JP2009033381A - 固体撮像装置およびその駆動方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】単位画素が2次元配列されてなる画素アレイ部10と、各単位画素を行毎に選択制御する行走査回路18と、単位画素の2次元配列の列毎に配置されて選択された行の単位画素群について列毎の各画素におけるアナログ信号をデジタル信号に変換する複数の列単位AD変換器24と、列走査により複数の列単位AD変換器24によるAD変換結果を順次出力する列走査回路40と、行走査回路と列単位AD変換器24とをタイミング制御するタイミング制御回路50とを備え、さらに、各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況を判定し、状況に達したときは列単位AD変換器24によるAD変換結果を、所定判定値対応のデジタル画素値に固定するAD変換結果調整手段Xを備える。
【選択図】図1
Description
光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配列されてなる画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択制御する行走査手段と、
前記画素アレイ部における前記単位画素の2次元配列の列毎に配置されて、前記行走査手段によって選択された行の単位画素群について列毎の各画素におけるアナログ信号をデジタル信号に変換する複数の列単位AD変換手段と、
列走査により前記複数の列単位AD変換手段によるAD変換結果を順次出力する列走査手段と、
前記行走査手段と前記列単位AD変換手段と前記列走査手段をタイミング制御する制御手段とを備え、
さらに、前記各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況を判定し、前記状況に達したときは前記列単位AD変換手段によるAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定するAD変換結果調整手段を備えたものである。
光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配列されてなる画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択するステップと、
前記選択された行の単位画素群について前記2次元配列の列毎に各画素におけるアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、
前記複数の列単位のAD変換結果を列走査により順次出力するステップとを含む固体撮像装置の駆動方法であって、
前記各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況を判定し、前記状況に達したときは前記列単位のAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定するものである。
前記列単位AD変換手段は、
参照電圧発生手段からの時間変化する参照電圧と、前記行走査手段によって選択された行の単位画素群について列毎の各画素における画素信号電圧とを比較する比較手段と、
前記時間変化する参照電圧の動作開始時点から前記比較手段の出力反転までの時間を測定し、前記出力反転時のカウント値をAD変換結果とするカウント手段とで構成されているという態様がある。
図1は本発明の実施の形態1における固体撮像装置Aの構成を示すブロック図である。この固体撮像装置Aは、列並列ADC搭載のCMOS型のイメージセンサとして構成されている。
実施の形態1では所定判定値に対応するデジタル画素値に固定する手段として、参照電圧Vrをジャンプさせる方法をとったが、本実施の形態ではカウンタのクロックを所定判定値に相当するデジタル画素値をカウントするまで動作させ、所定判定値に相当するデジタル画素値に到達した後は、カウント動作を行わないというものである。図4に本実施の形態の動作を示す。
(実施の形態3)
図5は本発明の実施の形態3における固体撮像装置Aの構成を示すブロック図である。図5において、実施の形態1の図1におけるのと同じ符号は同一構成要素を指している。
本発明の実施の形態4は、ダイナミックレンジの拡張のために、長時間露光信号と短時間露光信号とを合成するものである。露光信号は、暗い領域では傾斜が緩やかであり、明るい領域では傾斜が急である。長時間露光信号は、露光時間が長いので、暗い領域はともかく明るい領域では飽和しやすい。短時間露光信号は、露光時間が短いので、明るい領域でも飽和しにくい。長時間露光信号と短時間露光信号を別個にとり、両者を合成することにより、ダイナミックレンジを拡張する。
図10は本発明の実施の形態5における固体撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。本実施の形態においては、ランプ波形の参照電圧Vrの時間変化率について、長時間露光の1回目のサンプリング時と短時間露光の2回目のサンプリング時とで、時間変化率を異ならせている(長時間露光の方が時間変化率が大きい)。これにより、上記と同様の効果が得られる。
12 単位画素
14 行選択線
16 列信号線
18 行走査回路
20 列AD変換部
22 アナログCDS
24 列単位のAD変換器
26 列単位の比較器
28 列単位のアップダウンカウンタ
30 ラインメモリ
32 メモリセル
40 列走査回路
50 タイミング制御回路
60 DA変換器
70 不揮発性メモリ
80 デジタル比較回路
A 固体撮像装置(CMOSイメージセンサ)
Dx デジタル画素値
Hr 参照電圧判定値
Hx 信号電圧判定値
Vc 比較結果
Vr ランプ波形の参照電圧
Vrj 参照電圧飛躍上昇値
Vx 画素信号電圧
X AD変換結果調整手段
Claims (22)
- 光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配列されてなる画素アレイ部と、
前記画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択制御する行走査手段と、
前記画素アレイ部における前記単位画素の2次元配列の列毎に配置されて、前記行走査手段によって選択された行の単位画素群について列毎の各画素におけるアナログ信号をデジタル信号に変換する複数の列単位AD変換手段と、
列走査により前記複数の列単位AD変換手段によるAD変換結果を順次出力する列走査手段と、
前記行走査手段と前記列単位AD変換手段と前記列走査手段をタイミング制御する制御手段とを備え、
さらに、前記各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況を判定し、前記状況に達したときは前記列単位AD変換手段によるAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定するAD変換結果調整手段を備えた固体撮像装置。 - 前記AD変換結果調整手段は、短時間露光における画素信号電圧および長時間露光における画素信号電圧をそれぞれAD変換し合成するモードにおいて、前記長時間露光の画素信号電圧のAD変換の際に動作するように構成されている請求項1に記載の固体撮像装置。
- 前記列単位AD変換手段は、
参照電圧発生手段からの時間変化する参照電圧と、前記行走査手段によって選択された行の単位画素群について列毎の各画素における画素信号電圧とを比較する比較手段と、
前記時間変化する参照電圧の動作開始時点から前記比較手段の出力反転までの時間を測定し、前記出力反転時のカウント値をAD変換結果とするカウント手段とで構成されている請求項1または請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記カウント手段は、ダウンカウントモードとアップカウントモードとが切り替え可能なアップダウンカウンタに構成されている請求項3に記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記参照電圧発生手段による前記時間変化する参照電圧が参照電圧判定値に達したときに、前記比較手段が反転していない列の列単位AD変換手段によるAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定する請求項3または請求項4に記載の固体撮像装置。
- 前記参照電圧発生手段は、前記参照電圧として時間とともに単調に変化する参照電圧を生成する請求項3から請求項5までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記列単位AD変換手段によるAD変換結果が前記所定判定値対応のデジタル画素値に達したときに、前記列単位AD変換手段によるAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定する請求項3または請求項4に記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記所定判定値が、前記画素アレイ部のすべての光電変換素子について入射光量に対する画素信号電圧の特性のリニアリティが保たれる画素信号電圧の最大値以下の所定の値に設定されている請求項1から請求項7までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- さらに、前記所定判定値が記憶されており、前記所定判定値を前記AD変換結果調整手段へ転送可能な不揮発性記憶手段を備えている請求項1から請求項8までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記不揮発性記憶手段は、前記所定判定値として、前記リニアリティにつき出荷前に測定された画素信号電圧の最大値をAD変換して得られるデジタル画素値が書き込まれている請求項9の固体撮像装置。
- 単一の露光時間における前記画素信号電圧をAD変換する第1のモードと、短時間露光における前記基準電圧および長時間露光における画素信号電圧をそれぞれAD変換し合成する第2のモードとを有し、前記AD変換結果調整手段は、少なくとも前記第2のモードにおいて動作するように構成されている請求項1から請求項10までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記第1のモードでも動作するように構成されている請求項11に記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記第1のモードにおける前記参照電圧判定値と前記第2のモードにおける前記参照電圧判定値とが相違している請求項12に記載の固体撮像装置。
- 前記AD変換結果調整手段は、前記参照電圧発生手段を制御し、前記第1のモードにおける前記参照電圧の時間変化率と前記第2のモードにおける前記参照電圧の時間変化率とを変化させる請求項11から請求項13までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- 光電変換部のばらつきに応じて、参照電圧の最大値を所定の値に設定し、列単位AD変換手段のカウンタを動作させる時間に参照電圧が所定の値に到達するように参照電圧の時間変化率を調節する請求項14に記載の固体撮像装置。
- さらに、前記列単位AD変換手段と前記列走査手段との間にAD変換結果を一時記憶する複数の列単位のメモリセルのアレイからなるラインメモリが介挿されている請求項1から請求項15までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- さらに、前記画素アレイ部における列信号線と前記列単位AD変換手段との間に、複数の列単位のアナログCDSが介挿されている請求項1から請求項16までのいずれかに記載の固体撮像装置。
- 光電変換素子を含む単位画素が行列状に2次元配列されてなる画素アレイ部の各単位画素を行毎に選択するステップと、
前記選択された行の単位画素群について前記2次元配列の列毎に各画素におけるアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、
前記複数の列単位のAD変換結果を列走査により順次出力するステップとを含む固体撮像装置の駆動方法であって、
前記各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況を判定し、前記状況に達したときは前記列単位のAD変換結果を、前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定する固体撮像装置の駆動方法。 - 短時間露光における画素信号電圧および長時間露光における画素信号電圧をそれぞれAD変換し合成するモードにおいて、前記長時間露光の画素信号電圧のAD変換の際に、前記各画素におけるデジタル信号が所定判定値に達することに相当する状況に達したときに、前記列単位のAD変換結果を前記所定判定値対応のデジタル画素値に固定する請求項18に記載の固体撮像装置の駆動方法。
- 前記列単位のAD変換結果を、参照電位が前記所定判定値に到達すると同時に、前記画素信号電圧について想定される最大振幅に対して、この最大振幅よりも大きな値の参照電圧飛躍上昇値に固定する請求項19に記載の固体撮像装置の駆動方法。
- 前記列単位のAD変換結果を、列単位のAD変換手段によるAD変換結果が前記所定判定値対応のデジタル画素値に達したときに、その所定判定値対応のデジタル画素値に固定する請求項18に記載の固体撮像装置の駆動方法。
- 前記所定判定値対応のデジタル画素値に到達するまで前記カウント手段を動作させ、前記所定判定値対応のデジタル画素値に到達後は、前記カウント手段を停止させる請求項18に記載の固体撮像装置の駆動方法。
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012145770A (ja) * | 2011-01-12 | 2012-08-02 | Jvc Kenwood Corp | 液晶表示装置及びその駆動方法 |
JP2013055529A (ja) * | 2011-09-05 | 2013-03-21 | Canon Inc | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
JP2014057189A (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Olympus Imaging Corp | 撮像装置 |
US8941753B2 (en) | 2011-09-08 | 2015-01-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus |
JP2015100092A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | キヤノン株式会社 | 撮像素子及び撮像システム |
KR101758602B1 (ko) * | 2016-08-04 | 2017-07-17 | 삼성전자주식회사 | 카운터 회로, 이를 포함하는 장치 및 카운팅 방법 |
JP2017188961A (ja) * | 2017-07-19 | 2017-10-12 | 株式会社ニコン | 撮像素子 |
US11653121B2 (en) | 2021-02-04 | 2023-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion apparatus, A/D converter, and equipment |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4107269B2 (ja) * | 2004-02-23 | 2008-06-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
CN101495656B (zh) * | 2006-06-07 | 2017-02-08 | 纽约哥伦比亚大学理事会 | 采用带修饰的核苷酸通过纳米通道进行dna序列测定 |
JP4929090B2 (ja) * | 2007-07-26 | 2012-05-09 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
JP4386118B2 (ja) | 2007-08-31 | 2009-12-16 | ソニー株式会社 | 撮像回路 |
JP2010538561A (ja) * | 2007-09-05 | 2010-12-09 | ナム タイ,ヒョク | 広ダイナミックレンジcmos画像センサ |
JP5054583B2 (ja) * | 2008-03-17 | 2012-10-24 | 株式会社リコー | 撮像装置 |
GB0902822D0 (en) * | 2009-02-19 | 2009-04-08 | Cmosis Nv | Analog-to-digital conversation in pixel arrays |
JP5375277B2 (ja) * | 2009-04-02 | 2013-12-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、撮像装置、電子機器、ad変換装置、ad変換方法 |
JP5304410B2 (ja) * | 2009-04-17 | 2013-10-02 | ソニー株式会社 | Ad変換装置、固体撮像素子、およびカメラシステム |
JP5434502B2 (ja) * | 2009-11-13 | 2014-03-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子およびその駆動方法、カメラシステム |
US9605307B2 (en) | 2010-02-08 | 2017-03-28 | Genia Technologies, Inc. | Systems and methods for forming a nanopore in a lipid bilayer |
US9678055B2 (en) | 2010-02-08 | 2017-06-13 | Genia Technologies, Inc. | Methods for forming a nanopore in a lipid bilayer |
US8324914B2 (en) | 2010-02-08 | 2012-12-04 | Genia Technologies, Inc. | Systems and methods for characterizing a molecule |
JP2012019411A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
WO2012088341A2 (en) | 2010-12-22 | 2012-06-28 | Genia Technologies, Inc. | Nanopore-based single dna molecule characterization, identification and isolation using speed bumps |
US8962242B2 (en) | 2011-01-24 | 2015-02-24 | Genia Technologies, Inc. | System for detecting electrical properties of a molecular complex |
US9110478B2 (en) | 2011-01-27 | 2015-08-18 | Genia Technologies, Inc. | Temperature regulation of measurement arrays |
US8890052B2 (en) * | 2011-05-03 | 2014-11-18 | Raytheon Company | Shift register with two-phase non-overlapping clocks |
JP2012253624A (ja) * | 2011-06-03 | 2012-12-20 | Sony Corp | 固体撮像装置およびカメラシステム |
JP5734121B2 (ja) * | 2011-07-15 | 2015-06-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
US8986629B2 (en) | 2012-02-27 | 2015-03-24 | Genia Technologies, Inc. | Sensor circuit for controlling, detecting, and measuring a molecular complex |
EP2861768A4 (en) | 2012-06-15 | 2016-03-02 | Genia Technologies Inc | CHIP SETUP AND HIGH ACCURACY NUCLEIC ACID SEQUENCING |
US9036065B1 (en) * | 2012-08-16 | 2015-05-19 | Rambus Inc. | Shared-counter image sensor |
US9605309B2 (en) | 2012-11-09 | 2017-03-28 | Genia Technologies, Inc. | Nucleic acid sequencing using tags |
GB201300999D0 (en) * | 2013-01-21 | 2013-03-06 | Cmosis Nv | Analog-to-digital conversation in pixel arrays |
US9759711B2 (en) | 2013-02-05 | 2017-09-12 | Genia Technologies, Inc. | Nanopore arrays |
JP6478467B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2019-03-06 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像装置の駆動方法、撮像システム |
JP2015037206A (ja) * | 2013-08-12 | 2015-02-23 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
US9307172B2 (en) * | 2013-08-23 | 2016-04-05 | Semiconductor Components Industries, Llc | Floating point image sensors with tile-based memory |
US9551697B2 (en) | 2013-10-17 | 2017-01-24 | Genia Technologies, Inc. | Non-faradaic, capacitively coupled measurement in a nanopore cell array |
US9322062B2 (en) | 2013-10-23 | 2016-04-26 | Genia Technologies, Inc. | Process for biosensor well formation |
CA2926138A1 (en) | 2013-10-23 | 2015-04-30 | Genia Technologies, Inc. | High speed molecular sensing with nanopores |
US10165209B2 (en) | 2014-07-25 | 2018-12-25 | Rambus Inc. | Low-noise, high dynamic-range image sensor |
KR20170003744A (ko) * | 2015-06-30 | 2017-01-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
US11102437B2 (en) * | 2018-11-20 | 2021-08-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory circuit and semiconductor device |
KR20220033298A (ko) | 2020-09-09 | 2022-03-16 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005348325A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
JP2007020156A (ja) * | 2005-06-09 | 2007-01-25 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6344877B1 (en) * | 1997-06-12 | 2002-02-05 | International Business Machines Corporation | Image sensor with dummy pixel or dummy pixel array |
US5877715A (en) * | 1997-06-12 | 1999-03-02 | International Business Machines Corporation | Correlated double sampling with up/down counter |
US5920274A (en) * | 1997-08-05 | 1999-07-06 | International Business Machines Corporation | Image sensor employing non-uniform A/D conversion |
US6965407B2 (en) * | 2001-03-26 | 2005-11-15 | Silicon Video, Inc. | Image sensor ADC and CDS per column |
US7518646B2 (en) * | 2001-03-26 | 2009-04-14 | Panavision Imaging Llc | Image sensor ADC and CDS per column |
KR100833177B1 (ko) * | 2002-05-14 | 2008-05-28 | 삼성전자주식회사 | 자동적으로 오프 셋을 조정할 수 있는 신호변환회로 및 그방법 |
JP4107269B2 (ja) * | 2004-02-23 | 2008-06-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US7129883B2 (en) * | 2004-02-23 | 2006-10-31 | Sony Corporation | Method and apparatus for AD conversion, semiconductor device for detecting distribution of physical quantity, and electronic apparatus |
JP4655500B2 (ja) * | 2004-04-12 | 2011-03-23 | ソニー株式会社 | Ad変換装置並びに物理量分布検知の半導体装置および電子機器 |
JP4289206B2 (ja) * | 2004-04-26 | 2009-07-01 | ソニー株式会社 | カウンタ回路 |
JP4449565B2 (ja) * | 2004-05-12 | 2010-04-14 | ソニー株式会社 | 物理量分布検知の半導体装置 |
JP4289244B2 (ja) | 2004-07-16 | 2009-07-01 | ソニー株式会社 | 画像処理方法並びに物理量分布検知の半導体装置および電子機器 |
JP4193768B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2008-12-10 | ソニー株式会社 | データ処理方法並びに物理量分布検知の半導体装置および電子機器 |
JP4380439B2 (ja) | 2004-07-16 | 2009-12-09 | ソニー株式会社 | データ処理方法およびデータ処理装置並びに物理量分布検知の半導体装置および電子機器 |
DE602005013469D1 (de) * | 2004-11-08 | 2009-05-07 | Sony Corp | Verfahren zur Analog-Digital-Wandlung, Analog-Digital-Wandler, Halbleitervorrichtung zur Detektierung der Verteilung von physikalischen Grössen und elektronisches Gerät |
JP2006179295A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 燃料電池 |
JP5005179B2 (ja) * | 2005-03-23 | 2012-08-22 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
JP4442515B2 (ja) * | 2005-06-02 | 2010-03-31 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置におけるアナログ−デジタル変換方法および撮像装置 |
JP4524652B2 (ja) * | 2005-07-06 | 2010-08-18 | ソニー株式会社 | Ad変換装置並びに半導体装置 |
JP4682750B2 (ja) * | 2005-08-22 | 2011-05-11 | ソニー株式会社 | Da変換装置 |
KR100744117B1 (ko) * | 2005-08-24 | 2007-08-01 | 삼성전자주식회사 | 손실이 없는 비선형 아날로그 게인 콘트롤러를 지닌 이미지 센서 및 제조 방법 |
JP4654857B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2011-03-23 | ソニー株式会社 | Da変換装置、ad変換装置、半導体装置 |
JP4615472B2 (ja) * | 2006-04-03 | 2011-01-19 | ソニー株式会社 | 物理量分布検出装置および撮像装置 |
JP4341678B2 (ja) * | 2007-01-16 | 2009-10-07 | ソニー株式会社 | Ad変換装置および固体撮像装置並びに撮像装置 |
JP5076568B2 (ja) * | 2007-03-12 | 2012-11-21 | ソニー株式会社 | データ処理方法、データ処理装置、固体撮像装置、撮像装置、電子機器 |
JP2008294913A (ja) * | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Panasonic Corp | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
JP4929075B2 (ja) * | 2007-06-28 | 2012-05-09 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、撮像装置 |
JP4929090B2 (ja) * | 2007-07-26 | 2012-05-09 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
JP2009159069A (ja) * | 2007-12-25 | 2009-07-16 | Panasonic Corp | 固体撮像装置およびカメラ |
JP2009200931A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-09-03 | Panasonic Corp | 固体撮像装置、半導体集積回路装置、および信号処理方法 |
-
2007
- 2007-07-26 JP JP2007194241A patent/JP4929090B2/ja active Active
-
2008
- 2008-07-23 US US12/178,324 patent/US7924335B2/en active Active
-
2011
- 2011-03-08 US US13/042,906 patent/US8310581B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005348325A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
JP2007020156A (ja) * | 2005-06-09 | 2007-01-25 | Canon Inc | 撮像装置及び撮像システム |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012145770A (ja) * | 2011-01-12 | 2012-08-02 | Jvc Kenwood Corp | 液晶表示装置及びその駆動方法 |
JP2013055529A (ja) * | 2011-09-05 | 2013-03-21 | Canon Inc | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
US8941753B2 (en) | 2011-09-08 | 2015-01-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus |
KR101517376B1 (ko) * | 2011-09-08 | 2015-05-15 | 캐논 가부시끼가이샤 | 촬상장치 |
US9602751B2 (en) | 2011-09-08 | 2017-03-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus, imaging system, and method for reducing a difference in resolutions |
US9800809B2 (en) | 2011-09-08 | 2017-10-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus, imaging system, and method for reducing a difference in resolutions |
JP2014057189A (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Olympus Imaging Corp | 撮像装置 |
JP2015100092A (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | キヤノン株式会社 | 撮像素子及び撮像システム |
KR101758602B1 (ko) * | 2016-08-04 | 2017-07-17 | 삼성전자주식회사 | 카운터 회로, 이를 포함하는 장치 및 카운팅 방법 |
JP2017188961A (ja) * | 2017-07-19 | 2017-10-12 | 株式会社ニコン | 撮像素子 |
US11653121B2 (en) | 2021-02-04 | 2023-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric conversion apparatus, A/D converter, and equipment |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4929090B2 (ja) | 2012-05-09 |
US20090027533A1 (en) | 2009-01-29 |
US20110157442A1 (en) | 2011-06-30 |
US7924335B2 (en) | 2011-04-12 |
US8310581B2 (en) | 2012-11-13 |
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