JP2005114470A - 被検体設置装置および該被検体設置装置を備えた干渉計装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】鍔部27および保持板37に設けられたピン41と、枠体7A,7B,7Cに設けられたピン孔42とにより位置合わせ手段が構成されている。また、第1の保持手段3A側に設けられた1軸傾斜ステージ21,第1の回転ステージ22,Xステージ23および第1の2軸調整機構24と、第2の保持手段3B側に設けられた第2の2軸調整機構31,第2の回転ステージ32,第3の2軸調整機構33およびZステージ39とによりアライメント手段が構成されている。
【選択図】 図1
Description
互いに略同一形状の被測定面を有する3つの被検体のうちの所定の2つを、組み合わせを変えて順次3回選択し、この選択操作を行なう度に、選択された2つの被検体を、干渉光学系の光軸上の所定の2位置において各々の前記被測定面が互いに所定の間隔をおいて対向するように配置して、これら対向する被測定面の相対変位を2次元的に測定し、3回の測定結果を演算して前記各被検体の前記被測定面の形状を求める3面合せ方法を実施するための被検体設置装置において、
前記選択操作により選択された前記2つの被検体のうちの一方を、前記2位置のうちの一方において保持する第1の保持手段と、
前記選択操作により選択された前記2つの被検体のうちの他方を、前記2位置のうちの他方において所定の回転軸を中心に回転可能に保持する第2の保持手段と、
前記第1および/または第2の保持手段に保持されていた前記被検体が他の被検体に交換される際、該保持手段に対する交換前後の該各被検体の各中心軸の位置を互いに略一致させる位置合せ手段と、
前記第1の保持手段に保持された前記被検体の中心軸、前記第2の保持手段に保持された前記被検体の中心軸、および前記回転軸を、前記光軸に略一致させるアライメント手段とを備えてなることを特徴とするものである。
図1に示す干渉計装置1は、干渉計を用いた計測の際に基準として用いられる基準板等の基準面の絶対形状を、3面合わせ方法を用いて計測するためのもので、干渉計本体部2および第1および第2の保持手段3A,3Bからなる被検体設置装置3を備えてなる。また、干渉計装置1は、撮像された干渉縞を観察するモニタや、干渉縞の解析や後述する3面合わせ方法における演算を実行するコンピュータ等の演算部(いずれも図示略)を備えている。
以下、3面合せ方法を実施するための装置のセットアップ手順について、手順番号を付して説明する。なお、以下の説明では、3面合せ方法における3回の選択操作の1回目に被検体4,5が選択され、2回目に被検体6,5が選択され、3回目に被検体6,4が選択される場合を例にとって説明する。また、セットアップの各段階において実施される3面合せ方法による測定手順については、後述する。
以下、上記セットアップの各段階において実施される3面合せ方法による測定手順について、簡単に説明する。なお、以下に説明する測定手順は、上記特許文献2に記載された3面合せ方法の手順に準じている。
2 干渉計本体部
3 被検体設置装置
3A 第1の保持手段
3B 第2の保持手段
4,5,6 被検体
4a,5a,6a 被測定面
7A〜7C 枠体
21 1軸傾斜ステージ
22 第1の回転ステージ
23 Xステージ
24 第1の2軸傾き調整機構
25 フリンジスキャンアダプタ
26 枠体ホルダ
27 鍔部
31 第2の2軸傾き調整機構
32 第2の回転ステージ
33 第3の2軸傾き調整機構
34 抜きピン
35 可動板
36 支持体
37 保持体
38 固定板
39 Zステージ
41 ピン
42 ピン孔
43 抜きピン孔
44 挿通孔
L 光軸
R 回転軸
C1〜C3 中心軸
Claims (4)
- 互いに略同一形状の被測定面を有する3つの被検体のうちの所定の2つを、組み合わせを変えて順次3回選択し、この選択操作を行なう度に、選択された2つの被検体を、干渉光学系の光軸上の所定の2位置において各々の前記被測定面が互いに所定の間隔をおいて対向するように配置して、これら対向する被測定面の相対変位を2次元的に測定し、3回の測定結果を演算して前記各被検体の前記被測定面の形状を求める3面合せ方法を実施するための被検体設置装置において、
前記選択操作により選択された前記2つの被検体のうちの一方を、前記2位置のうちの一方において保持する第1の保持手段と、
前記選択操作により選択された前記2つの被検体のうちの他方を、前記2位置のうちの他方において所定の回転軸を中心に回転可能に保持する第2の保持手段と、
前記第1および/または第2の保持手段に保持されていた前記被検体が他の被検体に交換される際、該保持手段に対する交換前後の該各被検体の各中心軸の位置を互いに略一致させる位置合せ手段と、
前記第1の保持手段に保持された前記被検体の中心軸、前記第2の保持手段に保持された前記被検体の中心軸、および前記回転軸を、前記光軸に略一致させるアライメント手段とを備えてなることを特徴とする被検体設置装置。 - 前記アライメント手段は、前記第1の保持手段に保持された前記被検体の中心軸を前記光軸と略平行にする第1の2軸傾き調整機構と、前記回転軸を前記光軸と略平行にする第2の2軸傾き調整機構と、前記第2の保持手段に保持された前記被検体の中心軸を前記回転軸と略平行にする第3の2軸傾き調整機構と、前記回転軸の位置を前記光軸の位置に略一致させる軸位置調整機構とを備えていることを特徴とする請求項1記載の被検体設置装置。
- 前記被検体は、該被検体を取り付け可能な枠体を介して、前記第1および第2の保持手段に保持されるように構成され、
前記位置合せ手段は、前記被検体が前記他の被検体に交換される際の前記第1および/または第2の保持手段と前記枠体との位置合せ用として、これら保持手段および枠体にそれぞれ設けられた位置合せ指標を備えてなることを特徴とする請求項1または2記載の被検体設置装置。 - 前記干渉光学系を備えた干渉計本体部と、請求項1〜3までのいずれか1項に記載された被検体設置装置と、前記3面合せ方法における所定の演算を実施する演算部とを備えてなることを特徴とする干渉計装置。
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JP2003346997A JP4197640B2 (ja) | 2003-10-06 | 2003-10-06 | 被検体設置装置および該被検体設置装置を備えた干渉計装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117804519A (zh) * | 2024-01-03 | 2024-04-02 | 重庆日联科技有限公司 | 一种x射线检测设备重复定位精度调整设备及方法 |
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2003
- 2003-10-06 JP JP2003346997A patent/JP4197640B2/ja not_active Expired - Lifetime
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