JP2005321204A - 半導体集積回路及びテストシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明は、少なくとも電流論理出力を行うピンを複数有する半導体集積回路に改良を加えたものである。本装置は、試験時に、I/V変換器と電気的に接続する試験ピンと、この試験ピンに、ピンを切り替えて接続する切替部と、この切替部を切り替える切替信号が入力される切替ピンとを設けたことを特徴とする装置である。
【選択図】 図1
Description
少なくとも電流論理出力を行うピンを複数有する半導体集積回路において、
試験時に、I/V変換器と電気的に接続する試験ピンと、
この試験ピンに、前記ピンを切り替えて接続する切替部と、
この切替部を切り替える切替信号が入力される切替ピンと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、
少なくとも電流論理出力を行うピンを複数有し、このピンを切り替えて、試験ピンに接続する半導体集積回路と、
この半導体集積回路の試験ピンと接続し、電流を電圧に変換するI/V変換器と、
このI/V変換器の出力を入力するICテスタと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項2記載の発明において、
電圧論理信号を電流論理信号に変換し、半導体集積回路に出力するV/I変換器を設け、ICテスタが前記電圧論理信号を出力することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項2また3記載の発明において、
半導体集積回路は、液晶駆動ドライバであることを特徴とするものである。
2 V/I変換器
4 半導体集積回路
41,42 入出力ピン
46 試験ピン
47 切替ピン
48 マルチプレクサ
5 I/V変換器
Claims (4)
- 少なくとも電流論理出力を行うピンを複数有する半導体集積回路において、
試験時に、I/V変換器と電気的に接続する試験ピンと、
この試験ピンに、前記ピンを切り替えて接続する切替部と、
この切替部を切り替える切替信号が入力される切替ピンと
を設けたことを特徴とする半導体集積回路。 - 少なくとも電流論理出力を行うピンを複数有し、このピンを切り替えて、試験ピンに接続する半導体集積回路と、
この半導体集積回路の試験ピンと接続し、電流を電圧に変換するI/V変換器と、
このI/V変換器の出力を入力するICテスタと
を設けたことを特徴とするテストシステム。 - 電圧論理信号を電流論理信号に変換し、半導体集積回路に出力するV/I変換器を設け、ICテスタが前記電圧論理信号を出力することを特徴とする請求項2記載のテストシステム。
- 半導体集積回路は、液晶駆動ドライバであることを特徴とする請求項2また3記載のテストシステム。
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