JPH11211972A - 合焦検出装置 - Google Patents

合焦検出装置

Info

Publication number
JPH11211972A
JPH11211972A JP10027892A JP2789298A JPH11211972A JP H11211972 A JPH11211972 A JP H11211972A JP 10027892 A JP10027892 A JP 10027892A JP 2789298 A JP2789298 A JP 2789298A JP H11211972 A JPH11211972 A JP H11211972A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus detection
focus
objective lens
detection device
detection signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10027892A
Other languages
English (en)
Inventor
Aiichi Ishikawa
愛一 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP10027892A priority Critical patent/JPH11211972A/ja
Publication of JPH11211972A publication Critical patent/JPH11211972A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Focusing (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 様々な条件下で確実に合焦状態を検出するこ
とができる合焦検出装置を提供すること。 【解決手段】 制御装置9に設けた判断部91は、第1
検出装置7からの合焦検出信号と、第2検出装置8から
の合焦検出信号とを受けて、いずれの合焦信号を採用し
てレンズ駆動装置を制御するかを判断する。つまり、判
断部91は、第1検出装置7を構成するセンサ駆動装置
78からの合焦検出信号と、第2検出装置8を構成する
CCD駆動装置88からの合焦検出信号とを受けて、い
ずれの合焦検出信号を採用して合焦を行うかを判断す
る。判断部91がセンサ駆動装置78からの合焦検出信
号とCCD駆動装置88からの合焦検出信号とのいずれ
か一方が所定の信号レベル以下になったと判断した場
合、判断部91は、所定の信号レベル以上の他方の合焦
検出信号を採用する。制御装置9は、この他方の合焦検
出信号に基づいてレンズ駆動装置31を介して対物レン
ズ3を光軸AX方向に移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光学顕微鏡その
他の光学装置の結像系に組み込まれる合焦検出装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来存在する合焦検出装置の構
成を説明する概念図である。図4(a)は、特開昭58
−217909号公報や特開昭60−100114号公
報に開示されている合焦検出装置を説明する概念図であ
り、図4(b)は、特開昭53−50851号公報に開
示されている合焦検出装置を説明する概念図である。
【0003】図4(a)において、合焦用光源51から
出射した合焦検出用の光は、その半分がミラー52で反
射される。ミラー52で反射された光は、さらにハーフ
ミラー53で反射されて対物レンズ54を通り対象物S
上に光源像を形成する。対象物Sで反射された光は、対
物レンズ54及びハーフミラー53を通って2分割セン
サ57に入射する。対象物Sが合焦位置にある場合、2
分割センサ57の検出面上に光源像が結像し、かつ、セ
ンサ57a、57bに入射する光量がバランスする。対
象物Sが合焦位置からずれた場合、センサ57a、57
bに入射する光量が合焦位置からのずれ方向及び量に対
応してアンバランスになる。これを利用して、合焦ずれ
がなくなるように対物レンズ54を移動させて合焦を行
う。
【0004】一方、図4(b)において、観察用光源
(図示を省略)で照明された対象物S表面からの像光
は、対物レンズ64を通ってハーフミラー63で反射さ
れて光路分割プリズム62に入射する。この光路分割プ
リズム62で分割された像光は、CCD67上の2領域
A、Bに入射する。両像光には光路差があるため、CC
D67の領域Aと領域Bではピント差が生じ、このピン
ト差が合焦検出信号を生じさせる。すなわち、CCD6
7上の領域Aからの画像信号と領域Bからの画像信号と
からそれぞれ高周波成分を抽出し、両高周波成分が同じ
になるように対物レンズ64を移動させて合焦させる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前者の合焦検
出装置(図4(a))では、合焦検出範囲が広いが、特
定条件下で正しい合焦信号が得られなくなる場合があ
る。例えば、対象物Sにおいて合焦検出用の光の入射点
に段差があると、そこで合焦検出用の光が乱反射してし
まい正しい合焦信号が得られなくなる。
【0006】一方、後者の合焦検出装置(図4(b))
では、合焦検出範囲が狭い。すなわち、対象物Sが合焦
位置からずれるに伴って、検出される高周波成分が急速
に減少してしまい合焦信号が得られなくなる。
【0007】そこで、本発明は、様々な条件下で確実に
合焦状態を検出することができる合焦検出装置を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するためのものであり、以下に、実施形態に示した
各図面を用いてその内容を説明する。
【0009】本発明の合焦検出装置は、第1の合焦検出
方式を用いて対象物(S)表面に対する対物レンズ
(3)の合焦検出を行う第1検出装置(7)と、前記第
1の合焦検出方式と異なる方式の第2の合焦検出方式を
用いて前記対象物表面に対する前記対物レンズの合焦検
出を行う第2検出装置(8)とを備えることを特徴とす
る。
【0010】また、好ましい態様によれば、前記第1検
出装置(7)は、前記対物レンズ(3)を通して合焦検
出光(スリット像又は光源像)を前記対象物(S)表面
に投影し、前記対象物表面で反射した前記合焦検出光を
前記対物レンズ(3)を通して受光することによって合
焦検出を行い、前記第2検出装置(8)は、前記対物レ
ンズ(3)を通過した前記対象物(S)表面からの光束
を2つに分割し、一方の光束を第1の結像位置(CO
1)に結像し、 他方の光束を第2の結像位置(CO
2)に結像し、前記第1の結像位置と前記第2結像位置
との間に配置された光電変換素子(87)からの受光信
号に基づいて合焦検出を行うことを特徴とする。
【0011】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置(8)が検出した前記合焦検出信号が所定の合焦
ずれ量以上を示す場合に、前記第1検出装置(7)が検
出した前記合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ
(3)又は前記対象物(S)を相対移動させて前記対物
レンズ(3)の焦点位置を前記対象物(S)表面に一致
させることを特徴とする。
【0012】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置(8)が検出した合焦検出信号が所定の合焦ずれ
量以下を示す場合に、前記第2検出装置(8)が検出し
た合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ(3)又は
前記対象物(S)を相対移動させて前記対物レンズ
(3)の焦点位置を前記対象物(S)表面に一致させる
ことを特徴とする。
【0013】また、好ましい態様によれば、前記第1検
出装置(7)が出力する前記合焦検出信号と前記第2検
出装置(8)が出力する前記合焦検出信号とのいずれか
一方が所定の信号レベル以下になった場合に他方の合焦
検出信号に基づいて、前記対物レンズ(3)又は前記対
象物(S)を相対移動させて前記対物レンズ(3)の焦
点位置を前記対象物(S)表面に一致させることを特徴
とする。
【0014】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置(8)が出力する合焦検出信号が所定の信号レベ
ル以下になった場合、前記第1検出装置(7)が出力す
る合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ(3)又は
前記対象物(S)を相対移動させて、前記対物レンズ
(3)の焦点位置を前記対象物(S)表面に一致させ、
前記第2検出装置(8)が出力する合焦検出信号が所定
の信号レベルを超えた場合、前記第2検出装置(8)が
出力する合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ
(3)又は前記対象物(S)を相対移動させて、前記対
物レンズ(3)の焦点位置を前記対象物(S)表面に一
致させる駆動装置(31)を有することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態の焦点
検出装置を組み込んだ顕微鏡について図面を参照しつつ
説明する。
【0016】図1は、顕微鏡の全体構造を説明する概念
図である。この顕微鏡は、被検物Sを載置するステージ
2と、ステージ2上の被検物Sの像を拡大像として結像
する対物レンズ3と、対物レンズ3によって結像された
拡大像をこれに対応する画像信号に変換する画像センサ
4と、第1の合焦検出方式を用いて合焦検出を行う第1
検出装置7と、第1の合焦検出方式とは異なる第2の合
焦検出方式を用いて合焦検出を行う第2検出装置8と、
顕微鏡全体を統括的に制御する制御装置9とを備える。
【0017】ステージ2は、制御装置9に制御されるス
テージ駆動装置21に駆動されて、水平なX−Y面内で
任意の位置に移動可能になっているとともに、対物レン
ズ3の光軸AXに沿ったZ方向にも必要に応じて適宜移
動可能となっている。
【0018】対物レンズ3は、制御装置9に制御される
レンズ駆動装置31に駆動されて、光軸AXに沿ったZ
方向に移動可能となっている。対物レンズ3の移動方向
及び移動量は、第1及び第2検出装置7、8からの合焦
検出出力に基づいて算出される。
【0019】画像検出装置4は、制御装置9から制御信
号に基づいて検出面4a上に投影された被検物Sの可視
域での拡大像をこれに対応する電気信号に変換し、この
電気信号を画像信号として制御装置9に入力する。制御
装置9に入力された画像信号は、画像処理が行われた後
に、不図示のディスプレイに表示される。
【0020】第1検出装置7は、合焦用の赤外光を発生
する点状光源であるレーザダイオード71と、レーザダ
イオード71から出射した赤外光を水平方向に反射する
ミラー72と、ミラー72で反射された赤外光を下方に
反射して対物レンズ3に入射させるハーフミラー73
と、対物レンズ3を通り対象物S上に投影された赤外の
光源像を対物レンズ3、ハーフミラー73等を介して検
出する2分割センサ77と、この2分割センサ77を駆
動するセンサ駆動装置78とを備える。
【0021】ここで、ミラー72は、ナイフエッジ状の
ものであり、光軸AXの片側にのみ配置されている。こ
のため、レーザダイオード71から出射した赤外光のう
ち光軸AX片側の半分がハーフミラー73に向けて反射
されるとともに、対象物S上の光源像から出射して対物
レンズ3で集光されハーフミラー73で反射された赤外
光のうち光軸AX下側のものだけが2分割センサ77に
入射する。
【0022】2分割センサ77は、一対のダイオード1
77、277からなる。両ダイオード177、277に
設けた一対の検出面177a、277aは、画像検出装
置4の検出面4aと共役な位置に配置されており、それ
ぞれで投影された光源像を検出することができる。すな
わち、両ダイオード177、277は、センサ駆動装置
78に制御されて、両ダイオード177、277に入射
する赤外光の光量に対応する電気信号を出力する。
【0023】センサ駆動装置78は、2分割センサ77
の動作を制御するとともに、2分割センサ77の両ダイ
オード177、277に入射する赤外光の光量差から赤
外光の光軸AXからの重心ずれを検出して、被検物Sに
対する対物レンズ3の合焦ずれを検出できるようになっ
ている。
【0024】合焦検出について具体的に説明すると、2
分割センサ77は、対象物Sが対物レンズ3に対して合
焦位置にあるときに、その検出面177a、277a上
に光源像が結像し、かつ、両検出面177a、277a
に入射する光量がバランスするようにセットされてい
る。そして、対象物Sが対物レンズ3に対して合焦位置
にある場合は、両ダイオード177、277の出力する
電気信号が等しくなって、センサ駆動装置78から出力
される合焦検出信号がゼロとなる。また、対象物Sが対
物レンズ3に対して合焦位置からずれている場合は、両
ダイオード177、277の出力する電気信号がアンバ
ランスとなって、センサ駆動装置78から出力される合
焦検出信号が合焦ずれの方向及び量に応じて正又は負の
値となる。なお、合焦ずれ量とは、対物レンズ3の合焦
位置(つまり、画像センサ4の共役点)と対象物Sの表
面(つまり、測定面)との間隔に対応する。制御装置9
は、両ダイオード177、277の出力差に対応する合
焦検出信号の値からだいたいの合焦ずれ量を算出するこ
とができる。
【0025】第2検出装置8は、対象物Sの可視域の像
光を対物レンズ3を通過した後に部分的に分割して水平
方向に取り出すハーフミラー83と、ハーフミラー83
で反射・分割された像光を2光路に分岐する光路分割プ
リズム82と、この光路分割プリズム82で分割された
一対の像光が投影されるリニアイメージセンサであるC
CD87と、このCCD87を駆動するCCD駆動装置
88とを備える。
【0026】光路分割プリズム82は、ハーフミラー8
3で反射された像光を一対の平行な光軸AX1、AX2
に沿って出射する。光軸AX2に沿って出射する像光
は、光軸AX1に沿って出射する像光に比較して、ミラ
ー面82a、82bで反射される間に両光軸AX1、A
X2の間隔に対応する距離だけ光路が長くなっていて、
両者の間にはピント差が生じている。
【0027】CCD87は、光軸AX1に沿って出射す
る像光に関する検出面4aの共役面CO1と、光軸AX
2に沿って出射する像光に関する検出面4aの共役面C
O2との間に配置されている。そして、CCD87は、
光軸AX1、AX2に沿って入射する像光をそれぞれ領
域A、Bで1次元の画像信号として検出する。
【0028】CCD駆動装置88は、CCD87の動作
を制御するとともに、CCD87の出力する画像信号か
ら領域A、Bごとに高周波成分を抽出してピントずれを
求める。つまり、対象物Sが対物レンズ3に対して合焦
位置にある場合は、CCD87上の2領域A、Bで検出
される高周波成分(ピントずれ)が等しくなってCCD
駆動装置88の出力する合焦検出信号がゼロとなり、対
象物Sが対物レンズ3に対して合焦位置からずれている
場合は、CCD駆動装置88の出力する合焦検出信号が
合焦ずれの方向及び量に応じて正又は負の値となる。
【0029】制御装置9は、ステージ駆動装置21や対
物レンズ駆動装置31を制御する部分のほか、判断部9
1を備えている。この判断部91は、第1検出装置7か
らの合焦検出信号と、第2検出装置8からの合焦検出信
号とを受けて、いずれの合焦信号を採用してレンズ駆動
装置31を制御するかを判断する。つまり、判断部91
は、第1検出装置7を構成するセンサ駆動装置78から
の合焦検出信号と、第2検出装置8を構成するCCD駆
動装置88からの合焦検出信号とを受けて、いずれの合
焦検出信号を採用して合焦を行うかを判断する。
【0030】以下、図1の顕微鏡の動作について説明す
る。観察者は、制御装置9にコマンドを入力してステー
ジ2を適当な位置に移動させる。同時に、制御装置9
は、画像検出装置4から出力される画像信号に基づいて
被検物Sの画像をディスプレイ(図示を省略)上に表示
する。この際、制御装置9は、第1及び第2検出装置
7、8からの合焦検出信号に基づいてレンズ駆動装置3
1を動作させて、対物レンズ3の焦点位置を対象物S表
面に一致させる。
【0031】制御装置9の判断部91がセンサ駆動装置
78からの合焦検出信号とCCD駆動装置88からの合
焦検出信号とのいずれか一方が所定の信号レベル以下に
なったと判断した場合、判断部91は、所定の信号レベ
ル以上の他方の合焦検出信号を採用する。制御装置9
は、この他方の合焦検出信号に基づいてレンズ駆動装置
31を介して対物レンズ3を光軸AX方向に移動させ
る。これにより、第1及び第2検出装置7、8の少なく
とも一方から合焦検出信号が出力されている限り、対物
レンズ3の焦点位置を対象物S表面に一致させることが
でき、画像検出装置4によって常に一定以上の精度で被
検物Sの合焦像を得ることができる。
【0032】例えば、第1検出装置7からの合焦検出用
の赤外光が被検物Sの段差に入射してセンサ駆動装置7
8から十分な合焦検出信号が出力されない場合、判断部
91がセンサ駆動装置78からの合焦検出信号が所定の
信号レベル以下になったと判断し、制御装置9は、他方
のCCD駆動装置88の合焦検出信号に基づいて対物レ
ンズ3を光軸AX方向に移動させる。一方、CCD87
が両共役面CO1、CO2から大きくずれて十分な高周
波信号が得れない場合や、被検物Sの表面上パターンが
ほとんどない場合(つまり目標の像が大きく均一である
場合)、CCD駆動装置88から十分な合焦検出信号が
出力されない。この場合、判断部91がCCD駆動装置
88からの合焦検出信号が所定の信号レベル以下になっ
たと判断し、制御装置9は、他方のセンサ駆動装置78
の合焦検出信号に基づいて対物レンズ3を光軸AX方向
に移動させる。
【0033】また、センサ駆動装置78からの合焦検出
信号とCCD駆動装置88からの合焦検出信号とのいず
れもが所定の信号レベル以上である場合、CCD駆動装
置88が検出した合焦検出信号に基づいて対物レンズ3
を光軸AX方向に移動させて対物レンズ3を合焦させ
る。これにより、合焦近傍の状態では比較的精度の高い
第2検出装置8側のCCD駆動装置88からの合焦検出
信号を利用して合焦を行うことができ、合焦から大きく
ずれた状態では比較的検出範囲の広い第1検出装置7側
のCCD駆動装置78からの合焦検出信号を利用して合
焦を行うことができる。つまり、相互の検出方式の欠点
を補完した高精度の合焦検出が可能となる。
【0034】なお、以上の説明では、第1検出装置7と
第2検出装置8を常時動作させて合焦検出信号を取り出
しているが、不要な場合、第1検出装置7と第2検出装
置8のいずれかの動作を停止させることもできる。さら
に、第1検出装置7と第2検出装置8とを時分割で動作
させていずれの合焦検出信号を採用するかを判断するこ
ともできる。このような場合、第2検出装置8で合焦検
出を行っているときには、第1検出装置7のレーザダイ
オード71からの赤外光の出射を防止し、第2検出装置
8の合焦検出への影響を防止することができる。
【0035】図2は、図1の顕微鏡の変形例の要部を説
明する図である。なお、図1と共通する部分について
は、同一の符号を付して重複説明を省略する。この変形
例では、第2検出装置8に指標投影装置181を設けて
いる。パターンが非常に少ない対象物Sを観察する場合
や、暗視野で対象物Sを観察する場合は、図1の第2検
出装置8では、合焦位置においてもCCD87の検出信
号が小さくなる。このような場合に備えて、この変形例
では、対象物Sの表面に指標像を投影する指標投影装置
181を設けている。この指標投影装置181は、照明
光源181aと、照明光源181aからの照明光を均一
な平行光とするレンズ181bと、パターンの入った指
標板181cとを備える。照明光によって照明された指
標板181cは、対象物Sの表面と共役な位置に配置さ
れており、対象物Sの表面上には指標板181cのパタ
ーン像が投影される。これにより、合焦位置で像光量が
少ない場合であっても正確な合焦検出が可能となる。
【0036】図3も、図1の顕微鏡の変形例の要部を説
明する図である。この変形例では、第1検出装置7のレ
ーザダイオード71に代えて、合焦用のスリット像を投
影するためのスリット像投影装置171を設けている。
このスリット像投影装置171は、赤外光源であるレー
ザダイオード171aと、レーザダイオード171aか
らの照明光を均一な平行光とするレンズ171bと、ス
リットを有するスリット板171cとを備える。赤外光
によって照明されるスリット板171cは、対象物Sの
表面と共役な位置に配置されており、対象物Sの表面上
にはスリット像が投影される。これにより、対象物Sの
表面の一部に段差があっても、スリット像全体が段差に
かかっていなければ、ある程度の合焦検出信号を得るこ
とができるようになり、合焦検出が不可能となる場合を
減らすことができる。
【0037】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
てきたが、この発明は上記実施形態に限定されるもので
はない。例えば、以上で説明した第1又は第2検出装置
7、8の代わりに、これらで用いている合焦検出方式と
は異なる各種合焦検出方式(対物レンズ3を通過した光
から合焦状態を検出するものに限らない)を組み合わせ
て、いずれかの合焦検出方式による合焦検出信号の内か
らより信頼度の高いものを選択しこれに基づいて対物レ
ンズ3を対象物Sに対して合焦させることができる。
【0038】また、以上の実施形態では、対物レンズ3
を光軸AX方向に移動させて対物レンズ3を対象物Sに
対して合焦させることとしているが、対象物Sを載置す
るステージ2を光軸AX方向に移動させて対物レンズ3
を対象物Sに対して合焦させることもできる。
【0039】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明の
合焦検出装置によれば、第1の合焦検出方式を用いる第
1検出装置と、前記第1の合焦検出方式と異なる第2の
合焦検出方式を用いる第2検出装置とを備えるので、前
記第1の合焦検出方式と第2の合焦検出方式との特徴を
生かして前記第1の合焦検出方式と第2の合焦検出方式
とを使い分けることができる。これにより、両合焦検出
方式が相互に補完し合うことになり、様々な条件下でよ
り正確な合焦検出を行うことができる。
【0040】また、好ましい態様によれば、前記第1検
出装置は、前記対物レンズを通して合焦検出光を前記対
象物表面に投影し、前記対象物表面で反射した前記合焦
検出光を前記対物レンズを通して受光することによって
合焦検出を行い、前記第2検出装置は、前記対物レンズ
を通過した前記対象物表面からの光束を2つに分割し、
一方の光束を第1の結像位置に結像し、 他方の光束を
第2の結像位置に結像し、前記第1の結像位置と前記第
2結像位置との間に配置された光電変換素子からの受光
信号に基づいて合焦検出を行うので、特定条件下で前記
第1検出装置から正しい合焦信号が得られなくなった場
合、前記第2検出装置からの合焦検出信号を活用し、前
記第2検出装置によって合焦検出が可能なフォーカス方
向の範囲をはずれた場合、前記第1検出装置からの合焦
検出信号を活用することで、合焦可能な範囲を広くする
ことができる。
【0041】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置が検出した前記合焦検出信号が所定の合焦ずれ量
以上を示す場合に、前記第1検出装置が検出した前記合
焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ又は前記対象物
を相対移動させて前記対物レンズの焦点位置を前記対象
物表面に一致させるので、合焦から大きく外れた状態で
は検出範囲の広い前記第1検出装置からの合焦検出信号
を利用して合焦を行うことができる。
【0042】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置が検出した合焦検出信号が所定の合焦ずれ量以下
を示す場合に、前記第2検出装置が検出した合焦検出信
号に基づいて、前記対物レンズ又は前記対象物を相対移
動させて前記対物レンズの焦点位置を前記対象物表面に
一致させるので、合焦近傍の状態では比較的精度の高い
前記第2検出装置を利用して合焦を行うことができる。
【0043】また、好ましい態様によれば、前記第1検
出装置が出力する前記合焦検出信号と前記第2検出装置
が出力する前記合焦検出信号とのいずれか一方が所定の
信号レベル以下になった場合に他方の合焦検出信号に基
づいて、前記対物レンズ又は前記対象物を相対移動させ
て前記対物レンズの焦点位置を前記対象物表面に一致さ
せるので、より確実な合焦信号に基づく合焦が可能にな
る。
【0044】また、好ましい態様によれば、前記第2検
出装置が出力する合焦検出信号が所定の信号レベル以下
になった場合、前記第1検出装置が出力する合焦検出信
号に基づいて、前記対物レンズ又は前記対象物を相対移
動させて、前記対物レンズの焦点位置を前記対象物表面
に一致させ、前記第2検出装置が出力する合焦検出信号
が所定の信号レベルを超えた場合、前記第2検出装置が
出力する合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ又は
前記対象物を相対移動させて、前記対物レンズの焦点位
置を前記対象物表面に一致させる駆動装置を有するの
で、前記第2検出装置を前記第1検出装置によって補完
させることによって、確実な合焦が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態の合焦検出装置を組み込んだ顕微鏡を
説明する概念図である。
【図2】図1の合焦検出装置の変形例を説明する図であ
る。
【図3】図1の合焦検出装置の変形例を説明する図であ
る。
【図4】従来の合焦検出装置の構造を説明する図であ
る。
【符号の説明】
2 ステージ 3 対物レンズ 4 画像センサ 7 第1検出装置 8 第2検出装置 9 制御装置 31 レンズ駆動装置 71 レーザダイオード 72 ミラー 73 ハーフミラー 77 2分割センサ 78 センサ駆動装置 83 ハーフミラー 82 光路分割プリズム 87 CCD 88 CCD駆動装置 AX 光軸 S 被検物

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の合焦検出方式を用いて対象物表面
    に対する対物レンズの合焦検出を行う第1検出装置と、 前記第1の合焦検出方式と異なる方式の第2の合焦検出
    方式を用いて前記対象物表面に対する前記対物レンズの
    合焦検出を行う第2検出装置とを備えることを特徴とす
    る合焦検出装置。
  2. 【請求項2】 前記第1検出装置は、前記対物レンズを
    通して合焦検出光を前記対象物表面に投影し、前記対象
    物表面で反射した前記合焦検出光を前記対物レンズを通
    して受光することによって合焦検出を行い、前記第2検
    出装置は、前記対物レンズを通過した前記対象物表面か
    らの光束を2つに分割し、一方の光束を第1の結像位置
    に結像し、他方の光束を第2の結像位置に結像し、前記
    第1の結像位置と前記第2結像位置との間に配置された
    光電変換素子からの受光信号に基づいて合焦検出を行う
    ことを特徴とする請求項1記載の合焦検出装置。
  3. 【請求項3】 前記第2検出装置が検出した前記合焦検
    出信号が所定の合焦ずれ量以上を示す場合に、前記第1
    検出装置が検出した前記合焦検出信号に基づいて、前記
    対物レンズ又は前記対象物を相対移動させて前記対物レ
    ンズの焦点位置を前記対象物表面に一致させることを特
    徴とする請求項2記載の合焦検出装置。
  4. 【請求項4】 前記第2検出装置が検出した合焦検出信
    号が所定の合焦ずれ量以下を示す場合に、前記第2検出
    装置が検出した合焦検出信号に基づいて、前記対物レン
    ズ又は前記対象物を相対移動させて前記対物レンズの焦
    点位置を前記対象物表面に一致させることを特徴とする
    請求項2記載の合焦検出装置。
  5. 【請求項5】 前記第1検出装置が出力する前記合焦検
    出信号と前記第2検出装置が出力する前記合焦検出信号
    とのいずれか一方が所定の信号レベル以下になった場合
    に他方の合焦検出信号に基づいて、前記対物レンズ又は
    前記対象物を相対移動させて前記対物レンズの焦点位置
    を前記対象物表面に一致させることを特徴とする請求項
    1、請求項3及び請求項4のいずれか記載の合焦検出装
    置。
  6. 【請求項6】 前記第2検出装置が出力する合焦検出信
    号が所定の信号レベル以下になった場合、前記第1検出
    装置が出力する合焦検出信号に基づいて、前記対物レン
    ズ又は前記対象物を相対移動させて、前記対物レンズの
    焦点位置を前記対象物表面に一致させ、 前記第2検出装置が出力する合焦検出信号が所定の信号
    レベルを超えた場合、前記第2検出装置が出力する合焦
    検出信号に基づいて、前記対物レンズ又は前記対象物を
    相対移動させて、前記対物レンズの焦点位置を前記対象
    物表面に一致させる駆動装置を有することを特徴とする
    請求項1に記載の焦点検出装置。
JP10027892A 1998-01-27 1998-01-27 合焦検出装置 Withdrawn JPH11211972A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10027892A JPH11211972A (ja) 1998-01-27 1998-01-27 合焦検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10027892A JPH11211972A (ja) 1998-01-27 1998-01-27 合焦検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11211972A true JPH11211972A (ja) 1999-08-06

Family

ID=12233553

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10027892A Withdrawn JPH11211972A (ja) 1998-01-27 1998-01-27 合焦検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11211972A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006317428A (ja) * 2005-04-12 2006-11-24 Nikon Corp 面位置検出装置
JP2008096605A (ja) * 2006-10-11 2008-04-24 Nikon Corp アライメント顕微鏡、マーク検出方法及び積層型半導体装置の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006317428A (ja) * 2005-04-12 2006-11-24 Nikon Corp 面位置検出装置
JP2008096605A (ja) * 2006-10-11 2008-04-24 Nikon Corp アライメント顕微鏡、マーク検出方法及び積層型半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4958920A (en) Process and apparatus for the automatic focusing of microscopes
JP4021183B2 (ja) 合焦状態信号出力装置
JPH0623808B2 (ja) 光学器械の自動焦点調節装置
JPS58181005A (ja) 自動焦点位置合せ及び測定装置並びに方法
KR20130096551A (ko) 자동초점 조절장치
JPH0888170A (ja) 標的の位置及び傾斜の制御装置
CN116540393B (zh) 自动对焦***及方法、半导体缺陷检测***及方法
JP3794670B2 (ja) 顕微鏡のオートフォーカス方法及び装置
JP2001091821A (ja) 顕微鏡用オートフォーカスシステム
JPS6161178B2 (ja)
JPH11211972A (ja) 合焦検出装置
JP3510359B2 (ja) 光学測定装置
JP2000352661A (ja) 合焦装置
JPH09230250A (ja) 光学顕微鏡自動合焦点装置
JPH09201689A (ja) 焦点位置検出装置及びそれを用いるレーザ加工装置
JPH0580246A (ja) 自動合焦装置及びそれを備えた観察装置
JP3078083B2 (ja) 自動合焦装置
JP2000164680A (ja) ウェハ位置調整装置
JP2828145B2 (ja) 光切断顕微鏡装置及びその光学手段の位置合わせ方法
JPH0534119A (ja) 焦点合わせ装置
EP0545519B1 (en) Non-contact measuring method for step difference and device therefor
JPH07174962A (ja) 自動焦点調節装置
JPH10133117A (ja) 焦点検出装置を備えた顕微鏡
JPH04113305A (ja) 焦点合わせ装置
JPH08122623A (ja) オートフォーカス装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050405