JP2006058104A - 半導体装置の検査装置 - Google Patents
半導体装置の検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006058104A JP2006058104A JP2004239121A JP2004239121A JP2006058104A JP 2006058104 A JP2006058104 A JP 2006058104A JP 2004239121 A JP2004239121 A JP 2004239121A JP 2004239121 A JP2004239121 A JP 2004239121A JP 2006058104 A JP2006058104 A JP 2006058104A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- tester
- power supply
- current
- conversion element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
【課題】複数の被測定デバイスを同時に電源供給、入力信号の印加をする場合において、複数の被測定デバイスの中から電源電流、入力電流の不良デバイスを特定する。
【解決手段】テスター1の1つの信号ドライバー3からの信号線を、プローブカード2上のドライバー配線分岐点5で分岐させ、それぞれの分岐路に対応して第1,第2被検査デバイス4a,4bを接続し、分岐点5と第1,第2被検査デバイス4a,4bとの間に電流電圧変換素子17a,17bを直列に挿入したものであり、信号ドライバー3から印加された信号を用いて検査を行い、第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果を第1被検査デバイス検査回路12a,第2被検査デバイス検査回路12bで判定し、結果をテスター内検査結果管理回路13に蓄える。
【選択図】図1
【解決手段】テスター1の1つの信号ドライバー3からの信号線を、プローブカード2上のドライバー配線分岐点5で分岐させ、それぞれの分岐路に対応して第1,第2被検査デバイス4a,4bを接続し、分岐点5と第1,第2被検査デバイス4a,4bとの間に電流電圧変換素子17a,17bを直列に挿入したものであり、信号ドライバー3から印加された信号を用いて検査を行い、第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果を第1被検査デバイス検査回路12a,第2被検査デバイス検査回路12bで判定し、結果をテスター内検査結果管理回路13に蓄える。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体装置の検査装置に関し、特に複数個の半導体装置を同時に検査する装置に関するものである。
半導体装置の検査においては、検査時間を短縮することが重要な課題であり、これを解決するために複数個の半導体装置を同時に検査させる方法が採用されてきた。
しかしながら、このような方法は、検査装置の構成により被測定デバイスの個数に制限があるという問題点を有している。そこで、例えば、特許文献1に記載された技術のように、1つの電源ユニット、1つのドライバーを複数個の被測定デバイスに割り付ける技術が提案されている。
以下、図17(a)〜(d)を参照しながら、特許文献1の技術のような複数の半導体デバイスを同時に検査する装置について説明する。
図17(a)に示す半導体装置の検査装置は、テスター1の信号ドライバー3の端子とプローブカード2内の半導体デバイスの信号端子とを接続して半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、テスター1の1つの端子とプローブカード2内に設けた分岐点5とを接続し、この分岐点5と複数の半導体デバイス、図17においては被検査デバイス4a,4bのそれぞれの信号入力端子とを接続し、1つの信号ドライバー3で複数の半導体デバイスを同時に検査するものである。
図17(b)に示す半導体装置の検査装置は、図17(a)に示す半導体装置の検査装置において、ON/OFFを制御できるリレー6a,6bを、分岐点5と複数の半導体デバイス(第1,第2被検査デバイス4a,4b)の信号入力端子の間に設けたものであり、リレー6a,6bの制御により半導体デバイスを独立に制御することができる。
図17(c)に示す半導体装置の検査装置は、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、図17(b)に示す構成に、テスター1の電源ユニット8と分岐点9とを接続し、分岐点9からそれぞれリレー10a,10bを介して複数の半導体デバイス(第1,第2被検査デバイス4a,4b)の電源端子を並列に接続した構成を加えたものである。
このような構成により、テスターの電源ユニットの数を増加することなく、同時に検査できる半導体デバイス数を増加することができる。そのため、テスターの1つの被測定デバイスに属する電源ユニットとドライバーを用いて、複数の半導体デバイスに同時に電源印加、信号印加をする構成にし、テスターの1つの被測定デバイスを用いて複数の半導体デバイスを同時に検査することができる。
図17(d)に示す半導体装置の検査装置は、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別する良否検査結果情報をテスター1からプローバー15に送信する半導体装置の検査装置であって、テスター1の1つの被測定デバイスに属する1組の比較器を分割して複数の半導体デバイス(第1,第2被検査デバイス4a,4b)の出力端子と接続し、分割した比較器のそれぞれの良または不良の良否検査結果をプローバー15内に設けた各被測定デバイスの良否検査結果を管理するプローバー内検査結果管理回路14に送信するものである。
特開平11−231022号公報
しかしながら、複数の被測定デバイスを同時に電源供給、入力信号の印加をする場合、良か不良かの判定は出力結果をそれぞれに判定できる時は、複数の被測定デバイスの良か不良かの判定は可能である。しかし電源電流、入力電流の良か不良かの判定は被測定デバイスを1デバイスごとにシリアルに再度測定する必要があり、検査時間短縮の大きな妨げになっていた。また、一方のデバイスが不良であった場合、他方のデバイスに本来の電源、入力信号が印加できなくなるおそれがあり、本来良品であるべきデバイスが不良判定されるという問題が起きるおそれがある。
本発明は、このような問題点に鑑み、複数の被測定デバイスを同時に電源供給、入力信号の印加をする場合、電源電流、入力電流の不良デバイスを特定することを目的とする。また、一方のデバイスが不良であった場合、他方のデバイスに本来の電源、入力信号が正常に印加されることを目的とする。
前記の目的を達成するため、本発明に係る請求項1記載の半導体装置の検査装置は、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力することを特徴とするものである。
請求項2記載の半導体装置の検査装置は、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とするものである。
請求項3記載の半導体装置の検査装置は、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力することを特徴とするものである。
請求項4記載の半導体装置の検査装置は、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い、テスターから前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とするものである。
請求項5記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力することを特徴とするものである。
請求項6記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とするものである。
請求項7記載の半導体装置の検査装置は、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別することを特徴とするものである。
請求項8記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給されることを特徴とするものである。
請求項9記載の半導体装置の検査装置は、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別することを特徴とするものである。
請求項10記載の半導体装置の検査装置は、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給されることを特徴とするものである。
請求項11記載の半導体装置の検査装置は、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とするものである。
請求項12記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とするものである。
請求項13記載の半導体装置の検査装置は、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とするものである。
請求項14記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とするものである。
請求項15記載の半導体装置の検査装置は、前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とするものである。
請求項16記載の半導体装置の検査装置は、テスターのドライバー端子とパフォーマンスボード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記パフォーマンスボード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチを設け、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別する検査結果情報をテスターから前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とするものである。
本発明に係る半導体装置の検査装置によると、複数の被測定デバイスを同時に電源供給、入力信号の印加をする場合、電源電流、入力電流の不良デバイスを特定することができる。また、一方のデバイスが不良であった場合、他方のデバイスに本来の電源、入力信号を正常に印加することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。
まず、図1に示すように、テスター1の1つの信号ドライバー3からの信号線が、プローブカード2上のドライバー配線分岐点5で分岐され、それぞれの分岐路に対応して第1,第2被検査デバイス4a,4bが接続されており、ドライバー配線分岐点5と第1,第2被検査デバイス4a,4bとの間に電流電圧変換素子17a,17bが直列に挿入されている。
そして、信号ドライバー3から印加された信号を用いて検査が行われ、第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換したものがテスター1に返され、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果が第1被検査デバイス検査回路12a,第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。
例えば、第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスで入力がGND間とショートしていたとすると、テスター1の1つの信号ドライバー3の出力電流は規格をオーバーしてしまう。このときテスター1側では第1,第2被検査デバイス4a,4bの少なくとも一方が不良デバイスで有ることしか認識できない。そのため、テスター1で不良と判定された場合には再度個々に検査する必要がある。そこで第1被検査デバイス4aと分岐点5の間に電流電圧変換素子17aを直列に挿入、第2被検査デバイス4bと分岐点5の間に電流電圧変換素子17bを直列に挿入することによって第1,第2被検査デバイス4a,4bの電流を独立に測定することができる。測定したデータをテスター1に入力することによりテスター1で第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができる。このようにして、第1,第2被検査デバイス4a,4bの入力電流を同時に検査することができる。
このように第1の実施形態によれば、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、テスターの1つのドライバー端子とプローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力することにより、複数の半導体デバイスの入力電流を同時に検査することができる。
(第2の実施形態)
図2は、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図2は、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
まず、図2に示すように、テスター1の1つの信号ドライバー3から信号線がプローブカード2上のドライバー配線における分岐点5で分岐され、それぞれの分岐路に対応して第1,第2被検査デバイス4a,4bが接続されており、ドライバー配線分岐点5と第1,第2被検査デバイス4a,4bとの間に、第1,第2被検査デバイス4a,4bを独立にON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー6a,6bと電流電圧変換素子17a,17bとが直列に挿入される。このリレー6a,6bを第1,第2被検査デバイス用リレー制御信号7a,7bによって制御することにより、1つの被検査デバイスごとに信号印加が制御できる。
そして、第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果が第1被検査デバイス検査回路12a、第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。さらに、テスター1のテスター内検査結果管理回路13において第1,第2被検査デバイス用リレー制御信号7a,7bに変換され、ON/OFFを制御できるリレー6a,6bのON/OFF制御が行われる。
ここで、被検査デバイスが不良品判定された場合には不良品の各被検査デバイスに接続された被検査デバイス用のリレーをOFFすることによって、被検査デバイスへの信号経路を切断することで不良被検査デバイスの入力による影響を切断することができ、他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
例えば、第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスで入力がGND間とショートしていたとすると、テスター1の1つの信号ドライバー3の出力電流は規格値をオーバーしてしまう。このときテスター1側では第1,第2被検査デバイス4a,4bの少なくとも一方が不良デバイスで有ることしか認識できない。テスター1で不良と判定された場合はON/OFFを制御できるリレー6a,6bを交互にON/OFFさせることでどちらが不良デバイスであるかを判定することができるが、不良の場合は合計で3回の検査をする必要が生じることになる。
そこで、第1被検査デバイス4aと分岐点5の間に電流電圧変換素子17aを直列に挿入、第2被検査デバイス4bと分岐点5の間に電流電圧変換素子17bを直列に挿入することによって被検査デバイス1,2の電流を独立に測定することができる。測定されてデータをテスター1に入力することによりテスター1で第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができる。
例えば、第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスであるとすると、不良と判定された被測定デバイス1と分岐点5の間に挿入されたON/OFFを制御できるリレー6aをOFFさせることで信号ドライバー3からの信号は第2被検査デバイス4bにのみ入力することができる。このような検査方法を用いることで第1,第2被検査デバイス4a,4bの入力電流を同時に1回の検査で実施することが可能であるとともに不良被検査デバイスの入力による影響を切断することで、引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
このように第2の実施形態によれば、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることにより、複数の半導体デバイスの入力電流を同時に検査することができる。
(第3の実施形態)
図3は、本発明の第3の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図3は、本発明の第3の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第3の実施形態は、図1に示す第1の実施形態における信号ドライバー3、電流電圧変換素子17a,17bの代わりに、図3に示すように電源ユニット8、電流電圧変換素子18a,18bを用い、テスター1の電源ユニット8とドライバーを用いて、複数の半導体デバイスに同時に電源印加、信号印加をする構成にし、テスターで複数のデバイスを同時に検査することを可能にしたものである。ここで、1つの電源ユニット8から2つの被測定デバイスに対して直接電源印加を行う場合には、1つの被測定デバイスごとに電源電流を検査することができない。そこで、第3の実施形態においては、電源ユニット8と各被測定デバイス4a,4bの電源端子間にそれぞれ1つの被検査デバイス4a,4bごとに、電流電圧変換素子18a,18bが直列に挿入されている。
そして、印加電源、印加信号を用いて検査を行い、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果を第1被検査デバイス検査回路12a、第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。
例えば、第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスで電源電流が規格値をオーバーしていたとすると、このときテスター1側では第1,第2被検査デバイス4a,4bの少なくとも一方が不良デバイスで有ることしか認識できない。そこで、第1被検査デバイス4aと分岐点9の間に電流電圧変換素子18aを直列に挿入、第2被検査デバイス4bと分岐点9の間に電流電圧変換素子18bを直列に挿入することで被検査デバイス4a,4bの電流を独立に測定することができる。測定されたデータをテスター1に入力することにより、テスター1で第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができる。
このように、第3の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第4の実施形態)
図4は、本発明の第4の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図4は、本発明の第4の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第4の実施形態は、図3に示す第3の実施形態における、第1被検査デバイス4aと電流電圧変換素子18aとの間に電源ユニット用リレー10aを直列に挿入し、同様に、第1被検査デバイス4bと電流電圧変換素子18bとの間に電源ユニット用リレー10bを直列に挿入したものである。
図4に示すように、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果が第1被検査デバイス検査回路12a、第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。そして、判定結果に基づいてテスター1のテスター内検査結果管理回路13によって、電源ユニット用リレー制御信号11a,11bに変換され、ON/OFFを制御できるリレー10a,10bのON/OFF制御が行われる。
例えば、第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスで電源がGND間とショートしていたとすると、テスター1の1つの電源ユニット8の電源電流は規格値をオーバーしてしまう。このときテスター1側では第1,第2被検査デバイス4a,4bの少なくとも一方が不良デバイスで有ることしか認識できない。テスター1で不良と判定された場合はON/OFFを制御できる電源ユニット用リレー10a,10bを交互にON/OFFさせることでどちらが不良デバイスであるかを判定することができるが、不良の場合は合計で3回の検査をする必要が生じることになる。
そこで第1被検査デバイス4aと分岐点9の間に電流電圧変換素子18aを直列に挿入、第2被検査デバイス4bと分岐点9の間に電流電圧変換素子18bを直列に挿入することで被検査デバイス4a,4bの電源電流を独立に測定することができる。測定されてデータをテスターに入力することによりテスター1によって第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができる。
第1被検査デバイス4aが不良被検査デバイスであるとすると、不良と判定された被測定デバイス1と分岐点9の間に挿入されたON/OFFを制御できるリレー18aをOFFさせることによって電源ユニット8からの信号は第2被検査デバイス4bに入力することができる。このような検査方法を用いることで第1,第2被検査デバイス4a,4bの入力電流を同時に1回の検査で実施することが可能であるとともに不良被検査デバイスの入力による影響を切断することで、引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
このように第4の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い、テスターから前記スイッチのON/OFF制御をするように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第5の実施形態)
図5は、本発明の第5の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態および図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図5は、本発明の第5の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図1に示す第1の実施形態および図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第5の実施形態は、第1の実施形態と第2の実施形態を組み合わせて図5に示すように構成し、電源電流の異常、入力回路の不具合により信号ドライバー3からの信号電流の異常が発生しても被検査デバイス4a,4bの電流を独立に測定することができ、また、測定されたデータをテスター1に入力することによりテスター1で第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができるようにしたものである。
このように第5の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をするように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第6の実施形態)
図6は、本発明の第6の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図2に示す第2の実施形態および図4に示す第4の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図6は、本発明の第6の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図2に示す第2の実施形態および図4に示す第4の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
まず、図6に示すように、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果が第1被検査デバイス検査回路12a、第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、その結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。そして、判定結果に基づいて、テスター1のテスター内検査結果管理回路13によって制御信号に変換され、ON/OFFを制御できるリレー6a,6bのON/OFF制御が行われる。また、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換したものをテスター1に返し、それぞれの各第1,第2被検査デバイス4a,4bの良否結果が第1被検査デバイス検査回路12a、第2被検査デバイス検査回路12bによって判定され、結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。判定結果に基づいて、テスター1のテスター内検査結果管理回路13によって制御信号に変換され、ON/OFFを制御できるリレー10a,10bのON/OFF制御が行われる。
例えば、被検査デバイスが不良品判定された場合には不良品の各被検査デバイスに接続された被検査デバイス用リレーをOFFすることで被検査デバイスへの信号経路を切断することで不良被検査デバイスの入力による影響を切断することができ、他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。被検査デバイスが不良品判定された場合には不良品の各被検査デバイスに接続された被検査デバイス用のリレー、被検査デバイスに対応する電源ユニット用リレーをOFFすることで被検査デバイスへの電源供給を切断することで不良被検査デバイスの入力による影響を切断することができ、他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
このように第6の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力をテスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をするように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第7の実施形態)
図7は、本発明の第7の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、19aは第1被検査デバイス用比較器、19bは第2被検査デバイス用比較器である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図7は、本発明の第7の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、19aは第1被検査デバイス用比較器、19bは第2被検査デバイス用比較器である。なお、図1に示す第1の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
まず、図7に示すように、信号ドライバー3から印加された信号を用いて検査を行い、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換した値とプローブ内部で発生させた基準電圧とを比較する第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス2用比較器19bで比較することでテスター1の機能を使うことなく良か不良かの判定をプローブカード2上で行うことができる。第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19bで判定した結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。
このように第7の実施形態によれば、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第8の実施形態)
図8は、本発明の第8の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図7に示す第7の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図8は、本発明の第8の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図7に示す第7の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
まず、図8に示すように、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換した値を比較する第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19bの基準となる電圧をテスター1より入力することで複数の比較電圧を設定することができる。第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19bによって判定された結果はテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。このような検査方法を用いることによって各被検査デバイス4a,4bが2つ以上の動作状態での異なる流入電流を検査することができる。
このように第8の実施形態によれば、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給されるように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第9の実施形態)
図9は、本発明の第9の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、20aは第1被検査デバイス4aの電源ユニット用比較器、20bは第2被検査デバイス4bの電源ユニット用比較器である。なお、図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図9は、本発明の第9の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、20aは第1被検査デバイス4aの電源ユニット用比較器、20bは第2被検査デバイス4bの電源ユニット用比較器である。なお、図3に示す第3の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
まず、電源ユニット8から印加された信号を用いて検査を行う。そして、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換した値とプローブ内部で発生させた基準電圧とを比較する電源ユニット用比較器20aおよび電源ユニット用比較器20bで比較することにより、テスター1の機能を使うことなく良か不良かの判定をプローブカード2上で行うことができる。電源ユニット用比較器20a、電源ユニット用比較器20bで判定した結果がテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。
第9の実施形態によると、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第10の実施形態)
図10は、本発明の第10の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図9に示す第9の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図10は、本発明の第10の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図9に示す第9の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第10の実施形態は、第9の実施形態において、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換した値を比較する電源ユニット用比較器20a,20bの基準となる電圧がテスター1より入力されるように構成したものであり、これによって複数の比較電圧を設定することができる。電源ユニット用比較器20a,20bで判定された結果はテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。このような検査方法を用いることで各被検査デバイスが2つ以上の動作状態での異なる流入電流を検査することができる。
このように第10の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給されるように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第11の実施形態)
図11は、本発明の第11の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図2に示す第2の実施形態および図7に示す第7の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図11は、本発明の第11の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図2に示す第2の実施形態および図7に示す第7の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第11の実施形態は、第7の実施形態における半導体装置の検査装置において、テスター1の1つの信号ドライバー3から信号線をプローブカード2上のドライバー配線分岐点5で分岐させ、それぞれ1つの被検査デバイスごとに、独立にON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー6a,6bと電流電圧変換素子17a,17bを直列に挿入したものである。そして、印加された信号を用いて検査を行い、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換した値とプローブ2内部で発生させた基準電圧とを比較する第1被検査デバイス用比較器19a、被検査デバイス2用比較器19bで比較することでテスター1の機能を使うことなく良か不良かの判定をプローブカード2上で行うことができる。第1被検査デバイス用比較器19a、被検査デバイス2用比較器19bで判定した結果を用いて不良判定された被検査デバイスの接続されたON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー6a,6bをOFFすることで引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
第11の実施形態によると、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第12の実施形態)
図12は、本発明の第12の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図11に示す第11の実施形態おける部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図12は、本発明の第12の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図11に示す第11の実施形態おける部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第12の実施形態は、第11の実施形態における半導体装置の検査装置において、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換した値を比較する第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19bの基準となる電圧をテスター1より入力することによって複数の比較電圧を設定することを可能にしたものである。第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19bで判定した結果を用いて不良判定された被検査デバイスの接続されたON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー6a,6bをOFFすることで引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。結果はテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。このような検査方法を用いることで各被検査デバイスが2つ以上の動作状態での異なる流入電流を検査することができる。
このように第12実施形態によれば、テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第13の実施形態)
図13は、本発明の第13の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図4に示す第4の実施形態および図9に示す第9の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図13は、本発明の第13の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図4に示す第4の実施形態および図9に示す第9の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第13の実施形態は、第9の実施形態における半導体装置の検査装置において、テスター1の1つのドライバー3から電源供給をプローブカード2上のドライバー配線分岐点5で分岐させ、それぞれ1つの被検査デバイスごとに、独立にON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー10a,10bと電流電圧変換素子18a,18bを直列に挿入したものである。そして、印加された信号を用いて検査を行い、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの流入電流を電圧に変換した値とプローブカード2内部で発生させた基準電圧とを比較する電源ユニット用比較器20a,20bで比較することでテスター1の機能を使うことなく良か不良かの判定をプローブカード2上で行うことができる。電源ユニット用比較器20a,20bで判定した結果を用いて不良判定された被検査デバイス4a,4bの接続されたON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー10a,10bをOFFすることで引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
第13実施形態によると、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第14の実施形態)
図14は、本発明の第14の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図13に示す第13の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図14は、本発明の第14の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図13に示す第13の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第14の実施形態は、第13の実施形態における半導体装置の検査装置において、各第1,第2被検査デバイス4a,4bへの電源電流を電圧に変換した値を比較する電源ユニット用比較器20a,20bの基準となる電圧をテスター1より入力するように構成したものである。これによって複数の比較電圧を設定することができる。電源ユニット用比較器20a,20bで判定した結果を用いて不良判定された被検査デバイスの接続されたON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー10a,10bをOFFすることで引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。結果はテスター内検査結果管理回路13に蓄えられる。このような検査方法を用いることで各被検査デバイスが2つ以上の動作状態での異なる流入電流を検査することができる。
このように第14の実施形態によれば、テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御するように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第15の実施形態)
図15は、本発明の第15の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図12に示す第12の実施形態および図14に示す第14の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図15は、本発明の第15の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図である。なお、図12に示す第12の実施形態および図14に示す第14の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第15の実施形態は、第12の実施形態と第14の実施形態を、図15に示すように組み合わせた構成である。このように構成することで電源電流の異常、入力回路の不具合により信号ドライバーからの信号電流の異常が発生しても被検査デバイス1,2の電流を独立に測定することができる。また、測定されてデータを第1,第2被検査デバイス4a,4bの良か不良かの判定を行うことができる。また、比較する第1被検査デバイス用比較器19a、被検査デバイス2用比較器19b、電源ユニット用比較器20a、電源ユニット用比較器20bの基準となる電圧をテスター1より入力することで複数の比較電圧を設定することができる。第1被検査デバイス用比較器19a、第2被検査デバイス用比較器19b、電源ユニット用比較器20a、電源ユニット用比較器20bで判定した結果を用いて不良判定された被検査デバイスの接続されたON/OFFを制御できるスイッチとしてリレー6a,6b,10a,10bをOFFすることで引き続き他方の被検査デバイスを安定に検査することができる。
このように第15の実施形態によれば、前記テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をするように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
(第16の実施形態)
図16は本発明の第16の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、16はパフォーマンスボードを示す。なお、図13に示す第13の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
図16は本発明の第16の実施形態に係る半導体装置の検査装置の要部構成を示す説明図であり、16はパフォーマンスボードを示す。なお、図13に示す第13の実施形態における部材と同一の部材または同一機能の部材については、同一の符号を付して、詳細な説明は省略する。
第16の実施形態は、第13の実施形態におけるプローブカード2を用いて検査する方法の代わりにパフォーマンスボード16を用いて半導体製品の検査を行うものであり、このような場合でも第1の実施形態と同様の効果が得られる。
このように第16の実施形態によると、テスターのドライバー端子とパフォーマンスボード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記パフォーマンスボード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチを設け、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別する検査結果情報をテスターから前記スイッチのON/OFF制御をするように構成したことにより、テスターで複数のデバイスを同時に検査することができる。
以上説明したように、本発明は、半導体装置を同時に複数個検査する方法等に有用である。
1 テスター
2 プローブカード
3 信号ドライバー
4a 第1被検査デバイス
4b 第2被検査デバイス
5 分岐点
6a,6b リレー
7a 第1被検査デバイス用リレー制御信号
7b 第2被検査デバイス用リレー制御信号
8 電源ユニット
10a,10b 電源ユニット用リレー
11a,11b 電源ユニット用リレー制御信号
12a 第1被検査デバイス検査回路
12b 第2被検査デバイス検査回路
13 テスター内検査結果管理回路
16 パフォーマンスボード
17a,17b,18a,18b 電流電圧変換素子
19a 第1被検査デバイス用比較器
19b 第2被検査デバイス用比較器
20a,20b 電源ユニット用比較器
2 プローブカード
3 信号ドライバー
4a 第1被検査デバイス
4b 第2被検査デバイス
5 分岐点
6a,6b リレー
7a 第1被検査デバイス用リレー制御信号
7b 第2被検査デバイス用リレー制御信号
8 電源ユニット
10a,10b 電源ユニット用リレー
11a,11b 電源ユニット用リレー制御信号
12a 第1被検査デバイス検査回路
12b 第2被検査デバイス検査回路
13 テスター内検査結果管理回路
16 パフォーマンスボード
17a,17b,18a,18b 電流電圧変換素子
19a 第1被検査デバイス用比較器
19b 第2被検査デバイス用比較器
20a,20b 電源ユニット用比較器
Claims (16)
- テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、この電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、この電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力し、半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果を用いて前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とする半導体装置の検査装置。
- テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、前記電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い前記テスターから前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とする半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力することを特徴とする請求項1記載の半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力を前記テスターに入力し、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別した検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とする請求項2記載の半導体装置の検査装置。
- テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間に電流・電圧変換素子を設け、この電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧を前記テスターから供給されることを特徴とする請求項7記載の半導体装置の検査装置。
- テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、前記電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- 前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、前記電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧を前記テスターから供給されることを特徴とする請求項9記載の半導体装置の検査装置。
- テスターのドライバー端子とプローブカード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの1つのドライバー端子と前記プローブカード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧をテスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とする請求項11記載の半導体装置の検査装置。
- テスターの電源ユニットと半導体デバイスの電源端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、前記電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御することを特徴とする半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと、前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧を前記テスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用いて前記ON/OFFを制御できるスイッチを制御すること、基準となる電圧を前記テスターから供給されることを特徴とする請求項13記載の半導体装置の検査装置。
- 前記テスターの電源ユニットと複数の前記半導体デバイスの前記電源端子とを並列に接続し、ON/OFFを制御できるスイッチと電流・電圧変換素子を、前記電源ユニットと前記複数の半導体デバイスの電源端子との間に設け、電流・電圧変換素子の出力と基準となる電圧とを比較する比較器を備え、基準となる電圧を前記テスターから供給され、比較器の出力から半導体デバイスの良か不良かを判別する検査結果情報を用い前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とする請求項12記載の半導体装置の検査装置。
- テスターのドライバー端子とパフォーマンスボード内の半導体デバイスの信号端子とを接続して前記半導体デバイスの検査を行う半導体装置の検査装置であって、前記テスターの1つのドライバー端子と前記パフォーマンスボード内に設けた分岐点とを接続し、この分岐点と複数の前記半導体デバイスの信号入力端子の間にON/OFFを制御できるスイッチを設け、複数の半導体デバイスの検査結果が良か不良かを判別する検査結果情報を前記テスターから前記スイッチのON/OFF制御をすることを特徴とする半導体装置の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004239121A JP2006058104A (ja) | 2004-08-19 | 2004-08-19 | 半導体装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004239121A JP2006058104A (ja) | 2004-08-19 | 2004-08-19 | 半導体装置の検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006058104A true JP2006058104A (ja) | 2006-03-02 |
Family
ID=36105685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004239121A Pending JP2006058104A (ja) | 2004-08-19 | 2004-08-19 | 半導体装置の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006058104A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007743A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Micronics Japan Co Ltd | プローブカード及び検査装置 |
WO2011030834A1 (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板検査装置および基板検査装置における位置合わせ方法 |
-
2004
- 2004-08-19 JP JP2004239121A patent/JP2006058104A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007743A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Micronics Japan Co Ltd | プローブカード及び検査装置 |
US8736292B2 (en) | 2009-06-29 | 2014-05-27 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Probe card and inspection apparatus |
WO2011030834A1 (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板検査装置および基板検査装置における位置合わせ方法 |
JP2011059021A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Tokyo Electron Ltd | 基板検査装置及び基板検査装置における位置合わせ方法 |
CN102483438A (zh) * | 2009-09-11 | 2012-05-30 | 东京毅力科创株式会社 | 基板检查装置以及基板检查装置中的对位方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009204329A (ja) | 回路ボード検査システム及び検査方法 | |
US8446164B2 (en) | Semiconductor device test system having high fidelity tester access fixture (HIFIX) board | |
JP4532570B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
KR100622695B1 (ko) | 와이어 하네스 양불 검사 시스템 및 방법 | |
CN115856588A (zh) | 芯片测试板及测试方法 | |
JP2008107216A (ja) | 測定方法、スイッチ装置、および、該スイッチ装置を備える測定システム | |
KR100988610B1 (ko) | 반도체 칩 테스트 장치 및 방법 | |
JP2007155640A (ja) | 集積回路の検査方法と検査装置 | |
KR100310971B1 (ko) | 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하기 위한 시스템 | |
JP2006058104A (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
JP2000065890A (ja) | Lsiテストシステム | |
JP6143617B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP6618826B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2010014603A (ja) | 測定装置および測定方法 | |
JP4314096B2 (ja) | 半導体集積回路検査装置および半導体集積回路検査方法 | |
KR20120028850A (ko) | 반도체 장치, 반도체 테스터 및 반도체 테스트 시스템 | |
JP2010002315A (ja) | 半導体試験装置とそのdc特性試験方法 | |
JP5844096B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JPH11231022A (ja) | 半導体装置の検査方法および検査装置 | |
JP2008076358A (ja) | 半導体集積回路及び半導体検査装置 | |
WO2009024172A1 (en) | Chip tester, chip test system, chip test setup, method for identifying an open-line failure and computer program | |
JP2011237349A (ja) | 試験装置 | |
JPH09211076A (ja) | 回路基板検査装置および半導体回路 | |
JP4061533B2 (ja) | Icテスタ | |
KR101652648B1 (ko) | 반도체 장치의 검사 장치, 검사 시스템, 검사 방법, 및 검사가 완료된 반도체 장치의 생산 방법 |