JP2006317428A - 面位置検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源11からの光を被検物に照射する投光光学系13、14、3と、投光光学系に設けられ、光源からの光束の一部を遮蔽し、被検物からの光を反射する第1光路分割部材12と、第1光路分割部材で反射された被検物からの光を2つの光路に分割する第2光路分割部材15と、複数の受光部を有し、第2光路分割部材により分割された一方の光を受光する第1受光手段16と、第1受光手段により検出された複数の受光部で受光された光量を基に、被検物の面位置を検出する第1位置検出部17、7と、第2光路分割部材により分割された他方の光の光路中に設けられたピンホール18を透過した光を受光する第2受光手段19と、第2受光手段により受光された光量を基に被検物の面位置を検出する第2位置検出部20、7と、投光光学系と被検物との相対位置を変更する移動手段とを有する。
【選択図】図2
Description
光源からの光を被検物に照射する投光光学系と、
前記投光光学系に設けられ、前記光源からの光束の一部を遮蔽し、前記被検物からの光を反射する第1光路分割部材と、
前記第1光路分割部材で反射された被検物からの光を2つの光路に分割する第2光路分割部材と、
複数の受光部を有し、前記第2光路分割部材により分割された一方の光を受光する第1受光手段と、
前記第1受光手段により検出された前記複数の受光部で受光された光量を基に、前記被検物の面位置を検出する第1位置検出部と、
前記第2光路分割部材により分割された他方の光の光路中に設けられたピンホールあるいはスリットと、
前記ピンホールあるいはスリットを透過した光を受光する第2受光手段と、
前記第2受光手段により受光された光量を基に前記被検物の面位置を検出する第2位置検出部と、
前記投光光学系と前記被検物との相対位置を変更する移動手段と
を有することを特徴とする。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態の面位置検出装置の構成を示す図である。面位置検出装置1は、センサユニット2、対物レンズ3、撮像装置4、被検物を載置するステージ5、センサユニット2の移動量を検出するエンコーダ6、制御部7を有している。 センサユニット2、対物レンズ3、撮像装置4は不図示の駆動機構を介して支柱8に取り付けられており、エンコーダ6で検出した移動量から被検物との相対位置を求めることが出来る。
S=(A−B)/(A+B)
センサユニット2を対物レンズ3の光軸方向(Z方向)に移動させる。Z方向の移動量に対する差信号レベルSの変化は図3に示すようになる。Z方向位置の変化に伴って、差信号レベルSは負からゼロを通り正の値になる。このとき、ゼロを通るZ方向位置(ゼロクロス位置)と合焦位置とを一致させておく。センサユニット2をZ方向に一定速で駆動して、
S=(A−B)/(A+B)=0
A+B>T
の条件(すなわち、(A+B)が所定レベルより大きく、かつ差信号レベルSがゼロになるとき)で制御部7は、その瞬間のセンサユニット2の高さ位置(Z方向位置)を、エンコーダ6からの位置情報を読み取る。そして、高さ測定を行なう。または、その高さ位置を目標値としてセンサユニット2を位置決め駆動することにより、合焦動作を行なう。または、差信号レベルSそのものの0を目標としてフィードバック駆動することにより、合焦動作を行なう、あるいはその停止位置として高さ位置を測定する。
制御部7では、以下の式により、信号レベルCを求める。
I=C/(A+B)
センサユニット2を対物レンズ3の光軸方向(Z方向)に移動させる。そして、制御部7は、Iの値がピークになるZ方向位置を検出する。すなわち、Iがピークになった時点のエンコーダ6からの位置情報を読み取ることにより、センサユニット2の高さ方向位置を検出する。例えば、被検物が液晶用のガラス基板である場合、受光素子19からの光量信号レベルCは、Z方向位置の変化に伴い、図4に示すように、2つのピークが検出される。これは、ガラス基板の表面からの反射光によるピークp1と、裏面からの反射光によるピークp2とが分離されて検出されるからである。
本実施形態は、センサユニット2を被検物に対して近づける方向に移動させながらシングルAF(高さ測定)をする時に適用するものである。ナイフエッジ方式の引き込み範囲内で、ナイフエッジ方式により1点の合焦位置が検出され、擬似共焦点方式により合焦位置が2点以上検出された時には、ナイフエッジ方式で検出された1点をエラーと判断し、擬似共焦点の第1点目が被検物の表面で、第2点目が裏面と判断する。また、擬似共焦点方式の2つの点から被検物の厚さを求めることも可能である。このような、検出された点の判断は、被検物の種類により、制御部に複数の判定プログラムを用意し、選択することにより行われる。
本実施形態は、図2に示したセンサユニット2のピンホール18の代わりにスリットを設けたものである。一般的にピンホールにビームウェストを通す調整は難しい。本方式は本来の共焦点とは異なり、光点はボケるだけではなく、焦点の前後で位置がシフトしながら広がっていく。そのため、ピンホールに替えて、光点シフト方向に直交したスリットを用いても、ピーク信号が得られる。外乱光の影響等はピンホールに劣るが、合焦位置との共役調整は、1方向のシフトだけで済むため、非常に簡単となる利点がある。
Claims (3)
- 光源からの光を被検物に照射する投光光学系と、
前記投光光学系に設けられ、前記光源からの光束の一部を遮蔽し、前記被検物からの光を反射する第1光路分割部材と、
前記第1光路分割部材で反射された被検物からの光を2つの光路に分割する第2光路分割部材と、
複数の受光部を有し、前記第2光路分割部材により分割された一方の光を受光する第1受光手段と、
前記第1受光手段により検出された前記複数の受光部で受光された光量を基に、前記被検物の面位置を検出する第1位置検出部と、
前記第2光路分割部材により分割された他方の光の光路中に設けられたピンホールあるいはスリットと、
前記ピンホールあるいはスリットを透過した光を受光する第2受光手段と、
前記第2受光手段により受光された光量を基に前記被検物の面位置を検出する第2位置検出部と、
前記投光光学系と前記被検物との相対位置を変更する移動手段と
を有することを特徴とする面位置検出装置。 - 請求項1に記載の面位置検出装置において、
前記第1位置検出部により得られた前記被検物の位置と、前記第2検出部により得られた前記被検物の面位置のいずれかを選択する選択手段を有することを特徴とする面位置検出装置。 - 請求項1または2に記載の面位置検出装置において、
前記第1受光手段の前記複数の受光部で受光されたそれぞれの光量の和信号を求め、前記和信号を基に前記光源の発光量を制御する光量制御信号を出力し、前記第1受光手段によって受光された光量および前記第2受光手段によって受光された光量を前記和信号により規格化する演算部を備えたことを特徴とする面位置検出装置。
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JP2006025534A JP2006317428A (ja) | 2005-04-12 | 2006-02-02 | 面位置検出装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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2006
- 2006-02-02 JP JP2006025534A patent/JP2006317428A/ja active Pending
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