、図3(ハ)はサイノグラムデータの補
間例を示す図である。図3(イ)のプロファィルとは、
ある投影角度(以下、ビュー)における、横軸にX線を
検出器20のチャンネル番号、縦軸に投影強度(投影デ
ータの大きさ)を取った場合での投影データの表し方を
云う。図3(ロ)のサイノグラムとは、横軸にチャンネ
ル番号、縦軸にビューを取った場合の投影データの表し
方を云う。
上の位置(x,y)を計測空間上の位置に逆変換するた
めである。このことを図3で説明する。図3(イ)はプ
ロファイルデータ例を示し、図3(ロ)はサイノグラム
データ例を示し、図3(ハ)はサイノグラムデータの補
間例を示す図である。図3(イ)のプロファィルとは、
ある投影角度(以下、ビュー)における、横軸にX線を
検出器20のチャンネル番号、縦軸に投影強度(投影デ
ータの大きさ)を取った場合での投影データの表し方を
云う。図3(ロ)のサイノグラムとは、横軸にチャンネ
ル番号、縦軸にビューを取った場合の投影データの表し
方を云う。
【0011】図3のプロファィル上で、波形部8が投影
データであり、その中のピーク部8Aが金属体4による
アーチファクトの部分であって高輝度となっていること
がわかる。ピーク部8Aを、ビュー毎にどうなるかを、
チャンネル番号との関係で示したのが図3(ロ)のピー
ク軌跡9である。ピーク部8Aの中心位置が、前記マウ
スカーソル等で指定した中心位置(x、y)であり、ピ
ーク軌跡9とは、この中心位置(x、y)に対し、図2
の如きX線源3を断層部位の周囲に回転させてX線CT
スキャン計測を行った時の、その中心位置(x、y)の
各ビュー毎の対応するチャンネル番号の軌跡でもある。
データであり、その中のピーク部8Aが金属体4による
アーチファクトの部分であって高輝度となっていること
がわかる。ピーク部8Aを、ビュー毎にどうなるかを、
チャンネル番号との関係で示したのが図3(ロ)のピー
ク軌跡9である。ピーク部8Aの中心位置が、前記マウ
スカーソル等で指定した中心位置(x、y)であり、ピ
ーク軌跡9とは、この中心位置(x、y)に対し、図2
の如きX線源3を断層部位の周囲に回転させてX線CT
スキャン計測を行った時の、その中心位置(x、y)の
各ビュー毎の対応するチャンネル番号の軌跡でもある。
【0012】図3(イ)、(ロ)とは投影データ上での
事であり、これは再構成像でのことではない。そこで、
再構成像上の位置(x、y)を投影データ上での位置に
逆変換することが必要となる。即ち、(数1)でビュー
位置であるθを次々に更新してゆき、対応するαを算出
する。開き角αが求まると、計測空間上では一義的に対
応するチャンネル番号CH(α)が定まる。
事であり、これは再構成像でのことではない。そこで、
再構成像上の位置(x、y)を投影データ上での位置に
逆変換することが必要となる。即ち、(数1)でビュー
位置であるθを次々に更新してゆき、対応するαを算出
する。開き角αが求まると、計測空間上では一義的に対
応するチャンネル番号CH(α)が定まる。
【0013】かかる9個の更新例によるサイノグラム例
を図3(ハ)に示す。図で小マル印6で示したのが、離
散的に更新したビュー角θに対する、チャンネル番号C
H(α)である。ここで、離散的としたのは、ビュー角
が離散的であること(例えば角度ピッチが1゜とか2
゜)そうした離散的なビュー角に一対一に対応させるか
(即ち、1゜とか2゜とかのピッチ角でビュー角を設定
するか)、又は離散的なビュー角を更に離散的にして選
び出しピーク軌跡を得るビュー角θをその選び出したも
のに対応させるか(例えば30゜とか40゜とかのピッ
チ角で図3(ハ)のビュー角を設定するか)、のいずれ
かを採用すること、による。
を図3(ハ)に示す。図で小マル印6で示したのが、離
散的に更新したビュー角θに対する、チャンネル番号C
H(α)である。ここで、離散的としたのは、ビュー角
が離散的であること(例えば角度ピッチが1゜とか2
゜)そうした離散的なビュー角に一対一に対応させるか
(即ち、1゜とか2゜とかのピッチ角でビュー角を設定
するか)、又は離散的なビュー角を更に離散的にして選
び出しピーク軌跡を得るビュー角θをその選び出したも
のに対応させるか(例えば30゜とか40゜とかのピッ
チ角で図3(ハ)のビュー角を設定するか)、のいずれ
かを採用すること、による。
【0014】図3(ハ)で、隣り合うビュー角との間の
サイノグラムデータ7は、正弦波関数で近似する。隣り
合う2点間を正弦波関数で近似するには2点の座標をも
とに振幅、位相角を求めればよい。いま2点の座標が
(x1、y1)、(x2、y2)とれば振幅A及び位相角φ
は以下の式で求めることができる。
サイノグラムデータ7は、正弦波関数で近似する。隣り
合う2点間を正弦波関数で近似するには2点の座標をも
とに振幅、位相角を求めればよい。いま2点の座標が
(x1、y1)、(x2、y2)とれば振幅A及び位相角φ
は以下の式で求めることができる。
【数2】
【数3】
【数4】
【0015】理論的には任意のビユーは2点取れば全ビ
ューに亘って近似できるが本実施例1では精度向上の為
任意に計算したビュー数は9点であり、全ビューを8区
間にわけ近似した。当然この近似を用いず、各投影角度
(前述した1゜とか2゜とかのピッチ角度で得たビュー
角度のこと)計算によってピーク軌跡を求めることも可
能である。
ューに亘って近似できるが本実施例1では精度向上の為
任意に計算したビュー数は9点であり、全ビューを8区
間にわけ近似した。当然この近似を用いず、各投影角度
(前述した1゜とか2゜とかのピッチ角度で得たビュー
角度のこと)計算によってピーク軌跡を求めることも可
能である。
【0016】処理対象領域は、前記した金属体中心によ
るピークの軌跡に沿って領域設定手段1により、図4の
領域10に示すように求めることができる。処理対象領
域は、計測して得た投影データに対して行う。再構成像
を得た後では投影データは不要としてすてることがある
が、本実施例ではこの投影データをそのまま記憶してお
き、再使用する。投影データは、投影角度(ビュー)θ
とチャンネルCHとで定まるアドレス空間上に格納され
ている。そこで、図3の如く求めたサイノグラムデータ
(θとCH(α))をアドレスとして、投影データを読
出す。この投影データはピーク値対応の投影データであ
る。更に、ピーク値アドレス(θとCH(α))につい
て、各ビューθ毎にCH(α)の前後のチャンネルを走
査し、ピークの始まりSと終わりEのチャンネルを求め
る。始まりSと終わりEのチャンネルは図4に示す如き
定義に従う。ピークの始まりSと終わりEのチャンネル
がメタルアーチファクトのビュー毎の幅となる。これを
図3で求めた全ビューについて行えば、図4に示す処理
対象領域10が求まる。
るピークの軌跡に沿って領域設定手段1により、図4の
領域10に示すように求めることができる。処理対象領
域は、計測して得た投影データに対して行う。再構成像
を得た後では投影データは不要としてすてることがある
が、本実施例ではこの投影データをそのまま記憶してお
き、再使用する。投影データは、投影角度(ビュー)θ
とチャンネルCHとで定まるアドレス空間上に格納され
ている。そこで、図3の如く求めたサイノグラムデータ
(θとCH(α))をアドレスとして、投影データを読
出す。この投影データはピーク値対応の投影データであ
る。更に、ピーク値アドレス(θとCH(α))につい
て、各ビューθ毎にCH(α)の前後のチャンネルを走
査し、ピークの始まりSと終わりEのチャンネルを求め
る。始まりSと終わりEのチャンネルは図4に示す如き
定義に従う。ピークの始まりSと終わりEのチャンネル
がメタルアーチファクトのビュー毎の幅となる。これを
図3で求めた全ビューについて行えば、図4に示す処理
対象領域10が求まる。
【0017】即ち図4の領域10に示した処理対象領域
の算出方法は、各投影角度のピークチャンネルからチャ
ンネルの正方向、逆方向に投影データを走査して、処理
対象領域を設定する。各処理対象領域は各投影角度毎に
求まる。処理対象領域を設定することは言い換えれば金
属体によるピークの始まりと終わりを見つける事になる
が、この見つけ方は画像処理でよく用いられるラプラシ
アン等の手法を用いる事により求めることができる。ま
たラプラシアン等を用いなくても、差分データの特異的
な変化により見つける事も可能である。
の算出方法は、各投影角度のピークチャンネルからチャ
ンネルの正方向、逆方向に投影データを走査して、処理
対象領域を設定する。各処理対象領域は各投影角度毎に
求まる。処理対象領域を設定することは言い換えれば金
属体によるピークの始まりと終わりを見つける事になる
が、この見つけ方は画像処理でよく用いられるラプラシ
アン等の手法を用いる事により求めることができる。ま
たラプラシアン等を用いなくても、差分データの特異的
な変化により見つける事も可能である。
【0018】処理対象領域10を設定できれば、言い換
えれば金属体による投影データ上のピークの始まりSと
終わりEのチャンネルを設定できれば、この近傍の金属
体の影響を受けていない正常なチャンネルから、ピーク
内のチャンネルのデータを補間により推測することがで
きる。これが補間手段2である。
えれば金属体による投影データ上のピークの始まりSと
終わりEのチャンネルを設定できれば、この近傍の金属
体の影響を受けていない正常なチャンネルから、ピーク
内のチャンネルのデータを補間により推測することがで
きる。これが補間手段2である。
【0019】補間の方法は例えば図5(イ)に示すよう
に、ピーク近傍の正常な数チャンネルC1、C2から2次
関数で補間してしまい、ピークを全く無くす方法があ
る。他の方法には、図5(ロ)がある。図5(ロ)にお
いて、図5(イ)で求めた2次補間で得たものを、補間
前のものから差し引いて補間によって金属体によるピー
クの成分を投影データ上で抽出する。これにgain定
数を乗算して、オリジナルの投影データから引く。
に、ピーク近傍の正常な数チャンネルC1、C2から2次
関数で補間してしまい、ピークを全く無くす方法があ
る。他の方法には、図5(ロ)がある。図5(ロ)にお
いて、図5(イ)で求めた2次補間で得たものを、補間
前のものから差し引いて補間によって金属体によるピー
クの成分を投影データ上で抽出する。これにgain定
数を乗算して、オリジナルの投影データから引く。
【0020】補間処理によるピーク付近の投影データの
変化は図6に示すようになる。図6(イ)は補間前の金
属体によるピーク形状であり、(ロ)が補間後のピーク
形状である。補間処理した場合にはチャンネル間の不連
続性が考えられるため、補間処理後は、処理対象領域と
その近傍の数チャンネルに渡って移動平均処理を施す。
以上の処理を行った補正投影データを再構成すれば、原
画像を劣化させずにメタルアーチファクトを低減するこ
とができる。これにより、メタルアーチファクトにより
隠されてしまった画像情報を周囲の状況に合うような様
子で可視化することができる。
変化は図6に示すようになる。図6(イ)は補間前の金
属体によるピーク形状であり、(ロ)が補間後のピーク
形状である。補間処理した場合にはチャンネル間の不連
続性が考えられるため、補間処理後は、処理対象領域と
その近傍の数チャンネルに渡って移動平均処理を施す。
以上の処理を行った補正投影データを再構成すれば、原
画像を劣化させずにメタルアーチファクトを低減するこ
とができる。これにより、メタルアーチファクトにより
隠されてしまった画像情報を周囲の状況に合うような様
子で可視化することができる。
【0021】(実施例2)実施例1では画像から関心領
域として、金属体の中心位置座標を設定し、領域設定手
段1により処理対象領域を求めた。実施例2は、金属体
の形状から処理対象領域を算出するものである。図7は
実施例2の全体の流れを示すフローチャートである。ま
ず領域設定手段11により操作者が再構成画像上で金属
体形状の境界に沿ったROIを設定する、またはCT値
のしきい値処理等により金属体のみの画像13を作成す
る等の処理を施し、ROIで囲まれた領域または金属の
みの画像をReprojection(再構成画像デー
タから投影データを得る手法)しこれを処理対象領域と
する方法である。図8には金属体の形状21をROIで
設定した場合の処理対象領域の求め方を図示してある。
また図9にはCT値のしきい値処理により金属体のみの
画像12を作成し、処理対象領域を得る方法を図示し
た。
域として、金属体の中心位置座標を設定し、領域設定手
段1により処理対象領域を求めた。実施例2は、金属体
の形状から処理対象領域を算出するものである。図7は
実施例2の全体の流れを示すフローチャートである。ま
ず領域設定手段11により操作者が再構成画像上で金属
体形状の境界に沿ったROIを設定する、またはCT値
のしきい値処理等により金属体のみの画像13を作成す
る等の処理を施し、ROIで囲まれた領域または金属の
みの画像をReprojection(再構成画像デー
タから投影データを得る手法)しこれを処理対象領域と
する方法である。図8には金属体の形状21をROIで
設定した場合の処理対象領域の求め方を図示してある。
また図9にはCT値のしきい値処理により金属体のみの
画像12を作成し、処理対象領域を得る方法を図示し
た。
【0022】これらの処理により処理対象領域、言い換
えれば金属体による投影データ上のピークの始まりと終
わりを見つけることができる。その後は実施例1と同様
の補間処理で処理をすることにより、原画像を劣化させ
ずにメタルアーチファクトを低減することができる。実
施例1、2とも補間には2次関数を用いて説明したが、
補間に用いる補間は2次以上の高次補間を使用すること
も可能である。
えれば金属体による投影データ上のピークの始まりと終
わりを見つけることができる。その後は実施例1と同様
の補間処理で処理をすることにより、原画像を劣化させ
ずにメタルアーチファクトを低減することができる。実
施例1、2とも補間には2次関数を用いて説明したが、
補間に用いる補間は2次以上の高次補間を使用すること
も可能である。
【0023】尚、再構成画像とは、モニタ画面に表示さ
れている画像であるが、これは再構成して得たCT値画
像を、ウインドレベル等にとって処理した画像である。
本実施例では、ウインドレベル等で処理した後の再構成
画像そのものを使う他に、CT値画像そのものを使って
もよい。
れている画像であるが、これは再構成して得たCT値画
像を、ウインドレベル等にとって処理した画像である。
本実施例では、ウインドレベル等で処理した後の再構成
画像そのものを使う他に、CT値画像そのものを使って
もよい。
【0024】
【発明の効果】本手法はメタルアーチファクトの特徴の
1つである投影データ上のピークを、金属体等の高吸収
体の影響を受けていないチャンネルのデータから補間処
理により投影データを推測することにより、この補正さ
れた投影データを再構成することによりメタルアーチフ
ァクトを低減させ、メタルアーチファクトによって隠さ
れていた部分が、周囲の映像で補間された画像情報にと
って代わることになり、一種の復元がなされる。
1つである投影データ上のピークを、金属体等の高吸収
体の影響を受けていないチャンネルのデータから補間処
理により投影データを推測することにより、この補正さ
れた投影データを再構成することによりメタルアーチフ
ァクトを低減させ、メタルアーチファクトによって隠さ
れていた部分が、周囲の映像で補間された画像情報にと
って代わることになり、一種の復元がなされる。
【図1】本発明の実施例1の全体の流れをフローチャー
ト図である。
ト図である。
【図2】実施例1の再構成画像からの金属体によるピー
ク軌跡の求め方の説明図である。
ク軌跡の求め方の説明図である。
【図3】図2の補足説明図である。
【図4】実施例1の処理対象領域の説明図である。
【図5】補間処理の説明図である。
【図6】補間処理によるピーク形状の変化の説明図であ
る。
る。
【図7】本発明の実施例2の全体の流れをフローチャー
ト図である。
ト図である。
【図8】実施例2の再構成画像から処理対象領域の求め
方の説明図である。
方の説明図である。
【図9】実施例2の処理対象領域の説明図である。
1 領域設定手段 2 補間処理手段 3 X線源 4 金属体 5 X線ビーム
Claims (2)
- 【請求項1】再構成画像上で、メタルアーチファクトを
含む関心領域を設定する手段と、その関心領域に相当す
る投影データ上の処理対象領域を算出する領域設定手段
と、この投影データ上の処理対象領域内の本来の投影デ
ータを、近傍の投影データからの補間処理で求めた投影
データに置き換える補間処理手段と、この置き換えた投
影データを含めて再構成する手段と、より成るX線CT
装置。 - 【請求項2】再構成画像上で、メタルアーチファクトを
含む関心領域をメタルの形状(又はメタルの疑似形状)
として設定する手段と、このメタルの形状(又は疑似形
状)に相当する投影データ上の処理対象領域を算出する
領域設定手段と、この投影データ上の処理対象領域内の
本来の投影データを、近傍の投影データからの補間処理
で求めた投影データに置き換える補間処理手段と、この
置き換えた投影データを含めて再構成する手段と、より
成るX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17491994A JPH0819533A (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17491994A JPH0819533A (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0819533A true JPH0819533A (ja) | 1996-01-23 |
Family
ID=15987011
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17491994A Pending JPH0819533A (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0819533A (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1994
- 1994-07-05 JP JP17491994A patent/JPH0819533A/ja active Pending
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