JP2005114551A - 多光軸光電センサ - Google Patents
多光軸光電センサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005114551A JP2005114551A JP2003349158A JP2003349158A JP2005114551A JP 2005114551 A JP2005114551 A JP 2005114551A JP 2003349158 A JP2003349158 A JP 2003349158A JP 2003349158 A JP2003349158 A JP 2003349158A JP 2005114551 A JP2005114551 A JP 2005114551A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- period
- optical axis
- photoelectric sensor
- axis photoelectric
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【課題】 干渉を検知しても動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることのできる多光軸光電センサを提供すること。
【解決手段】 複数の投光器が配列された投光センサヘッドと、複数の受光器が配列された受光センサヘッドとを有し、各光軸毎に投光期間並びに受光サンプリング期間を同期させて所定の周期で検出光の投光を行うことにより所定エリアへの物体侵入有無を監視する多光軸光電センサにおいて、投光期間直近の所定の2つの期間についてそれぞれ受光サンプリングを行い、外乱光の入光有無を判定する外乱光有無判定手段と、外乱光有無判定手段により確認された入光有りの回数を2つの期間別にカウントするカウント手段と、一定期間内に前記2つの期間のいずれかで所定回数を超える入光数がカウントされたときには、それが前記2つの期間のいずれかに基づいて、予定された次回の同期タイミングを変更することにより、以降の周期の位相をずらす周期変更手段と、を設ける。
【選択図】 図16
【解決手段】 複数の投光器が配列された投光センサヘッドと、複数の受光器が配列された受光センサヘッドとを有し、各光軸毎に投光期間並びに受光サンプリング期間を同期させて所定の周期で検出光の投光を行うことにより所定エリアへの物体侵入有無を監視する多光軸光電センサにおいて、投光期間直近の所定の2つの期間についてそれぞれ受光サンプリングを行い、外乱光の入光有無を判定する外乱光有無判定手段と、外乱光有無判定手段により確認された入光有りの回数を2つの期間別にカウントするカウント手段と、一定期間内に前記2つの期間のいずれかで所定回数を超える入光数がカウントされたときには、それが前記2つの期間のいずれかに基づいて、予定された次回の同期タイミングを変更することにより、以降の周期の位相をずらす周期変更手段と、を設ける。
【選択図】 図16
Description
この発明は、例えば、ライトカーテンやエリアセンサとしての用途に好適な多光軸光電センサに係り、特に、相互干渉回避対策の施された多光軸光電センサに関する。
多光軸光電センサは一般に、一方側には複数の投光素子が配列された投光センサヘッド(投光器)が、対向する側には同数の受光素子が配列された受光センサヘッド(受光器)が配置されて構成される。ライトカーテンとして使用される場合には、検出対象領域(危険領域)に物体が侵入すると、投光器からの検出光が受光器手前で遮蔽又は反射されるため、受光器における受光量が部分的又は全体に亘り変化し(受光量が減衰し)、それにより物体侵入が検出される。また、エリアセンサとして使用される場合には、検出対象領域に物体が侵入すると、いずれかの光軸が侵入物体により遮蔽されるため、該当する1又は2以上の受光素子における受光量が減衰し、それにより所定領域(エリア)への物体侵入が検出される。
ところで、上述のような多光軸光電センサは、現場においては近接して複数台が設置されるような場合が多々あり、このような場合には、所謂相互干渉の発生が懸念される。そこで、昨今では、そのような相互干渉への対策が施された多光軸光電センサが種々提案されている。具体的には、非投光期間中に所定回数の受光サンプリングを行い、この受光サンプリング期間中に幾度かの受光が確認されたときには、相互干渉が発生している(外乱光が入光している)ものとして、警告灯を表示させたり、センサの動作を停止等させるものが知られている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。
特開平5−75421号公報
特開平11−260215号公報
しかしながら、上述のような相互干渉防止対策の施された多光軸光電センサは、相互干渉を検知(発見)することそのものに重点が置かれているため、干渉を検知すると警告灯を表示させたり、センサの動作を停止等させるのみであり、干渉が発生したときの具体的回避策までは施されていない。すなわち、干渉を検知したときに自動的に当該干渉を回避して動作を継続させることのできるものではなかった。
この発明は、上述の問題点に着目してなされたものであり、その目的とするところは、干渉を検知しても動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることのできる多光軸光電センサを提供することにある。
この発明のさらに他の目的乃至作用効果については、以下の明細書の記載を参照することにより、当業者であれば容易に理解されるであろう。
上記問題点を解決するための本発明の多光軸光電センサは、複数の投光器が配列された投光センサヘッドと、複数の受光器が配列された受光センサヘッドとを有し、各光軸毎に投光期間並びに受光サンプリング期間を同期させて所定の周期で検出光の投光を行うことにより所定エリアへの物体侵入有無を監視する多光軸光電センサを前提とする。尚、ここでいう多光軸光電センサには、所定エリアへの物体侵入が検知されたときには外部制御対象機器の動作停止信号を生成するライトカーテンや、遮光が検知された1又は2以上の光軸に基づいて、所定エリア内における物体の侵入位置を検知するエリアセンサが含まれる。
そして、本発明の多光軸光電センサには、投光期間直近の所定の2つの期間についてそれぞれ受光サンプリングを行い、外乱光の入光有無を判定する外乱光有無判定手段と、外乱光有無判定手段により確認された入光有りの回数を2つの期間別にカウントするカウント手段と、一定期間内に前記2つの期間のいずれかで所定回数を超える入光数がカウントされたときには、それが前記2つの期間のいずれかに基づいて、予定された次回の同期タイミングを変更することにより、以降の周期の位相をずらす周期変更手段とが設けられている。
本発明の多光軸光電センサでは、投光期間の直近の2つの非投光期間中に受光サンプリングを行い、それぞれのオンオフ認定結果を得ている。このため、自身のセンサと他の隣接センサとの投受光周期の差により、自身の投光タイミングに時間的に前から近づきつつある他のセンサの投光タイミングの到来と、時間的に後から近づいてくる他のセンサの投光タイミングの到来とを識別することができる。そのため、その識別結果に応じて、その後の投光タイミング(投受光同期)を適宜前後へ移動させることができる。そのため、干渉を検知乃至予知した場合にも、動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることが可能となる。
本発明において、好ましくは、前記2つの期間は、投光期間の直前と直後にそれぞれ設定される。このような態様によれば、他のセンサの検出光が自身のセンサの投光タイミングと完全に一致してしまう(干渉が発生してしまう)前に、その旨を検知乃至予知できるから、干渉を未然に防止し、かつ、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることが可能となる。
尚、「適切に当該干渉を防止」とあるが、具体的には、一定期間内における投光期間の直前の入光数が所定数を超えたときには、次回の同期タイミングを予定されたそれより所定時間遅れさせ、一定期間内における投光期間の直後の入光数が所定数を超えたときには、次回の同期タイミングを予定されたそれより所定時間早めるようにするのが好ましい。このように設定すれば、適当に同期タイミングを変更する場合に比して、確実に干渉を回避することができる。
また、本発明において、好ましくは外乱光有無判定手段は、全光軸を対象として投光期間の直前及び直後における入光有無を判定し、周期変更手段は、いずれか1つの光軸に対応する外乱光の入光数が所定回数を超えたことを条件として、全光軸についての次回の同期タイミングを一律に変更するようにされる。
すなわち、多光軸光電センサにおいては、いずれか1つの光軸でも干渉を検知乃至予知したときには、他の光軸への干渉が生じることも想定される。そのため、そのような場合には、全光軸についての次回の同期タイミングを一律に変更することにより、そのような懸念が排除される。また、一般に、多光軸光電センサにおいては、各光軸の投受光周期が所定の間隔づつずらされて設定されている。このため、1つの光軸のみの投受光周期を変更することは設計的にも煩雑であるため、1つの光軸に対応する外乱光の入光数が所定回数を超えたような場合には、全光軸についての次回の同期タイミングを一律に変更する方が容易である。
本発明において、好ましくは、外乱光有無判定手段は、投光期間の直前のみの受光サンプリングと、投光期間の直後のみの受光サンプリングとを、1周期毎に交互に繰り返すように設定される。センサの応答速度を問わずに、干渉発生検知(予知)の速さを重視するのであれば、1周期毎に投光期間の直前と直後の両方で受光サンプリングするのが好ましいのであるが、このような態様によれば、センサの応答時間を短縮することができるというメリットが得られる。
本発明において、好ましくは、カウント手段は、投光期間の直前と直後における連続入光数をそれぞれカウントする直前入光カウンタ及び直後入光カウンタを有し、カウント手段の各カウンタは、1周期毎に到来する監視対象周期において入光が確認されたときにはカウンタ値が歩進される一方、監視対象周期において入光が確認されないときには、カウンタ値がリセットされるようにする。
このような態様によれば、直前入光カウンタ或いは直後入光カウンタにより連続して所定回数入光が確認されたときのみ、同期タイミングの変更が実行されるから、回路内部で発生するノイズや蛍光灯ノイズ等の単発ノイズを干渉光と見なして直ちに同期タイミングを変更してしまうといったような不要な対応動作を防止することができる。
本発明において、好ましくは、同期タイミングが複数周期に亘り連続して変更された回数をカウントする連続変更回数カウント手段と、連続変更回数が所定回数を超えたときには、センサ動作を停止する手段と、が更に設けられる。
すなわち、本発明の多光軸光電センサにあっては、繰り返し連続して同期タイミングを変更しているにもかかわらず、依然として干渉が検知されるような場合も想定される。このような状況は、何らかの原因により干渉回避が不可能な状態にあり、多光軸光電センサとしての正常な検出動作を実行できていないとみなすことができるから、直ちにセンサの動作を停止することで、そのような不具合を回避することができる。
以上の説明で明らかなように、本実施の形態によれば、干渉を検知しても動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることのできる多光軸光電センサを提供することができる。
以下に、本発明に係る多光軸光電センサの好適な実施の一形態を添付図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、以下の実施の形態は本発明の一例を示すものに過ぎず、言うまでもなく、本発明の要旨は特許請求の範囲によってのみ規定されるものである。
本実施形態の多光軸光電センサ100の構成が図1の外観図に示されている。同図に示されるように本実施形態の多光軸光電センサは、投光センサヘッド1と受光センサヘッド2とが通信用ケーブル101で接続されて構成されている。また、通信用ケーブル101には、接続コネクタ102を介して、外部設定器3が連結されている。尚、図示は省略されているが、接続コネクタ102と投光センサヘッド1との間には、電源供給用の配線ボックス等が介在されている。
外部設定器3は、複数の押しボタンスイッチで構成される操作部3aと、液晶ディスプレイで構成される表示部3bとを有している。本実施形態では、この外部設定器3を介して、投光センサヘッド1からの投光量、受光センサヘッド2における受光信号増幅率並びに受光判定しきい値の設定が可能とされている。また、表示部3bには、そのときどきの投光用、受光量或いは受光判定しきい値等が表示される。
本実施形態の多光軸光電センサの本体部(センサヘッド)の回路構成が図2に示されている。同図に示されるように、投光センサヘッド1は、投光素子、電流制御回路及び光軸選択回路を含むn個の投光器11(111〜11n)と、それら投光器11の駆動信号等を生成するCPU12と、受光センサヘッド2との通信並びに外部設定器3との通信を行うための通信回路13と、上位装置(この例ではPLC)との通信を行うためのI/Oインターフェース14とを有している。
また、受光センサヘッド2は、受光素子を含む光電変換部、受光素子からの受光信号を増幅するプリアンプ並びに光軸選択回路を含む受光器21(211〜21n)と、メインアンプ、フィルタ(コムフィルタ)並びにA/D変換器を含む信号処理部22と、受光器21の駆動信号等を生成すると共に信号処理部22からの信号に基づいて検出判定のための演算を行うCPU23と、投光センサヘッド1との通信並びに外部設定器3との通信を行うための通信回路24と、上位装置(この例ではPLC)との通信を行うためのI/Oインターフェース25とを有している。
投光センサヘッド1の回路構成の詳細が図3に示されている。同図に示されるように、各投光センサヘッド1は、赤外光(又は赤色光)を発光する投光素子111と、投光素子111を駆動するためのCPUからの駆動信号(光軸選択信号)がベース端子に入力されるトランジスタ(光軸選択回路)112と、CPU12からの信号に基づき、投光素子111からの投光量調整を行うための電流制御回路113と、内部メモリを有するCPU12と、CPU12からのm本の信号入力線とn本の出力線とが接続されたデコーダ120とを含んで構成されている。尚、同図では、CPU12に対して一体の投光器が接続されている様子が示されているが、実際には、同様の構成により、図2に示したようにCPU12にはn個の投光器11が信号線を介して接続されている。
同図から理解されるように、図2に示すn個の各投光器11は、CPU12からの光軸選択信号(S1)により、トランジスタ112を介して選択的に駆動される。
また、電流制御回路113は、メイン抵抗113aを介在させて、トランジスタ112に並列接続されるn個のFET(電界効果トランジスタ)を含んで構成される。尚、符号113R1,113R2,113R3〜113Rnは、メイン抵抗113aと各FETとの間に介在される異なる抵抗値を有する抵抗である。
それぞれのFET(113R1,113R2,113R3〜113Rn)には、デコーダ120から駆動信号(S3)が入力されるようになっている。すなわち、CPU12から、デコーダ120に対しては、各信号線につき2ビットによる複数通り(2m通り)の信号入力(S2)が可能とされており、これにより、デコーダからは、n個のFETを選択的に駆動するためのn通りの信号出力(S3)がなされる。このことから理解されるように、各投光器11においては、FET(113R1,113R2,113R3〜113Rn)及び抵抗(113R1,113R2,113R3〜113Rn)を介して、投光量(投光電流値)をn通り選択することが可能とされている。尚、投光量の設定値は、外部設定器3を介して指定され、その値は、CPU21の内部メモリに格納される。
受光センサヘッド2の回路構成の詳細が図4に示されている。同図に示されるように、各投光センサヘッド2は、光電変換部21a、プリアンプ21b及び光軸選択回路21cを含む投光器21と、プリアンプ21からの受光信号を増幅するメインアンプ22aと、増幅された受光信号の中から検出光による受光信号成分を抽出する(後述するインバータ蛍光灯からのノイズ光に対応する信号成分を除去する)フィルタ22bと、フィルタリング後の受光信号をA/D変換器22cを通して受信し、この受光信号レベルに基づき検出判定処理を行うCPU23とを主体として構成される。
CPU23は、内部メモリを有し、受光判定しきい値の設定値は、外部設定器3を介して指定され、この内部メモリに格納される。この受光判定しきい値と信号処理部22からの受光信号(S4)との比較を行うことにより、検出判定処理を実行する。
また、CPU23からは、メインアンプ22aにおける受光信号増幅率を規定するためのnビットの信号(S5)が出力される。すなわち、本実施形態では、このnビットの信号(S5)に基づいて、メインアンプ22においては、2n通りの受光信号増幅率を設定することが可能とされている。尚、この受光信号増幅率も、外部設定器3を介して設定されるものであり、その設定値はCPU23の内部メモリに格納される。
また、CPU23からは、トランジスタ(図示せず)を有する光軸選択回路21cを介して光電変換部21における受光素子を選択的に駆動するための光軸選択信号(S6)と、受光信号の有効化(ゲート開)を指示するゲート制御信号(S7)とが出力されるようになっている。
更に、CPU23には、本発明の要部ともなる『前後干渉カウンタ機能』、『干渉連続発生カウンタ機能』を具備している。これらの詳細については後述する。
外部設定器3の回路構成の詳細が図5に示されている。同図に示されるように、外部設定器3は、図1に示した操作部3aに対応する入力回路31と、図1に示した表示部3bに対応する表示回路32と、投光センサヘッド1並びに受光センサヘッド2との通信を行うための通信回路33と、それら入力回路31、表示回路32、通信回路33を統括制御するCPU34とを有している。CPU34は、内部メモリを有しており、この内部メモリには、図6に示す変換テーブルが格納されている。尚、同図中符号35で示されるのは、通信ケーブル用の接続端子である。
変換テーブルは、外部設定器3を介して、投光センサヘッド1からの投光量、受光センサヘッド2における受光信号増幅率並びに受光判定しきい値を一括して規定するために予め用意されるものである。変換テーブルでは、距離値に対して、投光量、受光信号増幅率、受光判定しきい値が一義的に対応付けられている。すなわち、この例では、外部設定器3には、投光センサヘッドと受光センサヘッド間の距離値が入力され、これにより、投光センサヘッド1からの投光量、受光センサヘッド2における受光信号増幅率並びに受光判定しきい値が特定される。
具体的には、入力される距離値が500mm〜550mmの間にあるときは、投光量はI1、受光信号増幅率はG1、受光判定しきい値はTh1と特定される。同様にして、外部設定器3に入力される距離値が551mm〜650mmの間にあるときは、投光量はI2、受光信号増幅率はG2、受光判定しきい値はTh2と特定される。尚、同図に示される距離値の例から明らかであるように、本実施形態では、センサヘッド間の距離は、500mm〜10000mmの間で設定可能とされている。尚、図11に“Manualの表示値”とあるが、これは、外部設定器3に入力される距離値を、実質値(単位:メートル、センチ、ミリメートル)ではなく、距離相当のパラメータ値で入力する場合に用いられる値である。すなわち、本実施形態では、外部設定器3に入力する距離値として、実質値とパラメータ値との双方が利用可能とされている。尚、上述の各種設定値は、外部設定器3の操作を介して個々に微調整乃至変更可能とされている。
次に、本実施形態における投光周期並びに投光パルス生成の態様について図7乃至図8を参照しつつ説明する。
本実施形態では、設置環境下におけるインバータ蛍光灯による検出判定への影響を排除するための対策として、インバータ蛍光灯の点滅周期(蛍光灯ノイズ周期)TN内において少なくとも3回以上の投光を行うように仕組まれている。具体的には、投光センサヘッド1のCPU12からは、想定されるもっとも短い蛍光灯ノイズの周期(例えば60〜70μsec)と同程度の投光周期となるように駆動信号が各投光部11に順次送られる。この駆動信号は、この例では、図7,8に示されるように3個のタイミング成分(投光パルスP1、P2、P3)を有する。これらの投光パルスP1、P2、P3により各投光部11の投光素子111が駆動され、3個のパルス状検出光が所定間隔で対象領域へと投光される。対象領域を通過したパルス状検出光は、対応する光電変換部21aへと到達して光電変換並びに増幅されて、受光信号VS1、VS2、VS3が生成される。このとき同様に、インバータ蛍光灯によるノイズ信号VNも生成される。
こうして生成された受光信号VSとノイズ信号VNとの関係が図9に示されている。同図に示されるように、3個の受光信号VS1,VS2,VS3の間隔は蛍光灯ノイズVNが存在することにより、両側に位置する2個の受光信号VS1,VS3が蛍光灯ノイズの位相0度並びに位相180度に一致した最悪の状況であっても、真ん中に位置する投光信号VS2については、ノイズ波形上の比較的変化の緩やかな位相90度の部分に一致するように設定されている。
受光センサヘッド2のフィルタ22bでは、既知の手法により受光信号VS、VNをレベルシフトする。こうしてレベルシフトされた受光信号が図10に示されている。図示される3個の受光信号VS1,VS2,VS3は、検出光が入光されている場合、第1のタイミングT1においては、本来いずれもしきい値Vthを越えていなければならない。しかしながら、上述の最悪の状況にあっては、ノイズ波形の位相0度並びに90度にタイミングが一致した受光信号VS1,VS2については、いずれもしきい値Vthを越えるのに対して、ノイズ波形の位相180度にタイミングが一致した投光信号VS3については、その値がしきい値Vthを越えることができない。一方、図示しないが、3個の受光信号VS1,VS2,VS3が、いずれもしきい値Vthを越えてはいけないノイズ光LNのみが入光されている場合を想定すると、位相90度並びに180度にタイミングが一致した受光信号VS2,VS3については、その値がしきい値Vthを越えることがないのに対して、位相0度にタイミングが一致した受光信号VS1については、その値がしきい値Vthを越えることとなる。そこで、1ノイズ周期(TN)内で行われる3回の判定のうちで、2回以上がしきい値を越える場合にはオン認定、2回以上がしきい値を越えない場合にはオフ認定と多数決原理に従うものとすれば、インバータ蛍光灯による検出判定への影響を回避して信頼性の高いオンオフ判定結果が得られることが判る。
次に、本発明の要部となる相互干渉回避のための構成について、先ず、その概略を説明する。
図11は相互干渉の発生の様子を説明するためのタイミングチャートである。同図(a)は一体の多光軸光電センサにおける任意の1光軸の投光タイミングを、同図(b)はそれに隣接する多光軸光電センサにおける任意の1光軸の投光タイミングをそれぞれ示している。尚、この例では説明を容易とするために投光パルス生成は1周期につき1個とする。同図(a)に示される多光軸光電センサにおいては周期Taで投光が行われているのに対し、同図(b)に示される多光軸光電センサにおいては周期Tbで投光が行われている。尚、このような投光周期の差は、ソフトウェア処理の内容の相違や、クロックのバラツキ等により生じる。ここでTb>Taとすると、両者の投光タイミングの時間差分は、差分a、差分b、差分c、差分dと徐々にその差を狭めながら、やがては、同図(b)に示される多光軸光電センサの投光タイミングが同図(a)に示される多光軸光電センサの投光タイミングに“追いつき”、相互干渉が発生する。尚、この現象は、換言すれば、同図(a)に示される多光軸光電センサの投光タイミングが同図(b)に示される多光軸光電センサの投光タイミングに“追いつかれ”、相互干渉が発生するものとも言える。
従来の多光軸光電センサにおける相互干渉対策は、単に、相互干渉の発生有無を検知するのみであったが、本発明では、この“追いつき”、“追いつかれ”に着目し、それぞれの場合に応じて適切に投光タイミングを変更することにより、干渉を検知(予知)しても動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させるように構成している。
そのための構成として、本発明の多光軸光電センサにおいては、図12に示されるように、各光軸(この例では(a)〜(c)の3個のみを示す)の投光周期T毎に、投光期間(実線で示される3個の連続パルス)の直前と直後の非投光期間(点線で示される1個のパルス)に受光サンプリングを行って入光有無を判定することにより、時間的に“追いつき”または“追いつかれ”て発生しようとしている干渉を識別して検知するようにしている。尚、図12で示される例では、投光期間の直前のみの受光サンプリングと、投光期間の直後のみの受光サンプリングとを、1周期毎に交互に繰り返しているが、これは、センサの応答時間を短縮するためである。応答速度を問わずに、干渉発生予知の速さを重視するのであれば、1周期毎に投光期間の直前と直後の両方で受光サンプリングするのが好ましい。
そして、投光期間の直前の受光サンプリングによる入光が連続して確認された場合には、自身の投光タイミングが隣接する他の多光軸光電センサの投光タイミングに、時間的に“追いつかれつつある”と考えられるから、この場合には、自身の全光軸についての次回の投光タイミングを図13に示されるように、投光周期Tで規定される予定された投光タイミングtよりも時間Ta分だけ遅らせる(T+Ta)。但し、その後の投光周期Tはそのまま維持される。これにより、以降の投光周期の位相が時間的に前にずらされるから、追いつかれそうであった状況を脱して相互干渉が未然に防がれる上に、動作を停止等させることなくセンサ動作を継続させることができる。尚、同図中、縦の点線で挟まれる領域“I”は自己診断やセンサ間通信等に費やされる期間を示している。
一方、投光期間の直後の受光サンプリングによる入光が連続して確認された場合には、自身の投光タイミングが隣接する他の多光軸光電センサの投光タイミングに、時間的に“追いつきつつある”と考えられるから、この場合には、自身の全光軸についての次回の投光タイミングを図14に示されるように、投光周期Tで規定される予定された投光タイミングtよりも時間Ta分だけ早める(T−Ta)。但し、その後の投光周期Tはそのまま維持される。これにより、以降の投光周期の位相が時間的に後ろにずらされるから、追いつきそうであった状況を脱して相互干渉が未然に防がれる上に、動作を停止等させることなくセンサ動作を継続させることができる。尚、同図中、縦の点線で挟まれる領域“I”は自己診断やセンサ間通信等に費やされる期間を示している。
次に、上述の相互干渉回避を実現するための本実施形態の多光軸光電センサの動作内容全体の概略を図15のゼネラルフローチャートに示す。
同フローチャートに示されるように、本実施形態の多光軸光電センサは、電源が投入されると、先ず、センサヘッド及び外部設定器のメモリの初期化等の起動処理が実行される(ステップ1501)。起動処理が終了すると、次いで検出処理が実行される。この検出処理では、先に図13、図14を参照して説明した投光タイミング調整処理(ステップ1502)と、投受光処理(ステップ1503)と、自己診断処理(1504)と、投光センサヘッド1、受光センサヘッド2並びに外部設定器3との間の通信又は受光センサヘッド2と他の多光軸光電センサ(多光軸光電センサが併設されるような場合)の受光センサヘッドとの通信を行う通信処理(ステップ1505)とを繰り返すことにより実行される。
尚、本実施形態では、通信処理(ステップ1505)の終了後に、異常有無確認(ステップ1506)と、受光判定しきい値、投光量、受光信号増幅率等の設定を行うための設定モードに移行するか否かの確認が行われる(ステップ1508)。ステップ1506で行われる異常有無確認では、ステップ1504の自己診断についての異常有無確認と、ステップ1505の通信処理についての異常確認と、ステップ1502のタイミング調整が所定回数以上連続して行われていないか(すなわち、繰り返しタイミング調整を行っても干渉を回避できていない場合)の確認が行われている。これらに異常が認められたときには(ステップ1506YES)、異常モードへと移行し(ステップ1507)、センサの動作が一時的にロックアウトされる。また、この例では、外部設定器3からの所定の設定開始信号の入力があったときに(ステップ1508YES)、設定モード(ステップ1509)へと移行する
まず、ステップ1503に示される投受光処理の詳細を図16のフローチャートを参照しつつ説明する。尚、同図には、投光センサヘッド1における処理(ステップ1601、1602)と、受光センサヘッド2における処理(ステップ1611〜1619)とが並列的に示されている。同フローチャートには示されていないが、投受光処理に際しては、先ず、投光センサヘッド1においては、CPU12において、内部メモリから投光量の設定値(投光電流データ)が読み込まれ、これにより、図3に示したデコーダ120からのFET駆動信号出力(S3)が決定される。一方、受光センサヘッド2においては、先ず、CPU23において、内部メモリから受光信号増幅率、及び受光判定しきい値の設定値が読み込まれ、これにより、図4に示したCPU23からの受光信号増幅率指定信号(S5)及び受光判定しきい値が決定される。
次いで、投光センサヘッド1及び受光センサヘッド2において、通信用ケーブル101を通じて、投光センサヘッド1と受光センサヘッド2との間の同期をとるための同期通信が行われる(ステップ1601,ステップ1611)。
次いで、受光センサヘッド2においては、その後の投受光処理(ステップ1602、ステップ1613)における干渉チェックのための受光サンプリングを投光期間の直前に行うか直後に行うかの確認を行う(ステップ1612)。この確認はCPU23の内部メモリに書き込まれる干渉チェックフラグを見ることで行われる。
次いで、光軸の数だけループ処理が行われる。投光センサヘッド1においては、先に決定された投光量と規定の連続投光数(3回)を前提として、各投光器11を順次選択的に駆動させることにより、各投光器11からの投光が行われる(ステップ1602)。これが全光軸分終了するまで繰り返される。
一方、受光センサヘッド2においては、先に決定された受光信号増幅率を前提として、各受光器21の受光サンプリングゲートを各々4回分(オンオフ判定用3回+干渉チェック用1回)選択的に順次開放し、各受光器21からの受光信号を順次取り込む。受光信号は、A/D変換器22cによりA/D変換されて、CPU23に取り込まれる。CPU23では、取り込まれた受光信号と、先に決定された受光判定しきい値とを比較することにより、受光判定処理(各光軸における受光有無の判定)を実行する(ステップ1613)。より詳細には、この判定処理は、投光器からの投光に同期した3回分の受光サンプリングにより得られる受光信号を、それぞれ受光判定しきい値と比較し、3回の判定のうちで、2回以上がしきい値を越える場合にはオン認定、2回以上がしきい値を越えない場合にはオフ認定と多数決原理に従って最終的な受光判定を行う。尚、このとき、同時に、干渉チェック用の受光サンプリングにより得られる受光信号についてもオンオフ認定が行われる。この結果は、後述する相互干渉データ処理(ステップ1615)で使用される。
尚、この例では、ライトカーテンを用途としているため、受光判定処理(ステップ1613)において、何れかの光軸において受光が確認されなかったとき(オフ認定のとき)には、それに応じた所定動作(例えば、制御対象機器の停止信号の生成)が実行される(出力制御処理、ステップ1614)。また、この多光軸光電センサがエリアセンサを用途とする場合には、受光判定処理(ステップ1613)において、受光が確認されなかった光軸に基づいて、それに応じた所定動作(例えば、物体侵入エリアを特定するための信号生成)が実行される(出力制御処理、ステップ1614)。尚、これら受光判定処理後の出力制御処理については当業者にとって自明であるからここでの詳細説明は省略する。
続くステップ1615では、相互干渉データ処理が実行される。この相互干渉データ処理では、先のステップ1613で得られた干渉チェック用の受光サンプリングによるオンオフ認定結果が使用される。
相互干渉データ処理の詳細が図17のフローチャートにより示されている。この処理では、先ず、先のステップ1613で得られた干渉チェック用の受光サンプリングによるオンオフ認定結果が確認される。ここで、干渉有り(オン認定)の場合には(ステップ1701YES)、次いで、その受光サンプリングが投光期間の直前のものか直後のものかの識別が干渉チェックフラグを見て行われる(ステップ1702)。次いで、CPU23において前後干渉カウンタ機能が使用される。すなわち、受光サンプリングが投光期間の直前のものであった場合には(ステップ1702前)、前干渉カウンタN2が+1歩進される(ステップ1703)。一方、受光サンプリングが投光期間の直後のものであった場合には(ステップ1702後)、後干渉カウンタN3が+1歩進される(ステップ1704)。これに対し、先のステップ1613で得られた干渉チェック用の受光サンプリングによるオンオフ認定結果がオフ認定(干渉無し)の場合には(ステップ1701NO)、次いで、その受光サンプリングが投光期間の直前のものか直後のものかの識別が干渉チェックフラグを見て行われる(ステップ1705)。次いで、CPU23において前後干渉カウンタ機能が使用される。すなわち、受光サンプリングが投光期間の直前のものであった場合には(ステップ1705前)、前干渉カウンタN2がリセット(クリア)される(ステップ1706)。一方、受光サンプリングが投光期間の直後のものであった場合には(ステップ1705後)、後干渉カウンタN3がリセット(クリア)される(ステップ1704)。このように、前後干渉カウンタは、投光期間の直前か直後の受光サンプリングの結果、複数周期連続してオン認定が行われた場合にのみ歩進される。これは、単発のノイズ等は干渉光として認定しないための対応である。
図16のフローチャートに戻り、ステップ1613〜ステップ1615で示されるループ処理が終了されると、受光センサヘッドにおいては、CPU23の内部メモリ内の干渉チェックフラグの書き換え(反転)が行われる(ステップ1616)。これにより、次回のループ処理における干渉チェック用の受光サンプリングの投光期間に対する前後位置が反転されることとなる。
次いで、投受光ループ処理の結果に基づく補助出力が生成される(ステップ1617)。この補助出力は、PLC等の上位機器に、センサのオンオフ認定の状態を複数周期毎に通知するためのものであるが、発明の要部とは直接関係しないため、ここでの詳細説明は省略するものとする。
次いで、ステップ1618に示される相互干渉判定処理が実行される。相互干渉判定処理の詳細内容が図18のフローチャートにより示されている。相互干渉判定処理では、まず、先のステップ1615で歩進・リセット等された前後干渉カウンタについて、全光軸を対象として検証が行われる。第1に、全光軸に対応する前干渉カウンタN2の値が確認される(ステップ1801)。ここで1つの光軸でも前干渉カウンタN2の値が“5”に達していると(5回連続して投光期間の直前の受光サンプリングでオン認定がされていると)(ステップ1801YES)、CPU23の内部メモリの所定領域に前干渉発生フラグF1に“1”が書き込まれる(ステップ1802)。すなわち、この状態は、自身の何れかの光軸についての投光タイミングが、他のセンサの投光タイミングに追いつかれつつあり、干渉を受けている、あるいは干渉を受ける直前の状態にあることを意味している。この前干渉フラグF1は、図15で示したタイミング調整処理(ステップ1502)において使用される。その詳細については後述する。
続くステップ1803では、全光軸についての前干渉カウンタN2をリセットして処理は一旦終了する。
一方、先のステップ1801において、いずれの光軸に対応する前干渉カウンタN2の値が“5”に達していない場合には、次いで、全光軸に対応する後干渉カウンタN3の値が確認される(ステップ1804)。ここで1つの光軸でも後干渉カウンタN3の値が“5”に達していると(5回連続して投光期間の直後の受光サンプリングでオン認定がされていると)(ステップ1804YES)、CPU23の内部メモリの所定領域に後干渉発生フラグF2に“1”が書き込まれる(ステップ1802)。すなわち、この状態は、自身の何れかの光軸についての投光タイミング他のセンサの投光タイミングに追いつきつつあり、相互干渉を受けている、或いは受ける直前の状態にあることを意味している。この後干渉フラグF2は、図15で示したタイミング調整処理(ステップ1502)において使用される。その詳細については後述する。
次に、図15のフローチャートに戻り、タイミング調整処理について説明する。このタイミング調整処理は、各投受光ループ処理の先頭で行われるものである。タイミング調整処理の詳細が図19のフローチャートにより示されている。
タイミング調整処理では、CPU23の内部メモリに書き込まれた前干渉発生フラグF1、並びに後干渉発生フラグF2についての確認が行われる。ここで、前干渉発生フラグF1=“1”の場合には(ステップ1901YES)、自身の何れかの光軸についての投光タイミングが、他のセンサの投光タイミングに追いつかれつつあり、干渉を受けている、あるいは干渉を受ける直前の状態にあると判断し、先に図13で示したように、次回の投光タイミング(投受光同期タイミング)を時間Ta分遅らせるための処理を行う(ステップ1902)。その後、前干渉発生フラグを“0”に書き換え(ステップ1903)、更に、干渉連続発生カウンタPを+1歩進させ、処理は一旦終了する。尚、この干渉連続発生カウンタPは、図15のステップ1506で示される異常検出処理の際、参照されるものである。詳細は後述する。
一方、タイミング調整処理において、後干渉発生フラグF2=“1”の場合には(ステップ1901NO,ステップ1905YES)、自身の何れかの光軸についての投光タイミング他のセンサの投光タイミングに追いつきつつあり、相互干渉を受けている、或いは受ける直前の状態にあると判断し、先に図14で示したように、次回の投光タイミング(投受光同期タイミング)を時間Ta分早めるための処理を行う(ステップ1906)。その後、後干渉発生フラグを“0”に書き換え(ステップ1907)、更に、干渉連続発生カウンタPを+1歩進させ(ステップ1908)、処理は一旦終了する。尚、この干渉連続発生カウンタPは、図15のステップ1506で示される異常検出処理の際、参照されるものである。詳細は後述する。尚、前後干渉フラグの何れもが“0”である場合には(ステップ1901NO、ステップ1905NO)、干渉連続発生カウンタPはリセットされる(ステップ1909)。
図15のフローチャートに戻り、投受光処理(ステップ1503)が終了すると、次いで、先に説明した自己診断処理(ステップ1504)、通信処理(1505が行われ、その後、異常有無確認(ステップ1506)が行われる。ステップ1506で行われる異常有無確認では、ステップ1504の自己診断についての異常有無確認と、ステップ1505の通信処理についての異常確認と、ステップ1502のタイミング調整が所定回数以上連続して行われていないか(すなわち、繰り返しタイミング調整を行っても干渉を回避できていない場合)の確認が行われている。
ここで、ステップ1502のタイミング調整が所定回数以上連続して行われていないかについては、先に図19のフローチャートを参照して説明した干渉連続発生カウンタPの値が参照される。この値がこの例では“5”に達していると、干渉を回避できていない(5回連続してタイミング調整を行っているにも拘わらず干渉が検知され続けている)状態が発生しているものとして、異常モードへと移行し、センサがロックアウトされる。
このように、本実施形態では、投光期間の直前と直後の非投光期間中に受光サンプリングを行い、直前と直後のそれぞれのオンオフ認定結果に基づいて、その後の投光タイミング(投受光同期)を適宜前後へ移動させているため、干渉を検知乃至予知しても動作を停止等させることなく、適切に当該干渉を回避して、動作を継続させることを可能としている。
尚、上記実施形態では、インバータ蛍光灯ノイズの影響を排除するために投光周期の到来毎に3発の連続投光を行ったが、投光が単発の場合であっても、本発明を適用することができる。
また、上記実施形態では、3発連続投光(投光期間)の直前と直後における受光サンプリングを行っているが、非投光時における受光サンプリング(干渉チェック)は、3発投光(複数投光)の合間に介在させることもできる。
1 投光センサヘッド
2 受光センサヘッド
3 外部設定器
3a 操作部
3b 表示部
4 PLC
10 ケーブル
11 投光器
12 CPU
13 通信用回路
14 I/O
21 受光器
22 信号処理部
23 CPU
24 通信用回路
25 I/O
31 入力回路
32 表示回路
33 通信回路
34 CPU
100 多光軸光電センサ
101 通信用ケーブル
102 通信用ケーブル接続コネクタ
111 投光素子
112 選択回路
113 電流制御回路
120 デコーダ
P1,P2,P3 投光パルス
TN 蛍光灯ノイズ周期
VS 受光信号
2 受光センサヘッド
3 外部設定器
3a 操作部
3b 表示部
4 PLC
10 ケーブル
11 投光器
12 CPU
13 通信用回路
14 I/O
21 受光器
22 信号処理部
23 CPU
24 通信用回路
25 I/O
31 入力回路
32 表示回路
33 通信回路
34 CPU
100 多光軸光電センサ
101 通信用ケーブル
102 通信用ケーブル接続コネクタ
111 投光素子
112 選択回路
113 電流制御回路
120 デコーダ
P1,P2,P3 投光パルス
TN 蛍光灯ノイズ周期
VS 受光信号
Claims (9)
- 複数の投光器が配列された投光センサヘッドと、複数の受光器が配列された受光センサヘッドとを有し、各光軸毎に投光期間並びに受光サンプリング期間を同期させて所定の周期で検出光の投光を行うことにより所定エリアへの物体侵入有無を監視する多光軸光電センサであって、
投光期間直近の所定の2つの期間についてそれぞれ受光サンプリングを行い、外乱光の入光有無を判定する外乱光有無判定手段と、
外乱光有無判定手段により確認された入光有りの回数を2つの期間別にカウントするカウント手段と、
一定期間内に前記2つの期間のいずれかで所定回数を超える入光数がカウントされたときには、それが前記2つの期間のいずれかに基づいて、予定された次回の同期タイミングを変更することにより、以降の周期の位相をずらす周期変更手段と、
を有する多光軸光電センサ。 - 2つの期間は、投光期間の直前と直後にそれぞれ設定されている、ことを特徴とする1に記載の多光軸光電センサ。
- 外乱光有無判定手段は、全光軸を対象として投光期間の直前及び直後における入光有無を判定し、
周期変更手段は、いずれか1つの光軸に対応する外乱光の入光数が所定回数を超えたことを条件として、全光軸についての次回の同期タイミングを一律に変更する、ことを特徴とする請求項1または2に記載の多光軸光電センサ。 - 周期変更手段は、一定期間内における投光期間の直前の入光数が所定数を超えたときには、次回の同期タイミングを予定されたそれより所定時間遅れさせ、一定期間内における投光期間の直後の入光数が所定数を超えたときには、次回の同期タイミングを予定されたそれより所定時間早める、ことを特徴とする請求項2又は3に記載の多光軸光電センサ。
- 外乱光有無判定手段は、投光期間の直前のみの受光サンプリングと、投光期間の直後のみの受光サンプリングとを、1周期毎に交互に繰り返すことを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の多光軸光電センサ。
- カウント手段は、投光期間の直前と直後における連続入光数をそれぞれカウントする直前入光カウンタ及び直後入光カウンタを有し、
カウント手段の各カウンタは、1周期毎に到来する監視対象周期において入光が確認されたときにはカウンタ値が歩進される一方、監視対象周期において入光が確認されないときには、カウンタ値がリセットされる、
ことを特徴とする請求項5に記載の多光軸光電センサ。 - 同期タイミングが複数周期に亘り連続して変更された回数をカウントする連続変更回数カウント手段と、
連続変更回数が所定回数を超えたときには、センサ動作を停止する手段と、
を更に有することを特徴とする請求項1乃至6の何れかに記載の多光軸光電センサ。 - 所定エリアへの物体侵入が検知されたときには、外部制御対象機器の動作停止信号を生成するライトカーテンである、ことを特徴とする請求項1乃至7の何れかに記載の多光軸光電センサ。
- 遮光が検知された1又は2以上の光軸に基づいて、所定エリア内における物体の侵入位置を検知するエリアセンサである、ことを特徴とする請求項1乃至7の何れかに記載の多光軸光電センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003349158A JP2005114551A (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 多光軸光電センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003349158A JP2005114551A (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 多光軸光電センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005114551A true JP2005114551A (ja) | 2005-04-28 |
Family
ID=34541098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003349158A Pending JP2005114551A (ja) | 2003-10-08 | 2003-10-08 | 多光軸光電センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005114551A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007101217A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Sunx Ltd | 光電センサ |
JP2007129583A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Sunx Ltd | 多光軸光電センサ |
JP2015087317A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 株式会社コスモテック | 光センサー、検出装置及び検出方法 |
JP2017118435A (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | 光電センサ |
WO2019176305A1 (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | オムロン株式会社 | 判定装置、多光軸光電センサ、判定装置の制御方法、情報処理プログラム、および、記録媒体 |
JP2020148642A (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | オムロン株式会社 | 光学式センサ |
CN114200534A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-03-18 | 欧姆龙(上海)有限公司 | 光电传感器及其控制方法 |
CN114623851A (zh) * | 2022-03-08 | 2022-06-14 | 欧姆龙(上海)有限公司 | 光电传感器及其控制方法 |
-
2003
- 2003-10-08 JP JP2003349158A patent/JP2005114551A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007101217A (ja) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Sunx Ltd | 光電センサ |
JP4648812B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2011-03-09 | パナソニック電工Sunx株式会社 | 光電センサ |
JP2007129583A (ja) * | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Sunx Ltd | 多光軸光電センサ |
JP2015087317A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 株式会社コスモテック | 光センサー、検出装置及び検出方法 |
JP2017118435A (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | 光電センサ |
JP2019158600A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | オムロン株式会社 | 判定装置、多光軸光電センサ、判定装置の制御方法、情報処理プログラム、および、記録媒体 |
WO2019176305A1 (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | オムロン株式会社 | 判定装置、多光軸光電センサ、判定装置の制御方法、情報処理プログラム、および、記録媒体 |
KR20200027026A (ko) * | 2018-03-13 | 2020-03-11 | 오므론 가부시키가이샤 | 판정 장치, 다광축 광전 센서, 판정 장치의 제어 방법, 정보 처리 프로그램, 및, 기록 매체 |
KR102251301B1 (ko) | 2018-03-13 | 2021-05-12 | 오므론 가부시키가이샤 | 판정 장치, 다광축 광전 센서, 판정 장치의 제어 방법, 정보 처리 프로그램, 및, 기록 매체 |
US11169301B2 (en) | 2018-03-13 | 2021-11-09 | Omron Oorporation | Determination device, multiple optical-axis photoelectric sensor, determination device control method, information processing program, and recording medium |
JP2020148642A (ja) * | 2019-03-14 | 2020-09-17 | オムロン株式会社 | 光学式センサ |
JP7037770B2 (ja) | 2019-03-14 | 2022-03-17 | オムロン株式会社 | 光学式センサ |
CN114200534A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-03-18 | 欧姆龙(上海)有限公司 | 光电传感器及其控制方法 |
CN114200534B (zh) * | 2021-12-09 | 2024-04-26 | 欧姆龙(上海)有限公司 | 光电传感器及其控制方法 |
CN114623851A (zh) * | 2022-03-08 | 2022-06-14 | 欧姆龙(上海)有限公司 | 光电传感器及其控制方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7326910B2 (en) | Multiple-optical-axis photoelectric sensor | |
US6720545B2 (en) | Photoelectric sensor, control method therefor and semiconductor integrated circuit therefor | |
JP5064197B2 (ja) | 光電センサ | |
US20140361149A1 (en) | Method for Synchronizing Optical Units of a Photoelectric Barrier and Light Curtain | |
JP2005114551A (ja) | 多光軸光電センサ | |
JP2009192526A (ja) | レーザ距離測定装置及びその遮蔽物検出方法 | |
JP2013210314A (ja) | 物体検出装置、物体検出方法、物体検出用プログラム及び情報記録媒体 | |
JP2009225012A (ja) | 侵入検知装置 | |
CN111095465B (zh) | 多光轴光电传感器 | |
JPH0983330A (ja) | 光電スイッチおよび光電スイッチシステム | |
JP2010041462A (ja) | 光電スイッチ | |
JP4007965B2 (ja) | 物体検知装置 | |
JPH02285277A (ja) | 相互干渉防止機能付光電スイッチ | |
JP2005098874A (ja) | 赤外線検知センサ | |
JP2008213980A (ja) | ピッキングセンサ及びピッキングシステム | |
JP2010210473A (ja) | 光学式車両検知装置 | |
JP2002217703A (ja) | 多光軸光電センサ | |
KR102081226B1 (ko) | 다광축 센서 | |
JP2006211186A (ja) | 干渉防止機能付き光電センサ | |
EP2957993A1 (en) | Detecting device and input device | |
KR20050095441A (ko) | 적외선 감지기 및 그 제어방법 | |
JP2009207190A (ja) | 多光軸光電センサ | |
JPH0936725A (ja) | 光電センサ | |
JPH09102100A (ja) | 車両台数管理装置 | |
KR20010105677A (ko) | 장애물 감지 시스템의 간섭신호 필터링 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080116 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080227 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080501 |