JP2004212984A - 画像表示装置およびその検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決方法】 直列NAND回路を有する検査回路を画素表示装置に実装し、当該検査回路からの出力波形を測定することにより、データ信号線の断線や、データラッチ回路の動作不良等を検出することが出来る。高価な検査装置や膨大な時間を使うことなく、それでいて特に大きな面積を占有せず、しかもデータ信号線および走査線の断線等の検査やラッチ回路の検査を簡単かつ確実に行うことが出来る。
【選択図】 なし
Description
複数の画素がマトリクス状に配置され、その位置を交点とするようにデータ信号線および走査線が並び、前記データ信号線および走査線のそれぞれに対してドライバ回路にて制御を行っている画像表示装置において、
前記ドライバ回路と前記画素とは、前記データ信号線を介して検査回路に接続され、
前記検査回路は、直列に接続された複数のNAND回路を有し、
前記データ信号線は、それぞれ前記複数のNAND回路のうちいずれか1つの入力に接続され、前記直列に接続されたNAND回路の先頭の入力は電源電圧、後尾の出力は検査端子と接続されていることを特徴とする。
前記検査パルスは、映像信号の入力に従い、前記データ信号線に出力されるパルスであることを特徴とする。
前記検査パルスは全てのデータ信号線においてHigh信号とし、順次Low信号に切り替えることを特徴とする。
前記直列に接続されたNAND回路への前記検査パルスの入力は、全段にわたり同時入力されることを特徴とする。
Claims (5)
- 複数の画素をマトリクス状に配置し、
前記複数の画素の間にデータ信号線及び走査線をそれぞれ交差するように配置し、
前記複数の画素と前記データ信号線および前記走査線とをそれぞれ接続し、
前記データ信号線および走査線のそれぞれに対してドライバ回路にて制御を行い、
前記ドライバ回路と前記画素とは、前記データ信号線を介して検査回路に接続し、
前記検査回路は、直列に接続された複数のNAND回路を有し、
前記データ信号線は、それぞれ前記複数のNAND回路の入力部に接続し、
前記検査回路の出力側は検査端子と接続され、前記検査回路の入力側の一方は電源電圧と接続されていることを特徴とする画像表示装置。 - 複数のデータ信号線によって、それぞれ複数の画素及び複数のNAND回路を有する検査回路と接続されている映像信号線に対して検査パルスを入力し、
前記検査回路の入力側の他端を電源電圧と接続し、
前記検査回路の出力側を検査端子に接続し、
前記検査パルスの波形と、前記検査端子から得られる出力の波形とを比較することを特徴とする画像表示装置の検査方法。 - 請求項2において、
前記検査パルスは、映像信号の入力に従い、前記データ信号線に出力されるパルスであることを特徴とする画像表示装置の検査方法。 - 請求項2において、
前記検査パルスを全てのデータ信号線において初期状態ではHigh信号とし、順次Low信号に切り替えることを特徴とする画像表示装置の検査方法。 - 請求項2乃至請求項4のいずれか1項において、
前記直列に接続されたNAND回路への前記検査パルスの入力は、全段にわたり同時入力されることを特徴とする画像表示装置の検査方法。
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