KR20150078440A

KR20150078440A - 디스플레이 장치의 검사 방법

Info

Publication number: KR20150078440A
Application number: KR1020130167792A
Authority: KR
Inventors: 홍무경; 홍영준
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2013-12-30
Filing date: 2013-12-30
Publication date: 2015-07-08
Also published as: KR102092070B1

Abstract

본 발명은 인쇄 회로 기판과 연성 케이블 간의 체결 불량에 의해 디스플레이 장치가 손상되는 것을 방지하고, 체결 불량 위치를 검출하기 위한 디스플레이 장치의 검사 방법을 제공하는 것으로, 연성 케이블을 인쇄 회로 기판과 연결시키는 단계(A), 상기 연성 케이블에 테스트 신호를 인가시키는 단계(B), 상기 테스트 신호가 상기 연성 케이블에서부터 상기 인쇄 회로 기판으로 이동한 후 다시 상기 연성 케이블로 리턴하는 단계(C), 및 상기 연성 케이블로부터 전달된 피드백 신호를 확인하는 단계(D)를 포함할 수 있다.

Description

디스플레이 장치의 검사 방법{METHOD FOR INSPECTING DISPLAY APPARATUS}

본 발명은 제어 기판, 인쇄 회로 기판 및 연성 케이블 사이의 체결 상태를 검사하기 위한 디스플레이 장치의 검사 방법에 관한 것이다.

최근, 디스플레이 산업은 고해상도 및 대면적화의 방향으로 품질이 향상된 디스플레이 장치를 추구하는 추세이다. 이에 따라, 디스플레이 장치는 최근 FHD(Full High Definition Television)와 대략 FHD 면적의 4배 면적에 해당하는 UHD(Ultra High Definition Television)가 개발되었으며, 크기가 크면서도 고화질의 얇은 디스플레이 장치로 계속해서 발전하고 있다.

종래의 디스플레이 장치는 영상을 표시하기 위한 디스플레이 패널, 디스플레이 패널을 구동시키는 구동 전원 및 제어 신호와 같은 구동 신호를 공급하는 패널 구동 유닛, 및 디스플레이 패널과 패널 구동 유닛을 지지하는 지지 커버를 포함하여 구성된다. 상기 패널 구동 유닛은 구동 신호를 공급하는 제어 기판, 디스플레이 패널에 연결된 인쇄 회로 기판, 및 제어 기판에서부터 상기 인쇄 회로 기판으로 구동 신호를 전달하는 연성 케이블을 포함하여 구성된다.

상기 연성 케이블은 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터에 체결된다. 이때, 종래의 디스플레이 장치는 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 패드와 상기 연성 케이블에 형성된 패드 간의 얼라인이 정확하게 맞지 않으면 패드 간에 접속 불량 상태가 되어 구동 시 쇼트가 발생된다.

그런데, 종래의 디스플레이 장치는 전술한 디스플레이 산업의 추세에 따라 보다 높은 전압의 구동 신호가 필수적으로 요구되어, 인쇄 회로 기판에 복수의 연성 케이블을 접속시켜야 했다. 이에 따라, 종래의 디스플레이 장치는 인쇄 회로 기판 및 연성 케이블 간의 체결 공정의 수가 증가함에 따라 체결 불량률이 증가하게 되고, 아울러 체결 확인 공정이 번복되어 작업 효율을 저하시키는 문제가 발생되었다.

뿐만 아니라, 종래에는 상기 인쇄 회로 기판에 체결되는 연성 케이블들 전체에 대해 육안으로 체결 상태를 확인해야 했다. 그러나, 이러한 종래의 검사 방법은 상기 연성 케이블들을 개별적으로 확인하므로 검사 시간이 지연되고, 비정상적으로 체결되면 구동 신호 인가 시 발생된 쇼트로 인해 연성 케이블 및 디스플레이 장치를 손상시키는 문제가 있다. 또한, 종래의 검사 방법은 검사 공정의 반복으로 인해 작업 효율을 저하시키며, 결과적으로 디스플레이 장치의 생산성을 저하시키는 문제가 있다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 인쇄 회로 기판과 연성 케이블 간의 체결 불량에 의해 디스플레이 장치가 손상되는 것을 방지하고, 체결 불량 위치를 검출하기 위한 디스플레이 장치의 검사 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

또한, 본 발명은 비효율적인 검사 공정이 반복됨에 따라 디스플레이 장치의 수율이 저하되는 것을 방지하기 위한 디스플레이 장치의 검사 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 연성 케이블을 인쇄 회로 기판과 연결시키는 단계(A), 상기 연성 케이블에 테스트 신호를 인가시키는 단계(B), 상기 테스트 신호가 상기 연성 케이블에서부터 상기 인쇄 회로 기판으로 이동한 후 다시 상기 연성 케이블로 리턴하는 단계(C), 및 상기 연성 케이블로부터 전달된 피드백 신호를 확인하는 단계(D)를 포함할 수 있다.

상기 과제의 해결 수단에 의하면, 본 발명은 디스플레이 장치의 검사 공정을 자동화하여 연성 케이블의 정상 체결률을 향상시키며, 이에 따라 검사 시간을 단축시켜 디스플레이 장치의 수율을 증대시키는 효과가 있다.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 개략적인 배면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 디스플레이 장치의 요부를 나타내는 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 4는 연산부를 설명하기 위한 개략적인 블록도이다.
도 5는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 6은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.

본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다.

한편, 본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다.

본 명세서에서 기술되는"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 실시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

본 명세서에서 기술되는 "연결된다"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성과 직접적으로 연결되는 경우뿐만 아니라 어떤 구성이 제3의 구성을 통해서 다른 구성과 간접적으로 연결되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.

"상에"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성의 바로 상면에 형성되는 경우뿐만 아니라 이들 구성들 사이에 제 3의 구성이 개재되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.

본 명세서에서 "좌측" 및 "우측"의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 방향성이 한정되거나 권리범위가 축소되어서는 아니 된다.

본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 개략적인 배면도이고, 도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 디스플레이 장치의 요부를 나타내는 분해 사시도이다.

도 1 및 도 2를 참고하면, 디스플레이 장치(1)는 화상을 표시하는 디스플레이 패널(10) 및 상기 디스플레이 패널(10)을 구동시키는 패널 구동부로 구성된다.

상기 디스플레이 패널(10)은 영상을 표시하기 위한 것으로 액정 디스플레이 패널, 유기 발광 디스플레이 패널(organic light emitting display panel) 등 다양한 종류의 패널이 적용될 수 있다. 그 중, 유기 발광 디스플레이 패널을 예로 들면, 상기 디스플레이 패널(10)은 대향 합착된 하부 기판과 상부 기판을 포함하여 구성된다.

상기 하부 기판은 플렉서블 박막 기판으로서, 플라스틱 재질로 이루어지거나 금속 포일(Foil)로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 상기 플라스틱 재질의 하부 기판은 PI(polyimide), PET(polyethyleneterephthalate), PEN(polyethylenapthanate), PC(polycarbonate), PNB(polynorborneen), 및 PES(polyethersulfone) 중 어느 하나의 재질로 이루어질 수 있다.

이러한 하부 기판은 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인, 복수의 구동 전원 라인, 복수의 화소 및 캐소드 전원 라인을 포함하여 이루어진다.

복수의 게이트 라인 각각은 복수의 데이터 라인 각각과 교차하도록 일정한 간격으로 형성되고, 복수의 구동 전원 라인 각각은 복수의 게이트 라인 또는 복수의 데이터 라인 각각과 나란하도록 형성된다. 복수의 화소 각각은 교차하는 게이트 라인과 데이터 라인에 의해 정의되는 화소 영역에 형성되어 게이트 라인으로부터의 게이트 신호와 데이터 라인으로부터의 데이터 신호에 따라 화상을 표시한다.

이를 위해, 복수의 화소 각각은 게이트 라인과 데이터 라인에 접속된 화소 구동 회로, 및 화소 구동 회로에 접속됨과 아울러 캐소드 전원 라인에 접속된 유기 발광 소자를 포함하여 이루어진다.

화소 구동 회로는 게이트 라인과 데이터 라인에 접속된 스위칭 트랜지스터, 스위칭 트랜지스터에 접속된 구동 트랜지스터, 구동 트랜지스터의 게이트 전극과 소스 전극에 접속된 커패시터를 포함하여 이루어진다.

이러한 화소 구동 회로는 게이트 라인에 공급되는 게이트 신호에 따른 스위칭 트랜지스터의 스위칭에 따라 데이터 라인에 공급되는 데이터 신호를 구동 트랜지스터에 공급하여 데이터 신호에 상응하는 구동 트랜지스터의 게이트-소스 전압을 커패시터에 저장한다. 커패시터에 저장된 전압으로 구동 트랜지스터를 턴-온(turn-on)시킴으로써 데이터 신호에 대응되는 데이터 전류를 유기 발광 소자에 공급한다. 여기서, 상기 트랜지스터는 a-Si TFT(thin film transistor), poly-Si TFT, Oxide TFT, Organic TFT 등이 될 수 있다.

유기 발광 소자는 구동 트랜지스터에 접속된 애노드(Anode) 전극, 애노드 전극 상에 형성된 유기 발광층, 및 유기 발광층 상에 형성된 캐소드(Cathode) 전극을 포함하여 이루어진다. 이러한 유기 발광 소자는 구동 트랜지스터의 턴-온에 의해 애노드 전극으로부터 캐소드 전극으로 흐르는 전류에 의해 발광함으로써 데이터 전류에 대응되는 휘도의 광을 상부 기판의 상부 쪽으로 방출한다.

캐소드 전원 라인은 각 화소의 캐소드 전극에 전기적으로 접속되도록 하부 기판의 전면(全面)에 형성되거나 화소들의 캐소드 전극에 전기적으로 접속되도록 패턴 형태로 형성될 수 있다. 이러한 캐소드 전원 라인이 각 화소의 유기 발광층에 전기적으로 접속되도록 형성될 수 있으며, 이 경우 캐소드 전극은 생략될 수 있다.

한편, 상기 디스플레이 패널(10)은 액정 디스플레이 패널일 수 있고, 이 경우 상기 디스플레이 패널(10)은 비(非)자발광식 패널로서 백 라이트 유닛으로부터 조사되는 광의 투과율을 조절하여 영상을 표시한다. 상기 디스플레이 패널(10)은 액정 층을 사이에 두고 대향 합착된 하부 기판과 상부 기판을 포함한다. 상기 하부 기판은 각 화소에 인가되는 데이터 전압과 공통 전압의 차전압에 대응되는 전계를 형성하여 액정층의 광 투과율을 조절한다. 상기 상부 기판은 상기 하부 기판에 형성된 각 화소에 대응되는 컬러 필터를 포함하도록 구성되며, 액정층의 구동 방식에 따라 공통 전압이 공급되는 공통 전극이 형성될 수 있다. 이와 같은 상부 기판은 액정층을 투과하여 입사되는 광을 컬러 필터로 필터링하여 컬러 광을 외부로 방출시킴으로써 디스플레이 패널(10)에 컬러 영상이 표시되도록 한다.

상기 패널 구동부는 상기 디스플레이 패널(10)을 구동시키기 위한 것으로, 제어 기판(20), 인쇄 회로 기판(30) 및 연성 케이블(40)을 포함한다.

상기 제어 기판(20)은 상기 디스플레이 패널(10)을 구동시키기 위한 구동 전원 및 제어 신호 등의 구동 신호를 생성하여 공급한다. 제어 신호는 영상 데이터 및 타이밍 동기 신호 등이 될 수 있다.

상기 인쇄 회로 기판(30)은 상기 제어 기판(20)으로부터 공급된 구동 신호를 상기 디스플레이 패널(10)에 전달한다. 상기 인쇄 회로 기판(30)은 상기 디스플레이 패널(10)에 연결되며, 상기 디스플레이 패널(10)과의 사이에 연성 회로 필름이 개재될 수 있다. 상기 인쇄 회로 기판(30)은 PCB(Printed Circuit Board) 또는 FPC(Flexible Printed Circuit)가 적용될 수 있으며, 제어 신호를 상기 연성 회로 필름에 결합된 구동 집적 회로로 공급하기 위한 구동 소자들이 표면 실장 방식으로 형성되어 있다. 이러한 인쇄 회로 기판(30)에는 상기 연성 케이블(40)을 체결시키기 위한 커넥터(미도시)가 형성되어 있다.

상기 연성 회로 필름은 디스플레이 패널(10)의 화소들을 발광시키기 위한 데이터 신호 및 게이트 신호를 공급하는 구동 집적 회로가 장착되어 있다. 상기 연성 회로 필름은 COF(Chip On Film)가 적용될 수 있다.

상기 구동 집적 회로는 복수의 신호 입력 단자를 통해 공급된 제어 신호에 기초하여 데이터 신호 및 게이트 신호를 생성하고, 생성된 데이터 신호 및 게이트 신호를 해당하는 신호 공급 단자에 공급하여 하부 기판에 형성된 각 화소를 구동함으로써 영상 데이터에 대응되는 영상을 표시한다.

상기 연성 케이블(40)은 상기 제어 기판(20)과 상기 인쇄 회로 기판(30) 사이에 개재되어, 상기 제어 기판(20)으로부터 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 구동 신호를 전달한다. 상기 연성 케이블(40)은 FFC(Flexible Flat Cable)가 적용될 수 있다. 상기 연성 케이블(40)은 상기 인쇄 회로 기판(30)에 형성된 패드와 상기 연성 케이블(40)에 형성된 회로 패드 간에 접속되도록 상기 인쇄 회로 기판(30)의 커넥터에 체결된다.

상기 제어 기판(20)에는 상기 연성 케이블(40)이 결합되는 복수의 제어 구동 패드(21)가 형성된다. 상기 제어 구동 패드(21)는 상기 연성 케이블(40)로 상기 구동 신호를 이동시키는 역할을 한다.

또한, 상기 제어 기판(20)에는 제어 구동 패드(21)의 양쪽 최외각에 복수의 제어 테스트 패드가 형성된다. 상기 제어 테스트 패드는 상기 제어 기판(20)의 좌측 최외각에 형성된 좌측 제어 테스트 패드(22) 및 상기 제어 기판(20)의 우측 최외각에 형성된 우측 제어 테스트 패드(23)를 포함하여 구성된다. 이러한 제어 테스트 패드는 상기 제어 기판(20)과 상기 연성 케이블(40)이 정상적으로 결합되었는지 검사하기 위해 테스트 신호(TS)를 이동시키는 역할을 한다.

상기 인쇄 회로 기판(30)에는 상기 연성 케이블(40)이 결합되는 복수의 회로 구동 패드(31)가 형성된다. 상기 회로 구동 패드(31)는 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 상기 구동 신호를 이동시키는 역할을 한다.

또한, 상기 인쇄 회로 기판(30)에는 회로 구동 패드(31)의 양쪽 최외각에 복수의 회로 테스트 패드가 형성된다. 상기 회로 테스트 패드는 상기 인쇄 회로 기판(30)의 좌측 최외각에 형성된 좌측 회로 테스트 패드(32) 및 상기 인쇄 회로 기판(30)의 우측 최외각에 형성된 우측 회로 테스트 패드(33)를 포함하여 구성된다. 이러한 회로 테스트 패드는 상기 인쇄 회로 기판(30)과 상기 연성 케이블(40)이 정상적으로 결합되었는지 검사하기 위해 테스트 신호(TS)를 이동시키는 역할을 한다.

상기 인쇄 회로 기판(30)에는 상기 좌측 회로 테스트 패드(32)와 상기 우측 회로 테스트 패드(33)를 연결하는 테스트 라인(34)이 더 형성되어 있다. 상기 테스트 라인(34)은 상기 좌측 회로 테스트 패드(32)와 상기 우측 회로 테스트 패드(33) 간에 상기 테스트 신호(TS)를 이동시키는 역할을 한다.

상기 연성 케이블(40)에는 상기 제어 기판(20)이 결합되는 복수의 입력 구동 패드(41)가 형성된다. 상기 입력 구동 패드(41)는 상기 제어 기판(20)에서부터 상기 연성 케이블(40)로 상기 구동 신호를 이동시키는 역할을 한다.

또한, 상기 연성 케이블(40)에는 입력 구동 패드(41)의 양쪽 최외각에 복수의 입력 테스트 패드가 형성된다. 상기 입력 테스트 패드는 상기 연성 케이블(40)의 좌측 최외각에 형성된 좌측 입력 테스트 패드(42) 및 상기 연성 케이블(40)의 우측 최외각에 형성된 우측 입력 테스트 패드(43)를 포함하여 구성된다. 이러한 입력 테스트 패드는 상기 제어 기판(20)과 상기 연성 케이블(40)이 정상적으로 결합되었는지 검사하기 위해 테스트 신호(TS)를 이동시키는 역할을 한다.

상기 연성 케이블(40)에는 상기 인쇄 회로 기판(30)이 결합되는 복수의 출력 구동 패드(44)가 형성된다. 상기 출력 구동 패드(44)는 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 상기 구동 신호를 이동시키는 역할을 한다.

또한, 상기 연성 케이블(40)에는 출력 구동 패드(44)의 양쪽 최외각에 복수의 출력 테스트 패드가 형성된다. 상기 출력 테스트 패드는 상기 연성 케이블(40)의 좌측 최외각에 형성된 좌측 출력 테스트 패드(45) 및 상기 연성 케이블(40)의 우측 최외각에 형성된 우측 출력 테스트 패드(46)를 포함하여 구성된다. 이러한 출력 테스트 패드는 상기 연성 케이블(40)과 상기 인쇄 회로 기판(30)이 정상적으로 결합되었는지 검사하기 위해 테스트 신호(TS)를 이동시키는 역할을 한다.

상기 연성 케이블(40)에는 상기 좌측 입력 테스트 패드(42)와 상기 좌측 출력 테스트 패드(45)를 연결하는 좌측 연결 라인(47)이 형성된다. 상기 좌측 연결 라인(47)은 상기 좌측 입력 테스트 패드(42)에서부터 상기 좌측 출력 테스트 패드(45)로 상기 테스트 신호(TS)를 이동시킨다.

상기 연성 케이블(40)에는 상기 우측 입력 테스트 패드(43)와 상기 우측 출력 테스트 패드(46)를 연결하는 우측 연결 라인(48)이 형성된다. 상기 우측 연결 라인(48)은 상기 우측 출력 테스트 패드(46)에서부터 상기 우측 입력 테스트 패드(43)로 상기 테스트 신호(TS)를 이동시킨다.

상기 좌측 및 우측 연결 라인(47, 48)을 통해 이동하는 테스트 신호(TS)는 디스플레이 장치(1)에 포함된 각각의 구성요소들의 배치가 달라질 경우 서로 반대 방향으로 이동할 수도 있다.

상기 제어 기판(20)에는 연산부(50)가 결합될 수 있다. 상기 연산부(50)는 앤드 게이트로 이루어진 논리 회로로서, 복수의 테스트 신호(TS)를 논리곱 연산하여 피드백 신호(FS)를 생성한다. 이러한 연산부(50)는 이미 설계된 하드 웨어를 반도체로 생산하기 이전에 최종적으로 하드웨어의 동작 및 성능을 검증하기 위해 제작하는 중간 개발물 형태의 인 FPGA(Field-Programmable Gate Array)일 수 있다. 상기 제어 기판(20)에는 상기 연산부(50)와 상기 연성 케이블(40)을 연결하는 리턴 라인(24)이 형성된다. 상기 연산부(50)로부터 공급된 테스트 신호(TS)는 상기 리턴 라인(24)을 통해 상기 연산부(50)로 다시 입력된다. 상기 테스트 신호(TS)는 상기 연산부(50)로부터 공급되지 않고 별도의 구동 신호 공급부로부터 직접 공급될 수도 있다.

상기 제어 기판(20)에는 상기 연산부(50)와 연결되도록 결과 확인부(60)가 배치될 수 있다. 상기 결과 확인부(60)는 상기 피드백 신호(FS)를 전달받아 디스플레이 하는 확인 기기일 수 있다. 구체적으로 예를 들어, 상기 결과 확인부(60)는 전압 계측기일 수 있다. 또는, 상기 결과 확인부(60)는 상기 피드백 신호(FS)가 인가되어 발광하는 엘이디 소자일 수도 있다.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.

도 2 및 도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 연성 케이블(40)을 인쇄 회로 기판(30)과 연결시키는 단계(A), 상기 연성 케이블(40)에 테스트 신호(TS)를 인가시키는 단계(B), 상기 테스트 신호(TS)가 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 이동한 후 다시 상기 연성 케이블(40)로 리턴하는 단계(C), 및 상기 연성 케이블(40)로부터 전달된 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계(D)를 포함하여 이루어진다.

상기 연성 케이블(40)을 인쇄 회로 기판(30)과 연결시키는 단계(A)는 상기 연성 케이블(40)의 출력 구동 패드(44)를 상기 인쇄 회로 기판(30)의 회로 구동 패드(31)에 결합시켜 이루어진다. 여기서, 상기 연성 케이블(40)의 출력 테스트 패드는 상기 인쇄 회로 기판(30)의 회로 테스트 패드에 결합된다. 구체적으로, 상기 좌측 출력 테스트 패드(45)는 상기 좌측 회로 테스트 패드(32)에 결합되고, 상기 우측 출력 테스트 패드(46)는 상기 우측 회로 테스트 패드(33)에 결합된다. 상기 단계(A)는 상기 연성 케이블(40)을 상기 제어 기판(20)에 연결시키는 단계를 더 포함하여 이루어 질 수 있다. 여기서, 상기 연성 케이블(40)의 입력 구동 패드(41) 및 입력 테스트 패드는 상기 제어 기판(20)의 제어 구동 패드(21) 및 제어 테스트 패드 각각에 결합된다.

다음, 상기 연성 케이블(40)에 테스트 신호(TS)를 인가시키는 단계(B)는 상기 테스트 신호(TS)가 상기 연성 케이블(40)과 연결된 상기 제어 기판(20)에서부터 공급되어 이루어진다. 여기서, 상기 테스트 신호(TS)는 구동 전원, 구동 신호 등이 이용될 수 있다. 상기 테스트 신호(TS)는 상기 제어 기판(20)에 배치된 연산부(Field-Programmable Gate Array, 50)로부터 공급될 수 있다. 상기 단계(B)는 상기 좌측 제어 테스트 패드(22)가 상기 좌측 입력 테스트 패드(42)와 접속되어 상기 연성 케이블(40)로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하여 이루어진다.

다음, 상기 테스트 신호(TS)가 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 이동한 후 다시 상기 연성 케이블(40)로 리턴하는 단계(C)는 상기 테스트 신호(TS)가 상기 연성 케이블(40)의 최외각에 형성된 출력 테스트 패드(45, 46)들을 통해 상기 인쇄 회로 기판(30)과 상기 연성 케이블(40) 간에 이동하여 이루어진다. 여기서, 상기 단계(C)는 상기 테스트 신호(TS)가 상기 연성 케이블(40)의 최외각에 형성된 입력 테스트 패드(42, 43)들을 통해 상기 제어 기판(20)과 상기 연성 케이블(40) 간에 이동하여 이루어진다. 또한, 상기 단계(C)는 상기 테스트 신호(TS)가 상기 인쇄 회로 기판(30)에 상기 출력 테스트 패드(45, 46)들을 연결하도록 형성된 테스트 라인(34)을 통해 이동하여 이루어진다.

이러한 단계(C)는 상기 연성 케이블(40)에서부터 인쇄 회로 기판(30)으로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하는 단계(C1), 및 상기 인쇄 회로 기판(30)에서부터 상기 연성 케이블(40)로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하는 단계(C2)를 포함하여 이루어진다.

상기 단계(C1)는 상기 좌측 입력 테스트 패드(42)와 상기 좌측 출력 테스트 패드(45)를 연결하는 좌측 연결 라인(47)이 상기 테스트 신호(TS)를 상기 연성 케이블(40)에 형성된 좌측 출력 테스트 패드(45)로 전달하고, 상기 좌측 출력 테스트 패드(45)가 상기 인쇄 회로 기판(30)에 형성된 좌측 회로 테스트 패드(32)와 접속되어 상기 테스트 신호(TS)를 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 전달하여 이루어진다.

상기 단계(C2)는 상기 인쇄 회로 기판(30)에 형성된 좌측 및 우측 회로 테스트 패드(32, 33)들을 연결하는 테스트 라인(34)이 상기 테스트 신호(TS)를 상기 우측 회로 테스트 패드(33)로 전달하고, 상기 우측 회로 테스트 패드(33)가 상기 연성 케이블(40)에 형성된 우측 출력 테스트 패드(46)와 접속되어 상기 테스트 신호(TS)를 상기 연성 케이블(40)로 리턴시켜 이루어진다.

마지막으로, 상기 연성 케이블(40)로부터 전달된 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계(D)는 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 제어 기판(20)으로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하는 단계, 및 상기 테스트 신호(TS)에 기초하여 생성된 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계를 포함하여 이루어진다.

상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 제어 기판(20)으로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하는 단계는 상기 우측 출력 테스트 패드(46)와 상기 우측 입력 테스트 패드(43)를 연결하는 우측 연결 라인(48)이 상기 테스트 신호(TS)를 상기 우측 입력 테스트 패드(43)로 전달하고, 상기 우측 입력 테스트 패드(43)가 상기 제어 기판(20)에 형성된 우측 제어 테스트 패드(23)와 접속되어 상기 테스트 신호(TS)를 상기 인쇄 회로 기판(30)으로 전달하여 이루어진다.

상기 테스트 신호(TS)에 기초하여 생성된 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계는 연산부(50)가 피드백 신호(FS)를 생성한 후, 상기 제어 기판(20)에 배치된 결과 확인부(60)가 체결 상태를 표시하여 이루어진다. 이러한 단계는 상기 우측 제어 테스트 패드(23)와 상기 연산부(50)를 연결하는 리턴 라인(24)이 상기 테스트 신호(TS)를 상기 연산부(50)로 전달하고, 상기 연산부(50)가 상기 피드백 신호(FS)를 생성한 후, 상기 피드백 신호(FS)가 상기 결과 확인부(60)로 전달되어 이루어질 수 있다.

여기서, 상기 결과 확인부(60)는 상기 피드백 신호(FS)가 상기 테스트 신호(TS)와 동일하면 상기 연성 케이블(40)의 체결 상태를 정상으로 판정하고, 상기 피드백 신호(FS)가 상기 테스트 신호(TS)와 상이하면 상기 연성 케이블(40)의 체결 상태를 비정상으로 판정하여 표시할 수 있다.

이러한 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 연성 케이블(40)에서 인쇄 회로 기판(30)의 커넥터(미도시)에 체결 시 가장 크게 어긋나게 되는 양쪽 최외각의 핀(pin)들만을 테스트함으로써 내부 핀들의 체결 상태까지도 일시에 확인할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 피드백 신호(FS)에 따라 체결 상태를 확인하는 자동화된 검사 공정으로 인해 연성 케이블(40)의 체결 상태를 용이하게 파악할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 인쇄 회로 기판(30)의 커넥터 체결 상태를 일일이 육안으로 확인해야 했던 종래의 검사 방법에 비해 검사 시간을 단축시킬 수 있고, 이로 인해 작업 능률 및 디스플레이 장치(1)의 수율을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 디스플레이 장치의 체결 불량 위치를 확인할 수 있으므로 체결 상태 불량에 대한 신속한 조치를 취할 수 있으며, 디스플레이 장치의 생산이 완료된 후에도 적용할 수 있어 유지보수 작업을 용이하게 할 수 있다.

도 4는 연산부를 설명하기 위한 개략적인 블록도이다.

도 4를 참고하면, 상기 연산부(50)는 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54)를 포함하도록 복수 개로 형성될 수 있다. 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각은 상기 디스플레이 패널(10)의 각각 상이한 영역을 테스트하기 위한 것이다. 구체적으로 예를 들면, 제1 연산부(51)는 상기 디스플레이 패널(10)의 제1 영역(R1)을, 제2 연산부(52)는 상기 디스플레이 패널(10)의 제2 영역(R2)을, 제3 연산부(53)는 상기 디스플레이 패널(10)의 제3 영역(R3)을, 그리고 제4 연산부(54)는 상기 디스플레이 패널(10)의 제4 영역(R4)을 테스트하기 위한 것이다.

이 경우, 상기 연산부(50)를 이용한 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하면, 상기 단계(D)는 상기 연성 케이블(40)에서부터 상기 연산부(50)로 상기 테스트 신호(TS)를 전달하는 단계(D1), 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각이 상기 테스트 신호(TS)에 기초하여 상기 피드백 신호(FS)를 생성하는 단계(D2), 및 상기 피드백 신호(FS) 각각을 확인하는 단계(D3)를 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 단계(D1)는 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각에 복수의 리턴 라인 각각이 연결되어 이루어진다. 상기 각각의 리턴 라인(24)은 상기 디스플레이 패널(10)의 각 영역을 구동시키는 인쇄 회로 기판에서부터 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각에 상기 테스트 신호(TS)를 전달한다.

상기 단계(D2)는 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54)가 각각의 리턴 라인으로부터 전달된 테스트 신호(TS)를 논리곱 연산하여 피드백 신호(FS)를 생성한다.

상기 단계(D3)는 상기 각각의 피드백 신호(FS)가 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각에 연결된 복수의 결과 확인부(60)에 전달되어 상기 디스플레이 패널(10)의 제1 내지 제4 영역(R1, R2, R3, R4) 각각의 체결 상태를 나타내어 이루어질 수 있다.

상기 연산부는 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 모두에 연결된 제5 연산부(55)를 더 포함할 수 있다.

상기 제5 연산부(55)를 이용한 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하면, 상기 단계(D)는 상기 제5 연산부(55)가 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54)로부터 생성된 피드백 신호(FS)들에 기초하여 테스트 결과 신호(TRS)를 생성하는 단계(D4), 및 상기 테스트 결과 신호(TRS)를 확인하는 단계(D5)를 더 포함하여 이루어질 수 있다.

상기 단계(D4)는 상기 제5 연산부(55)가 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각으로부터 전달된 피드백 신호(FS)를 논리곱 연산하여 테스트 결과 신호(TRS)를 생성하여 이루어질 수 있다.

상기 단계(D5)는 상기 테스트 결과 신호(TRS)가 상기 제5 연산부(55)에 연결된 결과 확인부(60)에 전달되어 상기 디스플레이 패널(10) 전 영역의 체결 상태를 나타내어 이루어질 수 있다. 이 경우, 상기 단계(D5)는 결과 확인부(60)가 상기 제1 내지 제4 연산부(51, 52, 53, 54) 각각으로부터 제거되고 상기 제5 연산부(55)에만 결합되어 이루어질 수 있다.

도 5는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다. 본 실시 예를 설명함에 있어 이전 실시 예와 동일 또는 대응되는 설명은 생략하기로 한다.

도 5를 참고하면, 상기 연성 케이블(40)은 제1 및 제2 연성 케이블(40a, 40b)을 포함하도록 복수 개로 형성될 수 있다. 상기 제1 및 제2 연성 케이블(40a, 40b) 각각은 서로 다른 위치에서 동일한 제어 기판(20)과 동일한 인쇄 회로 기판(30)에 결합된다. 상기 제1 및 제2 연성 케이블(40a, 40b) 각각은 각각의 리턴 라인(24a, 24b)을 매개로 하여 하나의 연산부(50)와 연결될 수 있다.

이 경우, 상기 연성 케이블(40)로부터 전달된 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계(D)는 상기 제1 연성 케이블(40a)로부터 전달된 제1 테스트 신호(TS1) 및 상기 제2 연성 케이블(40b)로부터 전달된 제2 테스트 신호(TS2)에 기초하여 피드백 신호(FS)를 생성하는 단계(D6), 및 상기 피드백 신호(FS)를 확인하는 단계(D7)를 포함하여 이루어진다.

상기 단계(D6)는 상기 제1 및 제2 테스트 신호(TS1, TS2)를 논리곱 연산하여 피드백 신호(FS)를 생성하여 이루어진다.

상기 단계(D7)는 상기 피드백 신호(FS)를 상기 결과 확인부(60)에 전달하여 체결 상태를 표시하여 이루어진다.

도 6은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다. 본 실시 예를 설명함에 있어 이전 실시 예와 동일 또는 대응되는 설명은 생략하기로 한다.

도 6을 참고하면, 상기 인쇄 회로 기판(30)은 상기 제1 및 제2 연성 케이블(40a, 40b) 각각과 연결된 제1 및 제2 인쇄 회로 기판(30a, 30b)을 포함하여 구성될 수 있다. 상기 제1 및 제2 인쇄 회로 기판(30a, 30b)은 상기 디스플레이 패널(10)의 전 영역을 구동시키거나, 상기 디스플레이 패널(10)의 일부 영역을 구동시킬 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 및 제2 인쇄 회로 기판(30a, 30b)은 상기 디스플레이 패널(10)의 제1 영역(R1)을 구동시킬 경우 상기 제1 영역(R1)의 상부와 하부 각각에 결합될 수 있다. 상기 제1 영역(R1)을 구동시키기 위한 제어 기판(20), 제1 및 제2 인쇄 회로 기판(30a, 30b), 제1 및 제2 연성 회로 기판(40a, 40b), 그리고 연산부(50)와 결과 확인부(60)를 제1 세트로 하면, 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법은 상기 디스플레이 패널(10)의 제1 내지 제4 영역(R1, R2, R3, R4) 각각에 제1 내지 제4 세트가 결합되어 상기 디스플레이 패널(10)의 전 영역의 체결 상태를 각각 확인하도록 이루어질 수 있다. 여기서, 상기 제5 연산부(55)는 상기 제1 내지 제4 세트에 연결되어 상기 디스플레이 패널(10)의 전 영역 체결 상태를 일시에 나타낼 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

1 : 디스플레이 장치 10 : 디스플레이 패널
20 : 제어 기판 21 : 제어 구동 패드
22 : 좌측 제어 테스트 패드 23 : 우측 제어 테스트 패드
24 : 리턴 라인 30 : 인쇄 회로 기판
31 : 회로 구동 패드 32 : 좌측 회로 테스트 패드
33 : 우측 회로 테스트 패드 34 : 테스트 라인
40 : 연성 케이블 41 : 입력 구동 패드
42 : 좌측 입력 테스트 패드 43 : 우측 입력 테스트 패드
44 : 출력 구동 패드 45 : 좌측 출력 테스트 패드
46 : 우측 출력 테스트 패드 47 : 좌측 연결 라인
48 : 우측 연결 라인 50 : 연산부
60 : 결과 확인부

Claims

연성 케이블을 인쇄 회로 기판과 연결시키는 단계(A);
상기 연성 케이블에 테스트 신호를 인가시키는 단계(B);
상기 테스트 신호가 상기 연성 케이블에서부터 상기 인쇄 회로 기판으로 이동한 후 다시 상기 연성 케이블로 리턴하는 단계(C); 및
상기 연성 케이블로부터 전달된 피드백 신호를 확인하는 단계(D)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제1 항에 있어서,
상기 단계(D)는 디스플레이 패널의 각각 상이한 영역을 테스트하는 제1 내지 제4 연산부를 포함하는 연산부에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제2 항에 있어서,
상기 단계(D)는,
상기 연성 케이블에서부터 상기 연산부로 상기 테스트 신호를 전달하는 단계(D1);
상기 제1 내지 제4 연산부 각각이 상기 테스트 신호에 기초하여 상기 피드백 신호를 생성하는 단계(D2); 및
상기 피드백 신호 각각을 확인하는 단계(D3)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제3 항에 있어서,
상기 연산부는 상기 제1 내지 제4 연산부에 모두 연결된 제5 연산부를 더 포함하고,
상기 단계(D)는,
상기 제5 연산부가 상기 제1 내지 제4 연산부로부터 생성된 피드백 신호들에 기초하여 테스트 결과 신호를 생성하는 단계(D4); 및
상기 테스트 결과 신호를 확인하는 단계(D5)를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제1 항 내지 제4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 연성 케이블은 제1 및 제2 연성 케이블을 포함하고,
상기 단계(D)는,
상기 제1 연성 케이블로부터 전달된 제1 테스트 신호 및 상기 제2 연성 케이블로부터 전달된 제2 테스트 신호에 기초하여 피드백 신호를 생성하는 단계(D6); 및
상기 피드백 신호를 확인하는 단계(D2)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제5 항에 있어서,
상기 단계(A)는 상기 인쇄 회로 기판이 상기 제1 및 제2 연성 케이블 각각과 연결된 제1 및 제2 인쇄 회로 기판을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제1 항 내지 제6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 테스트 신호는 상기 연성 케이블의 패드부 중 양쪽 최외각에 형성된 출력 테스트 패드들을 이용하여 이동하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
제7 항에 있어서,
상기 인쇄 회로 기판은 상기 출력 테스트 패드와 접속되는 회로 테스트 패드들, 및 상기 회로 테스트 패드들 간을 연결하는 테스트 라인을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.