JP2009128082A - Icテスタ及び液晶駆動ドライバの試験方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバをICテスタが試験する液晶駆動ドライバの試験方法に改良を加えたものである。本方法は、液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧発生部により電圧を与え、電圧が与えられたピンの隣接ピンごとに、電圧測定部におけるアッテネータの抵抗により電圧を測定し、ピン間抵抗試験の判定を行うことを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するICテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧を与える電圧発生部と、
前記液晶駆動ドライバの多階調電圧を出力するピンごとに設けられ、入力を抵抗分圧によるアッテネータにより減衰が行え、電圧を測定する電圧測定部と、
階調電圧試験時に、前記電圧発生部をオフにし、前記電圧測定部が測定した電圧値により階調電圧試験を行い、ピン間抵抗試験時に、前記電圧発生部に電圧を与えさせ、前記電圧発生部が電圧を与えるピンの隣接ピンに対応する前記電圧測定部のアッテネータの抵抗による電圧を、前記電圧測定部に測定させ、この測定結果によりピン間抵抗試験の判定を行う制御部と
を有することを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明であって、
電圧測定部は、ピン間抵抗試験時に、アッテネータの2つの分圧抵抗を1つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明であって、
電圧測定部は、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第1のスイッチと、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第2のスイッチと、
この第2のスイッチの他端に一端を接続する第1の抵抗と、
この第1の抵抗の他端に一端を接続し、他端を接地する第2の抵抗と、
前記第1のスイッチの他端に一端を接続する第3のスイッチと、
前記第1の抵抗の他端に一端を接続する第4のスイッチと、
前記第3、第4のスイッチの他端に入力端を接続するA/D変換部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバをICテスタが試験する液晶駆動ドライバの試験方法において、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧発生部により電圧を与え、
電圧が与えられたピンの隣接ピンごとに、電圧測定部におけるアッテネータの抵抗により電圧を測定し、ピン間抵抗試験の判定を行うことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項4記載の発明であって、
アッテネータの2つの分圧抵抗を1つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、請求項4または5記載の発明であって、
階調電圧試験時に、液晶駆動ドライバごとに設けられた電圧測定部により、電圧を測定し、階調電圧試験を行うことを特徴とするものである。
図2において、スイッチSW1,SW2はDUTのピンに一端を電気的に接続する。抵抗r1は、スイッチSW2の他端に一端を接続する。抵抗r2は、抵抗r1の他端に一端を接続し、他端を接地する。そして、抵抗r1,r2はアッテネータを構成する。スイッチSW3は、スイッチSW1の他端に一端を接続する。スイッチSW4は、抵抗r1の他端に一端を接続する。A/D変換器31は、スイッチSW3,SW4の他端に入力端を接続する。
まず、階調電圧試験を行う場合、制御部4がスイッチSW1,SW3をオンし、スイッチSW2,SW4をオフし、電圧発生部2をオフとする。そして、図示しない信号発生部からDUT1に対して信号が与えられ、DUT1が階調電圧を出力する。この階調電圧を、スイッチSW1,SW3を介して、A/D変換器31でデジタルデータに変換し、制御部4に出力する。制御部4は、デジタルデータにより、階調電圧が期待値電圧になっているか判定し、DUT1の良否の判定を行う。なお、DUT1がソースドライバの場合は、階調電圧は0〜20Vの出力範囲で、ライン経路を選択したが、ゲートドライバの場合0〜40Vの出力範囲なので、抵抗r1,r2によるアッテネータ経路が選択される。
2 電圧発生部
3 電圧測定部
SW1〜SW4 スイッチ
r1,r2 抵抗
31 A/D変換器
4 制御部
R ピン間抵抗
Claims (6)
- 多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するICテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧を与える電圧発生部と、
前記液晶駆動ドライバの多階調電圧を出力するピンごとに設けられ、入力を抵抗分圧によるアッテネータにより減衰が行え、電圧を測定する電圧測定部と、
階調電圧試験時に、前記電圧発生部をオフにし、前記電圧測定部が測定した電圧値により階調電圧試験を行い、ピン間抵抗試験時に、前記電圧発生部に電圧を与えさせ、前記電圧発生部が電圧を与えるピンの隣接ピンに対応する前記電圧測定部のアッテネータの抵抗による電圧を、前記電圧測定部に測定させ、この測定結果によりピン間抵抗試験の判定を行う制御部と
を有することを特徴とするICテスタ。 - 電圧測定部は、ピン間抵抗試験時に、アッテネータの2つの分圧抵抗を1つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とする請求項1記載のICテスタ。
- 電圧測定部は、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第1のスイッチと、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第2のスイッチと、
この第2のスイッチの他端に一端を接続する第1の抵抗と、
この第1の抵抗の他端に一端を接続し、他端を接地する第2の抵抗と、
前記第1のスイッチの他端に一端を接続する第3のスイッチと、
前記第1の抵抗の他端に一端を接続する第4のスイッチと、
前記第3、第4のスイッチの他端に入力端を接続するA/D変換部と
を設けたことを特徴とする請求項1または2記載のICテスタ。 - 多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバをICテスタが試験する液晶駆動ドライバの試験方法において、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧発生部により電圧を与え、
電圧が与えられたピンの隣接ピンごとに、電圧測定部におけるアッテネータの抵抗により電圧を測定し、ピン間抵抗試験の判定を行うことを特徴とする液晶駆動ドライバの試験方法。 - アッテネータの2つの分圧抵抗を1つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とする請求項4記載の液晶駆動ドライバの試験方法。
- 階調電圧試験時に、液晶駆動ドライバごとに設けられた電圧測定部により、電圧を測定し、階調電圧試験を行うことを特徴とする請求項4または5記載の液晶駆動ドライバの試験方法。
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JPS6371669A (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-01 | Matsushita Electronics Corp | 電子回路装置の検査方法 |
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