JP2008070164A - ローラの検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ローラの投影画像からローラ本体の外周面の輪郭線を検出し、この輪郭線を構成する複数の画素の座標を取得する。次に、ローラの中心軸線に平行な基準線と、その複数の画素との間の距離を求める。そして、各距離の値から、その分散を求める。距離の分散は、ローラ本体の外周面の粗さに良く対応する。従って、距離の分散から、ローラ本体の外周面の粗さを客観的に判定することができる。
【選択図】図3
Description
この発明においては、ローラの外周面全体の粗さをより正確に判定することが可能となる。
図1に示すように、この実施形態のローラの検査方法によって外周面の粗さが検査されるローラ10は、芯金11の外周に、例えばポリウレタン発泡体のような多孔質弾性体からなるローラ本体12が担持された構成を備えている。このようなローラ10は次のように製造される。すなわち、まず、スラブ発泡または型発泡させた帯状の多孔質弾性体から角柱を切り出し、この角柱にその長手方向に沿って開けた孔に芯金11を通して接着剤により角柱と芯金11とを一体化させる。次に、芯金11により支持した角柱の表面を、砥石により円柱状に研削してローラ本体12にする。このようにして製作されたローラ10のローラ本体12の外周面には、毛羽立ち状の突起が形成されることが多い。このため、この複数の突起によるローラ本体12の外周面の粗さが、ローラの検査方法により検査される。
まず、ステップ(以下、Sと略記する。)100において、図4に示すような投影器20が作業者によって操作され、ローラ本体12の中心軸線に対する直交方向に向かって画像が投影されるとともに、その投影画像が取得される。この投影器20は、投光用の発光ダイオード21、投光レンズ22、投光側ミラー23、ステージガラス24、第1受光レンズ25、受光側ミラー26、第2受光レンズ27、2次元CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ28及び信号処理部29等により構成されている。この投影器20において、発光ダイオード21から投光された照明光は、投光レンズ22によって平行にされた後、ローラ10が載置されたステージガラス24に投光される。この光は、ステージガラス24を透過した後、第1受光レンズ25によって絞られる。さらに、この光は、受光側ミラー26を経て第2受光レンズ27によって平行とされた後、2次元CCDイメージセンサ28に入射される。2次元CCDイメージセンサ28に入射された光は、アナログ電気信号に変換された後、信号処理部29に入力される。そして、信号処理部29により、図2に示すようなローラ10の投影画像30が取得される。この投影画像30は、ローラ10の像の投影領域に対応する黒色領域と、それ以外の領域に対応する白色領域とにより構成されており、実質的に白黒二値のビットマップ画像である。従って、この投影画像30には、ローラ本体12の外周面の輪郭線が明確に表される。投影画像30のデータは、信号処理部29に電気接続された外部コンピュータ31に出力される。
次に、S104において、外部コンピュータ31により、この分散σ2 が、予め設定されている判定値を超えているか否かが比較され、この比較結果に基づいて、ローラ本体12における外周面の粗さの良否を判定した結果が図示しない表示器に表示される。この判定結果は、ローラ本体12の外周面の粗さを、同外周面の1つの稜線上において検査した結果である。このため、ローラ本体12の外周面の粗さは、図7に示すように、ローラ本体12の周方向における複数の位置、例えば中心角度が45度ずつずれた各位置A1〜A6について検査される。そして、ローラ本体12の外周面のいずれかの位置A1〜A6から得られた分散σ2 が判定値を超えていたときには、表示器の表示結果に基づいてそのローラ10が不良品として判定される。
(1) ローラ10の投影画像からローラ本体12の外周面の輪郭線32を検出して、輪郭線32を構成する複数の画素33の座標を把握し、ローラ10の中心軸線に対して平行に設定された基準線34と、複数の画素33との間の距離Y(i)をそれぞれ求める。そして、各距離Y(i)の値から求めた分散σ2 により、ローラ本体12の外周面の粗さを判定するようにした。ゆえに、作業者が目視によってローラ本体12の外周面の粗さを判定する場合とは異なり、品質作業の効率が向上するとともにローラ10の品質判定のばらつきを抑さえることができる。しかも、距離Y(i)の分散σ2 が大きいほど、ローラ本体12の外周面に形成されている高い突起の数が多いことを意味する。すなわち、距離Y(i)の分散σ2 が大きいことは、プリンタや複写機において記録紙にプリントされる画像の記録品質が低下することに対応する。従って、ローラ本体12の外周面における粗さの良否を分散σ2 によって判定することにより、記録紙にプリントされる画像の記録品質を低下させることがないローラ10を判別することができる。
・使用プリンタ : シャープ株式会社 AR−C262FP
・試験環境 : 環境温度 23℃、環境湿度 55%
・試験条件 : 50%ハーフトーンで出力したパターン画像を、現行品のトナー供給ローラを用いて出力した画像見本と比較してその記録品質を判定した。
・ 輪郭線32を構成する画素33の内から例えば1つおき毎の画素33と、基準線34との間の距離Y(i)を求め、この各距離Y(i)の分散σ2 を求める。このようにすれば、処理する画素数を減らすことができるため、処理に要する時間を短縮できる。
・ 分散σ2 のみを表示器に表示させ、ローラ本体12における外周面の粗さの良否判定は作業者が行うようにすること。
Claims (3)
- 多孔質弾性体からなるローラの外周面の粗さを検査するローラの検査方法であって、
ローラの白黒二値画像からローラの外周面の輪郭線を検出して、この輪郭線を構成する複数の画素の座標を把握し、
ローラの中心軸線に対して平行に設定された基準線と、前記複数の画素との間の距離をそれぞれ求め、
前記各距離の値の分散を求め、
この分散の大きさに基づいてローラの外周面の粗さを判定することを特徴とするローラの検査方法。 - 前記白黒二値画像を、前記ローラの中心軸線に対する直交方向に向かって投影された同ローラの像としたことを特徴とする請求項1に記載のローラの検査方法。
- 前記ローラの外周面の粗さを、同ローラの周方向における複数の位置で判定することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のローラの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006247195A JP2008070164A (ja) | 2006-09-12 | 2006-09-12 | ローラの検査方法 |
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JP2008070164A true JP2008070164A (ja) | 2008-03-27 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006247195A Pending JP2008070164A (ja) | 2006-09-12 | 2006-09-12 | ローラの検査方法 |
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JP (1) | JP2008070164A (ja) |
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|
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