JP2004157410A - 共焦点顕微鏡システム - Google Patents
共焦点顕微鏡システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004157410A JP2004157410A JP2002324427A JP2002324427A JP2004157410A JP 2004157410 A JP2004157410 A JP 2004157410A JP 2002324427 A JP2002324427 A JP 2002324427A JP 2002324427 A JP2002324427 A JP 2002324427A JP 2004157410 A JP2004157410 A JP 2004157410A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- light
- peak hold
- sample
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【課題】ステージ等の手動操作に応じて変化するピークホールド画像をリアルタイムで表示させる際に、所望の部分に焦点が合った状態を容易に判別できる共焦点顕微鏡システムを提供する。
【解決手段】試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムにおいて、ピークホールド画像70を表示装置の画面に表示する際に、ピークホールド画像70に重ねて設定された任意の直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72をピークホールド画像70に重ねてリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を備えている。
【選択図】 図6
【解決手段】試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムにおいて、ピークホールド画像70を表示装置の画面に表示する際に、ピークホールド画像70に重ねて設定された任意の直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72をピークホールド画像70に重ねてリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を備えている。
【選択図】 図6
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料からの光情報に基づいて試料の超深度画像や高さ分布等の情報を取得するための共焦点顕微鏡システムに関する。特に、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
共焦点顕微鏡では、試料からの光が共焦点光学系を介して受光素子で受光され、その受光量に基づいて、試料の超深度画像(焦点深度が非常に深い画像)や高さ分布等の情報が取得される。試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に変化させると、共焦点光学系を介して受光素子に入射する光の量、すなわち受光量が変化し、試料の表面にピントが合ったときに受光量が最大となる。したがって、最大受光量が得られるときの試料と対物レンズとの相対距離から試料の表面の高さ情報を算出し、試料の表面を光で走査することによって試料の表面の高さ分布を取得することができる。
【0003】
取得された高さ分布は、例えば三次元表示によって表示装置の画面上に表示される。あるいは、高さ分布を輝度分布や色分布に置き換えたものが画面上に表示される。表示装置としてCRT(陰極線管)やLCD(液晶表示装置)が使用され、共焦点顕微鏡に制御用のコントローラ、表示装置、コンソール等が接続されて共焦点顕微鏡システムが構成される。
【0004】
また、試料表面の各点(画素)でピントが合ったときの受光量の情報(すなわち各画素の最大輝度情報)をつなぎ合わせることにより、焦点深度の非常に深い試料表面の白黒画像を得ることができる。この画像がいわゆる超深度画像である。
【0005】
また、任意の注目画素で最大受光量が得られるように試料と対物レンズとの相対距離(高さ)を固定した場合は、注目画素の部分と高低差が大きい部分の画素の受光量は著しく小さくなり、注目画素と同じ高さの部分のみが明るい画像(これをスライス画像という)が得られる。
【0006】
更に、簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムもある。この機能では、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像が簡易超深度画像として表示される。
【0007】
通常の自動測定モードで超深度画像を得る場合は通常、数十秒から数分の時間がかかる。また、得られた画像に問題がある場合は測定条件を設定し直して再度測定する必要がある。これに対して、簡易超深度画像表示機能では、例えばステージを手動で上下動させることにより試料と対物レンズとの相対距離を変化させたときに、表示されるピークホールド画像もリアルタイムで変化する。そして、適切な移動範囲及び移動速度でステージを上下動させれば、ピークホールド画像は次第に超深度画像に近づく。試料表面の概略の拡大画像(簡易超深度画像)を短時間で得たい場合はステージを速く上下動させればよい。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムにおいて、ステージ(又は対物レンズ)の光軸方向位置を手動で動かす場合は、移動速度が安定しないために、所望の画像が得られるようになるまでにある程度の操作の習熟が必要である。例えば移動速度が速すぎると、試料表面の観察したい部分に焦点が合う光軸方向位置を飛ばしてしまい、ステージを光軸方向に何度が往復させてやっと所望の画像が得られる場合がある。
【0009】
これは、ピークホールド画像の表示では、各画素の輝度はそれまでの移動操作における最大輝度を表しており、現在の輝度(受光量)を表していないからである。そのようなピークホールド画像を見ながらステージ(又は対物レンズ)の移動操作を行うので、最大受光量(最大輝度)となる光軸方向位置、すなわち焦点が合ったときの光軸方向位置が画面表示から判断できず、焦点が合っていない範囲でステージを何度も往復させる可能性がある。
【0010】
本発明は、上記のような従来の課題に鑑み、ステージ等の手動操作に応じて変化するピークホールド画像をリアルタイムで表示させる際に、所望の部分に焦点が合った状態を容易に判別できる共焦点顕微鏡システムを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明の共焦点顕微鏡システムは、試料表面からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光情報を処理して得られる試料表面の画像を表示装置の画面に表示する共焦点顕微鏡システムであって、試料表面の画像を表示装置の画面に表示する際に、画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを画像に重ねて表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする。
【0012】
このような光量プロファイル表示機能によれば、試料表面の画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフで表示されるので、画像からは正確な判断が難しい最大受光量の部分(焦点が合っている部分)をグラフの参照によって容易に判断することができる。
【0013】
好ましい構成において、本発明の共焦点顕微鏡システムは、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムであって、ピークホールド画像を表示装置の画面に表示する際に、ピークホールド画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをピークホールド画像に重ねてリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする。
【0014】
このような光量プロファイル表示機能によれば、試料表面のピークホールド画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフでリアルタイム表示されるので、ステージ又は対物レンズの光軸方向位置を手動で動かした場合に、ピークホールド画像が変化すると共に、任意の直線に沿う受光量の分布グラフも変化する。したがって、観察したい部分に焦点が合った状態(受光量が最大になった状態)を判別することが容易になる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0016】
図1は、本発明の実施形態に係る共焦点顕微鏡システムの概略構成を示している。共焦点顕微鏡システム1は、共焦点光学系2及び非共焦点光学系3を有する共焦点顕微鏡と、共焦点顕微鏡のレーザ駆動回路44、受光素子からの信号処理回路41,42,43、対物レンズ移動機構40、マイクロコンピュータを用いた制御部46等を含むコントローラと、コントローラに接続された表示装置47及び入力装置(コンソール)48とを備えている。
【0017】
まず、共焦点顕微鏡の共焦点光学系2とその信号処理について説明する。共焦点光学系2は、試料wkに単色光(例えばレーザ光)を照射するための光源10、第1コリメートレンズ11、偏光ビームスプリッタ12、1/4波長板13、水平偏向装置14a、垂直偏向装置14b、第1リレーレンズ15、第2リレーレンズ16、対物レンズ17、結像レンズ18、ピンホール板9、受光素子19等を含んでいる。
【0018】
光源10には、例えば赤色レーザ光を発する半導体レーザが用いられる。レーザ駆動回路44によって駆動される光源10から出たレーザ光は、第1コリメートレンズ11を通り、偏光ビームスプリッタ12で光路を曲げられ、1/4波長板13を通過する。この後、水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bによって水平(横)方向及び垂直(縦)方向に偏向された後、第1リレーレンズ15及び第2リレーレンズ16を通過し、対物レンズ17によって試料ステージ30上に置かれた試料wkの表面に集光される。
【0019】
水平偏向装置14aはレゾナント(共振型)スキャナーで構成され、垂直偏向装置14bはガルバノ(電磁型)スキャナーで構成されている。両者でレーザ光を水平及び垂直方向に偏向させることにより、試料wkの表面をレーザ光で走査する。説明の便宜上、水平方向をX方向、垂直方向をY方向ということにする。対物レンズ17は、対物レンズ移動機構40によりZ方向(光軸方向)に駆動される。これにより、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置を変化させることができる。
【0020】
ただし、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置は、他の方法で変化させることもできる。例えば、対物レンズ17をZ方向に駆動する代わりに試料ステージ30をZ方向に駆動してもよい。あるいは、対物レンズ17と試料wkとの間に屈折率が変化するレンズを挿入することにより、対物レンズ17の焦点をZ方向に移動させる構成も可能である。
【0021】
本実施形態の共焦点顕微鏡では、制御部46からの制御信号によって対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17がZ軸方向に電動で移動可能であると共に、試料ステージ30は、ステージ手動操作機構31を介して手動操作によってX方向、Y方向及びZ方向に変位可能である。また、入力装置48のキー操作(例えばアップ/ダウンキーの操作)によって制御部46及び対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17を上下動することも可能である。
【0022】
試料wkで反射されたレーザ光は、上記の光路を逆に辿る。すなわち、対物レンズ17、第2リレーレンズ16及び第1リレーレンズ15を通り、水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bを介して1/4波長板13を再び通る。この結果、レーザ光は偏光ビームスプリッタ12を透過し、結像レンズ18によって集光される。集光されたレーザ光は、結像レンズ18の焦点位置に配置されたピンホール板9のピンホールを通過して受光素子19に入射する。受光素子19は、例えばフォトマルチプライヤチューブ(光電子増倍管)やフォトダイオードで構成され、受光量を電気信号に変換する。受光量に相当する電気信号は、出力アンプ及びゲイン制御回路(図示せず)を介して第1AD変換器41に与えられ、ディジタル値に変換される。
【0023】
上記のような構成の共焦点光学系2により、試料wkの高さ(深さ)情報を取得することができる。以下に、その原理を簡単に説明する。
【0024】
上述のように、対物レンズ17が対物レンズ移動機構40によってZ方向(光軸方向)に駆動されると、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対距離が変化する。そして、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面に結ばれたときに、試料wkの表面で反射されたレーザ光は上記の光路を経て結像レンズ18で集光され、ほとんどすべてのレーザ光がピンホール板9のピンホールを通過する。したがって、このときに、受光素子19の受光量が最大になる。逆に、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面からずれている状態では、結像レンズ18によって集光されたレーザ光はピンホール板9からずれた位置に焦点を結ぶので、一部のレーザ光しかピンホールを通過することができない。その結果、受光素子19の受光量は著しく低下する。
【0025】
したがって、試料wkの表面の任意の点について、対物レンズ17をZ方向(光軸方向)に駆動しながら受光素子19の受光量を検出すれば、その受光量が最大になるときの対物レンズ17のZ方向位置(対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置)を高さ情報として一義的に求めることができる。
【0026】
実際には、対物レンズ17を1ステップ(1ピッチ)移動するたびに水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bによって試料wkの表面を走査して受光素子19の受光量を得る。対物レンズ17をZ方向での測定範囲の下端から上端までZ方向に移動させたとき、走査範囲内の各点(画素)について、Z方向位置に応じて変化する受光量データが得られる。
【0027】
図2は、対物レンズ17のZ方向位置に応じて変化する受光量データの例を示すグラフである。このような受光量データに基づいて、最大受光量とそのときのZ方向位置が各点(画素)ごとに得られる。したがって、試料wkの表面高さのXY平面での分布が得られる。この処理は、マイクロコンピュータを用いた制御部46によって実行される。
【0028】
得られた表面高さの分布情報は、いくつかの方法で表示装置47のモニタ画面に表示することができる。例えば3次元表示によって試料の高さ分布(表面形状)を立体的に表示することができる。あるいは、高さデータを輝度データに変換することにより、明るさの二次元分布として表示できる。高さデータを色差データに変換することにより、高さの分布を色の分布として表示することもできる。
【0029】
また、XY走査範囲内の各点(画素)について得られた受光量を輝度データとする輝度信号から、試料wkの表面画像(白黒画像)が得られる。各画素における最大受光量を輝度データとして輝度信号を生成すれば、表面高さの異なる各点でピントの合った焦点深度の非常に深い超深度画像が得られる。また、任意の注目画素で最大受光量が得られた高さ(Z方向位置)に固定した場合は、注目画素の部分と高低差が大きい部分の画素の受光量は著しく小さくなり、注目画素と同じ高さの部分のみが明るい画像(すなわちスライス画像)が得られる。
【0030】
つぎに、共焦点顕微鏡に備えられた非共焦点光学系3とその信号処理について説明する。非共焦点光学系3は、試料wkに白色光(カラー画像撮影用の照明光)を照射するための白色光源20、第2コリメートレンズ21、第1ハーフミラー22、第2ハーフミラー23、カラーCCD(イメージセンサー)24等を含んでいる。また、非共焦点光学系3は共焦点光学系2の対物レンズ17を共用しており、2つの光学系1,2の光軸は部分的に一致している。
【0031】
白色光源20には例えば白色ランプが用いられるが、特に専用の光源を設けず、自然光又は室内光を利用してもよい。白色光源20から出た白色光は、第2コリメートレンズ21を通り、第1ハーフミラー22で光路を曲げられ、対物レンズ17によって試料ステージ30上に置かれた試料wkの表面に集光される。
【0032】
試料wkで反射された白色光は、対物レンズ17、第1ハーフミラー22、第2リレーレンズ16を通過し、第2ハーフミラー23で反射されてカラーCCD24に入射して結像する。カラーCCD24は、共焦点光学系2のピンホール板9のピンホールと共役又は共役に近い位置に設けられている。カラーCCD24で撮像されたカラー画像は、CCD駆動回路43によって読み出され、そのアナログ出力信号は第2AD変換器42に与えられ、ディジタル値に変換される。このようにして得られたカラー画像は、試料wkの観察用の拡大カラー画像として表示装置47のモニタ画面に表示される。
【0033】
また、共焦点光学系2で得られた超深度画像と非共焦点光学系3で得られた通常のカラー画像とを組み合わせて、すべての画素で略ピントの合った焦点深度の深いカラー超深度画像を生成し、表示することもできる。例えば、非共焦点光学系3で得られたカラー画像を構成する輝度信号を共焦点光学系2で得られた超深度画像の輝度信号で置き換えることにより、簡易的にカラー超深度画像を生成することができる。
【0034】
上記のようなカラー画像に関する処理についても、制御部46を含むコントローラが司る。コントローラにはコンソール(操作卓)のような入力装置48やCRT(陰極線管)又はLCD(液晶表示装置)のような表示装置47が接続されている。
【0035】
ユーザは、表示装置47の画面上に表示されるガイダンスにしたがって入力装置48を用いて種々の測定用パラメータを設定することができる。例えば、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)や移動ピッチを設定する。あるいは、試料wkの表面の光反射率等に応じて受光素子19の受光感度(PMTゲイン)やNDフィルタによる減衰量の設定を行うことにより、画面に表示された超深度画像やスライス画像が適当な明るさ(輝度)になるように調整する。また、カラーCCD24によるカラー画像の取得のためのシャッタースピードやゲイン及びホワイトバランスの設定を行う。
【0036】
また、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1(のコントローラ)には、パーソナルコンピュータのような外部コンピュータシステムを接続するインターフェイスも備えられている。共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアをインストールした外部コンピュータシステムを共焦点顕微鏡システム1に接続することにより、取得された試料wkの画像情報や高さ分布情報等の加工をシームレスに行うことが可能になる。
【0037】
図3は、共焦点顕微鏡システム1のコントローラに外部コンピュータシステム50を接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。外部コンピュータシステム50は、CRT又はLCD等の表示装置51、キーボード52、マウス(他のポインティングデバイスでもよい)53、RS232C、USB(ユニバーサルシリアルバス)、IEEE1394等の通信インターフェイス54、処理装置(CPU)55、半導体記憶媒体である主メモリ56、補助記憶装置である固定ディスク装置57及びリムーバブルディスク装置58を備えている。
【0038】
共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアは、CD−ROMのような記憶媒体59に記憶された状態で供給され、CD−ROMドライブ装置のようなリムーバブルディスク装置58によって記憶媒体59から読み出され、固定ディスク装置57にインストールされる。固定ディスク装置57にインストールされた専用ソフトウェアは、主メモリ56にロードされ、処理装置55によって実行される。このような専用ソフトウェアによって実行される処理には、共焦点顕微鏡システム1の測定条件の設定を行うための処理や測定の結果得られた画像の処理等が含まれている。
【0039】
図4は、専用ソフトウェアによる表示装置51の画面表示の例を示す図である。表示装置51に表示される画面表示60において、左側の画像表示領域61は共焦点顕微鏡システム1から得られたカラー画像、超深度画像、スライス画像、高さ分布画像等の測定結果を表示するための領域であり、その右側に測定条件の設定のための縦長の操作部領域62が表示されている。
【0040】
図5は、図4の画面表示60における操作部領域62の拡大図である。操作部領域62のプッシュボタンやスライドバーの操作及び各プルダウンメニューの選択等をマウス53を用いて行うことにより、各測定パラメータのマニュアル設定を行うことができる。例えば、ゲイン調整用スライドレバー63をマウス53のドラッグ操作によって上下移動すれば、受光素子19の受光感度(PMTゲイン)が変化し、画像の明るさ(輝度)を調整することができる。また、その隣のNDフィルタ調整用スライドレバー64を上下移動して光の減衰量を変化させることによっても画像の明るさ(輝度)を調整することができる。
【0041】
あるいは、ディスタンスの右側の三角マーク65をマウス53でクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)を設定することができる。その下のピッチについても同様に、三角マーク66をクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、適切なZ方向移動ピッチを設定することができる。
【0042】
上記のように対物レンズ17のZ方向移動範囲や移動ピッチを適切に設定した後に、「測定」ボタン67を押下すれば自動測定が始まり、例えば数十秒から数分経過後に超深度画像が画面表示60の画像表示領域61に現れる。また、前述のスライス画像の場合は、リアルタイムで表示される。すなわち、例えば手動操作によって試料ステージ30を上下動させると、画像表示領域61に表示されているスライス画像がZ方向位置の変化に追随して変化する。
【0043】
また、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1は、簡易超深度画像表示機能を備えている。この機能では、試料ステージ30を手動操作で上下動させると、あるいは、入力装置48のキー操作によって対物レンズ17を上下動させると、試料wkと対物レンズ17との相対距離の変化に伴って変化する各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像が簡易超深度画像として表示される。つまり、試料wkと対物レンズ17との相対距離を所定範囲内で手動で変化させることにより、自動測定によって得られる超深度画像と同等又は精度の粗い簡易超深度画像を短時間で得ることができる。
【0044】
この際、試料ステージ30又は対物レンズ17の移動操作中(Z方向移動操作中)は、ピークホールド画像が画像表示領域61にリアルタイム表示される。つまり、Z方向移動操作の開始から現在までの各画素の受光量の変化のうちの最大値(ピーク値)をつなぎ合わせた画像が画像表示領域61に表示されている。したがって、このピークホールド画像から各画素の現在の受光量を判断することはできず、ピークホールド画像のある部分に焦点が合っているか否かを判断することも困難である。その部分の輝度が上昇中は焦点が合いつつあると判断できるが、輝度が変化しなくなったときには、すでに焦点が合ったZ方向位置を過ぎていることになる。
【0045】
そこで、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1では、ピークホールド画像のある部分に焦点が合った状態を判断しやすくするための光量プロファイル表示機能を備えている。光量プロファイル表示機能とは、画像表示領域61に表示されたピークホールド画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをピークホールド画像に重ねてリアルタイム表示する機能である。
【0046】
図6は、光量プロファイル表示機能を有効にしたときに画像表示領域61に表示される画像の例を示す図である。この表示例のピークホールド画像70では、暗い背景に複数の明るい円環状部分が所定間隔で並んでいる。そして、複数の円環状部分を横断するように水平方向の直線71が表示され、その下に直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72が表示されている。グラフ72は、最大受光量を表す直線72a、最小受光量(ゼロ)を表す直線72b及び直線71に沿う画素の受光量の分布を表す曲線72cからなる。直線72a及び直線72bは省略可能である。
【0047】
直線71は、マウス53を用いて上下に移動可能である。また、直線71を回転させて垂直方向や斜め方向に設定できるようにしてもよい。いずれにせよ、直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72(曲線72c)が直線71に沿ってその近くに表示される。
【0048】
図7は、光量プロファイル表示機能の有効/無効を選択するための操作部領域62を示す図である。この図に示すように、メニューバーの「表示」74をマウス53でポイント又はクリックしたときに現れるプルダウンメニューの中に、「グラフ」の項目75があり、この項目75をマウス53でクリックすることにより、光量プロファイル表示機能の有効/無効を切り替えることができる。「グラフ」の左にチェックマークのある状態で光量プロファイル表示機能が有効となり、図6に示したように直線71及びグラフ72がピークホールド画像70に重畳表示される。チェックマークを消して光量プロファイル表示機能を無効にすれば、図6中の直線71及びグラフ72の表示は消える。
【0049】
例えば図6において、マウス53を用いて直線71を上下に移動し、直線71がピークホールド画像70の所望の部分を通るようにする。そして、直線71に沿う画素の現在の受光量(輝度)の分布を示すグラフ72(曲線72c)を見ながら試料ステージ30又は対物レンズ17の上下移動操作を行えばよい。所望の部分に焦点が合った状態をピークホールド画像から判断することは難しいが、その部分の受光量(輝度)のピークをグラフ72(曲線72c)から判断すれば焦点が合った状態にすることが容易にできる。したがって、試料ステージ30又は対物レンズ17を適切な範囲で上下移動させ、所望の簡易超深度画像を短時間で得ることが容易になる。
【0050】
図8は、共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータシステムの表示装置において光量プロファイル表示機能を実現するためのハードウェア構成を示すブロック図である。
【0051】
共焦点顕微鏡システム1のコントローラは、制御部46、ピークホールド回路73、フレームメモリ74、セレクタ75、ラインメモリ76、メモリコントローラ77、パターンジェネレータ78等によって上記の機能を実現している。各画素の受光量データはピークホールド回路73に入力され、各画素の受光量のピーク値が求められてフレームメモリ74に格納される。このデータは、セレクタ75によって選択され、ピークホールド画像データとしてIEEE1394等の通信インターフェイスを介してコンピュータシステム50に転送され、表示装置51の画面(画像表示領域61)にピークホールド画像が表示される。
【0052】
前述のようにして画像表示領域61のピークホールド画像70に重ねて表示された直線71の位置データは、コンピュータシステム50から共焦点顕微鏡システム1のコントローラの制御部46に渡される。制御部46は、その位置データにしたがってメモリコントローラ77に対してライン位置指定を行う。メモリコントローラ77は、パターンジェネレータ78が発生するタイミング信号にしたがって、フレームメモリ74及びラインメモリ76の書き込み/読み出し制御を行う。
【0053】
ラインメモリ76には、フレームメモリ74と同様に各画素の受光量データが入力されている。メモリコントローラ77は、制御部46のライン位置指定にしたがって、直線71に沿う1行分の画素の受光量データをラインメモリ76に記憶させる。制御部46は、ラインメモリ76に記憶された直線71に沿う1行分の画素の受光量データを読み出し、IEEE1394等の通信インターフェイスを介してコンピュータシステム50に転送する。
【0054】
直線71に沿う1行分の画素の受光量データを受信したコンピュータシステム50(の処理装置55)は、そのデータに基づいて直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72を生成し、ピークホールド画像70に重ねて表示する。以上のようにして、ピークホールド画像70に重ねて設定された任意の直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72がピークホールド画像70に重ねてリアルタイム表示される。
【0055】
なお、上記の実施形態では簡易超深度画像としてのピークホールド画像に重ねて任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を説明したが、これ以外の画像、例えば通常の自動測定モードで得られた超深度画像に重ねて任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを表示するようにしてもよい。このような光量プロファイル表示機能についても、上記の実施形態で説明した画面構成及びハードウェア構成と同様の構成によって実現することができる。
【0056】
また、上記の実施形態では、外部コンピュータシステムに共焦点顕微鏡システムの制御を行うための専用ソフトウェアをインストールし、外部コンピュータシステムの表示装置の画面上で光量プロファイル表示機能を実現する場合について説明したが、本発明はそのような実施形態に限られるわけではない。共焦点顕微鏡システム1に標準装備の表示装置47及び入力装置48を用いて測定条件の設定や得られた画像の表示を行う場合にも本発明を適用することができる。
【0057】
また、上記の実施形態の共焦点顕微鏡は反射型の顕微鏡であるが、透過型の共焦点顕微鏡にも本発明を適用することができる。透過型の顕微鏡の場合は、試料の裏面から共焦点光学系のレーザ光及び非共焦点光学系の白色光が照射される。共焦点光学系の光源はレーザ光源を含む単色光源はもちろんのこと、複数波長を含むものであってもよい。非共焦点光学系の光源は自然光又は室内光で代用することもできる。
【0058】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明の共焦点顕微鏡システムによれば、試料表面の画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフで表示されるので、画像からは正確な判断が難しい最大受光量の部分、すなわち焦点が合っている部分をグラフの参照によって容易に判断することができる。したがって、試料ステージ又は対物をレンズ手動で上下動させて簡易超深度画像を得るような場合に、所望の部分で焦点が合った状態を短時間で見つけることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る共焦点顕微鏡システムの概略構成を示す図である。
【図2】対物レンズのZ方向位置に応じて変化する受光量データの例を示すグラフである。
【図3】共焦点顕微鏡システムのコントローラに外部コンピュータシステムを接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図4】専用ソフトウェアによる表示装置の画面表示の例を示す図である。
【図5】図4の画面表示における操作部領域の拡大図である。
【図6】光量プロファイル表示機能を有効にしたときに画像表示領域に表示される画像の例を示す図である。
【図7】光量プロファイル表示機能の有効/無効を選択するための操作部領域を示す図である。
【図8】共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータシステムの表示装置において光量プロファイル表示機能を実現するためのハードウェア構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 共焦点顕微鏡システム
2 共焦点光学系
19 受光素子
47,51 表示装置
60 画面表示
61 画像表示領域
70 ピークホールド画像
71 任意の直線
72 受光量の分布を表すグラフ
wk 試料
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料からの光情報に基づいて試料の超深度画像や高さ分布等の情報を取得するための共焦点顕微鏡システムに関する。特に、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
共焦点顕微鏡では、試料からの光が共焦点光学系を介して受光素子で受光され、その受光量に基づいて、試料の超深度画像(焦点深度が非常に深い画像)や高さ分布等の情報が取得される。試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に変化させると、共焦点光学系を介して受光素子に入射する光の量、すなわち受光量が変化し、試料の表面にピントが合ったときに受光量が最大となる。したがって、最大受光量が得られるときの試料と対物レンズとの相対距離から試料の表面の高さ情報を算出し、試料の表面を光で走査することによって試料の表面の高さ分布を取得することができる。
【0003】
取得された高さ分布は、例えば三次元表示によって表示装置の画面上に表示される。あるいは、高さ分布を輝度分布や色分布に置き換えたものが画面上に表示される。表示装置としてCRT(陰極線管)やLCD(液晶表示装置)が使用され、共焦点顕微鏡に制御用のコントローラ、表示装置、コンソール等が接続されて共焦点顕微鏡システムが構成される。
【0004】
また、試料表面の各点(画素)でピントが合ったときの受光量の情報(すなわち各画素の最大輝度情報)をつなぎ合わせることにより、焦点深度の非常に深い試料表面の白黒画像を得ることができる。この画像がいわゆる超深度画像である。
【0005】
また、任意の注目画素で最大受光量が得られるように試料と対物レンズとの相対距離(高さ)を固定した場合は、注目画素の部分と高低差が大きい部分の画素の受光量は著しく小さくなり、注目画素と同じ高さの部分のみが明るい画像(これをスライス画像という)が得られる。
【0006】
更に、簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムもある。この機能では、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像が簡易超深度画像として表示される。
【0007】
通常の自動測定モードで超深度画像を得る場合は通常、数十秒から数分の時間がかかる。また、得られた画像に問題がある場合は測定条件を設定し直して再度測定する必要がある。これに対して、簡易超深度画像表示機能では、例えばステージを手動で上下動させることにより試料と対物レンズとの相対距離を変化させたときに、表示されるピークホールド画像もリアルタイムで変化する。そして、適切な移動範囲及び移動速度でステージを上下動させれば、ピークホールド画像は次第に超深度画像に近づく。試料表面の概略の拡大画像(簡易超深度画像)を短時間で得たい場合はステージを速く上下動させればよい。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムにおいて、ステージ(又は対物レンズ)の光軸方向位置を手動で動かす場合は、移動速度が安定しないために、所望の画像が得られるようになるまでにある程度の操作の習熟が必要である。例えば移動速度が速すぎると、試料表面の観察したい部分に焦点が合う光軸方向位置を飛ばしてしまい、ステージを光軸方向に何度が往復させてやっと所望の画像が得られる場合がある。
【0009】
これは、ピークホールド画像の表示では、各画素の輝度はそれまでの移動操作における最大輝度を表しており、現在の輝度(受光量)を表していないからである。そのようなピークホールド画像を見ながらステージ(又は対物レンズ)の移動操作を行うので、最大受光量(最大輝度)となる光軸方向位置、すなわち焦点が合ったときの光軸方向位置が画面表示から判断できず、焦点が合っていない範囲でステージを何度も往復させる可能性がある。
【0010】
本発明は、上記のような従来の課題に鑑み、ステージ等の手動操作に応じて変化するピークホールド画像をリアルタイムで表示させる際に、所望の部分に焦点が合った状態を容易に判別できる共焦点顕微鏡システムを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明の共焦点顕微鏡システムは、試料表面からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光情報を処理して得られる試料表面の画像を表示装置の画面に表示する共焦点顕微鏡システムであって、試料表面の画像を表示装置の画面に表示する際に、画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを画像に重ねて表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする。
【0012】
このような光量プロファイル表示機能によれば、試料表面の画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフで表示されるので、画像からは正確な判断が難しい最大受光量の部分(焦点が合っている部分)をグラフの参照によって容易に判断することができる。
【0013】
好ましい構成において、本発明の共焦点顕微鏡システムは、試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムであって、ピークホールド画像を表示装置の画面に表示する際に、ピークホールド画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをピークホールド画像に重ねてリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする。
【0014】
このような光量プロファイル表示機能によれば、試料表面のピークホールド画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフでリアルタイム表示されるので、ステージ又は対物レンズの光軸方向位置を手動で動かした場合に、ピークホールド画像が変化すると共に、任意の直線に沿う受光量の分布グラフも変化する。したがって、観察したい部分に焦点が合った状態(受光量が最大になった状態)を判別することが容易になる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0016】
図1は、本発明の実施形態に係る共焦点顕微鏡システムの概略構成を示している。共焦点顕微鏡システム1は、共焦点光学系2及び非共焦点光学系3を有する共焦点顕微鏡と、共焦点顕微鏡のレーザ駆動回路44、受光素子からの信号処理回路41,42,43、対物レンズ移動機構40、マイクロコンピュータを用いた制御部46等を含むコントローラと、コントローラに接続された表示装置47及び入力装置(コンソール)48とを備えている。
【0017】
まず、共焦点顕微鏡の共焦点光学系2とその信号処理について説明する。共焦点光学系2は、試料wkに単色光(例えばレーザ光)を照射するための光源10、第1コリメートレンズ11、偏光ビームスプリッタ12、1/4波長板13、水平偏向装置14a、垂直偏向装置14b、第1リレーレンズ15、第2リレーレンズ16、対物レンズ17、結像レンズ18、ピンホール板9、受光素子19等を含んでいる。
【0018】
光源10には、例えば赤色レーザ光を発する半導体レーザが用いられる。レーザ駆動回路44によって駆動される光源10から出たレーザ光は、第1コリメートレンズ11を通り、偏光ビームスプリッタ12で光路を曲げられ、1/4波長板13を通過する。この後、水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bによって水平(横)方向及び垂直(縦)方向に偏向された後、第1リレーレンズ15及び第2リレーレンズ16を通過し、対物レンズ17によって試料ステージ30上に置かれた試料wkの表面に集光される。
【0019】
水平偏向装置14aはレゾナント(共振型)スキャナーで構成され、垂直偏向装置14bはガルバノ(電磁型)スキャナーで構成されている。両者でレーザ光を水平及び垂直方向に偏向させることにより、試料wkの表面をレーザ光で走査する。説明の便宜上、水平方向をX方向、垂直方向をY方向ということにする。対物レンズ17は、対物レンズ移動機構40によりZ方向(光軸方向)に駆動される。これにより、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置を変化させることができる。
【0020】
ただし、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置は、他の方法で変化させることもできる。例えば、対物レンズ17をZ方向に駆動する代わりに試料ステージ30をZ方向に駆動してもよい。あるいは、対物レンズ17と試料wkとの間に屈折率が変化するレンズを挿入することにより、対物レンズ17の焦点をZ方向に移動させる構成も可能である。
【0021】
本実施形態の共焦点顕微鏡では、制御部46からの制御信号によって対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17がZ軸方向に電動で移動可能であると共に、試料ステージ30は、ステージ手動操作機構31を介して手動操作によってX方向、Y方向及びZ方向に変位可能である。また、入力装置48のキー操作(例えばアップ/ダウンキーの操作)によって制御部46及び対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17を上下動することも可能である。
【0022】
試料wkで反射されたレーザ光は、上記の光路を逆に辿る。すなわち、対物レンズ17、第2リレーレンズ16及び第1リレーレンズ15を通り、水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bを介して1/4波長板13を再び通る。この結果、レーザ光は偏光ビームスプリッタ12を透過し、結像レンズ18によって集光される。集光されたレーザ光は、結像レンズ18の焦点位置に配置されたピンホール板9のピンホールを通過して受光素子19に入射する。受光素子19は、例えばフォトマルチプライヤチューブ(光電子増倍管)やフォトダイオードで構成され、受光量を電気信号に変換する。受光量に相当する電気信号は、出力アンプ及びゲイン制御回路(図示せず)を介して第1AD変換器41に与えられ、ディジタル値に変換される。
【0023】
上記のような構成の共焦点光学系2により、試料wkの高さ(深さ)情報を取得することができる。以下に、その原理を簡単に説明する。
【0024】
上述のように、対物レンズ17が対物レンズ移動機構40によってZ方向(光軸方向)に駆動されると、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対距離が変化する。そして、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面に結ばれたときに、試料wkの表面で反射されたレーザ光は上記の光路を経て結像レンズ18で集光され、ほとんどすべてのレーザ光がピンホール板9のピンホールを通過する。したがって、このときに、受光素子19の受光量が最大になる。逆に、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面からずれている状態では、結像レンズ18によって集光されたレーザ光はピンホール板9からずれた位置に焦点を結ぶので、一部のレーザ光しかピンホールを通過することができない。その結果、受光素子19の受光量は著しく低下する。
【0025】
したがって、試料wkの表面の任意の点について、対物レンズ17をZ方向(光軸方向)に駆動しながら受光素子19の受光量を検出すれば、その受光量が最大になるときの対物レンズ17のZ方向位置(対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対位置)を高さ情報として一義的に求めることができる。
【0026】
実際には、対物レンズ17を1ステップ(1ピッチ)移動するたびに水平偏向装置14a及び垂直偏向装置14bによって試料wkの表面を走査して受光素子19の受光量を得る。対物レンズ17をZ方向での測定範囲の下端から上端までZ方向に移動させたとき、走査範囲内の各点(画素)について、Z方向位置に応じて変化する受光量データが得られる。
【0027】
図2は、対物レンズ17のZ方向位置に応じて変化する受光量データの例を示すグラフである。このような受光量データに基づいて、最大受光量とそのときのZ方向位置が各点(画素)ごとに得られる。したがって、試料wkの表面高さのXY平面での分布が得られる。この処理は、マイクロコンピュータを用いた制御部46によって実行される。
【0028】
得られた表面高さの分布情報は、いくつかの方法で表示装置47のモニタ画面に表示することができる。例えば3次元表示によって試料の高さ分布(表面形状)を立体的に表示することができる。あるいは、高さデータを輝度データに変換することにより、明るさの二次元分布として表示できる。高さデータを色差データに変換することにより、高さの分布を色の分布として表示することもできる。
【0029】
また、XY走査範囲内の各点(画素)について得られた受光量を輝度データとする輝度信号から、試料wkの表面画像(白黒画像)が得られる。各画素における最大受光量を輝度データとして輝度信号を生成すれば、表面高さの異なる各点でピントの合った焦点深度の非常に深い超深度画像が得られる。また、任意の注目画素で最大受光量が得られた高さ(Z方向位置)に固定した場合は、注目画素の部分と高低差が大きい部分の画素の受光量は著しく小さくなり、注目画素と同じ高さの部分のみが明るい画像(すなわちスライス画像)が得られる。
【0030】
つぎに、共焦点顕微鏡に備えられた非共焦点光学系3とその信号処理について説明する。非共焦点光学系3は、試料wkに白色光(カラー画像撮影用の照明光)を照射するための白色光源20、第2コリメートレンズ21、第1ハーフミラー22、第2ハーフミラー23、カラーCCD(イメージセンサー)24等を含んでいる。また、非共焦点光学系3は共焦点光学系2の対物レンズ17を共用しており、2つの光学系1,2の光軸は部分的に一致している。
【0031】
白色光源20には例えば白色ランプが用いられるが、特に専用の光源を設けず、自然光又は室内光を利用してもよい。白色光源20から出た白色光は、第2コリメートレンズ21を通り、第1ハーフミラー22で光路を曲げられ、対物レンズ17によって試料ステージ30上に置かれた試料wkの表面に集光される。
【0032】
試料wkで反射された白色光は、対物レンズ17、第1ハーフミラー22、第2リレーレンズ16を通過し、第2ハーフミラー23で反射されてカラーCCD24に入射して結像する。カラーCCD24は、共焦点光学系2のピンホール板9のピンホールと共役又は共役に近い位置に設けられている。カラーCCD24で撮像されたカラー画像は、CCD駆動回路43によって読み出され、そのアナログ出力信号は第2AD変換器42に与えられ、ディジタル値に変換される。このようにして得られたカラー画像は、試料wkの観察用の拡大カラー画像として表示装置47のモニタ画面に表示される。
【0033】
また、共焦点光学系2で得られた超深度画像と非共焦点光学系3で得られた通常のカラー画像とを組み合わせて、すべての画素で略ピントの合った焦点深度の深いカラー超深度画像を生成し、表示することもできる。例えば、非共焦点光学系3で得られたカラー画像を構成する輝度信号を共焦点光学系2で得られた超深度画像の輝度信号で置き換えることにより、簡易的にカラー超深度画像を生成することができる。
【0034】
上記のようなカラー画像に関する処理についても、制御部46を含むコントローラが司る。コントローラにはコンソール(操作卓)のような入力装置48やCRT(陰極線管)又はLCD(液晶表示装置)のような表示装置47が接続されている。
【0035】
ユーザは、表示装置47の画面上に表示されるガイダンスにしたがって入力装置48を用いて種々の測定用パラメータを設定することができる。例えば、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)や移動ピッチを設定する。あるいは、試料wkの表面の光反射率等に応じて受光素子19の受光感度(PMTゲイン)やNDフィルタによる減衰量の設定を行うことにより、画面に表示された超深度画像やスライス画像が適当な明るさ(輝度)になるように調整する。また、カラーCCD24によるカラー画像の取得のためのシャッタースピードやゲイン及びホワイトバランスの設定を行う。
【0036】
また、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1(のコントローラ)には、パーソナルコンピュータのような外部コンピュータシステムを接続するインターフェイスも備えられている。共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアをインストールした外部コンピュータシステムを共焦点顕微鏡システム1に接続することにより、取得された試料wkの画像情報や高さ分布情報等の加工をシームレスに行うことが可能になる。
【0037】
図3は、共焦点顕微鏡システム1のコントローラに外部コンピュータシステム50を接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。外部コンピュータシステム50は、CRT又はLCD等の表示装置51、キーボード52、マウス(他のポインティングデバイスでもよい)53、RS232C、USB(ユニバーサルシリアルバス)、IEEE1394等の通信インターフェイス54、処理装置(CPU)55、半導体記憶媒体である主メモリ56、補助記憶装置である固定ディスク装置57及びリムーバブルディスク装置58を備えている。
【0038】
共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアは、CD−ROMのような記憶媒体59に記憶された状態で供給され、CD−ROMドライブ装置のようなリムーバブルディスク装置58によって記憶媒体59から読み出され、固定ディスク装置57にインストールされる。固定ディスク装置57にインストールされた専用ソフトウェアは、主メモリ56にロードされ、処理装置55によって実行される。このような専用ソフトウェアによって実行される処理には、共焦点顕微鏡システム1の測定条件の設定を行うための処理や測定の結果得られた画像の処理等が含まれている。
【0039】
図4は、専用ソフトウェアによる表示装置51の画面表示の例を示す図である。表示装置51に表示される画面表示60において、左側の画像表示領域61は共焦点顕微鏡システム1から得られたカラー画像、超深度画像、スライス画像、高さ分布画像等の測定結果を表示するための領域であり、その右側に測定条件の設定のための縦長の操作部領域62が表示されている。
【0040】
図5は、図4の画面表示60における操作部領域62の拡大図である。操作部領域62のプッシュボタンやスライドバーの操作及び各プルダウンメニューの選択等をマウス53を用いて行うことにより、各測定パラメータのマニュアル設定を行うことができる。例えば、ゲイン調整用スライドレバー63をマウス53のドラッグ操作によって上下移動すれば、受光素子19の受光感度(PMTゲイン)が変化し、画像の明るさ(輝度)を調整することができる。また、その隣のNDフィルタ調整用スライドレバー64を上下移動して光の減衰量を変化させることによっても画像の明るさ(輝度)を調整することができる。
【0041】
あるいは、ディスタンスの右側の三角マーク65をマウス53でクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)を設定することができる。その下のピッチについても同様に、三角マーク66をクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、適切なZ方向移動ピッチを設定することができる。
【0042】
上記のように対物レンズ17のZ方向移動範囲や移動ピッチを適切に設定した後に、「測定」ボタン67を押下すれば自動測定が始まり、例えば数十秒から数分経過後に超深度画像が画面表示60の画像表示領域61に現れる。また、前述のスライス画像の場合は、リアルタイムで表示される。すなわち、例えば手動操作によって試料ステージ30を上下動させると、画像表示領域61に表示されているスライス画像がZ方向位置の変化に追随して変化する。
【0043】
また、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1は、簡易超深度画像表示機能を備えている。この機能では、試料ステージ30を手動操作で上下動させると、あるいは、入力装置48のキー操作によって対物レンズ17を上下動させると、試料wkと対物レンズ17との相対距離の変化に伴って変化する各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像が簡易超深度画像として表示される。つまり、試料wkと対物レンズ17との相対距離を所定範囲内で手動で変化させることにより、自動測定によって得られる超深度画像と同等又は精度の粗い簡易超深度画像を短時間で得ることができる。
【0044】
この際、試料ステージ30又は対物レンズ17の移動操作中(Z方向移動操作中)は、ピークホールド画像が画像表示領域61にリアルタイム表示される。つまり、Z方向移動操作の開始から現在までの各画素の受光量の変化のうちの最大値(ピーク値)をつなぎ合わせた画像が画像表示領域61に表示されている。したがって、このピークホールド画像から各画素の現在の受光量を判断することはできず、ピークホールド画像のある部分に焦点が合っているか否かを判断することも困難である。その部分の輝度が上昇中は焦点が合いつつあると判断できるが、輝度が変化しなくなったときには、すでに焦点が合ったZ方向位置を過ぎていることになる。
【0045】
そこで、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1では、ピークホールド画像のある部分に焦点が合った状態を判断しやすくするための光量プロファイル表示機能を備えている。光量プロファイル表示機能とは、画像表示領域61に表示されたピークホールド画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをピークホールド画像に重ねてリアルタイム表示する機能である。
【0046】
図6は、光量プロファイル表示機能を有効にしたときに画像表示領域61に表示される画像の例を示す図である。この表示例のピークホールド画像70では、暗い背景に複数の明るい円環状部分が所定間隔で並んでいる。そして、複数の円環状部分を横断するように水平方向の直線71が表示され、その下に直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72が表示されている。グラフ72は、最大受光量を表す直線72a、最小受光量(ゼロ)を表す直線72b及び直線71に沿う画素の受光量の分布を表す曲線72cからなる。直線72a及び直線72bは省略可能である。
【0047】
直線71は、マウス53を用いて上下に移動可能である。また、直線71を回転させて垂直方向や斜め方向に設定できるようにしてもよい。いずれにせよ、直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72(曲線72c)が直線71に沿ってその近くに表示される。
【0048】
図7は、光量プロファイル表示機能の有効/無効を選択するための操作部領域62を示す図である。この図に示すように、メニューバーの「表示」74をマウス53でポイント又はクリックしたときに現れるプルダウンメニューの中に、「グラフ」の項目75があり、この項目75をマウス53でクリックすることにより、光量プロファイル表示機能の有効/無効を切り替えることができる。「グラフ」の左にチェックマークのある状態で光量プロファイル表示機能が有効となり、図6に示したように直線71及びグラフ72がピークホールド画像70に重畳表示される。チェックマークを消して光量プロファイル表示機能を無効にすれば、図6中の直線71及びグラフ72の表示は消える。
【0049】
例えば図6において、マウス53を用いて直線71を上下に移動し、直線71がピークホールド画像70の所望の部分を通るようにする。そして、直線71に沿う画素の現在の受光量(輝度)の分布を示すグラフ72(曲線72c)を見ながら試料ステージ30又は対物レンズ17の上下移動操作を行えばよい。所望の部分に焦点が合った状態をピークホールド画像から判断することは難しいが、その部分の受光量(輝度)のピークをグラフ72(曲線72c)から判断すれば焦点が合った状態にすることが容易にできる。したがって、試料ステージ30又は対物レンズ17を適切な範囲で上下移動させ、所望の簡易超深度画像を短時間で得ることが容易になる。
【0050】
図8は、共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータシステムの表示装置において光量プロファイル表示機能を実現するためのハードウェア構成を示すブロック図である。
【0051】
共焦点顕微鏡システム1のコントローラは、制御部46、ピークホールド回路73、フレームメモリ74、セレクタ75、ラインメモリ76、メモリコントローラ77、パターンジェネレータ78等によって上記の機能を実現している。各画素の受光量データはピークホールド回路73に入力され、各画素の受光量のピーク値が求められてフレームメモリ74に格納される。このデータは、セレクタ75によって選択され、ピークホールド画像データとしてIEEE1394等の通信インターフェイスを介してコンピュータシステム50に転送され、表示装置51の画面(画像表示領域61)にピークホールド画像が表示される。
【0052】
前述のようにして画像表示領域61のピークホールド画像70に重ねて表示された直線71の位置データは、コンピュータシステム50から共焦点顕微鏡システム1のコントローラの制御部46に渡される。制御部46は、その位置データにしたがってメモリコントローラ77に対してライン位置指定を行う。メモリコントローラ77は、パターンジェネレータ78が発生するタイミング信号にしたがって、フレームメモリ74及びラインメモリ76の書き込み/読み出し制御を行う。
【0053】
ラインメモリ76には、フレームメモリ74と同様に各画素の受光量データが入力されている。メモリコントローラ77は、制御部46のライン位置指定にしたがって、直線71に沿う1行分の画素の受光量データをラインメモリ76に記憶させる。制御部46は、ラインメモリ76に記憶された直線71に沿う1行分の画素の受光量データを読み出し、IEEE1394等の通信インターフェイスを介してコンピュータシステム50に転送する。
【0054】
直線71に沿う1行分の画素の受光量データを受信したコンピュータシステム50(の処理装置55)は、そのデータに基づいて直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72を生成し、ピークホールド画像70に重ねて表示する。以上のようにして、ピークホールド画像70に重ねて設定された任意の直線71に沿う画素の受光量の分布を表すグラフ72がピークホールド画像70に重ねてリアルタイム表示される。
【0055】
なお、上記の実施形態では簡易超深度画像としてのピークホールド画像に重ねて任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフをリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を説明したが、これ以外の画像、例えば通常の自動測定モードで得られた超深度画像に重ねて任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを表示するようにしてもよい。このような光量プロファイル表示機能についても、上記の実施形態で説明した画面構成及びハードウェア構成と同様の構成によって実現することができる。
【0056】
また、上記の実施形態では、外部コンピュータシステムに共焦点顕微鏡システムの制御を行うための専用ソフトウェアをインストールし、外部コンピュータシステムの表示装置の画面上で光量プロファイル表示機能を実現する場合について説明したが、本発明はそのような実施形態に限られるわけではない。共焦点顕微鏡システム1に標準装備の表示装置47及び入力装置48を用いて測定条件の設定や得られた画像の表示を行う場合にも本発明を適用することができる。
【0057】
また、上記の実施形態の共焦点顕微鏡は反射型の顕微鏡であるが、透過型の共焦点顕微鏡にも本発明を適用することができる。透過型の顕微鏡の場合は、試料の裏面から共焦点光学系のレーザ光及び非共焦点光学系の白色光が照射される。共焦点光学系の光源はレーザ光源を含む単色光源はもちろんのこと、複数波長を含むものであってもよい。非共焦点光学系の光源は自然光又は室内光で代用することもできる。
【0058】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明の共焦点顕微鏡システムによれば、試料表面の画像を横切る任意の直線に沿う受光量の分布がグラフで表示されるので、画像からは正確な判断が難しい最大受光量の部分、すなわち焦点が合っている部分をグラフの参照によって容易に判断することができる。したがって、試料ステージ又は対物をレンズ手動で上下動させて簡易超深度画像を得るような場合に、所望の部分で焦点が合った状態を短時間で見つけることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る共焦点顕微鏡システムの概略構成を示す図である。
【図2】対物レンズのZ方向位置に応じて変化する受光量データの例を示すグラフである。
【図3】共焦点顕微鏡システムのコントローラに外部コンピュータシステムを接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図4】専用ソフトウェアによる表示装置の画面表示の例を示す図である。
【図5】図4の画面表示における操作部領域の拡大図である。
【図6】光量プロファイル表示機能を有効にしたときに画像表示領域に表示される画像の例を示す図である。
【図7】光量プロファイル表示機能の有効/無効を選択するための操作部領域を示す図である。
【図8】共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータシステムの表示装置において光量プロファイル表示機能を実現するためのハードウェア構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 共焦点顕微鏡システム
2 共焦点光学系
19 受光素子
47,51 表示装置
60 画面表示
61 画像表示領域
70 ピークホールド画像
71 任意の直線
72 受光量の分布を表すグラフ
wk 試料
Claims (2)
- 試料表面からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光情報を処理して得られる前記試料表面の画像を表示装置の画面に表示する共焦点顕微鏡システムであって、
前記試料表面の画像を表示装置の画面に表示する際に、前記画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを前記画像に重ねて表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする共焦点顕微鏡システム。 - 試料と対物レンズとの相対距離を光軸方向に手動で変化させ、そのときに得られる各画素の受光量のピークホールド値をつなぎ合わせたピークホールド画像を表示する簡易超深度画像表示機能を備えた共焦点顕微鏡システムであって、
前記ピークホールド画像を表示装置の画面に表示する際に、前記ピークホールド画像に重ねて設定された任意の直線に沿う画素の受光量の分布を表すグラフを前記ピークホールド画像に重ねてリアルタイム表示する光量プロファイル表示機能を備えていることを特徴とする共焦点顕微鏡システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002324427A JP2004157410A (ja) | 2002-11-07 | 2002-11-07 | 共焦点顕微鏡システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002324427A JP2004157410A (ja) | 2002-11-07 | 2002-11-07 | 共焦点顕微鏡システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004157410A true JP2004157410A (ja) | 2004-06-03 |
Family
ID=32804019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002324427A Pending JP2004157410A (ja) | 2002-11-07 | 2002-11-07 | 共焦点顕微鏡システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004157410A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008090071A (ja) * | 2006-10-03 | 2008-04-17 | Keyence Corp | 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
US9784568B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-10-10 | Universitat Politècnica De Catalunya | Method and device for non-contact three dimensional object surface imaging |
-
2002
- 2002-11-07 JP JP2002324427A patent/JP2004157410A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008090071A (ja) * | 2006-10-03 | 2008-04-17 | Keyence Corp | 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
US9784568B2 (en) | 2011-05-20 | 2017-10-10 | Universitat Politècnica De Catalunya | Method and device for non-contact three dimensional object surface imaging |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7304790B2 (en) | Examination apparatus and focusing method of examination apparatus | |
JP4936841B2 (ja) | 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡操作方法、共焦点顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 | |
EP1793257A1 (en) | Laser-scanning microscope system and unit for setting operating conditions | |
JP4309523B2 (ja) | 三次元測定共焦点顕微鏡 | |
JP2006171024A (ja) | 多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 | |
US20090173898A1 (en) | Confocal microscope | |
JP2010112969A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2006023476A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
JP4180322B2 (ja) | 共焦点顕微鏡システム及びパラメータ設定用コンピュータプログラム | |
JP4542302B2 (ja) | 共焦点顕微鏡システム | |
JP4410335B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2007140183A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡装置 | |
JP4576112B2 (ja) | 共焦点レーザ顕微鏡 | |
JPH0961720A (ja) | 共焦点走査型光学顕微鏡及びこの顕微鏡を使用した測定方法 | |
JP4473987B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2004145153A (ja) | 光量飽和表示機能付共焦点顕微鏡 | |
JP2004170572A (ja) | 画像つなぎ合わせ機能を有する共焦点顕微鏡システム、光量偏心補正方法及びコンピュータプログラム | |
JP4290413B2 (ja) | 測定反復モードを有する共焦点顕微鏡システム | |
JP2004157410A (ja) | 共焦点顕微鏡システム | |
JP2004138947A (ja) | 走査モード選択可能な共焦点顕微鏡システム | |
JP4536845B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2007071716A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
JP2007286284A (ja) | 共焦点走査型顕微鏡システム、及びそれを使用した観察方法 | |
JP2007304058A (ja) | 微小高さ測定装置 | |
JP2004177732A (ja) | 光学測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD07 | Notification of extinguishment of power of attorney |
Effective date: 20050810 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427 |
|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20051031 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20081118 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090331 |