JP2006526138A - 検出器及び付随コリメータのアレイを具えたトモグラフィックエネルギー分散型x線回折装置 - Google Patents
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Abstract
Description
試料のための支持体と、
支持体に設置された試料に入射放射線を当てるための放射線源と、
入射の方向に対して所定の角度で試料を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段
とを具え、検出手段は、
エネルギー分散型検出器のアレイとコリメータのアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器はそれに付随したそれぞれのコリメータを有するトモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置が提供される。
図1は、周知のTEDDIシステムの概略図である。例えばシンクロトロン又はX線チューブによって生成することができる白色X線ビーム1が、コリメータ2により平行にされて所望の空間分解能のビーム3を生成する。典型的なシステムにおいて、該ビームは50μm2の断面を有する。通常50μm程度の適度に小さなステップで直交する3方向(x、y及びz方向)に試料を走査することができる支持体(図示省略)に設置された試料4に平行ビーム3を当てる。偏向ビームコリメータ5及びエネルギー分散型検出器6が、入射ビーム3に対して2θの角度で配置される(対象としている試料及び所望の構造分解能に適した角度が、ブラッグの法則の適用による周知の方法で選択される)。回折試料体積は、入射ビーム3の進路とコリメータ5によって受け取られた回折ビーム8とによって形成される菱形7である。該菱形の大きさが空間分解能を決定する。
tan(α/2)=(d/2)/(L/2)、つまり、
α=2tan−1(d/L)・・・・・・(1)
β=2tan−1(d/t)
となる。
α=2tan−1(d/L)
となる。
Tan(β/2)=s/FS、つまり、
FS=s/tan(β/2)・・・・・・(2)
tan(β/2)の代わりに(d/2)/(t/2)を用いると、
FS=(st)/d・・・・・・(3)
Claims (24)
- 試料のための支持体と、
支持体に設置された試料に入射放射線を当てるための放射線源と、
入射の方向に対して所定の角度で試料を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段
とを具え、検出手段は、エネルギー分散型検出器のアレイとコリメータのアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器はそれに付随したそれぞれのコリメータを有するトモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置。 - 検出器及びコリメータの前記アレイを線形アレイとすることにより、直交する二方向のみにおける試料支持体の走査動作によって試料の3次元領域を走査することができる請求項1に記載の装置。
- 前記コリメータ及び検出器アレイを2次元アレイとすることにより、一方向のみにおける試料支持体の走査動作によって試料の3次元領域を走査することができる請求項1に記載の装置。
- 検出器アレイは1以上の半導体検出器チップを具え、各半導体検出器チップは個々の検出器ピクセルのアレイを具え、個々の検出器ピクセルはそれぞれ1つの検出器を具えている前記何れかの請求項に記載の装置。
- コリメータアレイの各コリメータは複数の配列されたコリメータアパーチャを具え、該複数のコリメータアパーチャは、伝達された放射線の方向に沿って間隔の空けられたコリメータ板又は箔にそれぞれ形成されている前記何れかの請求項に記載の装置。
- 複数のコリメータアパーチャを各コリメータ板又は箔に設けて個々のコリメータのアレイを形成している請求項5に記載の装置。
- 隣り合うコリメータ板又は箔は、前記アレイの隣り合うコリメータ間のクロストークを避けるように間隔がおかれている請求項5又は請求項6に記載の装置。
- 前記角度は0と180°との間である前記何れかの請求項に記載の装置。
- 前記角度は調整可能である前記何れかの請求項に記載の装置。
- 放射線源には、入射放射線を扇形ビームにするための入射放射線コリメータが設けられている前記何れかの請求項に記載の装置。
- 入射放射線を平行ビームにするためのコリメータであって、それぞれにコリメータアパーチャが設けられた少なくとも2枚の間隔をおいたコリメータ板又は箔を具え、隣り合うコリメータ板又は箔のコリメータアパーチャを平行ビームの方向に配列することによって、隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたアパーチャを連続的に通過する入射放射線が平行にされるコリメータ。
- 前記配列されたコリメータアパーチャが設けられた2より多くのコリメータ板又は箔を具えた請求項11に記載のコリメータ。
- 各コリメータ板又は箔は隣り合うコリメータアパーチャのアレイを具え、該コリメータアパーチャを隣り合うコリメータ箔又は板のそれぞれのコリメータアパーチャに揃えることによって、隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたコリメータアパーチャをそれぞれ具えた隣り合うコリメータのアレイが設けられる請求項11又は請求項12に記載のコリメータ。
- 隣り合うコリメータ板又は箔の最大隔離距離が、コリメータアレイの隣り合うコリメータ間のクロストークをなくすように選択される請求項13に記載のコリメータ。
- コリメータアレイが線形である請求項13又は請求項14に記載の装置。
- コリメータアレイが2次元である請求項14又は15に記載の装置。
- 各コリメータアパーチャの径:長さのアスペクト比が10:1程度である請求項11乃至16の何れか1項に記載のコリメータ。
- 隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたコリメータアパーチャが実質的に同一の径を有する請求項11乃至17の何れか1項に記載のコリメータ。
- 各コリメータ板又は箔が実質的に同一の厚さを有する請求項11乃至18の何れか1項に記載のコリメータ。
- 前記コリメータアパーチャがレーザードリルによって形成される請求項11乃至19の何れか1項に記載のコリメータを構成する方法。
- 連続するコリメータ板を光学ベンチに設置して、前記1又は複数のコリメータアパーチャを開ける請求項19に記載の方法。
- 添付図面を参照して実質的に以上の如く説明されたTEDDIシステム。
- 添付図面を参照して実質的に以上の如く説明されたコリメータ。
- 添付図面を参照して実質的に以上の如く説明された、コリメータを構成する方法。
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---|---|---|---|
GBGB0312499.7A GB0312499D0 (en) | 2003-05-31 | 2003-05-31 | Tomographic energy dispersive diffraction imaging system |
PCT/GB2003/005281 WO2004106906A1 (en) | 2003-05-31 | 2003-12-04 | Tomographic energy dispersive x-ray diffraction apparatus comprising an array of detectors and associated collimators |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006526138A true JP2006526138A (ja) | 2006-11-16 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005500165A Expired - Fee Related JP4554512B2 (ja) | 2003-05-31 | 2003-12-04 | 検出器及び付随コリメータのアレイを具えたトモグラフィックエネルギー分散型x線回折装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7564947B2 (ja) |
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WO (1) | WO2004106906A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017142232A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-08-17 | コミサリア ア レネルジ アトミク エ オウ エネルジ アルタナティヴ | X線回折により物体を分析する方法 |
CN111380880A (zh) * | 2018-12-28 | 2020-07-07 | 中国兵器工业第五九研究所 | 衍射装置及无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法 |
JP2020153724A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社リガク | X線分析装置 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005016656A1 (de) * | 2005-01-26 | 2006-08-10 | Smiths Heimann Gmbh | Kollimator mit einstellbarer Brennweite |
CN101506715A (zh) * | 2005-06-29 | 2009-08-12 | 瑞弗莱克塞特公司 | 用来在微透镜阵列薄膜中雕刻孔的方法和装置 |
EP1947478A3 (en) * | 2006-12-01 | 2015-01-07 | Mats Danielsson | New system and method for imaging using radio-labeled substances, especially suitable for studying of biological processes |
US7375338B1 (en) * | 2007-03-07 | 2008-05-20 | General Electric Company | Swappable collimators method and system |
US7889845B2 (en) * | 2007-12-20 | 2011-02-15 | Morpho Detection, Inc. | Secondary collimator and method of assembling the same |
US7742574B2 (en) * | 2008-04-11 | 2010-06-22 | Mats Danielsson | Approach and device for focusing x-rays |
US7813477B2 (en) | 2009-03-05 | 2010-10-12 | Morpho Detection, Inc. | X-ray diffraction device, object imaging system, and method for operating a security system |
US8204174B2 (en) | 2009-06-04 | 2012-06-19 | Nextray, Inc. | Systems and methods for detecting an image of an object by use of X-ray beams generated by multiple small area sources and by use of facing sides of adjacent monochromator crystals |
WO2010141735A2 (en) | 2009-06-04 | 2010-12-09 | Nextray, Inc. | Strain matching of crystals and horizontally-spaced monochromator and analyzer crystal arrays in diffraction enhanced imaging systems and related methods |
WO2015012850A1 (en) * | 2013-07-25 | 2015-01-29 | Analogic Corporation | Generation of diffraction signature of item within object |
US9939393B2 (en) | 2015-09-28 | 2018-04-10 | United Technologies Corporation | Detection of crystallographic properties in aerospace components |
WO2018102792A1 (en) * | 2016-12-02 | 2018-06-07 | Ningbo Infinite Materials Technology Co., Ltd | X-ray diffraction and x-ray spectroscopy method and related apparatus |
SE545585C2 (en) * | 2018-10-19 | 2023-10-31 | Commw Scient Ind Res Org | An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56101542A (en) * | 1980-01-19 | 1981-08-14 | Taiji Yoneda | Tomography device of x-ray diffraction |
JPS57165746A (en) * | 1981-04-03 | 1982-10-12 | Taiji Yoneda | Pickup device for tomographic image by picture processing of x-ray diffraction image |
JPH0576524A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-03-30 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
JPH10153664A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-06-09 | Shimadzu Corp | 2次元アレイ型放射線検出器 |
US5787145A (en) * | 1995-03-21 | 1998-07-28 | Heimann Systems Gmbh | Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials |
JPH10513265A (ja) * | 1995-02-08 | 1998-12-15 | イギリス国 | X線検査システム |
JPH11510594A (ja) * | 1995-05-31 | 1999-09-14 | クウォンタ・ビジョン・インコーポレイテッド | 物体の内部構造のx線及びニュートロン回折映像法 |
JP2001269331A (ja) * | 2000-02-28 | 2001-10-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | 検査域におけるパルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置 |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT346629B (de) * | 1972-01-28 | 1978-11-27 | Efanov Valery P | Verfahren zur roentgendiffraktionstopographier- ung von einkristallen und einrichtung zur durchfuehrung desselben |
US3988585A (en) * | 1974-06-11 | 1976-10-26 | Medical Data Systems Corporation | Three-dimensional rectilinear scanner |
GB1578881A (en) | 1976-02-09 | 1980-11-12 | Univ Ohio State | Gamma camera system |
US4088888A (en) * | 1977-02-25 | 1978-05-09 | General Electric Company | Gantry for computed tomography |
DE2840965C2 (de) | 1978-09-20 | 1982-11-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern eines Aufnahmeobjekts |
US4288697A (en) * | 1979-05-03 | 1981-09-08 | Albert Richard D | Laminate radiation collimator |
DE3007456A1 (de) | 1980-02-28 | 1981-09-10 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur untersuchung eines koerpers mittels durchdringender strahlung |
US4951305A (en) * | 1989-05-30 | 1990-08-21 | Eastman Kodak Company | X-ray grid for medical radiography and method of making and using same |
DE4101544A1 (de) * | 1991-01-19 | 1992-07-23 | Philips Patentverwaltung | Roentgengeraet |
US5231655A (en) * | 1991-12-06 | 1993-07-27 | General Electric Company | X-ray collimator |
US5263075A (en) * | 1992-01-13 | 1993-11-16 | Ion Track Instruments, Inc. | High angular resolution x-ray collimator |
US5651047A (en) * | 1993-01-25 | 1997-07-22 | Cardiac Mariners, Incorporated | Maneuverable and locateable catheters |
US5491738A (en) * | 1993-03-15 | 1996-02-13 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | X-ray diffraction apparatus |
DE4430615C2 (de) * | 1994-08-17 | 1998-04-02 | Deutsches Elektronen Synchr | Verfahren und Vorrichtung zur abbildenden Pulverdiffraktometrie |
US5629524A (en) * | 1995-02-21 | 1997-05-13 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | High speed crystallography detector |
US5589690A (en) * | 1995-03-21 | 1996-12-31 | National Institute Of Standards And Technology | Apparatus and method for monitoring casting process |
FR2735874B1 (fr) * | 1995-06-20 | 1997-08-22 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif d'analyse non invasif par radio-imagerie, notamment pour l'examen in vito de petits animaux, et procede de mise en oeuvre |
FR2745640B1 (fr) * | 1996-02-29 | 1998-04-10 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif d'imagerie multicoupes |
US6005913A (en) * | 1996-04-01 | 1999-12-21 | Siemens Westinghouse Power Corporation | System and method for using X-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure |
NL1009012C2 (nl) * | 1998-04-28 | 1999-10-29 | Stichting Tech Wetenschapp | Werkwijze voor het bepalen van celparameters van een kristalstructuur onder toepassing van diffractie. |
US6442233B1 (en) * | 1998-06-18 | 2002-08-27 | American Science And Engineering, Inc. | Coherent x-ray scatter inspection system with sidescatter and energy-resolved detection |
US6621888B2 (en) * | 1998-06-18 | 2003-09-16 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects |
US6163592A (en) * | 1999-01-28 | 2000-12-19 | Bruker Axs, Inc. | Beam scattering measurement system with transmitted beam energy detection |
US6987836B2 (en) * | 2001-02-01 | 2006-01-17 | Creatv Microtech, Inc. | Anti-scatter grids and collimator designs, and their motion, fabrication and assembly |
WO2002082065A2 (en) * | 2001-04-03 | 2002-10-17 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computed tomography apparatus |
WO2003065077A2 (en) * | 2002-01-30 | 2003-08-07 | Rutgers, The State University | Combinatorial contraband detection using energy dispersive x-ray diffraction |
US6819738B2 (en) * | 2002-08-15 | 2004-11-16 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Hybrid scintillator/photo sensor & direct conversion detector |
EP1537407A1 (en) * | 2002-09-04 | 2005-06-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Anti-scattering x-ray shielding for ct scanners |
US7065175B2 (en) * | 2003-03-03 | 2006-06-20 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | X-ray diffraction-based scanning system |
DE10317677A1 (de) * | 2003-04-17 | 2004-11-18 | Bruker Axs Gmbh | Primärstrahlfänger |
US6956928B2 (en) * | 2003-05-05 | 2005-10-18 | Bruker Axs, Inc. | Vertical small angle x-ray scattering system |
US7092485B2 (en) * | 2003-05-27 | 2006-08-15 | Control Screening, Llc | X-ray inspection system for detecting explosives and other contraband |
-
2003
- 2003-05-31 GB GBGB0312499.7A patent/GB0312499D0/en not_active Ceased
- 2003-12-04 WO PCT/GB2003/005281 patent/WO2004106906A1/en active Application Filing
- 2003-12-04 US US10/558,699 patent/US7564947B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-04 JP JP2005500165A patent/JP4554512B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-04 AU AU2003290226A patent/AU2003290226A1/en not_active Abandoned
- 2003-12-04 EP EP03782591A patent/EP1629267A1/en not_active Ceased
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56101542A (en) * | 1980-01-19 | 1981-08-14 | Taiji Yoneda | Tomography device of x-ray diffraction |
JPS57165746A (en) * | 1981-04-03 | 1982-10-12 | Taiji Yoneda | Pickup device for tomographic image by picture processing of x-ray diffraction image |
JPH0576524A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-03-30 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
JPH10513265A (ja) * | 1995-02-08 | 1998-12-15 | イギリス国 | X線検査システム |
US5787145A (en) * | 1995-03-21 | 1998-07-28 | Heimann Systems Gmbh | Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials |
JPH11510594A (ja) * | 1995-05-31 | 1999-09-14 | クウォンタ・ビジョン・インコーポレイテッド | 物体の内部構造のx線及びニュートロン回折映像法 |
JPH10153664A (ja) * | 1996-09-30 | 1998-06-09 | Shimadzu Corp | 2次元アレイ型放射線検出器 |
JP2001269331A (ja) * | 2000-02-28 | 2001-10-02 | Koninkl Philips Electronics Nv | 検査域におけるパルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
C.HALL,他7名: "Non−destructive tomographic energy−dispersive diff", CEMENT AND CONCRETE RESEARCH, vol. 30, no. 3, JPN6009007307, 15 June 2000 (2000-06-15), pages 491 - 495, ISSN: 0001253664 * |
G.HARDING,他1名: "Coherent X−ray scatter imaging and its application", RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, vol. Vol.56,No.1/2, JPN6009007304, September 1999 (1999-09-01), pages 229 - 245, ISSN: 0001253665 * |
P.SELLER,他13名: "Two Approaches to hybrid X-ray pixel array readout", PROCEEDINGS OF SPIE, vol. 3774, JPN6009057713, 24 November 1999 (1999-11-24), pages 30 - 37, ISSN: 0001458044 * |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017142232A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-08-17 | コミサリア ア レネルジ アトミク エ オウ エネルジ アルタナティヴ | X線回折により物体を分析する方法 |
JP7007091B2 (ja) | 2015-12-24 | 2022-01-24 | コミサリア ア レネルジ アトミク エ オウ エネルジ アルタナティヴ | X線回折により物体を分析する方法 |
CN111380880A (zh) * | 2018-12-28 | 2020-07-07 | 中国兵器工业第五九研究所 | 衍射装置及无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法 |
JP2022516141A (ja) * | 2018-12-28 | 2022-02-24 | 中国兵器工業第五九研究所 | 回折装置、及びワーク内部の結晶方位の均一性の非破壊検査を行う方法 |
JP7201825B2 (ja) | 2018-12-28 | 2023-01-10 | 中国兵器工業第五九研究所 | 回折装置、及びワーク内部の結晶方位の均一性の非破壊検査を行う方法 |
CN111380880B (zh) * | 2018-12-28 | 2023-04-07 | 中国兵器工业第五九研究所 | 衍射装置及无损检测工件内部晶体取向均匀性的方法 |
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