JP2003299642A - ナビゲーション手術のための位置合わせ方法 - Google Patents
ナビゲーション手術のための位置合わせ方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 位置捕捉システム(10)、X線装置(1)
とX線不透過性マーク(21、51)を有するX線校正
用ファントム(20、50)を用いるナビゲーション手
術で位置合わせを行う目的で変換法則を把握する単純な
方法を提供する。 【解決手段】 再構築した容積内で描出されたX線装置
の測定容積(7)内に存在するX線校正用ファントムの
マークの座標をX線装置の測定容積に指定した座標系
(KM)と位置捕捉システムに指定した座標系(KP)に
おいて把握し、測定容積に指定した座標系におけるマー
クの座標と、位置捕捉システムに指定した座標系におけ
るマークの座標とを手掛りに、測定容積に指定した座標
系と位置捕捉システムに指定した座標系との間の座標変
換を把握する。
とX線不透過性マーク(21、51)を有するX線校正
用ファントム(20、50)を用いるナビゲーション手
術で位置合わせを行う目的で変換法則を把握する単純な
方法を提供する。 【解決手段】 再構築した容積内で描出されたX線装置
の測定容積(7)内に存在するX線校正用ファントムの
マークの座標をX線装置の測定容積に指定した座標系
(KM)と位置捕捉システムに指定した座標系(KP)に
おいて把握し、測定容積に指定した座標系におけるマー
クの座標と、位置捕捉システムに指定した座標系におけ
るマークの座標とを手掛りに、測定容積に指定した座標
系と位置捕捉システムに指定した座標系との間の座標変
換を把握する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、位置捕捉システム
の座標系とX線装置の測定容積の座標系との間の座標変
換を把握し、それをナビゲーションのために使用する、
ナビゲーション手術のための位置合わせ法に関する。
の座標系とX線装置の測定容積の座標系との間の座標変
換を把握し、それをナビゲーションのために使用する、
ナビゲーション手術のための位置合わせ法に関する。
【0002】
【従来の技術】生物に施す医療手術を支援する目的でナ
ビゲーションがますます多く使用されるようになってき
た。このナビゲーションは生物、即ち治療すべき生物の
組織領域と相対的に光学的画像情報を用いて医療器械の
誘導を支援する方法であると理解されている。この場
合、医療器械の画像はX線装置を用いて入手された生物
の2D(2次元)或いは3D(3次元)画像の中に挿入
される。この方法を使用すると、術者は、例えば身体内
へ導入したためその先端をもはや直接的に視認できな
い、少なくとも部分的に生物の中に導入した医療器械
を、治療すべき生物の組織領域と相対的な画像情報を手
掛かりに、生物へ故意ではなく損傷を引き起こす危険を
おかすことなく操作できる。
ビゲーションがますます多く使用されるようになってき
た。このナビゲーションは生物、即ち治療すべき生物の
組織領域と相対的に光学的画像情報を用いて医療器械の
誘導を支援する方法であると理解されている。この場
合、医療器械の画像はX線装置を用いて入手された生物
の2D(2次元)或いは3D(3次元)画像の中に挿入
される。この方法を使用すると、術者は、例えば身体内
へ導入したためその先端をもはや直接的に視認できな
い、少なくとも部分的に生物の中に導入した医療器械
を、治療すべき生物の組織領域と相対的な画像情報を手
掛かりに、生物へ故意ではなく損傷を引き起こす危険を
おかすことなく操作できる。
【0003】このようなナビゲーション手術、即ち生物
の画像情報内に正確な位置および状況で医療器械の画像
を挿入を可能にするには、生物の画像情報の座標系ない
しは生物の再構築容積の座標系とそれに関連付けてナビ
ゲーションすべき医療器械の位置を表示する座標系との
間の、座標変換の形での数学的関係を確立することが必
要である。このため、ある場合は生物に人工的マークを
配置し、ある場合は例えば独特の骨構造のような解剖学
的マークを固定する。この際解剖学的又は人工的マーク
は、X線装置を用いて撮影した生物の画像情報内で鮮明
に視認でき、更に生物へ十分に到達可能でなければなら
ない。人工的マークは、その中にナビゲーションせねば
ならない医療器械の位置を表示する座標系と生物の画像
情報ないしは再構築容積の座標系との間の空間的変換法
則を把握することであると理解されている所謂位置合わ
せ(レジストレーション)を実行できるよう、例えば生
物の皮膚表面に固定される。両方の座標系間の座標変換
を把握可能なように、通例は個別に、そして正しい順序
で医療器械をマークに近づけねばならない。極めて精密
な医療手術では、マークを生物の身体にしっかり固定す
る。例えば患者の頭部への定位固定フレームの装着や患
者の骨や脊柱へのマークの取り付けが挙げられる。マー
クの取り付けは、ナビゲーションのために頻繁に使用す
る術前画像を生成する前にマークを取り付けておかねば
ならず、一部は個別手術で行う。
の画像情報内に正確な位置および状況で医療器械の画像
を挿入を可能にするには、生物の画像情報の座標系ない
しは生物の再構築容積の座標系とそれに関連付けてナビ
ゲーションすべき医療器械の位置を表示する座標系との
間の、座標変換の形での数学的関係を確立することが必
要である。このため、ある場合は生物に人工的マークを
配置し、ある場合は例えば独特の骨構造のような解剖学
的マークを固定する。この際解剖学的又は人工的マーク
は、X線装置を用いて撮影した生物の画像情報内で鮮明
に視認でき、更に生物へ十分に到達可能でなければなら
ない。人工的マークは、その中にナビゲーションせねば
ならない医療器械の位置を表示する座標系と生物の画像
情報ないしは再構築容積の座標系との間の空間的変換法
則を把握することであると理解されている所謂位置合わ
せ(レジストレーション)を実行できるよう、例えば生
物の皮膚表面に固定される。両方の座標系間の座標変換
を把握可能なように、通例は個別に、そして正しい順序
で医療器械をマークに近づけねばならない。極めて精密
な医療手術では、マークを生物の身体にしっかり固定す
る。例えば患者の頭部への定位固定フレームの装着や患
者の骨や脊柱へのマークの取り付けが挙げられる。マー
クの取り付けは、ナビゲーションのために頻繁に使用す
る術前画像を生成する前にマークを取り付けておかねば
ならず、一部は個別手術で行う。
【0004】従ってマークの取り付けと位置合わせは、
患者にとり不快な手技となり、更に術者にはナビゲーシ
ョン手術の準備中、相当に大きな時間的負担となる。
患者にとり不快な手技となり、更に術者にはナビゲーシ
ョン手術の準備中、相当に大きな時間的負担となる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、変換
法則を把握可能な簡単な方法を提供することにある。
法則を把握可能な簡単な方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、この課
題は請求項1に記載の方法により解決される。本発明に
従うと、X線装置を用いてX線装置と相対的に位置合わ
せされたX線不透過性マークを有するX線校正用ファン
トムの一連の2D投影が様々な投影方向から撮影し、撮
影したX線校正用ファントムの2D投影から容積データ
セットを再構築する。再構築し、容積内に描出した、X
線装置の測定容積内にあるX線校正用ファントムのX線
不透過性マークによって、X線装置の測定容積内で指定
した座標系における座標および位置捕捉システムに指定
した座標系における座標を把握する。それに伴い、X線
校正用ファントムの複数のX線不透過性マークによりX
線装置の測定容積に指定した座標系における座標と、位
置捕捉システムに指定した座標系における座標が存在
し、その結果、点の対から測定容積に指定した座標系と
位置捕捉システムに指定した座標系との間の座標変換を
把握できる。その結果、例えば医療用の位置捕捉システ
ムの座標系に関連付けて捕捉した医療器械の座標を測定
容積の座標系の座標へ変換できるので、マーカを頼りと
する位置合わせなしに、即ち治療すべき対象にマーカを
取り付ける必要なしに、X線装置を用いて生成した対象
の画像内へ医療器械の画像を挿入できる。
題は請求項1に記載の方法により解決される。本発明に
従うと、X線装置を用いてX線装置と相対的に位置合わ
せされたX線不透過性マークを有するX線校正用ファン
トムの一連の2D投影が様々な投影方向から撮影し、撮
影したX線校正用ファントムの2D投影から容積データ
セットを再構築する。再構築し、容積内に描出した、X
線装置の測定容積内にあるX線校正用ファントムのX線
不透過性マークによって、X線装置の測定容積内で指定
した座標系における座標および位置捕捉システムに指定
した座標系における座標を把握する。それに伴い、X線
校正用ファントムの複数のX線不透過性マークによりX
線装置の測定容積に指定した座標系における座標と、位
置捕捉システムに指定した座標系における座標が存在
し、その結果、点の対から測定容積に指定した座標系と
位置捕捉システムに指定した座標系との間の座標変換を
把握できる。その結果、例えば医療用の位置捕捉システ
ムの座標系に関連付けて捕捉した医療器械の座標を測定
容積の座標系の座標へ変換できるので、マーカを頼りと
する位置合わせなしに、即ち治療すべき対象にマーカを
取り付ける必要なしに、X線装置を用いて生成した対象
の画像内へ医療器械の画像を挿入できる。
【0007】本発明の一実施形態に従うと、再構築した
容積内で描出したX線装置の測定容積内に存在するX線
校正用ファントムのX線不透過性マークを選択し、それ
ら座標を測定容積に指定した座標系で自動的に決定す
る。X線不透過性マークの選択時、通例はマークの一定
順序を決めるが、これは座標変換を把握するための点の
対の形成を容易にする。測定容積に指定した座標系にお
けるX線不透過性マークの座標の自動決定では、好まし
くはマークの重心の座標を決定する。
容積内で描出したX線装置の測定容積内に存在するX線
校正用ファントムのX線不透過性マークを選択し、それ
ら座標を測定容積に指定した座標系で自動的に決定す
る。X線不透過性マークの選択時、通例はマークの一定
順序を決めるが、これは座標変換を把握するための点の
対の形成を容易にする。測定容積に指定した座標系にお
けるX線不透過性マークの座標の自動決定では、好まし
くはマークの重心の座標を決定する。
【0008】本発明の方法の更に別の実施形態に従う
と、X線校正用ファントムの幾何学的形状およびX線校
正用ファントムに指定した座標系内のX線校正用ファン
トムのX線不透過性マークの座標が既知である。X線校
正用ファントムの容積の再構築後、第1ステップで最初
に測定容積に指定した座標系におけるX線校正用ファン
トムのエッジの位置を、例えば3Dエッジ抽出を用いた
X線校正用ファントムのエッジ位置の決定により、そし
て第2ステップで測定容積に指定した座標系における容
積内で描出された測定容積内に存在するX線校正用ファ
ントムのX線不透過性マークの座標が測定容積に指定し
た座標系におけるX線校正用ファントムのエッジの把握
された位置およびX線校正用ファントムに指定した座標
系における既知となったマークの座標に基づき把握す
る。従ってこの方法を用いても、点の対を形成するため
にX線装置の測定容積に指定した座標系におけるX線不
透過性マークの座標を把握できる。
と、X線校正用ファントムの幾何学的形状およびX線校
正用ファントムに指定した座標系内のX線校正用ファン
トムのX線不透過性マークの座標が既知である。X線校
正用ファントムの容積の再構築後、第1ステップで最初
に測定容積に指定した座標系におけるX線校正用ファン
トムのエッジの位置を、例えば3Dエッジ抽出を用いた
X線校正用ファントムのエッジ位置の決定により、そし
て第2ステップで測定容積に指定した座標系における容
積内で描出された測定容積内に存在するX線校正用ファ
ントムのX線不透過性マークの座標が測定容積に指定し
た座標系におけるX線校正用ファントムのエッジの把握
された位置およびX線校正用ファントムに指定した座標
系における既知となったマークの座標に基づき把握す
る。従ってこの方法を用いても、点の対を形成するため
にX線装置の測定容積に指定した座標系におけるX線不
透過性マークの座標を把握できる。
【0009】本発明のある実施形態に従うと、容積内で
描出された測定容積内に存在するX線校正用ファントム
のX線不透過性マークの座標を位置捕捉システムに指定
した座標系においてポインタを用いて決定する。この決
定は、位置捕捉システムで捕捉可能なポインタを用い、
変換法則を把握するために選択した個々のX線不透過性
マークを、例えばポインタのチップで触れることで行
う。ポインタは明確に構築されているので、位置捕捉シ
ステムのポインタのチップの座標を位置捕捉システムの
座標系内で決定でき、それに従って触れられたX線不透
過性マークの座標を位置捕捉システム内で決定できる。
描出された測定容積内に存在するX線校正用ファントム
のX線不透過性マークの座標を位置捕捉システムに指定
した座標系においてポインタを用いて決定する。この決
定は、位置捕捉システムで捕捉可能なポインタを用い、
変換法則を把握するために選択した個々のX線不透過性
マークを、例えばポインタのチップで触れることで行
う。ポインタは明確に構築されているので、位置捕捉シ
ステムのポインタのチップの座標を位置捕捉システムの
座標系内で決定でき、それに従って触れられたX線不透
過性マークの座標を位置捕捉システム内で決定できる。
【0010】本発明の別の変形に従うと、X線不透過性
マークを位置捕捉システムにより直接的に捕捉可能なよ
うに形成する。本発明の1つの実施形態では、位置捕捉
システムは光学的位置捕捉システム、マークは逆反射性
マークである。従って、本発明の別の変形例では、X線
校正用ファントムのマークの座標の把握は位置捕捉シス
テムの座標系において直接的に位置捕捉システムにより
自動的に行える。
マークを位置捕捉システムにより直接的に捕捉可能なよ
うに形成する。本発明の1つの実施形態では、位置捕捉
システムは光学的位置捕捉システム、マークは逆反射性
マークである。従って、本発明の別の変形例では、X線
校正用ファントムのマークの座標の把握は位置捕捉シス
テムの座標系において直接的に位置捕捉システムにより
自動的に行える。
【0011】本発明の他の実施形態に従うと、測定容積
に指定した座標系と位置捕捉システムに指定した座標系
との間の座標変換の把握を、形成した点の対を手掛かり
に最小誤差二乗法に従って行う。
に指定した座標系と位置捕捉システムに指定した座標系
との間の座標変換の把握を、形成した点の対を手掛かり
に最小誤差二乗法に従って行う。
【0012】本発明の別の実施形態に従うと、X線装置
に位置捕捉システムで捕捉可能なマークをマーカプレー
トの形で配置する。この際X線装置に配置したマークを
手掛かりに、X線装置に配置したマークに指定した座標
系と、測定容積に指定した座標系との間の座標変換を把
握する。該座標変換により、上の説明に従い把握した測
定容積に指定した座標系と位置捕捉システムに指定した
座標系との間の座標変換が有効でなくなるX線装置と位
置捕捉システムの調整後、相互に相対的に再び測定容積
の座標系と位置捕捉システムの座標系との間の変換法則
を確立する。
に位置捕捉システムで捕捉可能なマークをマーカプレー
トの形で配置する。この際X線装置に配置したマークを
手掛かりに、X線装置に配置したマークに指定した座標
系と、測定容積に指定した座標系との間の座標変換を把
握する。該座標変換により、上の説明に従い把握した測
定容積に指定した座標系と位置捕捉システムに指定した
座標系との間の座標変換が有効でなくなるX線装置と位
置捕捉システムの調整後、相互に相対的に再び測定容積
の座標系と位置捕捉システムの座標系との間の変換法則
を確立する。
【0013】本発明の別の変形では、X線装置がCアー
ム型であり、そのCアームが好ましくはアイソセンタを
有し、アイソセントリックに調整可能である。測定容積
の座標系がCアームのアイソセンタに基点を有するとよ
い。その結果、X線不透過性マークを有するX線校正用
ファントムの容積の再構築に基づき、単純な方法で測定
容積の座標系と再構築した容積の座標系との間の変換法
則を把握して、ナビゲーションのために使用できる。こ
の変換法則は、通常その中で画像生成のためのX線装置
の投影行列を決定するX線装置に対する個々の校正過程
で把握する。
ム型であり、そのCアームが好ましくはアイソセンタを
有し、アイソセントリックに調整可能である。測定容積
の座標系がCアームのアイソセンタに基点を有するとよ
い。その結果、X線不透過性マークを有するX線校正用
ファントムの容積の再構築に基づき、単純な方法で測定
容積の座標系と再構築した容積の座標系との間の変換法
則を把握して、ナビゲーションのために使用できる。こ
の変換法則は、通常その中で画像生成のためのX線装置
の投影行列を決定するX線装置に対する個々の校正過程
で把握する。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を添付の略図に示
す。
す。
【0015】図1に示す、それ自体公知のCアーム型X
線装置1は、放射線源3と放射線受信部4を持つCアー
ム5を支持する支持部2を備える。Cアーム5は、この
実施例の場合アイソセンタIZとその軌道軸Aの周囲
で、その周囲に沿いアイソセンタ的に調整可能である
(二重矢印aを参照)。Cアーム5は、更に支持部2と
一緒に屈曲軸Bの周囲で二重矢印bの方向へアイソセン
タ的に傾斜できる。
線装置1は、放射線源3と放射線受信部4を持つCアー
ム5を支持する支持部2を備える。Cアーム5は、この
実施例の場合アイソセンタIZとその軌道軸Aの周囲
で、その周囲に沿いアイソセンタ的に調整可能である
(二重矢印aを参照)。Cアーム5は、更に支持部2と
一緒に屈曲軸Bの周囲で二重矢印bの方向へアイソセン
タ的に傾斜できる。
【0016】Cアーム型X線装置1を用いると、例えば
患者の対象の2D・3D画像を入手し、ディスプレイ装
置6へ描出できる。このために利用する装置、特に画像
処理装置はそれ自体公知である。従って図1に図示せ
ず、詳細な説明は省略する。
患者の対象の2D・3D画像を入手し、ディスプレイ装
置6へ描出できる。このために利用する装置、特に画像
処理装置はそれ自体公知である。従って図1に図示せ
ず、詳細な説明は省略する。
【0017】Cアーム型X線装置1を用いて、特に医療
用のためにここには図示しない患者を対象としたナビゲ
ーション手術を施こす。このため、本実施例ではCアー
ム型X線装置1のアイソセンタIZに基点を有し、図1
に略示するCアーム型X線装置1の立方体形の測定容積
7に指定した座標系KMと図1に略示し、その中に患者
に相対的にナビゲーションすべき医療器械11の座標も
記述した位置捕捉システム10に指定した座標系KPと
の間の座標変換を把握する必要がある。
用のためにここには図示しない患者を対象としたナビゲ
ーション手術を施こす。このため、本実施例ではCアー
ム型X線装置1のアイソセンタIZに基点を有し、図1
に略示するCアーム型X線装置1の立方体形の測定容積
7に指定した座標系KMと図1に略示し、その中に患者
に相対的にナビゲーションすべき医療器械11の座標も
記述した位置捕捉システム10に指定した座標系KPと
の間の座標変換を把握する必要がある。
【0018】この実施例の場合、位置捕捉システム10
は2個のカメラ12と13を有し、それ自体公知の光学
的位置捕捉システムである。カメラ12、13を用いる
と、これらが捕捉可能な光学的マーカを備える対象を撮
影し、カメラ画像の評価によりそれらの位置と方向付
け、更に位置捕捉システム10に指定した座標系KPに
おけるそれらの座標も把握できる。
は2個のカメラ12と13を有し、それ自体公知の光学
的位置捕捉システムである。カメラ12、13を用いる
と、これらが捕捉可能な光学的マーカを備える対象を撮
影し、カメラ画像の評価によりそれらの位置と方向付
け、更に位置捕捉システム10に指定した座標系KPに
おけるそれらの座標も把握できる。
【0019】位置決定のために必要な、例えば市販の一
般的なコンピューターである位置捕捉システム10の演
算処理手段は、それ自体公知の方法で実施されるので、
図1および2に図示しておらず、詳しくは説明しない。
般的なコンピューターである位置捕捉システム10の演
算処理手段は、それ自体公知の方法で実施されるので、
図1および2に図示しておらず、詳しくは説明しない。
【0020】座標変換を把握すべく、図3に詳細に示す
X線校正用ファントム20は、少なくとも部分的にCア
ーム型X線装置1の測定容積7内に配置しており、X線
校正用ファントム20を放射線源3から放出されて放射
線受信部4へ透過する放射線束が貫通する。図3から判
るように、本実施例で使用するX線校正用ファントム2
0は円筒状をなし、螺旋形に配置されたX線不透過性マ
ーク21を有する。X線校正用ファントム20により、
この実施例の場合、Cアーム5の位置をその軌道軸Aの
周囲で変えながら一連の2D投影を様々な投影方向から
撮影する。Cアーム5の位置はこのとき段階的に約19
0°の角度範囲で変えられる。撮影した2D投影から、
Cアーム型X線装置1の画像処理装置を用いる公知の方
法で、その中にX線校正用ファントム20のX線不透過
性マーク21が描出されるX線校正用ファントム20の
容積を構築できる。X線校正用ファントム20の容積の
再構築に引き続き、再構築した容積においてX線校正用
ファントム20のX線不透過性マーク21の画像を自由
に確定可能な順序で選択し、選択した画像の重心の座標
は図示しない再構築した容積に指定した座標系において
公知のコンピュータープログラムを用いて決定する。測
定容積7内に存在するX線不透過性マーク21を再構築
した容積内の画像に関連付けることで、再構築した容積
の座標系とCアームX線装置1の測定容積7との間の変
換法則を把握できるので、その結果選択し、再構築した
容積内で描出したX線校正用ファントム20の測定容積
7内に存在するマーク21の重心の座標も測定容積7に
指定した座標系KM内で把握できる。この変換法則の把
握は、通常その中で画像生成のためにX線装置の投影行
列が決定されるX線校正用ファントムを用いた個別の校
正プロセスで既に行われる。その他の点では、一連の2
D投影から主として1つの容積データセットを再構築で
きるよう投影行列が分かっていることが不可欠である。
X線校正用ファントム20は、少なくとも部分的にCア
ーム型X線装置1の測定容積7内に配置しており、X線
校正用ファントム20を放射線源3から放出されて放射
線受信部4へ透過する放射線束が貫通する。図3から判
るように、本実施例で使用するX線校正用ファントム2
0は円筒状をなし、螺旋形に配置されたX線不透過性マ
ーク21を有する。X線校正用ファントム20により、
この実施例の場合、Cアーム5の位置をその軌道軸Aの
周囲で変えながら一連の2D投影を様々な投影方向から
撮影する。Cアーム5の位置はこのとき段階的に約19
0°の角度範囲で変えられる。撮影した2D投影から、
Cアーム型X線装置1の画像処理装置を用いる公知の方
法で、その中にX線校正用ファントム20のX線不透過
性マーク21が描出されるX線校正用ファントム20の
容積を構築できる。X線校正用ファントム20の容積の
再構築に引き続き、再構築した容積においてX線校正用
ファントム20のX線不透過性マーク21の画像を自由
に確定可能な順序で選択し、選択した画像の重心の座標
は図示しない再構築した容積に指定した座標系において
公知のコンピュータープログラムを用いて決定する。測
定容積7内に存在するX線不透過性マーク21を再構築
した容積内の画像に関連付けることで、再構築した容積
の座標系とCアームX線装置1の測定容積7との間の変
換法則を把握できるので、その結果選択し、再構築した
容積内で描出したX線校正用ファントム20の測定容積
7内に存在するマーク21の重心の座標も測定容積7に
指定した座標系KM内で把握できる。この変換法則の把
握は、通常その中で画像生成のためにX線装置の投影行
列が決定されるX線校正用ファントムを用いた個別の校
正プロセスで既に行われる。その他の点では、一連の2
D投影から主として1つの容積データセットを再構築で
きるよう投影行列が分かっていることが不可欠である。
【0021】位置捕捉システム10に指定した座標系K
PでのX線校正用ファントム20の選択したX線不透過
性マーク21の座標を把握するには、位置捕捉システム
10のカメラ12、13で捕捉可能な光学的マーク31
を設けた、所謂ナビゲーションポインタ30を用いる。
光学的マーク31は、それらを把握することで位置捕捉
システム10からナビゲーションポインタ30のチップ
32の座標を位置捕捉システム10に指定した座標系K
Pで把握できるようナビゲーションポインタ30に配置
している。ナビゲーションポインタ30を用い、再構築
容積においても描出される、選択したX線校正用ファン
トム20のX線不透過性マーク21がナビゲーションポ
インタ30のチップ32で事前に確定した順番で触れ
る。ナビゲーションポインタ30のチップ32が選択し
たX線不透過性マーク21の場所にあるなら、常に位置
捕捉システム10を用いてナビゲーションポインタ30
のチップ32の座標と、それに伴い位置捕捉システム1
0に指定した座標系KPにおけるX線校正用ファントム
20の触れられたX線不透過性マーク21の座標とを決
定する。この際、X線不透過性マーク21には、そのつ
どそれを用いてナビゲーションポインタ30のチップ3
2をほぼ正確に各マーク21の重心に配置できる円錐形
の穴を用意できる。位置捕捉システム10に指定した座
標系KPにおけるX線校正用ファントム20のX線不透
過性マーク21の座標を事前に確定した順番で把握した
後、それに従いX線校正用ファントム20の複数のX線
不透過性マーク21に対し測定容積7に指定した座標系
KMにおいて位置捕捉システム10に指定した座標系KP
における座標も既知となる。これら点の対を手掛りに、
最終的にはCアーム型X線装置1の画像処理装置又は位
置捕捉システム10のコンピューター又は更に何かその
他の、適切な情報が供給されるコンピューターを用い
て、位置捕捉システム10に指定した座標系KPと測定
容積7に指定した座標系KMとの間の座標変換を把握で
きる。本実施例では、変換法則は誤差を最小限に抑える
方法、特に最小誤差二乗法(least squares method)で
把握する。それに伴い測定容積7に指定した座標系KM
と位置捕捉システム10に指定した座標系KPとの間の
変換法則を把握し、既知とする。
PでのX線校正用ファントム20の選択したX線不透過
性マーク21の座標を把握するには、位置捕捉システム
10のカメラ12、13で捕捉可能な光学的マーク31
を設けた、所謂ナビゲーションポインタ30を用いる。
光学的マーク31は、それらを把握することで位置捕捉
システム10からナビゲーションポインタ30のチップ
32の座標を位置捕捉システム10に指定した座標系K
Pで把握できるようナビゲーションポインタ30に配置
している。ナビゲーションポインタ30を用い、再構築
容積においても描出される、選択したX線校正用ファン
トム20のX線不透過性マーク21がナビゲーションポ
インタ30のチップ32で事前に確定した順番で触れ
る。ナビゲーションポインタ30のチップ32が選択し
たX線不透過性マーク21の場所にあるなら、常に位置
捕捉システム10を用いてナビゲーションポインタ30
のチップ32の座標と、それに伴い位置捕捉システム1
0に指定した座標系KPにおけるX線校正用ファントム
20の触れられたX線不透過性マーク21の座標とを決
定する。この際、X線不透過性マーク21には、そのつ
どそれを用いてナビゲーションポインタ30のチップ3
2をほぼ正確に各マーク21の重心に配置できる円錐形
の穴を用意できる。位置捕捉システム10に指定した座
標系KPにおけるX線校正用ファントム20のX線不透
過性マーク21の座標を事前に確定した順番で把握した
後、それに従いX線校正用ファントム20の複数のX線
不透過性マーク21に対し測定容積7に指定した座標系
KMにおいて位置捕捉システム10に指定した座標系KP
における座標も既知となる。これら点の対を手掛りに、
最終的にはCアーム型X線装置1の画像処理装置又は位
置捕捉システム10のコンピューター又は更に何かその
他の、適切な情報が供給されるコンピューターを用い
て、位置捕捉システム10に指定した座標系KPと測定
容積7に指定した座標系KMとの間の座標変換を把握で
きる。本実施例では、変換法則は誤差を最小限に抑える
方法、特に最小誤差二乗法(least squares method)で
把握する。それに伴い測定容積7に指定した座標系KM
と位置捕捉システム10に指定した座標系KPとの間の
変換法則を把握し、既知とする。
【0022】最終的には光学的マーク15を有するマー
カプレート14が明確な方法で用意されている医療器械
11によるナビゲーション手術の進行中に位置捕捉シス
テム10のカメラ12、13のカメラ画像を撮影する
と、マーカプレート14により撮影したカメラ画像を手
掛りに医療器械11の位置を位置捕捉システム10に指
定した座標系KPに関連して把握し、これを位置捕捉シ
ステム10に指定した座標系KPおよび測定容積7に指
定した座標系KMの間で把握した座標変換を手掛りに測
定容積の座標系KMの座標と、最終的には再構築した容
積の座標へ変換できる。既に言及したようにこれは再構
築した容積内の測定容積7の1つの点の画像が事前に把
握したため、それに伴い既知だからである。この方法に
より、医療器械11を患者の体内に適切に導入すると、
Cアーム型X線装置1を用いて撮影した患者のX線画像
内に医療器械11の画像を挿入することが可能になる。
カプレート14が明確な方法で用意されている医療器械
11によるナビゲーション手術の進行中に位置捕捉シス
テム10のカメラ12、13のカメラ画像を撮影する
と、マーカプレート14により撮影したカメラ画像を手
掛りに医療器械11の位置を位置捕捉システム10に指
定した座標系KPに関連して把握し、これを位置捕捉シ
ステム10に指定した座標系KPおよび測定容積7に指
定した座標系KMの間で把握した座標変換を手掛りに測
定容積の座標系KMの座標と、最終的には再構築した容
積の座標へ変換できる。既に言及したようにこれは再構
築した容積内の測定容積7の1つの点の画像が事前に把
握したため、それに伴い既知だからである。この方法に
より、医療器械11を患者の体内に適切に導入すると、
Cアーム型X線装置1を用いて撮影した患者のX線画像
内に医療器械11の画像を挿入することが可能になる。
【0023】Cアーム型X線装置1と位置捕捉システム
10の相互の位置を、把握した変換法則にもはや不都合
な位置へ変えた後、再び測定容積7に指定した座標系K
Mと位置捕捉システム10に指定した座標系KPの間の変
換法則を確立すべく、Cアーム型X線装置1の支持部2
に、位置捕捉システム10のカメラ12、13で捕捉可
能な光学的マーク41を設ける。マーカプレート40
は、光学的マーク41の座標が既知の座標系KWに属す
る。マーカプレート40と位置捕捉システム10を用い
ると、マーカプレート40に指定した座標系KWと測定
容積7に指定した座標系KM間の座標変換を把握できる
が、それは光学的マーカ41の座標を位置捕捉システム
10により該システム10に指定した座標系で把握で
き、位置捕捉システム10に指定した座標系でのX線不
透過性マーク21の座標が既知となるからである。この
座標変換によると、Cアーム型X線装置1と位置捕捉シ
ステム10との相互位置が変化した後も、再び測定容積
7に指定した座標系KMと位置捕捉システム10に指定
した座標系KPとの間の変換法則を把握できる。
10の相互の位置を、把握した変換法則にもはや不都合
な位置へ変えた後、再び測定容積7に指定した座標系K
Mと位置捕捉システム10に指定した座標系KPの間の変
換法則を確立すべく、Cアーム型X線装置1の支持部2
に、位置捕捉システム10のカメラ12、13で捕捉可
能な光学的マーク41を設ける。マーカプレート40
は、光学的マーク41の座標が既知の座標系KWに属す
る。マーカプレート40と位置捕捉システム10を用い
ると、マーカプレート40に指定した座標系KWと測定
容積7に指定した座標系KM間の座標変換を把握できる
が、それは光学的マーカ41の座標を位置捕捉システム
10により該システム10に指定した座標系で把握で
き、位置捕捉システム10に指定した座標系でのX線不
透過性マーク21の座標が既知となるからである。この
座標変換によると、Cアーム型X線装置1と位置捕捉シ
ステム10との相互位置が変化した後も、再び測定容積
7に指定した座標系KMと位置捕捉システム10に指定
した座標系KPとの間の変換法則を把握できる。
【0024】本発明の更に他の実施形態では、Cアーム
型X線装置1の測定容積7におけるX線校正用ファント
ム20のX線不透過性マーク21の座標の把握を上記と
は異なる種類と方法で行う。この際前提となるのは、X
線校正用ファントム20の幾何学的形状と、X線校正用
ファントム20のマーク21の座標とがX線校正用ファ
ントム20に指定した座標系KRKで既知なことである。
測定容積7内に存在するX線校正用ファントム20のマ
ーク21の座標を把握すべく、X線校正用ファントム2
0の容積の再構築後に、測定容積7に指定した座標系K
MにおいてX線校正用ファントム20の位置を把握す
る。これは例えばX線校正用ファントム20のエッジの
位置を決定することで、図示しない再構築容積に指定し
た座標系において3Dエッジ抽出法を用いて行える。既
知の又はX線校正用ファントム20の再構築に基づき把
握すべき測定容積の座標系KMと再構築した容積の座標
系との間の変換法則により、測定容積7に指定した座標
系KMにおけるX線校正用ファントム20のエッジの位
置も決定できる。X線校正用ファントム20のエッジの
位置を把握した後、第2ステップでは測定容積7に指定
した座標系KMにおける把握したX線校正用ファントム
20の位置と、X線校正用ファントム20に指定に指定
した座標系KRKにおけるマーク21の既知である座標と
に基づき、X線校正用ファントム20の測定容積7内に
存在するマーク21の座標を把握する。座標変換を把握
するその後の措置法は上記の方法に一致する。即ち一定
のX線不透過性マーク21を選択し、位置捕捉システム
20に指定した座標系KPに関する順番での選択したマ
ーク21の座標の順番の確定と、点の対の形成後に、測
定容積7に指定した座標系KMと位置捕捉システム10
に指定した座標系KPとの間の変換法則が最小誤差二乗
法により把握する。
型X線装置1の測定容積7におけるX線校正用ファント
ム20のX線不透過性マーク21の座標の把握を上記と
は異なる種類と方法で行う。この際前提となるのは、X
線校正用ファントム20の幾何学的形状と、X線校正用
ファントム20のマーク21の座標とがX線校正用ファ
ントム20に指定した座標系KRKで既知なことである。
測定容積7内に存在するX線校正用ファントム20のマ
ーク21の座標を把握すべく、X線校正用ファントム2
0の容積の再構築後に、測定容積7に指定した座標系K
MにおいてX線校正用ファントム20の位置を把握す
る。これは例えばX線校正用ファントム20のエッジの
位置を決定することで、図示しない再構築容積に指定し
た座標系において3Dエッジ抽出法を用いて行える。既
知の又はX線校正用ファントム20の再構築に基づき把
握すべき測定容積の座標系KMと再構築した容積の座標
系との間の変換法則により、測定容積7に指定した座標
系KMにおけるX線校正用ファントム20のエッジの位
置も決定できる。X線校正用ファントム20のエッジの
位置を把握した後、第2ステップでは測定容積7に指定
した座標系KMにおける把握したX線校正用ファントム
20の位置と、X線校正用ファントム20に指定に指定
した座標系KRKにおけるマーク21の既知である座標と
に基づき、X線校正用ファントム20の測定容積7内に
存在するマーク21の座標を把握する。座標変換を把握
するその後の措置法は上記の方法に一致する。即ち一定
のX線不透過性マーク21を選択し、位置捕捉システム
20に指定した座標系KPに関する順番での選択したマ
ーク21の座標の順番の確定と、点の対の形成後に、測
定容積7に指定した座標系KMと位置捕捉システム10
に指定した座標系KPとの間の変換法則が最小誤差二乗
法により把握する。
【0025】図2は、図1に示す配置と少なくとも実質
的に同一の構造と機能を持ち、同一符号を付したナビゲ
ーションのための座標変換を把握する第2配置を示す
る。
的に同一の構造と機能を持ち、同一符号を付したナビゲ
ーションのための座標変換を把握する第2配置を示す
る。
【0026】図2に示す配置の例では、X線校正用ファ
ントム20の代わりに図4に示す、変更したX線校正用
ファントム50を使用するが、これは全く同様にX線不
透過性マーク51を有し、この際X線不透過性マーク5
1はこれを位置捕捉システム10でも捕捉可能に形成し
ている。この実施例の場合、マーク51は位置捕捉シス
テム10のカメラ12、13ででも捕捉可能な所謂逆反
射マークである。
ントム20の代わりに図4に示す、変更したX線校正用
ファントム50を使用するが、これは全く同様にX線不
透過性マーク51を有し、この際X線不透過性マーク5
1はこれを位置捕捉システム10でも捕捉可能に形成し
ている。この実施例の場合、マーク51は位置捕捉シス
テム10のカメラ12、13ででも捕捉可能な所謂逆反
射マークである。
【0027】マーク51を逆反射マークとして形成する
と、位置捕捉システム10に指定した座標系KPにおけ
るマーク51の座標を把握するナビゲーションポインタ
を使わずに済む。むしろ位置捕捉システム10によるマ
ーク51の捕捉で、マーク51の座標を位置捕捉システ
ム10により位置捕捉システム10に指定した座標系K
Pで自動的に把握できる。この際X線校正用ファントム
50におけるマーク51の配置は正確に既知となり、そ
の結果単純な方法で点の対を形成できる。即ち選択した
マーク51から、それらの座標を測定容積7に指定した
座標系KMと位置捕捉システム10に指定した座標系KP
で鮮明に指定できる。これはマーク21が相違する寸法
である場合に極めて単純に達成できる。既述のように、
点の対の形成後は、再び位置捕捉システム10に指定し
た座標系KPと測定容積に指定した座標系KMとの間の座
標変換を最小誤差二乗法により決定できる。
と、位置捕捉システム10に指定した座標系KPにおけ
るマーク51の座標を把握するナビゲーションポインタ
を使わずに済む。むしろ位置捕捉システム10によるマ
ーク51の捕捉で、マーク51の座標を位置捕捉システ
ム10により位置捕捉システム10に指定した座標系K
Pで自動的に把握できる。この際X線校正用ファントム
50におけるマーク51の配置は正確に既知となり、そ
の結果単純な方法で点の対を形成できる。即ち選択した
マーク51から、それらの座標を測定容積7に指定した
座標系KMと位置捕捉システム10に指定した座標系KP
で鮮明に指定できる。これはマーク21が相違する寸法
である場合に極めて単純に達成できる。既述のように、
点の対の形成後は、再び位置捕捉システム10に指定し
た座標系KPと測定容積に指定した座標系KMとの間の座
標変換を最小誤差二乗法により決定できる。
【0028】Cアーム型X線装置1の1つの点とCアー
ム型X線装置1の測定容積7との間の関係を把握すべ
く、支持部2に再度マーカプレート40を配置するの
で、結果的にCアーム型X線装置1と位置捕捉システム
10の相互に対する位置を変えた後では、位置捕捉シス
テム10に指定した座標系KPと測定容積に指定した座
標系KMとの間の変換関係を把握することを可能にすべ
く、位置捕捉システム10を用いてマーカプレート40
に指定した座標系KWと測定容積7に指定した座標系KM
との間の変換法則を把握できる。
ム型X線装置1の測定容積7との間の関係を把握すべ
く、支持部2に再度マーカプレート40を配置するの
で、結果的にCアーム型X線装置1と位置捕捉システム
10の相互に対する位置を変えた後では、位置捕捉シス
テム10に指定した座標系KPと測定容積に指定した座
標系KMとの間の変換関係を把握することを可能にすべ
く、位置捕捉システム10を用いてマーカプレート40
に指定した座標系KWと測定容積7に指定した座標系KM
との間の変換法則を把握できる。
【0029】上述の実施例の場合、光学的位置捕捉シス
テムをナビゲーションに用いた。光学的位置捕捉システ
ムに代えて、電磁式位置捕捉システムや音響波に基づき
作動する位置捕捉システムも使える。この場合には、光
学的マークは適切な電磁的又は音響的送信装置、カメラ
は適切な電磁的又は音響的受信装置で代用できる。
テムをナビゲーションに用いた。光学的位置捕捉システ
ムに代えて、電磁式位置捕捉システムや音響波に基づき
作動する位置捕捉システムも使える。この場合には、光
学的マークは適切な電磁的又は音響的送信装置、カメラ
は適切な電磁的又は音響的受信装置で代用できる。
【0030】更に、本発明の実施にあたり上述のX線校
正用ファントム以外も使用できる。
正用ファントム以外も使用できる。
【0031】更にまた、X線装置は必ずしもCアーム型
X線装置である必要はない。例えば放射線源のためのU
形キャリアと放射線受信器を備えたX線装置も使用でき
る。
X線装置である必要はない。例えば放射線源のためのU
形キャリアと放射線受信器を備えたX線装置も使用でき
る。
【図1】本発明の方法を実施するためのCアーム型X線
装置、X線校正用ファントムおよび位置捕捉システムを
示す配置図である。
装置、X線校正用ファントムおよび位置捕捉システムを
示す配置図である。
【図2】本発明の方法を実施するための図1とは異なる
例を示す配置図である。
例を示す配置図である。
【図3】図1からのX線校正用ファントムの図である。
【図4】図2からのX線校正用ファントムの図である。
1 Cアーム型X線装置、2 支持部、3 放射線源、
4 放射線受信部 5 Cアーム、6 ディスプレイ装置、7 測定容積、
10 位置捕捉システム 11 医療器械、12、13 カメラ、14 マーカプ
レート、15 マーカ 20 X線校正用ファントム、21 マーク、30 ナ
ビゲーションポインタ 31 マーカ、32 チップ、40 マーカプレート、
41 マーカ 50 X線校正用ファントム、51 マーク、A 屈曲
軸、O 軌道軸 IZ アイソセンタ、a、b 進行方向、KW マーカ
プレート40の座標系 KRK X線校正用ファントムの座標系、KM 測定容積
の座標系 KP 位置捕捉システムの座標系
4 放射線受信部 5 Cアーム、6 ディスプレイ装置、7 測定容積、
10 位置捕捉システム 11 医療器械、12、13 カメラ、14 マーカプ
レート、15 マーカ 20 X線校正用ファントム、21 マーク、30 ナ
ビゲーションポインタ 31 マーカ、32 チップ、40 マーカプレート、
41 マーカ 50 X線校正用ファントム、51 マーク、A 屈曲
軸、O 軌道軸 IZ アイソセンタ、a、b 進行方向、KW マーカ
プレート40の座標系 KRK X線校正用ファントムの座標系、KM 測定容積
の座標系 KP 位置捕捉システムの座標系
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 ディーター リッター
ドイツ連邦共和国 90762 フュルト ド
クター‐マック‐シュトラーセ 50
Fターム(参考) 4C093 AA04 CA35 CA36 EA02 EC16
FC11 FC12 FC16 GA01
Claims (11)
- 【請求項1】 位置捕捉システム(10)、X線装置
(1)およびX線不透過性マーク(21、51)を持つ
X線校正用ファントム(20、50)を使用し、ナビゲ
ーション手術のための位置合わせを行う、下記のステッ
プを含む方法。X線装置(1)を用いてX線校正用ファ
ントム(20、50)の2D投影を様々な投影方向から
撮影するステップ、 撮影したX線校正用ファントム(20、50)の2D投
影からX線校正用ファントム(20、50)の容積を再
構築するステップ、 再構築した容積内で描出されたX線装置(1)の測定容
積(7)内に存在するX線校正用ファントム(20、5
0)のX線不透過性マーク(21、51)の座標を、X
線装置(1)の測定容積(7)に指定した座標系
(KM)において把握するステップ、 再構築した容積内に描出した測定容積(7)内に存在す
るX線不透過性マーク(21、51)の座標を位置捕捉
システム(10)に指定した座標系(KP)において把
握するステップおよび測定容積(7)に指定した座標系
(KM)におけるX線不透過性マーク(21、51)の
座標および位置捕捉システム(10)に指定した座標系
(KP)におけるX線不透過性マーク(21、51)の
座標を手掛りに、測定容積(7)に指定した座標系(K
M)と位置捕捉システム(10)に指定した座標系
(KP)との間の座標変換を把握するステップ。 - 【請求項2】 再構築した容積内に描出したX線装置
(1)の測定容積(7)内に存在するX線校正用ファン
トム(20、50)のX線不透過性マーク(21、5
1)を選択し、それらの座標を測定容積(7)に指定し
た座標系(KM)で自動的に決定する請求項1記載の方
法。 - 【請求項3】 X線校正用ファントム(20)の幾何学
的形状およびX線校正用ファントム(20)に指定した
座標系(KRK)におけるX線校正用ファントム(20)
のX線不透過性マーク(21)の座標が既知であり、こ
のときX線校正用ファントム(20)の容積の再構築後
に第1ステップにおいて測定容積(7)に指定した座標
系(KM)におけるX線校正用ファントム(20)の状
況および第2ステップにおいて測定容積(7)に指定し
た座標系(KM)における測定容積(7)内に存在する
X線校正用ファントム(20)のX線不透過性マーク
(21)の座標を、X線校正用ファントム(20)の把
握された状況およびX線校正用ファントム(20)に指
定した座標系(KRK)におけるX線不透過性マーク(2
1)の既知の座標を手掛りに把握する請求項1記載の方
法。 - 【請求項4】 再構築した容積内に描出した測定容積
(7)内に存在するX線不透過性マーク(21)の座標
を、位置捕捉システム(10)に指定した座標系
(KP)においてポインタ(30)を用いて決定する請
求項1から3の1つに記載の方法。 - 【請求項5】 X線不透過性マーク(51)を位置捕捉
システム(10)によっても捕捉可能なように形成した
請求項1から3の1つに記載の方法。 - 【請求項6】 位置捕捉システムが光学的位置捕捉シス
テム(10)であり、X線不透過性マーク(51)が逆
反射マークである請求項5記載の方法。 - 【請求項7】 位置捕捉システム(10)に指定した座
標系(KP)におけるX線校正用ファントム(50)の
X線不透過性マーク(51)の座標を位置捕捉システム
(10)により自動的に把握する請求項5又は6記載の
方法。 - 【請求項8】 測定容積(7)に指定した座標系
(KM)と位置捕捉システム(10)に指定した座標系
(KP)との間の座標変換を最小誤差二乗法により把握
する請求項1から7の1つに記載の方法。 - 【請求項9】 X線装置(1)に、位置捕捉システム
(10)により把握可能なマーカ(41)を配置する請
求項1から8の1つに記載の方法。 - 【請求項10】 X線装置(1)に配置したマーカ(4
1)を手掛りに、X線装置(1)に配置したマーカ(4
1)に指定した座標系(KW)と測定容積(7)に指定
した座標系(KM)の間の座標変換を把握する請求項9
記載の方法。 - 【請求項11】 X線装置がCアーム型X線装置(1)
である請求項1から10の1つに記載の方法。
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