JP2009188190A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009188190A
JP2009188190A JP2008026553A JP2008026553A JP2009188190A JP 2009188190 A JP2009188190 A JP 2009188190A JP 2008026553 A JP2008026553 A JP 2008026553A JP 2008026553 A JP2008026553 A JP 2008026553A JP 2009188190 A JP2009188190 A JP 2009188190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
substrate
liquid
storage tank
processing liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008026553A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Nakada
宏幸 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2008026553A priority Critical patent/JP2009188190A/ja
Publication of JP2009188190A publication Critical patent/JP2009188190A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】 循環タイプと非循環タイプの処理液を含む三種以上の処理液を使用する場合であっても、貯留タンク内の処理液の交換の要否を容易に判別することが可能な基板処理装置を提供すること
【解決手段】 レシピのデータに基づいて、薬液Bを供給する第1の供給動作、循環水を供給する第2の供給動作、薬液Aを供給する第3の供給動作のいずれかを選択的に実行するとともに、レシピデータと貯留液データとに基づいて貯留タンク16に貯留された薬液Bまたは循環水を排液するか否かを判定し、貯留タンク16に貯留された薬液Bまたは循環水を排液したときには貯留液データを書き換える。
【選択図】 図1

Description

この発明は、基板に対して複数の処理液を供給することによりこの基板を処理する基板処理装置に関する。
このように、基板に対して複数の処理液を供給することによりこの基板を処理する基板処理装置は、例えば、特許文献1に記載されている。
また、特許文献2においては、処理液を貯留する貯留タンクを利用し、基板に供給された処理液を回収して循環使用する基板処理装置が開示されている。
特開2004−267965号公報 特開2004−273984号公報
このように複数種の処理液を使用する場合において、処理液を貯留する貯留タンクを利用し基板に供給された処理液を回収して循環使用するタイプの処理液と、基板に供給後に排出される非循環タイプの処理液との両者を使用する場合には、直前のレシピと次のレシピとを比較しただけでは、貯留タンクに貯留された処理液を交換すべきか否かの判断がつかないという問題がある。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、循環タイプと非循環タイプの処理液を含む三種以上の処理液を使用する場合であっても、貯留タンク内の処理液の交換の要否を容易に判別することが可能な基板処理装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、基板に供給後繰り返し循環使用される第1、第2の処理液と、基板に供給後に排出される第3の処理液とにより基板を処理する基板処理装置であって、基板を処理するための処理部と、前記処理部に基板を搬送する搬送手段と、前記処理部において基板に第1の処理液を供給するための第1供給手段と、前記処理部において基板に第2の処理液を供給するための第2供給手段と、前記処理部において基板に第3の処理液を供給するための第3供給手段と、第1の処理液または第2の処理液を貯留する貯留タンクと、前記処理部において基板に供給された第1の処理液または第2の処理液を前記貯留タンクに送液するとともに、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を前記第1供給手段または第2供給手段に送液する循環手段と、前記処理部において基板に供給された第3の処理液を排液する排液手段と、順次処理を行う複数のレシピを示すレシピデータと、前記貯留タンクに貯留されている液が第1の処理液、第2の処理液のいずれであるのかを示す貯留液データとを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶されたレシピのデータに基づいて、前記第1の供給手段により第1の処理液を供給する第1の供給動作、前記第2の供給手段により第2の処理液を供給する第2の供給動作、前記第3の供給手段により第3の処理液を供給する第3の供給動作のいずれかを選択的に実行させる動作切換手段と、前記動作切換手段による動作の切り換え時に、前記レシピデータと前記貯留液データとに基づいて、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液するか否かを判定する排液判定手段と、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液したときに、前記貯留液データを書き換える書換手段とを供えたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記動作切換手段により供給動作が切り換えられたときには、前記処理部を次に使用する処理液で洗浄する。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液したときには、前記貯留タンクを次に使用する処理液で洗浄する。
請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記記憶手段は、前記処理部を次に使用する処理液で洗浄するのに要する洗浄時間を記憶しており、前記搬送手段は、前記洗浄動作を開始してから前記洗浄時間の間、基板を前記処理部に搬送する動作を停止する。
請求項5に記載の発明は、請求項3に記載の発明において、前記記憶手段は、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液して次に使用する処理液で洗浄するのに要する排液洗浄時間を記憶しており、前記搬送手段は、前記排液動作を開始してから前記排液洗浄時間の間、基板を前記処理部に搬送する動作を停止する。
請求項1に記載の発明によれば、循環タイプと非循環タイプの処理液を含む三種以上の処理液を使用する場合であっても、貯留タンク内の処理液の交換の要否を容易に判別することが可能となる。
請求項2に記載の発明によれば、供給動作の切り換え後に処理部を洗浄することが可能となる。
請求項3に記載の発明によれば、処理液排液後に貯留タンクを洗浄することが可能となる。
請求項4および請求項5に記載の発明によれば、洗浄動作中に基板が搬送されるのを有効に防止することができる。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る基板処理装置の概要図である。
この基板処理装置は、表1に示すように、基板に供給後に排出される薬液Aにより処理を行うレシピ1と、基板に供給後繰り返し循環使用される薬液Bにより処理を行うレシピ2と、基板に供給後繰り返し循環使用される純水(以下「循環水」という)により処理を行うレシピ2と、基板に供給後に排出される純水(以下「直水」という)により処理を行うレシピ4との、4種類のレシピで基板を処理し得るものである。なお、この実施形態においては、薬液Aおよび薬液Bは、互いに異なる洗浄液である。
Figure 2009188190
この基板処理装置は、基板Wを処理するための処理部としての処理槽11と、この処理部に基板Wを搬送する搬送手段としての複数の搬送ローラ12と、貯留タンク16とを供える。この基板処理装置においては、搬送ローラ12により搬送される基板Wの表面に、スプレーノズル13、14、15のいずれかから、薬液A、薬液B、循環水、直水のいずれかがスプレーされ、その基板Wが処理される構成となっている。
薬液Aは、薬液Aの供給部26から、開閉弁21および管路41を介して、スプレーノズル13に供給され、スプレーノズル13から基板Wの表面にスプレーされる。基板Wに供給後の薬液Aは、処理槽11から開閉弁31、管路43および管路45を通過し、開閉弁24より排出される。
薬液Bは、薬液Bの供給部27から開閉弁22および管路42を介して、貯留タンク16に貯留される。貯留タンク16に貯留された薬液Bは、ポンプ51の作用により管路46を介して吸引され、開閉弁33および管路49を介して、スプレーノズル14に供給され、スプレーノズル14から基板Wの表面にスプレーされる。基板Wに供給後の薬液Bは、処理槽11から開閉弁32および管路44を通過し、貯留タンク16に回収される。貯留タンク16内の薬液Bの液位は、3個のセンサ17、18、19により、常に監視される。なお、貯留タンク16内の薬液Bを排出するときには、薬液Bは管路45を通過して開閉弁24より排出される。
循環水は、処理槽11ないに基板Wがないときに、開閉弁34、管路47および管路49を介してスプレーノズル14に供給され、スプレーノズル14から処理槽11内にスプレーされる。処理槽11内にスプレーされた循環水は、開閉弁32および管路44を介して貯留タンク16に回収されて所定量だけ貯留される。搬送ローラ12により基板Wが処理槽11内に搬送されると、貯留タンク16に貯留された循環水は、ポンプ51の作用により管路46、開閉弁33および管路49を介して、スプレーノズル14に供給され、スプレーノズル14から基板Wの表面にスプレーされる。基板Wに供給後の循環水は、処理槽11から開閉弁32および管路49を通過し、貯留タンク16に回収される。
循環水は、純水の供給部28から、開閉弁34、管路47および管路49を介して、スプレーノズル14に供給され、スプレーノズル14スプレーされる。基板Wに供給後の循環水は、処理槽11から開閉弁32および管路44を通過し、貯留タンク16に回収される。貯留タンク16に貯留された薬液Bは、ポンプ51の作用により管路46を介して吸引され、開閉弁33および管路49を介して、スプレーノズル14に供給され、スプレーノズル14から基板Wの表面にスプレーされる。貯留タンク16内の循環水の液位は、3個のセンサ17、18、19により、常に監視される。なお、貯留タンク16内の循環水を排出するときには、循環水は管路45を通過して開閉弁25より排出される。
直水は、純水の供給部28から、開閉弁35および管路48を介して、スプレーノズル15に供給され、スプレーノズル15から基板Wの表面にスプレーされる。基板Wに供給後の直水は、処理槽11から開閉弁31、管路43および管路45を通過し、開閉弁25より排出される。
なお、上述したように、薬液Aおよび薬液Bは開閉弁24を介して排出され、循環水および直水は開閉弁25を介して排出される。一方、後述する置換洗浄に使用された循環水および直水は、開閉弁23を介して排出される。
図2は、この発明に係る基板処理装置の主要な電気的構成を示すブロック図である。
この基板処理装置は、装置の制御に必要な動作プログラムが格納されたROM62と、制御時にデータ等が一時的にストアされるRAM63と、論理演算を実行するCPU61とから成る制御部60を有する。この制御部60は、この発明に係る動作切換手段、排液判定手段および書換手段として機能する。また、この制御部60におけるRAM63は、この発明に係る記憶手段として機能する。
この基板処理装置においては、順次処理を行う複数のレシピを示すレシピデータ(表1参照)と、貯留タンク16に貯留されている液が薬液Bであるか循環水であるかを示す貯留液データとから、貯留タンク16内の液を交換するか否かを判定し、必要に応じて排液、貯留タンク16の洗浄、給液を自動的に実行する。また、レシピが変更された場合には、処理槽11等の洗浄も実行する。
このとき、上記洗浄は、いずれも、処理槽11や貯留タンク16、および各種配管や搬送ローラ12に対して、次のレシピで使用する処理液供給することによる置換洗浄となる。但し、直水を使用したレシピ4に引き続き循環水を使用したレシピ3を実行する場合には、処理槽11等は清浄な状態であることから、洗浄は実行しない。
次に、上述した基板処理装置のより処理液の交換動作について説明する。図3乃至図6は、処理液の交換動作を示すフローチャートである。
処理液交換時には、最初に、初期設定を行う(ステップS1)。この初期設定時には、制御部60のRAM63に記憶された、順次処理を行う複数のレシピを示すレシピデータと貯留タンク16に貯留されている処理液を示す貯留液データが確認される。そして、次に実行すべきレシピの番号を確認する(ステップS2)。そして、次に実行すべきレシピが貯留タンク16を使用する、薬液Bによるレシピ2または循環水によるレシピ3であるか否かを判定する(ステップS3)。
次に実行すべきレシピが貯留タンクを使用する、薬液Bによるレシピ2または循環水によるレシピ3である場合には、貯留タンク16の内容物、すなわち、貯留タンク16内に貯留された処理液の種類を確認する(ステップS4)。そして、次のレシピで使用される処理液と貯留タンク16内に貯留された処理液とが同一であるかどうか確認する(ステップS5)。そして、次のレシピで使用される処理液と貯留タンク16内に貯留された処理液とが同一である場合には、前回のレシピの番号と次のレシピの番号が同一であるかどうか、すなわち、使用される処理液が同一であるかどうかを確認する(ステップS6)。
前回のレシピの番号と次のレシピの番号が同一である場合には、基板Wの投入指令を行い(ステップS7)、次のレシピによる処理を開始する(ステップS8)。そして、処理終了後、引き続き基板の処理を行うか否かを判定する(ステップS9)。次の基板の処理がある場合には、ステップS2に戻る。一方、基板の処理がない場合には、処理を終了する。
ステップS3において、次に実行すべきレシピが貯留タンク16を使用しない、薬液Aによるレシピ1または直水によるレシピ4である場合には、図4に示すように、前回のレシピの番号と次のレシピの番号が同一であるかどうか、すなわち、使用される処理液が同一であるかどうかを確認する(ステップS11)。前回のレシピの番号と次のレシピの番号が同一である場合には、図3に示すステップS7に移動し、次のレシピによる処理を開始する。
前回のレシピの番号と次のレシピの番号が異なる場合には、前回のレシピが直水を使用したレシピ4であるか否かを確認する(ステップS12)。そして、前回のレシピがレシピ4である場合には、図3に示すステップS7に移動し、次のレシピによる処理を開始する。
ステップS12で前回のレシピがレシピ4ではないと判定された場合には、基板投入禁止指令が出され、搬送ローラ12による基板Wの処理槽11への搬送動作を停止する(ステップS13)。そして、基板Wの払い出し動作が完了し処理槽11内から基板Wが完全に排出されたことを確認する(ステップS14)。
基板Wの払い出し動作が完了すれば、置換洗浄を行う(ステップS15)。この置換洗浄は、上述したように、処理槽11や各種配管あるいは搬送ローラ12に対して、次のレシピで使用する処理液供給することにより実行される。投入禁止時間が経過すれば(ステップS16)、図3に示すステップS7に移動し、次のレシピによる処理を開始する。この投入禁止時間は、処理槽11等を次に使用する処理液で洗浄するのに要する洗浄時間であり、制御部60におけるRAM63に記憶されている。
なお、上述した基板投入禁止と払い出し動作の完了の条件は、この基板処理装置の上流側の装置によって異なってくる。すなわち、この基板処理装置の上流側の装置が、基板Wを保持したままで問題のない装置である場合には、この基板処理装置内から基板Wが完全に排出された時点で置換洗浄を実行すればよい。一方、例えば、上流側の装置が基板Wを加熱処理するホットプレート等であった場合には、この基板処理装置の置換洗浄工程により、基板Wをオーバベークする可能性がある。この場合には、上流側の装置に対しても、基板Wの投入禁止を行うとともに、上流側の装置とこの基板処理装置の両方から基板Wが完全に排出された時点で置換洗浄を実行する必要がある。
図3におけるステップS5において次のレシピで使用される処理液と貯留タンク16内に貯留された処理液とが異なると判断された場合には、図5に示すように、基板投入禁止指令が出され、搬送ローラ12による基板Wの処理槽11への搬送動作を停止する(ステップS21)。そして、基板Wの払い出し動作が完了し処理槽11内から基板Wが完全に排出されたことを確認する(ステップS22)。
次に、貯留タンク16内の処理液を排出するとともに(ステップS23)、置換洗浄を実行する(ステップS24)。この置換洗浄は、上述したように、貯留タンク16や各種配管に対して、次のレシピで使用する処理液供給することにより実行される。
そして、置換洗浄が完了すれば、制御部60におけるRAM63に記憶されていたレシピデータに基づいて、貯留タンク16内に次のレシピで使用される処理液が貯留される(ステップS25)。また、制御部60におけるRAM63に記憶されていた貯留タンク16に貯留されている液が薬液Bであるか循環水であるかを示す貯留液データが書き換えられる(ステップS26)。
しかる後、投入禁止時間が経過すれば(ステップS27)、図3に示すステップS8に移動し、次のレシピによる処理を開始する。この投入禁止時間は、貯留タンク16内の処理液を排出し、貯留タンク16等を次に使用する処理液で洗浄し、貯留タンク16内に次のレシピで使用する処理液を緒注するのに要する排液洗浄時間であり、制御部60におけるRAM63に記憶されている。
図3におけるステップS6において、前回のレシピの番号と次のレシピの番号が同一でないと判断された場合には、図6に示すように、基板投入禁止指令が出され、搬送ローラ12による基板Wの処理槽11への搬送動作を停止する(ステップS31)。そして、基板Wの払い出し動作が完了し処理槽11内から基板Wが完全に排出されたことを確認する(ステップS32)。
基板Wの払い出し動作が完了すれば、置換洗浄を行う(ステップS33)。この置換洗浄は、上述場合と同様、処理槽11や各種配管あるいは搬送ローラ12に対して、次のレシピで使用する処理液供給することにより実行される。投入禁止時間が経過すれば(ステップS34)、図3に示すステップS8に移動し、次のレシピによる処理を開始する。
以上の動作を、処理液を具体的に特定して説明する。
前回のレシピが薬液Aを使用したレシピ1であり、貯留タンク16には薬液Bが貯留されており、かつ、次のレシピが循環水を使用するレシピ3である場合には、レシピ1の終了後、図1に示す開閉弁24を開放して貯留タンク16内の薬液Bを排出する。次に、開閉弁24を閉止するとともに、開閉弁31を閉止し、開閉弁32を開放する。しかる後、開閉弁34を開放し、純水の供給部28から管路47、49およびスプレーノズル14を介して処理槽11内に純水をスプレーし、この純水を開閉弁32および管路44を介して貯留タンク16に貯留する。そして、開閉弁33を開放し、ポンプ51の作用により、純水を貯留タンク16、管路46、49、スプレーノズル14、処理槽11、管路44から成る循環路中を循環させる。
この状態で、一定の時間が経過すれば、開閉弁23を開放して貯留タンク16内の純水を排出する。しかる後、開閉弁23を閉止し、開閉弁35を開放して、純水の供給部28から管路48およびスプレーノズル15を介して処理槽11内に純水をスプレーし、この純水を開閉弁32および管路44を介して貯留タンク16に貯留する。貯留タンク16に所定量の純水が貯留されれば、これを循環して循環水によるレシピ3を実行する。
また、前回のレシピが薬液Bを使用したレシピ2であり、貯留タンク16には薬液Bが貯留されており、かつ、次のレシピが直水を使用するレシピ4である場合には、レシピ2の終了後、開閉弁32を閉止するとともに、開閉弁31および開閉弁23を開放する。次に、開閉弁34を開放し、純水の供給部28から管路47、49およびスプレーノズル14を介して処理槽11内に純水をスプレーする。
この状態で一定の時間が経過すれば、開閉弁34を閉止して純水の供給を停止する。そして、開閉弁35を開放して、直水を使用したレシピ4を実行する。
なお、上述した実施形態においては、薬液A、薬液B、循環水および直水の4種類の処理液を使用しているが、3種類あるいは5種類以上の処理液を使用してもよい。
この発明に係る基板処理装置の概要図である。 この発明に係る基板処理装置の主要な電気的構成を示すブロック図である。 処理液の交換動作を示すフローチャートである。 処理液の交換動作を示すフローチャートである。 処理液の交換動作を示すフローチャートである。 処理液の交換動作を示すフローチャートである。
符号の説明
11 処理槽
12 搬送ローラ
13 スプレーノズル
14 スプレーノズル
15 スプレーノズル
16 貯留タンク
26 薬液Aの供給部
27 薬液Bの供給部
28 純水の供給部
51 ポンプ
60 制御部
61 CPU
62 ROM
63 RAM

Claims (5)

  1. 基板に供給後繰り返し循環使用される第1、第2の処理液と、基板に供給後に排出される第3の処理液とにより基板を処理する基板処理装置であって、
    基板を処理するための処理部と、
    前記処理部に基板を搬送する搬送手段と、
    前記処理部において基板に第1の処理液を供給するための第1供給手段と、
    前記処理部において基板に第2の処理液を供給するための第2供給手段と、
    前記処理部において基板に第3の処理液を供給するための第3供給手段と、
    第1の処理液または第2の処理液を貯留する貯留タンクと、
    前記処理部において基板に供給された第1の処理液または第2の処理液を前記貯留タンクに送液するとともに、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を前記第1供給手段または第2供給手段に送液する循環手段と、
    前記処理部において基板に供給された第3の処理液を排液する排液手段と、
    順次処理を行う複数のレシピを示すレシピデータと、前記貯留タンクに貯留されている液が第1の処理液、第2の処理液のいずれであるのかを示す貯留液データとを記憶する記憶手段と、
    前記記憶手段に記憶されたレシピのデータに基づいて、前記第1の供給手段により第1の処理液を供給する第1の供給動作、前記第2の供給手段により第2の処理液を供給する第2の供給動作、前記第3の供給手段により第3の処理液を供給する第3の供給動作のいずれかを選択的に実行させる動作切換手段と、
    前記動作切換手段による動作の切り換え時に、前記レシピデータと前記貯留液データとに基づいて、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液するか否かを判定する排液判定手段と、
    前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液したときに、前記貯留液データを書き換える書換手段と、
    を供えたことを特徴とする基板処理装置。
  2. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記動作切換手段により供給動作が切り換えられたときには、前記処理部を次に使用する処理液で洗浄する基板処理装置。
  3. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液したときには、前記貯留タンクを次に使用する処理液で洗浄する基板処理装置。
  4. 請求項2に記載の基板処理装置において、
    前記記憶手段は、前記処理部を次に使用する処理液で洗浄するのに要する洗浄時間を記憶しており、
    前記搬送手段は、前記洗浄動作を開始してから前記洗浄時間の間、基板を前記処理部に搬送する動作を停止する基板処理装置。
  5. 請求項3に記載の基板処理装置において、
    前記記憶手段は、前記貯留タンクに貯留された第1の処理液または第2の処理液を排液して次に使用する処理液で洗浄するのに要する排液洗浄時間を記憶しており、
    前記搬送手段は、前記排液動作を開始してから前記排液洗浄時間の間、基板を前記処理部に搬送する動作を停止する基板処理装置。
JP2008026553A 2008-02-06 2008-02-06 基板処理装置 Pending JP2009188190A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008026553A JP2009188190A (ja) 2008-02-06 2008-02-06 基板処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008026553A JP2009188190A (ja) 2008-02-06 2008-02-06 基板処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009188190A true JP2009188190A (ja) 2009-08-20

Family

ID=41071148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008026553A Pending JP2009188190A (ja) 2008-02-06 2008-02-06 基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009188190A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5726784B2 (ja) 処理液交換方法および基板処理装置
TWI616968B (zh) 基板液體處理裝置、基板液體處理裝置之清洗方法及記錄媒體
TWI345808B (en) Substrate processing apparatus
TWI690979B (zh) 基板處理裝置、基板處理裝置的洗淨方法
JP2015220318A5 (ja)
JP5313647B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP2004273984A (ja) 基板処理方法および基板処理装置
TWI471919B (zh) 基板處理裝置、基板處理方法、程式及記憶媒體
JP6278808B2 (ja) 液供給装置およびフィルタ洗浄方法
JP4997080B2 (ja) 基板処理装置
JP4869965B2 (ja) 基板処理方法および基板処理装置
JP2009188190A (ja) 基板処理装置
JPWO2019106927A1 (ja) 液体流通システム、処理ライン及び液体流通方法
KR101592880B1 (ko) 열교환기 화학세정 장치 및 그 방법
JP4541255B2 (ja) 基板処理装置
KR101100961B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP6805726B2 (ja) 風呂システム
JP2006202811A (ja) 基板処理装置
JP2005243814A (ja) 基板処理装置
JP2005252037A (ja) 洗浄処理装置
JP3695917B2 (ja) 基板処理装置
JP2023096517A (ja) 基板処理装置および処理液の交換方法
JP2006130068A (ja) 内視鏡洗浄装置、内視鏡洗浄プログラム及び内視鏡洗浄装置の制御装置
JP2010225832A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR20070069340A (ko) 웨이퍼 세정장치 및 방법