JP2005091316A - 電気回路のための異常検出方法及び異常検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 等しい電気抵抗値を示す複数の試験単位回路部16が互いに接続されてなる並行試験回路12の電気抵抗値を測定する抵抗測定器13と、該抵抗測定器により測定された抵抗値に基づいて試験単位回路部16に異常が生じたか否かを判定する判定回路18と、表示部19とを備える異常検出装置10。判定回路18は、抵抗測定器13による測定抵抗値の変化分を算出する演算処理部18aと、該演算処理部の演算結果と閾値である合計許容差αとを比較し、前記変化分が合計許容差αを超えたと判定されたとき表示部19に異常が生じた旨を表示する。
【選択図】 図1
Description
が成り立つように前記試験単位回路部を選定し、前記並行試験回路の電気抵抗値の段階的な変化を検出することにより、前記試験単位回路部の異常の発生を検出することを特徴とする。
が成り立つように前記試験単位回路部を選定し、前記並行試験回路の電気抵抗値の段階的な変化を検出することにより、前記試験単位回路部の異常の発生を検出することを特徴とする。
が成り立ち、前記メモリには、予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの電気抵抗値の各変化量が、該変化量を与える異常な試験単位回路の個数に関連して格納されており、前記判定回路は、抵抗測定器による測定抵抗値の変化分と前記メモリに格納された前記各変化量との差分を算出する演算処理部を有し、該演算処理部により求められた前記差分が前記合計許容差α内にあるとき、異常が生じた旨及び当該差分を与えた前記変化量についての前記試験単位回路の個数についての情報を前記表示部に表示させることを特徴とする。
が成り立ち、前記メモリには、予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの電気抵抗値の各変化量が、該変化量を与える異常な試験単位回路を特定する情報に関連して格納されており、前記判定回路は、前記抵抗測定器による測定抵抗値の変化分と前記メモリに格納された前記各変化量との差分を算出する演算処理部を有し、該演算処理部により求められた前記差分が前記合計許容差α内にあるとき、異常が生じた旨及び当該差分を与えた前記変化量についての前記試験単位回路部を特定する情報を前記表示部に表示させることを特徴とする。
が成り立つように、設定されている。
が成り立つように、設定されている。
各検査対象回路11(11−1〜11−n)の抵抗値、すなわち補助抵抗15が設けられている場合には検査対象回路11(11−1〜11−n)と補助抵抗15(15−1〜15−n)とから成る各試験単位回路部116の抵抗値は、相互に異なるように設定されていることから、基本的には、この抵抗値すなわち並行試験回路112の抵抗値の変化量を算出することができ、この変化量と後述するメモリ17に格納された並行試験回路112の各抵抗変化量との比較により、いずれの検査対象回路11(11−1〜11−n)が異常を生じたかを知ることができる。以下、並行試験回路112に抵抗値変化が生じる毎に、前記したと同様な手順によって、順次異常を生じた検査対象回路11(11−1〜11−n)を特定することができる。
従って、式(4)の演算処理により、異常を生じた試験単位回路部116を特定することができる。
11(11−1〜11−n) 検査対象回路
12、112 並行試験回路
13 抵抗測定器
15(15−1〜15−n) 補助抵抗
16、116 試験単位回路部
17 メモリ
18 判定回路
18a 演算処理部
18b 出力部
19 表示部
20 回路基板
21a 回路本体部分(抵抗器本体)
21c 接合部分
Claims (21)
- ほぼ等しい電気抵抗値を示す複数の試験単位回路部が互いに接続されてなる並行試験回路の電気抵抗値を測定し、当該測定値に基づいて前記試験単位回路部の異常の発生を検出する方法であって、電気抵抗の測定許容差及び前記試験単位回路部の許容差の和で示される合計許容差αと前記並行試験回路の電気抵抗測定値の変化分とを比較し、前記測定値の変化分が前記合計許容差αを超えると前記試験単位回路部に異常が発生したと判定することを特徴とする、電気回路のための異常検出方法。
- 前記試験単位回路部の全てが正常な状態での前記並行試験回路の第1の合成抵抗値R0と、ある一つの前記試験単位回路部が異常を生じたときの前記並行試験回路の第2の合成抵抗値R′0と、前記測定器の許容差及び前記試験単位回路部の許容差の和で示される合計許容差αとの間に次式
|R0′−R0|/(R0′+R0)>α
が成り立つように前記試験単位回路部を選定し、前記並行試験回路の電気抵抗値の段階的な変化を検出することにより、前記試験単位回路部の異常の発生を検出することを特徴とする請求項1に記載の異常検出方法。 - 予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの抵抗値の変化量を異常であると仮想した前記試験単位回路部の個数に関係付けて求め、前記測定値が変化したとき該測定値の変化分を予め求められた前記各抵抗値の変化量と比較し、この比較に基づいて異常を生じた試験単位回路部の個数を特定することを特徴とする請求項1または2に記載の異常検出方法。
- それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に直列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎の合成電気抵抗が等しくなるように、前記各補助抵抗が直列接続される前記各検査対象回路の抵抗値に応じて前記各補助抵抗の抵抗値が選定されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に並列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎の合成電気抵抗が等しくなるように、前記各補助抵抗が並列接続される前記各検査対象回路の抵抗値に応じて前記各補助抵抗が選定されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- 電気抵抗値を互いに異にする複数の試験単位回路部が互いに接続されてなる並行試験回路の電気抵抗値を測定し、当該測定値に基づいて前記試験単位回路部の異常の発生を検出する方法であって、予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの抵抗値の変化量を異常が生じたと仮想した前記試験単位回路部に関係付けて求め、前記測定値が変化したとき該測定値の変化分を予め求められた前記各抵抗値の変化量と比較し、この比較に基づいて異常を生じたのがいずれの前記試験回路部であるかを判定することを特徴とする、電気回路のための異常検出方法。
- ある一つの前記試験単位回路部が異常であるときの前記並行試験回路の第2の合成抵抗値R0′と、前記一つの試験単位回路部に加えて他の一つの前記試験単位回路部が異常を生じたときの前記並行試験回路の第3の合成抵抗値R0′′と、前記測定器の許容差と前記試験単位回路部の許容差との和で示される合計許容差αとの間に次式
|R0′−R0′′|/(R0′+R0′′)>α
が成り立つように前記試験単位回路部を選定し、前記並行試験回路の電気抵抗値の段階的な変化を検出することにより、前記試験単位回路部の異常の発生を検出することを特徴とする請求項6に記載の異常検出方法。 - それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に直列に接続された補助抵抗からなり、前記試験単位回路部毎に重み付を与え、これにより前記各試験単位回路部の合成電気抵抗が段階的に変化するように、前記各補助抵抗が直列接続される前記各検査対象回路の抵抗値に応じて前記各補助抵抗が選定されることを特徴とする請求項6または7に記載の異常検出方法。
- それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に並列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎に重み付けを与え、これにより前記各試験単位回路部毎の合成電気抵抗が段階的に変化するように、前記各補助抵抗が並列接続される前記各検査対象回路の抵抗値に応じて前記各補助抵抗が選定されることを特徴とする請求項6または7に記載の異常検出方法。
- 前記試験単位回路部は静電容量を有し、該静電容量の等価抵抗値がこれに接続された前記補助抵抗の抵抗値よりも小さいことを特徴とする請求項4、5、8または9のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- 前記補助抵抗は、前記検査対象回路に比較して充分な耐久性を有することを特徴とする請求項4、5、8、9または10のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- 前記試験単位回路部の前記許容差は、試験温度範囲の抵抗値変化分を含む請求項1または6に記載の異常検出方法。
- 前記試験単位回路部の前記検査対象回路は、回路本体部分と該本体部分から伸び、回路基板に接続される接合部分とを有し、前記接合部分と前記基板との接合部における耐久性は前記回路本体部分におけるそれよりも優れていることを特徴とする請求項4、5、8または9のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- 前記試験単位回路部の前記検査対象回路は、回路本体部分と該本体部分から伸び、回路基板に接続される接合部分とを有し、前記回路本体部分における耐久性は前記接合部分と前記基板との接合部におけるそれよりも優れていることを特徴とする請求項4、5、8または9のいずれか一つに記載の異常検出方法。
- ほぼ等しい電気抵抗値を示す複数の試験単位回路部が互いに接続されてなる並行試験回路の電気抵抗値を測定する抵抗測定器と、メモリと、前記抵抗測定器により測定された抵抗値に基づいて前記試験単位回路部に異常が生じたか否かを判定する判定回路と、表示部とを備える異常検出装置であって、前記各試験単位回路部は相互に並列又は直列に接続され、前記試験単位回路部の全てが正常な状態での前記並行試験回路の第1の合成抵抗値R0と、ある一つの前記試験単位回路部が異常を生じたときの前記並行試験回路の第2の合成抵抗値R′0と、前記測定器の許容差及び前記試験単位回路部の許容差の和で示される合計許容差αとの間に次式
|R0′−R0|/(R0′+R0)>α
が成り立ち、前記メモリには、予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの電気抵抗値の各変化量が、該変化量を与える異常な試験単位回路の個数に関連して格納されており、前記判定回路は、抵抗測定器による測定抵抗値の変化分と前記メモリに格納された前記各変化量との差分を算出する演算処理部を有し、該演算処理部により求められた前記差分が前記合計許容差α内にあるとき、異常が生じた旨及び当該差分を与えた前記変化量についての前記試験単位回路の個数についての情報を前記表示部に表示させることを特徴とする、電気回路のための異常検出装置。 - それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に直列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎の合成電気抵抗が等しくなるように、前記補助抵抗が直列接続される前記各検査対象回路抵抗値に応じて前記各補助抵抗の抵抗値が選定されていることを特徴とする請求項15に記載の異常検出装置。
- それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に並列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎の合成電気抵抗が等しくなるように、前記各補助抵抗が並列接続される前記各検査対象回路の抵抗値に応じて前記各補助抵抗が選定されていることを特徴とする請求項15に記載の異常検出装置。
- 電気抵抗値を互いに異にする複数の試験単位回路部が互いに接続されてなる並行試験回路の電気抵抗値を測定する抵抗測定器と、メモリと、前記抵抗測定器により測定された抵抗値に基づいて前記試験単位回路部に異常が生じた否かを判定する判定回路と、表示部とを備える異常検出装置であって、前記各試験単位回路部は相互に並列又は直列に接続され、ある一つの前記試験単位回路部が異常であるときの前記並行試験回路の第2の合成抵抗値R0′と、前記一つの試験単位回路部に加えて他の一つの前記試験単位回路部が異常を生じたときの前記並行試験回路の第3の合成抵抗値R0′′と、前記測定器の許容差と前記試験単位回路部の許容差との和で示される合計許容差αとの間に次式
|R0′−R0′′|/(R0′+R0′′)>α
が成り立ち、前記メモリには、予め、前記各試験単位回路部が異常を生じる前後での前記並行試験回路のそれぞれの電気抵抗値の各変化量が、該変化量を与える異常な試験単位回路を特定する情報に関連して格納されており、前記判定回路は、前記抵抗測定器による測定抵抗値の変化分と前記メモリに格納された前記各変化量との差分を算出する演算処理部を有し、該演算処理部により求められた前記差分が前記合計許容差α内にあるとき、異常が生じた旨及び当該差分を与えた前記変化量についての前記試験単位回路部を特定する情報を前記表示部に表示させることを特徴とする、電気回路のための異常検出装置。 - それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に直列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎に重みを与え、これにより前記各試験単位回路部の合成電気抵抗が段階的に変化するように、前記各補助抵抗が直列接続される前記各検査対象回路抵抗値に応じて前記各補助抵抗の抵抗値が選定されていることを特徴とする請求項18に記載の異常検出装置。
- それぞれの前記試験単位回路部は検査対象回路と該検査対象回路に並列に接続された補助抵抗とからなり、前記試験単位回路部毎に重みを与え、これにより前記各試験単位回路部の合成電気抵抗が段階的に変化するように、前記各補助抵抗が並列接続される前記各検査対象回路抵抗値に応じて前記各補助抵抗の抵抗値が選定されていることを特徴とする請求項18に記載の異常検出装置。
- 前記試験単位回路部は静電容量を有し、該静電容量の等価抵抗値がこれに接続された前記補助抵抗の抵抗値よりも小さいことを特徴とする請求項16、17、19または20のいずれか一つに記載の異常検出装置。
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JP2008089680A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Brother Ind Ltd | 画像形成装置及びその検査方法 |
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