JP2006266763A - 評価方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する。その測定結果に基づいて、物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する。抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する。算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する。
【選択図】 図1
Description
画像処理装置によって、物体の光沢特性を評価する評価方法であって、
前記物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する測定工程と、
前記測定工程による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出工程と、
前記抽出工程で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示工程と
を備える。
評価対象の物体を照明する光源と、
前記照明手段により照明される被測定部での反射光の空間的な分布を同一円周上から変角測定する受光器と
を備える。
物体の光沢特性を評価する評価装置であって、
前記物体の変角反射光分布特性を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示手段と
を備える。
まず、実施形態1の光沢感評価装置(画像処理装置)による光沢評価処理の概要について、図1を用いて説明する。
以下、本発明の実施形態2について説明する。実施形態2における光沢感および光沢ムラ評価値装置の構成は、実施形態1に示す図2Aの受光信号処理部210は、同様である。従って、実施形態2においては、特に、実施形態1との相違点である評価値の算出部と出力部についてのみ説明する。
210 受光信号処理部
211 測光部
213 評価パラメータ抽出部
214 正反射光強度抽出部
215 正反射近傍光強度抽出部
220 光沢感評価値算出処理部
221 評価パラメータ入力部
222 正反射光高度入力部
223 正反射近傍光強度入力部
224 評価パラメータ格納部
230 光沢感評価値出力部
231 光沢評価値ファイル出力部
232 光沢感評価値モニタ表示部
Claims (15)
- 画像処理装置によって、物体の光沢特性を評価する評価方法であって、
前記物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する測定工程と、
前記測定工程による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出工程と、
前記抽出工程で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出工程と、
前記算出工程で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示工程と
を備えることを特徴とする評価方法。 - 前記変角反射光分布特性は、正反射近傍における前記物体からの反射光強度の分布特性である
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記測定装置は、
評価対象の物体を照明する光源と、
前記照明手段により照明される被測定部での反射光の空間的な分布を同一円周上から変角測定する受光器と
を備えることを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記評価パラメータは、正反射光強度と、正反射近傍光強度である
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記評価パラメータは、正反射光強度と、正反射近傍の反射光分布の広がりである
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記評価パラメータは、鏡面光沢度測定方法に基づき測定された鏡面光沢度の値と、ヘイズ測定方法に基づいて測定したヘイズの値である
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記評価パラメータは、鏡面光沢度測定方法に基づき測定された鏡面光沢度の値と、写像性測定方法に基づき測定された像鮮明度の値である
ことを特徴とする請求項1に記載の評価方法。 - 前記光沢特性は、前記物体の光沢感であって、前記算出工程は前記物体の光沢感についての評価値を算出する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の評価方法。 - 前記光沢特性は、複数の物体間の光沢ムラであって、前記算出工程は前記複数の物体間の光沢ムラについての評価値を算出する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の評価方法。 - 物体の光沢特性を評価する評価装置であって、
前記物体の変角反射光分布特性を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示手段と
を備えることを特徴とする評価装置。 - 評価装置を制御することによって、請求項1乃至請求項12記載の評価方法を実行することを特徴とするプログラム。
- 請求項14に記載されたプログラムが記録されたことを特徴とする記録媒体。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010217875A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-30 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2011169706A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Ricoh Co Ltd | 光沢評価装置及び光沢評価方法 |
JP2014077664A (ja) * | 2012-10-09 | 2014-05-01 | Ricoh Co Ltd | 光沢性評価方法及び光沢性評価装置 |
JP2014126408A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Canon Inc | 反射特性の測定装置 |
JP2016197035A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | 株式会社ナリス化粧品 | 粉体のスクリーニング方法 |
JP2016206076A (ja) * | 2015-04-24 | 2016-12-08 | 株式会社ナリス化粧品 | 化粧の仕上がり感の評価方法 |
JP2017223692A (ja) * | 2017-08-02 | 2017-12-21 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
WO2019177145A1 (ja) * | 2018-03-16 | 2019-09-19 | コニカミノルタ株式会社 | 光沢値算出装置、光沢値測定装置、光沢色の色調定量化装置および光沢値算出方法 |
JP2020193839A (ja) * | 2019-05-27 | 2020-12-03 | マツダ株式会社 | 金属調質感の評価方法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006261820A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 撮像装置、画像形成装置および質感読取方法 |
JP5058838B2 (ja) * | 2008-02-01 | 2012-10-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置および方法 |
JP5631041B2 (ja) | 2010-04-02 | 2014-11-26 | キヤノン株式会社 | 色処理装置、色処理方法、および、画像形成装置 |
JP5578018B2 (ja) * | 2010-10-22 | 2014-08-27 | 株式会社ニコン | 光沢度の測定方法及び測定装置 |
EP2975370B1 (de) * | 2014-07-14 | 2020-11-04 | X-Rite Switzerland GmbH | Farbmessgerät |
JP6818403B2 (ja) * | 2015-07-22 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 光学特性の測定装置 |
CN111489448A (zh) * | 2019-01-24 | 2020-08-04 | 宏达国际电子股份有限公司 | 检测真实世界光源的方法、混合实境***及记录介质 |
US20230419523A1 (en) * | 2022-06-28 | 2023-12-28 | Zebra Technologies Corporation | Method, System and Apparatus for Photometric Stereo Reconstruction of a Surface |
CN116858141B (zh) * | 2023-09-02 | 2023-12-05 | 江苏迪牌新材料有限公司 | 一种pvc膜的平整度检测装置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH552197A (de) * | 1972-11-24 | 1974-07-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche. |
US3850526A (en) * | 1973-03-16 | 1974-11-26 | Atomic Energy Commission | Optical method and system for measuring surface finish |
GB1580196A (en) * | 1976-05-27 | 1980-11-26 | Ferranti Ltd | Gloss measuring surface inspection systems |
JPS6117047A (ja) * | 1984-02-29 | 1986-01-25 | Suga Shikenki Kk | 視感光沢度測定方法 |
US4606645A (en) * | 1984-10-29 | 1986-08-19 | Weyerhaeuser Company | Method for determining localized fiber angle in a three dimensional fibrous material |
US4750140A (en) * | 1984-11-30 | 1988-06-07 | Kawasaki Steel Corporation | Method of and apparatus for determining glossiness of surface of a body |
JPS62126331A (ja) * | 1985-11-27 | 1987-06-08 | Kawasaki Steel Corp | 物体表面の光沢度判定装置 |
US4746805A (en) * | 1986-11-18 | 1988-05-24 | General Motors Corporation | Combined distinctness of image and gloss meter |
US4830504A (en) * | 1987-06-24 | 1989-05-16 | Measurex Corporation | Gloss gauge |
US4886355A (en) * | 1988-03-28 | 1989-12-12 | Keane Thomas J | Combined gloss and color measuring instrument |
EP0438468B1 (de) * | 1988-10-14 | 1993-06-09 | BYK-Gardner GMBH | Verfahren und vorrichtung zur glanzmessung |
US4945253A (en) * | 1988-12-09 | 1990-07-31 | Measurex Corporation | Means of enhancing the sensitivity of a gloss sensor |
US5155558A (en) * | 1990-09-19 | 1992-10-13 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method and apparatus for analyzing the appearance features of a surface |
US5252836A (en) * | 1991-03-07 | 1993-10-12 | U.S. Natural Resources, Inc. | Reflective grain defect scanning |
JPH04315952A (ja) * | 1991-04-15 | 1992-11-06 | Nkk Corp | 表面処理鋼板の品質検査方法及びその装置 |
JPH06242016A (ja) * | 1993-02-22 | 1994-09-02 | Fujitsu Ltd | バンプ外観検査装置 |
US5416594A (en) * | 1993-07-20 | 1995-05-16 | Tencor Instruments | Surface scanner with thin film gauge |
JP2000036907A (ja) * | 1998-07-17 | 2000-02-02 | Minolta Co Ltd | 画像読取装置 |
JP4152786B2 (ja) * | 2003-03-24 | 2008-09-17 | 東洋アルミニウム株式会社 | メタリック塗膜の有するメタリック感の評価方法 |
JP4111040B2 (ja) | 2003-04-11 | 2008-07-02 | 富士ゼロックス株式会社 | 光沢評価方法および装置 |
-
2005
- 2005-03-22 JP JP2005082709A patent/JP3938184B2/ja active Active
-
2006
- 2006-03-16 WO PCT/JP2006/305259 patent/WO2006101006A1/ja active Application Filing
-
2007
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010217875A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-30 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2011169706A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Ricoh Co Ltd | 光沢評価装置及び光沢評価方法 |
JP2014077664A (ja) * | 2012-10-09 | 2014-05-01 | Ricoh Co Ltd | 光沢性評価方法及び光沢性評価装置 |
JP2014126408A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Canon Inc | 反射特性の測定装置 |
JP2016197035A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | 株式会社ナリス化粧品 | 粉体のスクリーニング方法 |
JP2016206076A (ja) * | 2015-04-24 | 2016-12-08 | 株式会社ナリス化粧品 | 化粧の仕上がり感の評価方法 |
JP2017223692A (ja) * | 2017-08-02 | 2017-12-21 | 株式会社リコー | 光学センサ及び画像形成装置 |
WO2019177145A1 (ja) * | 2018-03-16 | 2019-09-19 | コニカミノルタ株式会社 | 光沢値算出装置、光沢値測定装置、光沢色の色調定量化装置および光沢値算出方法 |
JPWO2019177145A1 (ja) * | 2018-03-16 | 2021-03-18 | コニカミノルタ株式会社 | 光沢値算出装置、光沢値測定装置、光沢色の色調定量化装置および光沢値算出方法 |
JP7235038B2 (ja) | 2018-03-16 | 2023-03-08 | コニカミノルタ株式会社 | 光沢値算出装置、光沢値測定装置、光沢色の色調定量化装置および光沢値算出方法 |
JP2020193839A (ja) * | 2019-05-27 | 2020-12-03 | マツダ株式会社 | 金属調質感の評価方法 |
JP7234800B2 (ja) | 2019-05-27 | 2023-03-08 | マツダ株式会社 | 金属調質感の評価方法 |
Also Published As
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