JP2008070172A - 分光蛍光光度計及びその補正方法 - Google Patents
分光蛍光光度計及びその補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008070172A JP2008070172A JP2006247474A JP2006247474A JP2008070172A JP 2008070172 A JP2008070172 A JP 2008070172A JP 2006247474 A JP2006247474 A JP 2006247474A JP 2006247474 A JP2006247474 A JP 2006247474A JP 2008070172 A JP2008070172 A JP 2008070172A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrating sphere
- wavelength
- spectral spectrum
- spectral
- diffusing element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/065—Integrating spheres
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
発光量測定の際、波長の制約及び光学系に起因する誤差の影響を受けることなく、正確に積分球を補正することを目的とする。
【解決手段】
積分球を有する分光蛍光光度計に関して、ステップ1で積分球の試料設置部に光拡散素子を設置した状態にて、分光スペクトルを測定し、積分球の波長ごとの特性が含まれた蛍光強度を取得後、ステップ2で積分球を同光路上より除き、光拡散素子を同光路上に設置し、前記積分球と同様の条件で、積分球の波長特性を含まない分光スペクトルを取得し、ステップ3は、ステップ1により得られた分光スペクトルとステップ2で得られた分光スペクトルを比演算から積分球の波長特性を求める。
【選択図】図3
Description
図1から図9を用いて、本願発明の実施例について説明する。
200〜900nm)の分光スペクトルを取得する。積分球6に照射された単色光は、波長ごとに積分球6の特性をもった光が拡散されるため、ステップ1では、装置(光源,分光器,検出器等)自体の波長特性Cm(λ)と、積分球6の波長特性Ci(λ)が含まれた分光スペクトルIi(λ)が得られる。この測定結果は、図4に示す。
(I)を縦軸とした図であり、図3のステップ1で求められる分光スペクトルIi(λ)および図3のステップ2で求められる分光スペクトルId(λ)それぞれについて、波長(λ)に対する蛍光強度(I)が示される。
(数1)
Ii(λ)=Ci(λ)×Sd(λ)×Cm(λ)×Iri(λ)
ここで、Ci(λ):積分球の特性、Sd(λ):光拡散素子の散乱、Cm(λ):装置の特性、Iri(λ):真の分光スペクトル、である。
(数2)
Id(λ)=Sd(λ)×Cm(λ)×Ird(λ)
ここで、Ird(λ):真の分光スペクトル
である。
(数3)
Iri(λ)=α×Ird(λ)
αは、規格化するための係数である。
nm)の補正係数Fi(λ)が算出される。光拡散素子5により、拡散された光は、光拡散素子5に起因する散乱の波長特性Sd(λ)が生じるが、本発明における実施例では、積分球6の試料設置位置に同じ光拡散素子5を同じ状態で設置するため、この散乱状態の影響は打ち消され積分球6の波長特性Ci(λ)のみの情報を得ることができる。
900nmを横軸に示す。そして、光拡散素子の値である光拡散素子5に起因する散乱の波長特性Sd(λ)の値を1として規格化した相対蛍光強度(S)を縦軸とした図であり、散乱状態の影響は打ち消されているので、積分球6の波長特性のみがCi(λ)として得られることがわかる。図6は、全波長域として、波長λ=200〜900nmを横軸に示す。そして、補正係数(F)を縦軸とした図であり、全波長域(λ=200〜900nm)の補正係数Fi(λ)が示される。図中の点線は、所定の波長の補正係数を1とすることを示している。
Fi(λ)=1/(α×Ci(λ))
さらに、図7に示す一般的な構成の分光蛍光光度計で得られた装置(光源,分光器,検出器等)の補正係数と本発明の実施例にて得られる積分球6の補正係数を掛け合わせることにより、積分球6を含めた装置全体の補正ができる。図7に示す分光蛍光光度計は、図1の構成に対して、積分球6の代わりに、測定対象である測定試料16と試料設置部(セル)15とが配置される。そして、光源1から放射される光線は、励起側分光器2に入射する。励起側分光器2の設定波長は、励起側パルスモータ12によって変えられる。励起側パルスモータ12の動作は、例えばコンピュータ10の中にあらかじめプログラムされており、インタフェース13を介して制御される。所期の励起波長を操作パネル14でキーインすることによって、励起側分光器2の波長が設定される。励起側分光器2によって取り出された単色光は、試料設置部(セル)15内の測定試料16を照射し、測定試料
16から放射された蛍光は蛍光側分光器7に入射する。蛍光側分光器7は蛍光側パルスモータ11によって駆動されるが、その動作は励起側パルスモータ12と同様に、コンピュータ10により制御される。蛍光側分光器7により選択された波長の蛍光は、検知器8に入射し、電気信号に変換される。その電気信号は、アナログ−デジタル変換器であるA/D変換器9によりデジタル信号に変えられる。一方、励起側分光器2から取り出された単色光の一部は、光源光量モニタのためビームスプリッタ3を介して、モニタ検知器4に入射し、電気信号に変換される。この電気信号も、A/D変換器9によりデジタル信号に変えられる。検知器8からのデジタル信号(S)と、モニタ検知器4からのデジタル信号
(M)は、コンピュータ10に送られ、比(S/M)が算出され、この比が各波長における蛍光強度として、コンピュータ10に記憶される。
Iri(λ)=Fi(λ)×Fm(λ)×Ii(λ)
本発明の他の実施例として、図8,図9に示す構成のような測定試料であるサンプルの設置の手法にも適用が可能である。図8は、光を透過しない試料19を測定する際の測定系である。光を透過しない試料19を測定する際は、積分球6に設けられたビームスプリッタ3からの光の入射穴と対極にある積分球試料設置部18に光を透過しない試料19を設置し、蛍光スペクトルを取得する。その他の構成は図1及び図7で説明した同一符号の構成と同様の構成になっている。
2 励起側分光器
3 ビームスプリッタ
4 モニタ検知器
5 光拡散素子
6 積分球
7 蛍光側分光器
8 検知器
9 A/D変換器
10 コンピュータ
11 蛍光側パルスモータ
12 励起側パルスモータ
13 インターフェイス
14 操作パネル
15 試料設置部(セル)
16 測定試料
17 副白板
18 積分球試料設置部
19 光を透過しない測定試料
20 光を透過する試料
Claims (4)
- 積分球を備えた分光蛍光光度計において、積分球の試料設置部に光拡散素子を設置した状態にて、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得する第1の過程と、積分球を同光路上より除き、光拡散素子を同光路上に設置し、前記第1の過程と同様の条件で、波長ごとの積分球の波長特性が含まれない分光スペクトルを取得する第2の過程と、第1と第2の過程より得られた分光スペクトルから、積分球の波長特性を比演算より求めることを特徴とする分光蛍光光度計の補正方法。
- 積分球を備えた分光蛍光光度計において、積分球の試料設置部に光拡散素子を設置した状態にて、励起側分光器,蛍光側分光器により励起側,蛍光側の両波長を一致させながら同時走査して分光スペクトルを測定し、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得後、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得する第1の過程と、積分球を同光路上より除き、光拡散素子を同光路上に設置し、前記第1の過程と同様の条件で、波長ごとの積分球の波長特性が含まれない分光スペクトルを取得する第2の過程と、第1と第2の過程より得られた分光スペクトルから、積分球の波長特性を比演算より求めることを特徴とする分光蛍光光度計の補正方法。
- 積分球を備えた分光蛍光光度計において、積分球の試料設置部に光拡散素子を設置した状態にて、励起側分光器,蛍光側分光器により励起側,蛍光側のいずれかの波長を0次にして、もう一方の分光器の走査により分光スペクトルを測定し、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得後、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得する第一の過程と、積分球を同光路上より除き、光拡散素子を同光路上に設置し、前記第1の過程と同様の条件で、波長ごとの積分球の波長特性が含まれない分光スペクトルを取得する第2の過程と、第1と第2の過程より得られた分光スペクトルから、積分球の波長特性を比演算より求めることを特徴とする分光蛍光光度計の補正方法。
- 光源と分光器と検出器と検出器からの信号データを演算する演算部とを有し、前記演算部において、積分球の試料設置部に光拡散素子を設置した状態にて、波長ごとの積分球の波長特性が含まれた分光スペクトルを取得する第1の過程と、積分球を同光路上より除き、光拡散素子を同光路上に設置し、前記第1の過程と同様の条件で、波長ごとの積分球の波長特性が含まれない分光スペクトルを取得する第2の過程と、第1と第2の過程より得られた分光スペクトルから、積分球の波長特性を補正することを特徴とする分光蛍光光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006247474A JP2008070172A (ja) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006247474A JP2008070172A (ja) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008070172A true JP2008070172A (ja) | 2008-03-27 |
Family
ID=39291890
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006247474A Pending JP2008070172A (ja) | 2006-09-13 | 2006-09-13 | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008070172A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010073778A1 (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
JP2012007930A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計 |
JP2012026731A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計、および分光蛍光光度計のスペクトル補正方法 |
JP2016151426A (ja) * | 2015-02-16 | 2016-08-22 | 株式会社島津製作所 | 分光蛍光光度計及びそれに用いられる補正関数作成方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57175025U (ja) * | 1981-04-28 | 1982-11-05 | ||
JPS6215418A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-23 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPH0572039A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-23 | Hitachi Ltd | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 |
JPH09292281A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-11-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体の量子効率測定方法および測定装置 |
JPH1062240A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Nikon Corp | 散乱測定装置とその測定方法 |
JPH1073486A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 |
-
2006
- 2006-09-13 JP JP2006247474A patent/JP2008070172A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57175025U (ja) * | 1981-04-28 | 1982-11-05 | ||
JPS6215418A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-23 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPH0572039A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-23 | Hitachi Ltd | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 |
JPH09292281A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-11-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体の量子効率測定方法および測定装置 |
JPH1062240A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Nikon Corp | 散乱測定装置とその測定方法 |
JPH1073486A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体光学特性測定装置と蛍光体光学特性測定方法 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
CSNC200801611008; 福田保 他 Tamotsu FUKUDA: '"螢光物体の色の測定"' 応用物理 Vol.29, No.3, 196003, pp.161-169, 社団法人応用物理学会 * |
JPN6011067686; 湊秀幸 他: '"蛍光材料の分光測色における相対積分球効率の決定"' 照明学会誌 Vol.67, No.2, 19830201, pp.80-86 * |
JPN6011067687; 福田保 他 Tamotsu FUKUDA: '"螢光物体の色の測定"' 応用物理 Vol.29, No.3, 196003, pp.161-169, 社団法人応用物理学会 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010073778A1 (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
JP2010151632A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム |
US8462337B2 (en) | 2008-12-25 | 2013-06-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | Spectrometer, spectrometry, and spectrometry program |
JP2012007930A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計 |
JP2012026731A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計、および分光蛍光光度計のスペクトル補正方法 |
JP2016151426A (ja) * | 2015-02-16 | 2016-08-22 | 株式会社島津製作所 | 分光蛍光光度計及びそれに用いられる補正関数作成方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3682528B2 (ja) | 固体試料の絶対蛍光量子効率測定方法及び装置 | |
KR100797420B1 (ko) | 펄스화 광대역의 광원을 이용하는 플라즈마 에칭 및 퇴적프로세스의 인-시튜 모니터링 방법 및 장치 | |
US8119996B2 (en) | Quantum efficiency measurement apparatus and quantum efficiency measurement method | |
Kim et al. | New reliable Raman collection system using the wide area illumination (WAI) scheme combined with the synchronous intensity correction standard for the analysis of pharmaceutical tablets | |
JP4418731B2 (ja) | フォトルミネッセンス量子収率測定方法およびこれに用いる装置 | |
JP2009008509A (ja) | 発光量子効率測定装置 | |
JP7412802B2 (ja) | 分光測定方法 | |
US8334522B2 (en) | Method for the quantitative determination of the concentration of fluorophores of a substance in a sample and apparatus for carrying out the same | |
WO2020135540A1 (zh) | 一种量子产率的测试方法 | |
JP4710393B2 (ja) | 蛍光分光光度計における励起スペクトル補正方法 | |
CN103969230B (zh) | 测量装置以及测量方法 | |
JP2008070172A (ja) | 分光蛍光光度計及びその補正方法 | |
Hanselaer et al. | A new integrating sphere design for spectral radiant flux determination of light-emitting diodes | |
US8481973B2 (en) | Fluorescent estimating apparatus, fluorescent estimating method, and fluorescent measuring apparatus | |
US11366013B2 (en) | Method of obtaining quantum efficiency distribution, method of displaying quantum efficiency distribution, program for obtaining quantum efficiency distribution, program for displaying quantum efficiency distribution, fluorescence spectrophotometer, and display device | |
US11287384B2 (en) | System and method for improving calibration transfer between multiple raman analyzer installations | |
JP2001004460A (ja) | 温度測定方法及び温度測定装置及び感温塗料 | |
JP2015007548A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP2004177147A (ja) | 発光測定装置 | |
JPH11295159A (ja) | 応力測定装置 | |
US11009453B2 (en) | Spectral curve acquiring device, concrete measuring instrument, spectral curve acquiring method and concrete measuring method | |
JP2001235371A (ja) | 蛍光物体色測定方法および装置 | |
JP2002206967A (ja) | 測光装置および測色装置 | |
JPH10142152A (ja) | 蛍光体の量子効率測定方法および装置 | |
JPS62278436A (ja) | 蛍光測定法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080926 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080926 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110726 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110921 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120104 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120305 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120605 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120806 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121225 |