KR100533193B1 - 평판표시패널 검사용 프로브 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다. 이 장치는 프로브 블록과, 프로브 블록의 일단에 부착되며 제1 접촉부와 제2 접촉부를 가지고 제1 접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들과, 인쇄회로기판에 전기적으로 연결되어 복수개의 니들의 제2 접촉부에 구동 신호를 전송하는 구동집적회로를 구비한 구동집적회로 블록을 포함하여 구성된다. 구동집적회로 블록 일측에 배치된 구동집적회로의 연결패드는 복수개의 니들의 제2 접촉부 상에 위치하고, 구동집적회로 블록의 타측은 프로브 블록 타단의 고정부에 고정 결합된다. 구동집적회로 블록의 일측이 프로브 블록으로부터 소정 간격 만큼 이격됨에 따라, 구동집적회로의 연결패드가 복수개의 니들의 제2 접촉부에 접촉된다.

Description

평판표시패널 검사용 프로브 장치{PROBE UNIT FOR TESTING PLAT DISPLAY PANNEL}

본 발명은 평판표시패널 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 평판표시패널 검사용 프로브 장치에 관한 것이다.

평판표시장치용 패널로 널리 사용되는 LCD(액정표시장치), PDP(플라즈마 디스플레이 패널) 등은 패널의 가장자리 부근에 패널을 구동하기 위한 수많은 접속단자를 구비하고 있으며, 이들 접속단자를 통해 패널의 화소에 전기적 신호를 인가한다. 한편, 평판표시장치용 패널은 반도체 칩과 마찬가지로, 제품에 장착하기 전에 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 여부를 검사하게 된다.

이를 위한 검사장비는 각종 측정기기들이 내장된 테스터와, 테스터와 패널을 전기적으로 연결시켜 주는 프로브 장치를 갖추고 있다. 특히, 프로브 장치는 패널의 접속단자와 직접 접촉하여, 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다.

종래의 프로브 장치는 한국공개특허공보 제1998-32242호에 개시되어 있다. 도 4는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 니들 어셈블리를 도시한 사시도이며, 도 5는 도 4의 A-A' 선에 따른 단면도이다.

종래 기술에 따른 니들 어셈블리(100)는 띠 형상의 중앙 영역(130)과, 중앙 영역(130)의 선단으로부터 더 전방으로 연장하는 제1침선 영역(132)과, 중앙 영역(130)의 후단으로부터 더 후방으로 연장하는 제2침선 영역(134)을 각각 구비하는 복수의 니들(114)을 중앙 영역(130)의 폭 방향이 상하 방향으로 되는 상태로 블록(112)의 하측에 상기 중앙 영역(130)을 대향하고, 또한 중앙 영역(130)의 두께 방향으로 간극을 두고서 병렬적으로 배치한 것이다.

이러한 니들 어셈블리(100)는 슬릿바(118)를 블록(112)에 설치한 상태에서, 각 니들(114)의 양 단부를 슬릿바(118)의 슬릿(140)에 삽입함과 동시에 침선(134)을 가이드 부재(120)의 구멍(142)에 통과시키고, 이어서 가이드바(116)를 니들(114)의 가이드 구멍(136)에 꽂아 통과시키며, 다음에 가이드핀(146)을 사이드 커버(122)와 블록(112)에 꽂아 통과시킴과 동시에 가이드바(116)의 단부를 사이드 커버(122)에 꽂아 통과시키고, 그후 사이드 커버(122)를 나사 부재(148)로 블록(112)에 설치하여 조립할 수 있다. 이것에 의해, 니들(114) 및 가이드바(116)는 사이드 커버(122)를 통해 블록(112)에 지지된다.

한편, 블록(112)은 소정의 체결 수단에 의하여 부착체(156)에 연결되고, 부착체(156)에는 플렉시블 PCB(158)이 부착된다. 제2침선 영역(134)은 플렉시블 PCB(158)에 연결된 가이드 필름(160)에 눌려져서 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 플렉시블 PCB(158)로부터의 전기적 신호가 니들(114)를 통하여 피검체(170)로 전달된다.

그러나, 이러한 종래 기술에 따른 니들 어셈블리에서는 니들이 블록(112)에 고정되는 것에 의하여, 제2침선 영역(134)과 가이드 필름이 서로 연결 및 접촉된다. 니들의 고정이 불안하거나, 복수개의 니들의 제2침선 영역들 각각의 높이에 차이가 있을 수 있다. 이러한 경우, 니들과 가이드 필름의 전기적 연결이 불안정하여 연결된 부분과 연결되지 않은 부분이 생기는 문제가 발생하여 접촉 불량을 야기할 수 있다.

본 발명은 검사장치에 장착된 니들 어셈블리의 니들이 구동집적회로의 전극패드에 안전하게 접촉할 수 있도록 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공하기 위한 것이다.

상기의 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명은 평판표시패널 검사용 프로브 장치를 제공한다. 이 프로브 장치는 프로브 블록과, 프로브 블록의 일단에 부착되며 제1 접촉부와 제2 접촉부를 가지고 제1 접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들과, 인쇄회로기판에 전기적으로 연결되어 복수개의 니들의 제2 접촉부에 구동 신호를 전송하는 구동집적회로를 구비한 구동집적회로 블록을 포함하여 구성된다. 구동집적회로 블록 일측에 배치된 구동집적회로의 연결패드는 복수개의 니들의 제2 접촉부 상에 위치하고, 구동집적회로 블록의 타측은 프로브 블록 타단의 고정부에 고정 결합된다. 구동집적회로 블록의 일측이 프로브 블록으로부터 소정 간격 만큼 이격됨에 따라, 구동집적회로의 연결패드가 복수개의 니들의 제2 접촉부에 접촉된다.

구동집적회로 블록의 일측은 프로브 블록을 관통하여 형성된 관통공의 나사산에 치합되는 관통볼트의 이동에 의해 프로브 블록으로부터 이격된다. 한편, 관통볼트의 회전에 의하여 이격되는 간격이 조절될 수 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예의 검사장치의 니들 어셈블리를 설명한다. 본 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니고, 단지 예시로 제시된 것이다.

도 1a은 본 발명에 따른 니들 어셈블리를 장착한 프로브 장치의 측면도이고, 도 1b는 평면도를 도시한 것이다.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 프로브 장치의 프로브 프레임(1)에 프로브 헤드(2)가 설치되고, 프로브 헤드(2)에는 프로브 고정 수단(3)을 통해 니들 어셈블리(10)가 고정 배치된다.

도 2a는 본 발명에 따른 프로브 장치의 하부 사시도이고, 도 2b는 도 1b의 I-I'선에 대한 단면도를 도시한 것이다.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 본 발명에 따른 프로브 장치의 니들 어셈블리(10)는 프로브 블록(11)과, 프로브 블록(11)의 일단에 부착되며 제1 접촉부(12a)와 제2 접촉부(12b)를 가지고 제1 접촉부는 평판표시패널의 접속단자(미도시)에 접촉하는 복수개의 니들(12)과, 인쇄회로기판(미도시)에 전기적으로 연결되어 복수개의 니들의 제2 접촉부(12b)에 구동 신호를 전송하는 구동집적회로(13a)를 구비한 구동집적회로 블록(13)을 포함하여 구성된다.

구동집적회로 블록의 일측에 배치된 구동집적회로(13a)의 연결패드(13b)는 복수개의 니들(12)의 제2 접촉부(12b) 상에 위치한다. 한편, 구동집적회로 블록의 타측은 소정의 체결수단(14)에 의하여 프로브 블록 타단의 고정부(11a)에 고정 결합된다. 소정의 체결수단은 고정나사일 수 있다.

도 3은 본 발명에 따른 프로브 장치의 작동 상태도로서, 도 1b의 I-I'선에 대한 단면도를 도시한 것이다.

도 2b 및 도 3을 참조하면, 구동집적회로 블록의 타측이 체결수단(14)에 의하여 고정된 상태에서, 구동집적회로 블록의 일측이 프로브 블록(11)으로부터 소정 간격 만큼 이격됨에 따라, 구동집적회로의 연결패드(13b)가 복수개의 니들의 제2 접촉부(12b)에 접촉된다. 이와 같은 구동집적회로 블록 일측의 움직임에 의하여, 구동집적회로의 연결패드(13b)가 복수개의 니들의 제2 접촉부(12b)에 눌려짐에 따라 서로 전기적으로 연결된다. 따라서, 이격 간격이 클수록, 구동집적회로의 연결패드(13b)가 복수개의 니들의 제2 접촉부(12b)를 누르는 힘이 강해지고, 이에 따라 전기적 연결이 안전하게 된다. 종래의 경우와는 달리, 모든 니들들이 구동집적회로의 연결패드(13b)에 접촉되는 것이 가능하게 된다.

프로브 블록(11)을 관통하여 형성된 관통공(11h)의 나사산에 치합되는 관통볼트(15)의 이동에 의해 이격이 발생된다. 관통볼트(15)의 회전에 의하여 구동집적회로 블록이 이격되는 간격이 조절될 수 있다. 따라서, 제2 접촉부에서의 니들들(12)의 고정된 높이가 서로 다른 경우에도, 관통볼트의 회전을 조절하여 모든 니들들이 구동집적회로의 연결패드(13b)에 접촉되도록 하는 것이 가능하게 된다.

한편, 도 1b를 참조하면, 관통공(11h)및 관통볼트(15)는 니들 어셈블리의 노출된 부분에 위치한다. 때문에, 니들 어셈블리를 분해하는 등의 복잡한 조작을 하지 않고 노출된 관통볼트(15)의 간단한 조작으로도 니들과 구동집적회로의 연결패드의 연결을 조절할 수 있다.

이상과 같이 구동집적회로 블록의 이격 간격이 적당하게 조절되면, 프로브 블록에 나사산이 구비된 고정 홈을 통하여 치합되는 고정볼트(16)을 사용하여 관통볼트를 고정하게 된다. 이에 따라, 구동집적회로 블록의 위치가 안정하게 고정되고, 평판표시패널의 검사를 위한 프로브 장치의 니들 어셈블리가 준비된다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면, 검사장치에 장착된 니들 어셈블리의 니들이 구동집적회로의 전극패드에 안전하게 접촉할 수 있고, 이러한 접촉의 조절이 간단하게 이루어 질 수 있다.

도 1a은 본 발명에 따른 프로브 장치의 측면도,

도 1b는 본 발명에 따른 프로브 장치의 평면도,

도 2a는 본 발명에 따른 프로브 장치의 하부 사시도,

도 2b는 도 1b의 I-I'선에 대한 단면도,

도 3은 본 발명에 따른 프로브 장치의 작동 상태를 나타내는 도 1b의 I-I'선에 대한 단면도,

도 4는 종래 기술에 따른 프로브 장치의 사시도,

도 5는 도 4의 A-A'선에 대한 단면도.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

10 니들 어셈블리 11 프로브 블록

12 니들 13 구동집적회로 블록

14 체결부 15 관통볼트

Claims (4)

1. 프로브 블록;

   제1 접촉부와 제2 접촉부를 가지고 상기 프로브 블록의 일단에 부착되며, 상기 제1 접촉부는 평판표시패널의 전극패드에 접촉하는 복수개의 니들; 및

   인쇄회로기판에 전기적으로 연결되어, 상기 복수개의 니들의 제2 접촉부에 구동 신호를 전송하는 구동집적회로를 구비한 구동집적회로 블록을 포함하며;

   상기 구동집적회로 블록 일측에 배치된 상기 구동집적회로의 연결패드는 상기 복수개의 니들의 제2 접촉부 상에 위치하고, 상기 구동집적회로 블록의 타측은 상기 프로브 블록 타단의 고정부에 고정 결합되되;

   상기 구동집적회로 블록의 일측이 상기 프로브 블록으로부터 소정 간격 만큼 이격됨에 따라, 상기 구동집적회로의 연결패드가 상기 복수개의 니들의 제2 접촉부에 접촉되는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
2. 제1항에 있어서,

   상기 프로브 블록을 관통하여 형성된 관통공의 나사산에 치합되는 관통볼트의 이동에 의하여, 상기 구동집적회로 블록의 일측이 상기 프로브 블록으로부터 이격되는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 관통볼트의 회전에 의하여 상기 이격되는 간격이 조절되는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.
4. 제2항에 있어서,

   상기 프로브 블록에는 상기 관통볼트를 고정하기 위한 고정볼트를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시패널 검사용 프로브 장치.