JPS6215418A - 分光螢光光度計 - Google Patents
分光螢光光度計Info
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- JPS6215418A JPS6215418A JP15489585A JP15489585A JPS6215418A JP S6215418 A JPS6215418 A JP S6215418A JP 15489585 A JP15489585 A JP 15489585A JP 15489585 A JP15489585 A JP 15489585A JP S6215418 A JPS6215418 A JP S6215418A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
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- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 5
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- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
- G01J3/4406—Fluorescence spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は分光蛍光光度系に関し、特にその励起分光器及
び蛍光分光器の波長較正手段に関する。
び蛍光分光器の波長較正手段に関する。
口、従来の技術
従来から分光蛍光光度計の波長較正には水銀ランプの輝
線を用いる方法があり、水銀ランプを分光光度計の光路
中に自動的に挿入するようなことも実施されている。し
かしこの方法は蛍光測定用光源とは別に水銀ランプを必
要とし、何等かの装置で水銀ランプを光路中に挿入する
必要があるから、分光蛍光光度計の価格押上げの一要素
となっていた。他の方法として、１−セノンランプのＩ
Ｍを用いる較正方法が用いられている。これは第３図に
示すように、試料室Ｃ内の試料位置に鏡ｍをセットし、
励起分光器Ｍ ｅを０波長にセットし、蛍光分光器Ｍｆ
を波長走査し、キセノンランプＸｅのｎ腺を検出して波
長較正を行い、励起分光器Ｍｅの波長較正はモニタ用光
検出器Ｄｍを用いるか、或は蛍光分光器ＭｆをＯ波長に
セットし、励起分光器Ｍｅを波長走査してキセノンラン
プの輝線を検出するものである。この方法は−Ｌ述した
従来例よりは波長較正に必要な部品が少な（、その構造
も簡単なものでよいが、それでも鏡ｍの設置操作を必要
とし、試料室内に何等かの付属装置を設置したま＼の状
態では波長較正が行えないと云う欠点がある。
線を用いる方法があり、水銀ランプを分光光度計の光路
中に自動的に挿入するようなことも実施されている。し
かしこの方法は蛍光測定用光源とは別に水銀ランプを必
要とし、何等かの装置で水銀ランプを光路中に挿入する
必要があるから、分光蛍光光度計の価格押上げの一要素
となっていた。他の方法として、１−セノンランプのＩ
Ｍを用いる較正方法が用いられている。これは第３図に
示すように、試料室Ｃ内の試料位置に鏡ｍをセットし、
励起分光器Ｍ ｅを０波長にセットし、蛍光分光器Ｍｆ
を波長走査し、キセノンランプＸｅのｎ腺を検出して波
長較正を行い、励起分光器Ｍｅの波長較正はモニタ用光
検出器Ｄｍを用いるか、或は蛍光分光器ＭｆをＯ波長に
セットし、励起分光器Ｍｅを波長走査してキセノンラン
プの輝線を検出するものである。この方法は−Ｌ述した
従来例よりは波長較正に必要な部品が少な（、その構造
も簡単なものでよいが、それでも鏡ｍの設置操作を必要
とし、試料室内に何等かの付属装置を設置したま＼の状
態では波長較正が行えないと云う欠点がある。
ハ２発明が解決しようとする問題点
本発明は上述した従来例の欠点を解消し、水銀ランプの
ような余分な光源及びその出入機構とか、鏡ｍの設置等
の操作不要で、かつ試料室内に付属装置を設置したま＼
でも波長較正が行えるような分光蛍光光度計の波長較正
手段を得ようとするものである。
ような余分な光源及びその出入機構とか、鏡ｍの設置等
の操作不要で、かつ試料室内に付属装置を設置したま＼
でも波長較正が行えるような分光蛍光光度計の波長較正
手段を得ようとするものである。
二９問題点解決のための手段
第１図に示すように分光蛍光光度計の光源室１から励起
分光器ｈ４ｅを通らないで蛍光分光器Ｍ ｆに光を導く
光学系Ｂと、この光学系を通る光を通断するシャッター
２と、試料セルの位置から蛍光分光器に至る光路を通断
するシャッター３を分光蛍光光度計に設けた。
分光器ｈ４ｅを通らないで蛍光分光器Ｍ ｆに光を導く
光学系Ｂと、この光学系を通る光を通断するシャッター
２と、試料セルの位置から蛍光分光器に至る光路を通断
するシャッター３を分光蛍光光度計に設けた。
ホ０作用
分光蛍光光度計の光源にキセノンランプを用いているの
で、その光を利用して波長較正を行う。
で、その光を利用して波長較正を行う。
蛍光分光器の波長較正を行うときは、試料セル位置から
蛍光分光器に至る光路を通断するシャッター３を閉じ、
光源室から蛍光分光器に光を導く光学系の光路を通断す
るシャッター２を開いて蛍光分光器Ｍｆの波長走査を行
えばよい。励起分光器の波長較正は励起分光器のＭ ｅ
の波長走査を行い、モニタ用光検出器Ｄｍを用いてキセ
ノンランプの輝線を検出すればよい。
蛍光分光器に至る光路を通断するシャッター３を閉じ、
光源室から蛍光分光器に光を導く光学系の光路を通断す
るシャッター２を開いて蛍光分光器Ｍｆの波長走査を行
えばよい。励起分光器の波長較正は励起分光器のＭ ｅ
の波長走査を行い、モニタ用光検出器Ｄｍを用いてキセ
ノンランプの輝線を検出すればよい。
へ、実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。Ｍｅは励起分光器、
Ｍｆは蛍光分光器で、励起分光器の出射側光軸と蛍光分
光器の入射側光軸とが直交して、その交点が試料セル位
置で、Ｃｅ Ｊ’Ｊ（試料セルである。■は光源室でＸ
ｅは光源のクー１！ノンランプである。４は透明石英板
のビームスプリッタで分光器Ｍ ｅの出射光光路中に配
置され、Ｍｅ出射光の一部をモニタ用受光素子Ｄｍに向
けて分割している。５はオプチカルファイバーで光源の
４−七ノンランプＸｅの光を蛍光分光器Ｍｆに導く光学
系Ｂの一部を構成している。試料セル位置と蛍光分光器
Ｍｆとの間に透明板のビームスプリッタ６が４５°の傾
きで配置され、オプチカルファイバー５の光出射端から
出射した光を蛍光分光器Ｍｆに入射させるよううになっ
ている。２はオプチカルファイバー５の出射端とビーム
スプリッタ６との間に位置せしめられるシャッターであ
り、駆動モータ２ｍによって開閉操作が行われる。３は
試料セル位置とビームスプリッタ６との間に位置せしめ
られるシャッターで駆動モータ３ｍにより開閉操作が行
われる。ＤＯは蛍光分光器Ｍｆの光検出器である。
Ｍｆは蛍光分光器で、励起分光器の出射側光軸と蛍光分
光器の入射側光軸とが直交して、その交点が試料セル位
置で、Ｃｅ Ｊ’Ｊ（試料セルである。■は光源室でＸ
ｅは光源のクー１！ノンランプである。４は透明石英板
のビームスプリッタで分光器Ｍ ｅの出射光光路中に配
置され、Ｍｅ出射光の一部をモニタ用受光素子Ｄｍに向
けて分割している。５はオプチカルファイバーで光源の
４−七ノンランプＸｅの光を蛍光分光器Ｍｆに導く光学
系Ｂの一部を構成している。試料セル位置と蛍光分光器
Ｍｆとの間に透明板のビームスプリッタ６が４５°の傾
きで配置され、オプチカルファイバー５の光出射端から
出射した光を蛍光分光器Ｍｆに入射させるよううになっ
ている。２はオプチカルファイバー５の出射端とビーム
スプリッタ６との間に位置せしめられるシャッターであ
り、駆動モータ２ｍによって開閉操作が行われる。３は
試料セル位置とビームスプリッタ６との間に位置せしめ
られるシャッターで駆動モータ３ｍにより開閉操作が行
われる。ＤＯは蛍光分光器Ｍｆの光検出器である。
第２図は上述装置の制御系の構成を示す。励起分光器Ｍ
ｅにおいてｍｅは分光器波長送り用パルスモータ、Ｐｅ
は分光器の波長減点検出用素子である。蛍光分光器Ｍｆ
において、ｍｆは波長送り用パルスモータ、Ｐｆは分光
器の波長原点検出用素子である。その他第１図の各部と
同じ部分には同じ符号が付けである。励起分光器Ｍｅの
波長較正の場合の動作説明と兼ねて装置構成を説明する
。Ｍ’Ｐ’Ｕはマイクロプロセッサ、１０はメモリ、１
１はデータバス、Ｉ’ｆ’ｌはインターフェースである
。励起分光□器波長較正のモードではＭＰＵはスイッチ
Ｓ ｗ １を閉じ８ｗ２を開いてモニタ用光検出器Ｄｍ
の出力を取込むようにする。ＭＰＵはまず励起分光器Ｍ
’ｅ Ｇ波長原点まで駆□動する。次に励起分光器用
の波長カウンタの計数を〇（原点波長）にする。これは
パルスモータｍｅに送る駆動パルスを波長カウンタで計
数するとその計数値が波長を示す構成で、Ｍ Ｐ Ｕは
このカウンタの計数値によって分光器の波長を検知して
いるのである。次にＭｅの波長走査を行い、波長４３０
〜４７０ｎｍの範囲で光検出器Ｄｍの出力をＡ／Ｄ変換
器ＡＤを介してメモリ１０のＲＡＭ領域に取込む。その
後このＲＡＭ領域に格納したデータからキセノンの波長
４５０．ｌｎｍの輝線のピークを検索する。この輝線の
ピークに対応する波長カウンタの計数値Ｙは通常４５０
．１より若干ずれている。そこでＭ Ｐ ＵはＭｅ用の
波長カウンタの計数値がＹになるようにＭｅを駆動し、
その位置で波長カウンタの計数値を正しい′波長値４５
０．１にセットし直す。これで励起分光器Ｍｅの波長較
正を終わる。また輝線は他の波長の輝線を用いてもよい
。
ｅにおいてｍｅは分光器波長送り用パルスモータ、Ｐｅ
は分光器の波長減点検出用素子である。蛍光分光器Ｍｆ
において、ｍｆは波長送り用パルスモータ、Ｐｆは分光
器の波長原点検出用素子である。その他第１図の各部と
同じ部分には同じ符号が付けである。励起分光器Ｍｅの
波長較正の場合の動作説明と兼ねて装置構成を説明する
。Ｍ’Ｐ’Ｕはマイクロプロセッサ、１０はメモリ、１
１はデータバス、Ｉ’ｆ’ｌはインターフェースである
。励起分光□器波長較正のモードではＭＰＵはスイッチ
Ｓ ｗ １を閉じ８ｗ２を開いてモニタ用光検出器Ｄｍ
の出力を取込むようにする。ＭＰＵはまず励起分光器Ｍ
’ｅ Ｇ波長原点まで駆□動する。次に励起分光器用
の波長カウンタの計数を〇（原点波長）にする。これは
パルスモータｍｅに送る駆動パルスを波長カウンタで計
数するとその計数値が波長を示す構成で、Ｍ Ｐ Ｕは
このカウンタの計数値によって分光器の波長を検知して
いるのである。次にＭｅの波長走査を行い、波長４３０
〜４７０ｎｍの範囲で光検出器Ｄｍの出力をＡ／Ｄ変換
器ＡＤを介してメモリ１０のＲＡＭ領域に取込む。その
後このＲＡＭ領域に格納したデータからキセノンの波長
４５０．ｌｎｍの輝線のピークを検索する。この輝線の
ピークに対応する波長カウンタの計数値Ｙは通常４５０
．１より若干ずれている。そこでＭ Ｐ ＵはＭｅ用の
波長カウンタの計数値がＹになるようにＭｅを駆動し、
その位置で波長カウンタの計数値を正しい′波長値４５
０．１にセットし直す。これで励起分光器Ｍｅの波長較
正を終わる。また輝線は他の波長の輝線を用いてもよい
。
次に蛍光分光器Ｍｆの波長較正の動作を説明する。この
場合、ＭＰＵはスイッチＳｗｌを開き、Ｓ ｗ ２を閉
じて、蛍光分光器用の光検出器ＤＯの−〇 − 出力を取込４ハ上うにする。次にシャッター駆動モータ
２ｍ、３ｍに信号を送ってシャッター２を開き、シャッ
ター３を閉しる。次に蛍光分光器Ｍ ｆを波長原点に駆
動し、蛍光分光器用波長ノノウンタを原点波長にセット
し、波長走査を行って波長４３０〜４７０ｎｍの波長節
回で光検出器Ｆ）ｏの出力データを取込みメモリ１０の
ＲＡＭ領域に格納する。その後このＲＡＭ内のデータか
ら波長４５ｒ’）、１ｎｍのピークを検索し、励起分光
器Ｍ ｅの場合と同様、蛍光分光器用波長カウンタの＃
１数値が１記ビークに対応するノ１ウンタ計数値になる
ように蛍光分光器を駆動し、その位置で波長ノノウンタ
を正しい波長値４５０．］にセセラし伯］ず。なお使用
する輝線は４．５０．１ｎｍ以外の輝線を用いてｔ）よ
い。
場合、ＭＰＵはスイッチＳｗｌを開き、Ｓ ｗ ２を閉
じて、蛍光分光器用の光検出器ＤＯの−〇 − 出力を取込４ハ上うにする。次にシャッター駆動モータ
２ｍ、３ｍに信号を送ってシャッター２を開き、シャッ
ター３を閉しる。次に蛍光分光器Ｍ ｆを波長原点に駆
動し、蛍光分光器用波長ノノウンタを原点波長にセット
し、波長走査を行って波長４３０〜４７０ｎｍの波長節
回で光検出器Ｆ）ｏの出力データを取込みメモリ１０の
ＲＡＭ領域に格納する。その後このＲＡＭ内のデータか
ら波長４５ｒ’）、１ｎｍのピークを検索し、励起分光
器Ｍ ｅの場合と同様、蛍光分光器用波長カウンタの＃
１数値が１記ビークに対応するノ１ウンタ計数値になる
ように蛍光分光器を駆動し、その位置で波長ノノウンタ
を正しい波長値４５０．］にセセラし伯］ず。なお使用
する輝線は４．５０．１ｎｍ以外の輝線を用いてｔ）よ
い。
上述実施例ではシャッター３は試料セル位置と蛍光分光
器Ｍｆとの間に配置しているが、これはビーｌいスプリ
ッタ４と試料セル位置との間に配置してもよい。
器Ｍｆとの間に配置しているが、これはビーｌいスプリ
ッタ４と試料セル位置との間に配置してもよい。
１・、効果
本発明装置は上述したような構成で、分光蛍光光度計の
光源を利用しているので別の光源を用意し、かつその光
源を測定光路中に出入させる機構を川音すると云った必
要がなく、付属の光路とかシャッターを用いるが−Ｆ記
した光源とか出入機構に比し構造的に簡単で安価であり
、試料位置に鏡等の波長較正用の素子を置く必要がない
から波長較正の操作が筒中で、しかち試料室に試オ４セ
ル他任意の付属装置を置いた」；＼で波長較正ができる
と云う特徴がある。
光源を利用しているので別の光源を用意し、かつその光
源を測定光路中に出入させる機構を川音すると云った必
要がなく、付属の光路とかシャッターを用いるが−Ｆ記
した光源とか出入機構に比し構造的に簡単で安価であり
、試料位置に鏡等の波長較正用の素子を置く必要がない
から波長較正の操作が筒中で、しかち試料室に試オ４セ
ル他任意の付属装置を置いた」；＼で波長較正ができる
と云う特徴がある。
第１図は本発明の一実施例の光学系の平面図、第２図は
同実施例の制御系のブロック図、第３図は従来例の光学
系の平面図である。
同実施例の制御系のブロック図、第３図は従来例の光学
系の平面図である。
Claims (1)
- 光源室から励起分光器を通らないで蛍光分光器に光を導
く光学系とこの光学系を通る光を通断するシャッターと
、励起分光器から試料セル位置を通って蛍光分光器に至
る光路中で光を通断するシャッターを設けたことを特徴
とする分光蛍光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15489585A JPS6215418A (ja) | 1985-07-13 | 1985-07-13 | 分光螢光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15489585A JPS6215418A (ja) | 1985-07-13 | 1985-07-13 | 分光螢光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6215418A true JPS6215418A (ja) | 1987-01-23 |
Family
ID=15594302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15489585A Pending JPS6215418A (ja) | 1985-07-13 | 1985-07-13 | 分光螢光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6215418A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006300632A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計における励起スペクトル補正方法 |
| JP2008070172A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
| JP2010276362A (ja) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 |
| JP2011013167A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及び試料セル |
| JP2012047562A (ja) * | 2010-08-26 | 2012-03-08 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計 |
| US8717557B2 (en) | 2010-02-18 | 2014-05-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrophotometer and method for determining performance thereof |
-
1985
- 1985-07-13 JP JP15489585A patent/JPS6215418A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006300632A (ja) * | 2005-04-19 | 2006-11-02 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計における励起スペクトル補正方法 |
| JP4710393B2 (ja) * | 2005-04-19 | 2011-06-29 | 株式会社島津製作所 | 蛍光分光光度計における励起スペクトル補正方法 |
| JP2008070172A (ja) * | 2006-09-13 | 2008-03-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及びその補正方法 |
| JP2010276362A (ja) * | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 |
| JP2011013167A (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計及び試料セル |
| US8717557B2 (en) | 2010-02-18 | 2014-05-06 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrophotometer and method for determining performance thereof |
| JP2012047562A (ja) * | 2010-08-26 | 2012-03-08 | Shimadzu Corp | 蛍光分光光度計 |
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