JP2005077169A - 電子機器の機能検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 液晶表示パネルLpの点灯検査装置におけるコンタクトヘッドHcに、コンタクト部材として、液晶表示パネルLpに実装されるフレキシブル配線基板と同一のフレキシブル配線基板12´が設置されている。このフレキシブル配線基板12´は、昇降ブロック13に取り外し可能に設置された回路基板14に固設されているコネクタ16に着脱自在に挿着され、背面を回路基板14に密着させた状態で設置されている。フレキシブル配線基板12´の導通接触部となる先端部は緩衝パッド17により弾性支持されている。
【選択図】図1
Description
本機能検査装置は、図1に示すように、大略、コンタクトヘッド部Hcと検査信号を出力するテスター部Tからなる。
まず、コンタクト部材とする上述のフレキシブル配線基板12´をコンタクトヘッドHcに装着する。この場合、フレキシブル配線基板12´の導通接触部とする端部とは反対側の端部をコネクタ16内に確実に挿着した後、位置決め孔12´cを位置決めピン18に通してフレキシブル配線基板12´のコンタクトヘッドHcにおける設置位置を確定させ、図示しない固定ピンにより回路基板14の下面に密着させた状態で固定する。
本変形例の機能検査装置は、上述の実施形態の機能検査装置に、コンタクト部材を加温するヒータ24と、そのコンタクト部材の温度を検知する熱電対25を、新たに設けたものである。
3、21 ドライバLSI
4 シール材
9 リード配線
11 入力配線
12、 フレキシブル配線基板
12´、26 フレキシブル配線基板(コンタクト部材)
13 昇降ブロック
14 回路基板
15 検査信号発生回路
16 コネクタ
17 緩衝パッド
18 位置決めピン
Lp、Lp´ 液晶表示パネル
Hc コンタクトヘッド部
T テスター部
Claims (3)
- 回路基板の一端部に複数の配線が引き出され、これら配線の各接続端子が配列された接続端子列に配線部材が電気接続され、該配線部材を介して外部回路に接続される電子機器の機能を検査する機能検査装置であって、
前記電子機器の機能を検査するための検査信号を出力させる検査回路部を備え、前記配線部材と実質的に同一に製造された部材を前記接続端子列に導通接触させるコンタクト部材として用い、該コンタクト部材を介して前記検査回路部と前記接続端子列を導通接続させることを特徴とする電子機器の機能検査装置。 - 前記電子機器は電極が形成された一対の基板間に液晶が挟持されてなる液晶表示パネルであり、前記配線部材は前記電極に配線接続された接続端子列に導通接続されるフレキシブル配線基板であることを特徴とする請求項1に記載の電子機器の機能検査装置。
- 前記機能検査装置は、更に、前記フレキシブル配線基板と同一に製造されたコンタクト部材を加温するヒーターと該コンタクト部材の温度を検知する熱電対を備え、前記熱電対の温度検知信号に応じて前記ヒーターへの通電を制御することにより、前記コンタクト部材の温度を所定範囲内に保持することを特徴とする請求項2に記載の電子機器の機能検査装置。
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