JP2003234308A - 切削装置 - Google Patents

切削装置

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JP2003234308A
JP2003234308A JP2002032519A JP2002032519A JP2003234308A JP 2003234308 A JP2003234308 A JP 2003234308A JP 2002032519 A JP2002032519 A JP 2002032519A JP 2002032519 A JP2002032519 A JP 2002032519A JP 2003234308 A JP2003234308 A JP 2003234308A
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cleaning water
nozzle
chuck table
water
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Hirohiko Kozai
宏彦 香西
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 切削水を供給しながら半導体ウェーハ等の被
加工物を切削することにより滞留したコンタミネーショ
ンが混じった切削水を、経済的な方法で確実かつ効率的
に除去できるようにする。 【解決手段】 チャックテーブル15に保持された被加
工物を切削手段17を用いて切削する場合に、チャック
テーブル15の移動経路に交差する方向に配設されるノ
ズル61から洗浄水とエアーとを混合させた混合流体を
噴出することにより、被加工物の上に滞留した切削水を
確実に排除する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被加工物を切削す
る切削装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体ウェーハをダイシングする
場合には、図5に示すように、チャックテーブル15に
おいて半導体ウェーハWを保持し、切削水ノズル23か
ら切削水を切削箇所に供給すると共に、切削ブレード2
2が高速回転しながら切削手段17が下降することによ
り、切削ブレード22が半導体ウェーハWのストリート
に切り込んで切削が行われる。そして、このような切削
をすべてのストリートについて縦横に行うことにより個
々の半導体チップに分割される。
【0003】このようにして切削を行うと、切削屑(コ
ンタミネーション)が発生し、そのコンタミネーション
を含んだ切削水が半導体ウェーハW上に滞留し、コンタ
ミネーションが半導体ウェーハW上に付着する。コンタ
ミネーションが付着したままでは、半導体チップの品質
が低下し、歩留まりも低下する。また、コンタミネーシ
ョンは静電気によって付着するものもあり、直ちに取り
除かなければ除去することが困難となる。
【0004】そこで、例えば特開平4−240749号
公報や特開平2000−306878号公報に開示され
た切削装置のように、半導体ウェーハの表面にノズルか
ら洗浄水を噴出することにより、付着したコンタミネー
ション及び切削水を除去することが通常行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、洗浄水
の噴出によってコンタミネーションを除去するには大量
の洗浄水が必要となるため、不経済であると共に非効率
的であるという問題がある。
【0006】また、半導体ウェーハのサイズが大きくな
ると、ノズルから噴出される洗浄水が半導体ウェーハの
全面に行き渡らないことがあるため、ノズルから遠い位
置にあるコンタミネーションを完全に排除することがで
きないという問題もある。
【0007】噴出される洗浄水の圧力を高くすることに
より、洗浄水の使用量を増やすことなくサイズの大きな
半導体ウェーハの上に滞留したコンタミネーションを除
去することも可能ではあるが、洗浄水の圧力を高くする
ためのポンプ等が必要となり、また、配管も高圧に対応
するものに変更しなければならないため、かえって不経
済となってしまう。更に、洗浄水を高圧にした場合は、
洗浄水を噴出するノズルが短期間に磨耗するおそれもあ
る。
【0008】このように、切削水を供給しながら半導体
ウェーハ等の被加工物を切削する場合においては、コン
タミネーションを含んだ切削水のすべてを、経済的な方
法で確実かつ効率的に除去できるようにすることに課題
を有している。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、被加工物を保持するチャ
ックテーブルと、チャックテーブルに保持された被加工
物を切削領域において切削する切削手段と、チャックテ
ーブルを切削方向に駆動する切削送り手段とを少なくと
も備えた切削装置であって、チャックテーブルの移動経
路に交差する方向に配設されるノズルと、ノズルに装着
され洗浄水とエアーとを混合して混合流体を生成する混
合部と、混合部に洗浄水を供給する洗浄水供給部と、混
合部にエアーを供給するエアー供給部とから構成される
洗浄手段が配設された切削装置を提供する。
【0010】そしてこの切削装置は、混合部がノズルの
長手方向の両端に装着されること、ノズルが切削領域に
配設され、切削された被加工物に対して混合流体が噴出
されること、切削手段の両側に対向してノズルが2本配
設され、切削された対して被加工物に混合流体が噴出さ
れること、洗浄水の圧力は0.2MPa以上であり、エ
アーの圧力は0.3MPa以上であることを付加的な要
件とする。
【0011】このように構成される切削装置において
は、洗浄手段を構成するノズルが被加工物を保持するチ
ャックテーブルの移動経路に交差する方向に配設され、
ノズルには洗浄水とエアーとが供給されることにより、
エアーの圧力によって洗浄水が助勢されて噴出するた
め、高圧水を用いることなく、洗浄水を被加工物の全面
に確実に供給することができる。しかも、洗浄水は混合
流体となってミスト化するため、わずかな水量でも十分
な洗浄力を得ることができる。
【0012】また、洗浄水がエアーによって助勢され勢
い良く噴出されるため、ミスト化された洗浄水が直接当
たる部位については、高い衝撃力によって付着している
コンタミネーションを除去することができる。
【0013】更に、洗浄水及びエアーの圧力が比較的低
いため、高圧水を使用した場合に比べてノズルが磨耗し
にくい。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態の一例とし
て、図1に示す切削装置10について説明する。なお、
従来例と同様に構成される部位については同一の符号を
付して説明する。
【0015】図1の切削装置10には、被加工物、例え
ば半導体ウェーハWが収容されるウェーハカセット11
が載置されるカセット載置領域12と、ウェーハカセッ
ト11からの半導体ウェーハWの搬出及びウェーハカセ
ット11への半導体ウェーハWの搬入を行う搬出入手段
13と、半導体ウェーハWの搬送を行う搬送手段14
と、半導体ウェーハWを保持するチャックテーブル15
と、切削溝を形成すべきストリートを検出するアライメ
ント手段16と、ストリートを切削する切削手段17
と、洗浄のための混合流体を噴出する洗浄手段18とを
備えている。
【0016】この切削装置10を用いて半導体ウェーハ
Wの表面に切削溝を形成しようとする場合は、半導体ウ
ェーハWは、保持テープTを介してフレームFと一体と
なった状態でウェーハカセット11に複数収納され、搬
出入手段13によってウェーハカセット11から搬出さ
れて仮置き領域13aに一時的に載置される。そしてそ
の後搬送手段14に吸着され搬送手段14が旋回動する
ことによりチャックテーブル15に搬送されて載置さ
れ、吸引保持される。
【0017】次に、半導体ウェーハWを保持したチャッ
クテーブル15は、+X方向に移動することによりアラ
イメント手段16の直下に位置付けられる。アライメン
ト手段16には、CCDカメラ等の撮像手段を備えてお
り、アライメント手段16がY軸方向に移動しながら半
導体ウェーハWの表面を撮像し、予めメモリ等に記憶さ
れたキーパターン画像と撮像した画像とのパターンマッ
チング処理を行うことにより切削すべきストリートが検
出される(アライメントされる)。こうして切削すべき
ストリートが検出されると、更にチャックテーブル15
が同方向に移動して、実際の切削が行われる切削領域1
9に位置付けられる。
【0018】図2に示すように、切削手段17において
は、Y軸方向に配設されたスピンドル20がスピンドル
ハウジング21によって回転可能に支持され、スピンド
ル20の先端部に切削ブレード22が装着されており、
スピンドル20の回転に伴って切削ブレード22が回転
する構成となっている。また、切削ブレード22を前後
から挟むようにして一対の切削水ノズル23が配設され
ている。
【0019】図示していないが図1のアライメント手段
16と切削手段17とは一体に形成されており、切削す
べきストリートが検出されると同時に、そのストリート
と切削ブレード21とのY軸方向の位置合わせがなされ
る。
【0020】切削手段17は、切り込み送り手段30に
よって切り込み方向であるZ軸方向に移動可能に支持さ
れており、更にこの切り込み送り手段30は、割り出し
送り手段40によって割り出し方向であるY軸方向に移
動可能に支持されている。
【0021】切り込み送り手段30は、立設する壁部3
1と、壁部31の側面においてZ軸方向に配設されたZ
軸ガイドレール32と、切削手段17を支持すると共に
Z軸ガイドレール32に摺動可能に支持された昇降部3
3と、Z軸方向に配設されて昇降部33に形成されたナ
ット(図示せず)に螺合するZ軸ボールネジ(図示せ
ず)と、Z軸ボールネジを回転駆動するZ軸パルスモー
タ34とから構成され、Z軸パルスモータ34の駆動に
よりZ軸ボールネジが回転することにより昇降部33が
Z軸方向に昇降し、これに伴い切削手段17が昇降する
構成となっている。
【0022】一方、割り出し送り手段40は、Y軸方向
に配設されたY軸ガイドレール41と、Y軸ガイドレー
ル41に摺動可能に支持され壁部31と一体形成された
Y軸移動基台42と、Y軸移動基台42に形成されたナ
ット部(図示せず)に螺合するY軸ボールネジ43と、
Y軸ボールネジ43を回転駆動するY軸パルスモータ4
4とから構成され、Y軸パルスモータ44の駆動によっ
てY軸ボールネジ43が回転することによりY軸移動基
台40がY軸方向に移動し、これに伴い切削手段17も
同方向に移動する構成となっている。
【0023】チャックテーブル15は、切削送り手段5
0によってX軸方向に移動可能に支持されている。切削
送り手段50は、切削方向であるX軸方向に配設された
X軸ガイドレール51と、X軸ガイドレール51に摺動
可能に支持されたX軸移動基台52と、X軸移動基台5
2に形成されたナット部(図示せず)に螺合するX軸ボ
ールネジ53と、X軸ボールネジ53を回転駆動するX
軸パルスモータ54と、X軸移動基台52に固定されチ
ャックテーブル15を回転可能に支持する支持基台55
と、支持基台55の両側部に固定されチャックテーブル
15の移動に伴って伸縮する蛇腹部56とから概ね構成
される。
【0024】X軸パルスモータ54に駆動されてX軸ボ
ールネジ53が回転することによりX軸移動基台52が
X軸方向に移動し、これに伴って支持基台55が蛇腹部
56の伸縮を伴って移動することによりチャックテーブ
ル15がX軸方向に移動する。
【0025】図3は、洗浄手段18の構成の一例を示し
たもので、洗浄手段18は、複数の噴出口60を長手方
向に備えたノズル61と、ノズル61の一方の端部に装
着された混合部62と、混合部62に洗浄水を供給する
洗浄水供給部63と、混合部63にエアーを供給するエ
アー供給部64とから構成され、洗浄水供給部63はバ
ルブ65を介して洗浄水源66に連結され、エアー供給
部64はバルブ67を介してエアー源68に連結されて
いる。
【0026】混合部62においては、バルブ65を介し
て洗浄水源66から供給される洗浄水と、バルブ67を
介してエアー源68から供給されるエアーとが混合され
てミスト状の混合流体が生成される。そして、エアーの
圧力によって混合流体が複数の噴出口60から噴出す
る。
【0027】このように複数の噴出口60を備えたノズ
ル61は、チャックテーブル15に保持された被加工物
の全面に対して洗浄水を噴出できる位置、例えば図1及
び図2に示したように、チャックテーブル15の移動経
路に交差する位置に配設される。
【0028】図2を参照して説明を続けると、チャック
テーブル15に保持された半導体ウェーハWがアライメ
ントの後に切削領域19に位置付けられると、チャック
テーブル15が更に+X方向に移動すると共に、切削ブ
レード22が高速回転しながら切り込み送り手段30に
よる駆動の下で切削手段17が下降し、アライメントに
より検出されたストリートに切り込んでそのストリート
が切削される。このとき、切削ブレード22と半導体ウ
ェーハWとの接触部位には、切削水ノズル23から切削
水が供給される。
【0029】そして、切削送り手段50による駆動の下
でチャックテーブル15がX軸方向に往復移動すると共
に、割り出し送り手段40による駆動の下で、切削手段
17がY軸方向にストリート間隔ずつ移動しながら切削
ブレード22が各ストリートに切り込むことにより、同
方向のすべてのストリートが順次切削される。
【0030】また、チャックテーブル15を90度回転
させて上記と同様の切削を行うと、すべてのストリート
が縦横に切削される。
【0031】こうして切削水の供給と共に切削が行われ
ると、切削により生じたコンタミネーションが含まれた
切削水が半導体ウェーハWの上に滞留するため、この切
削水を洗浄手段18を用いて除去する。
【0032】洗浄手段18を構成するノズル61は、チ
ャックテーブル15の移動経路に交差して配設されてい
るため、ノズル61から洗浄水を噴出すると共にチャッ
クテーブル15をX軸方向を移動させることによって、
チャックテーブル15に保持された半導体ウェーハWの
全面にミスト状の混合流体が行き渡り、切削水を確実に
排除することができる。
【0033】その上、洗浄手段18にはエアーと洗浄水
とを混合する混合部64を備え、洗浄水がエアーによる
圧力によって助勢されて噴出するため、コンタミネーシ
ョンが混じった切削水を効果的に除去することができ
る。例えば、洗浄水の圧力は0.2MPa以上、エアー
の圧力は0.3MPa以上とすることができ、従来のよ
うに高圧水(例えば圧力が10MPa)を用いる場合と
比較すると、圧力は低い。従って、ノズル61が磨耗し
にくい。
【0034】また、図示したようにノズル61を切削領
域19に配設した場合には、切削によって発生したコン
タミネーションを切削直後に除去することができるた
め、コンタミネーションが静電気により半導体ウェーハ
Wに付着するのを防止することができる。
【0035】なお、洗浄水供給部63に洗浄水を供給せ
ず、エアーのみを噴出口60から噴出することによって
もコンタミネーションが混じった切削水を除去すること
ができる。
【0036】また、切削中は、エアーのみを噴出口60
から噴出することによってエアーカーテンを形成すれ
ば、切削水が切削領域19から装置内の他の領域(例え
ばアライメントが行われる領域)に流出するのを防止す
ることできる。
【0037】洗浄手段は、図4のように構成することも
できる。図4に示した構成の洗浄手段18aにおいて
は、噴出口69が複数形成されたノズル70の両端に第
一の混合部71、第二の混合部72が装着され、第一の
混合部71には第一の洗浄水供給部73及び第一のエア
ー供給部74が形成され、第二の混合部72には第二の
洗浄水供給部75及び第二のエアー供給部76が形成さ
れている。
【0038】そして、第一の洗浄水供給部73及び第二
の洗浄水供給部75にはバルブ77を介して洗浄水源7
8が連結され、第二のエアー供給源74及び第二のエア
ー供給源75にはバルブ79を介してエアー源80が連
結されている。
【0039】洗浄水源78から第一の洗浄水供給部73
を介してノズル70に流入した洗浄水は、エアー源80
から第一のエアー供給部74を介して流入したエアーに
よって助勢される。同様に、洗浄水源78から第二の洗
浄水供給部75を介してノズル70に流入した洗浄水
は、エアー源80から第二のエアー供給部76を介して
流入したエアーによって助勢される。従って、ノズル7
0の両端からバランス良く供給され助勢された洗浄水
は、すべての噴出口69から半導体ウェーハWの全面に
向けて均等に噴出されるため、コンタミネーションが混
じった切削水を確実に排除することができる。
【0040】なお、本実施の形態においては、ノズル6
1を1本配設した場合を例に挙げて説明したが、2本以
上配設してもよい。例えば、切削手段17を挟んでX軸
方向において対向する位置に2本のノズルを配設した場
合には、チャックテーブル15の位置に応じてそれぞれ
のノズルから混合流体を噴出することにより効率良く切
削水を排除することができる。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る切削
装置においては、洗浄手段を構成するノズルが被加工物
を保持するチャックテーブルの移動経路に交差する方向
に配設され、ノズルには洗浄水とエアーとが供給される
ため、エアーの圧力によって洗浄水が助勢されて噴出す
る。従って、高圧水を用いることなく洗浄水を被加工物
の全面に供給することができるため、コンタミネーショ
ンが混入した切削水を除去することができる。しかも、
洗浄水は混合流体となってミスト化し、わずかな水量で
も十分な洗浄力を得ることができるため、洗浄水の消費
量が少なく経済的である。
【0042】また、洗浄水がエアーによって助勢され勢
い良く噴出されるため、ミスト化された洗浄水が直接当
たる部位については、高い衝撃力によって付着している
コンタミネーションを確実に除去することができる。
【0043】更に、洗浄水及びエアーの圧力が比較的低
いため、高圧水を使用した場合に比べてノズルが磨耗し
にくく、寿命を長くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る切削装置の一例を示す斜視図であ
る。
【図2】同切削装置を構成する切削領域を拡大して示す
斜視図である。
【図3】同切削装置を構成する洗浄手段の第一の例を示
す断面図である。
【図4】同切削装置を構成する洗浄手段の第二の例を示
す断面図である。
【図5】半導体ウェーハを切削する様子を示す斜視図で
ある。
【符号の説明】
10…切削装置 11…ウェーハカセット 12…カセット載置領域 13…搬出入手段 14…搬送手段 15…チャックテーブル 16…アライメント手段 17…切削手段 18…洗浄手段 19…切削領域 20…スピンドル 21…スピンドルハウジング 22…切削ブレード 23…切削水ノズル 30…切り込み送り手段 31…壁部 32…Z軸ガイドレール 33…昇降部 34…Z軸パルスモータ 40…割り出し送り手段 41…Y軸ガイドレール 42…Y軸移動基台 43…Y軸ボールネジ 44…Y軸パルスモータ 50…切削送り手段 51…X軸ガイドレール 52…X軸移動基台 53…X軸ボールネジ 54…X軸パルスモータ 55…支持基台 56…蛇腹部 60…噴出口 61…ノズル 62…混合部 63…洗浄水供給部 64…エアー供給部 65…バルブ 66…洗浄水源 67…バルブ 68…エアー源 69…噴出口 70…ノズル 71…第一の混合部 72…第二の混合部 73…第一の洗浄水供給部 74…第一のエアー供給部 75…第二の洗浄水供給部 76…第二のエアー供給部 77…バルブ 78…洗浄水源 79…バルブ 80…エアー源

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工物を保持するチャックテーブル
    と、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削領
    域において切削する切削手段と、該チャックテーブルを
    切削方向に駆動する切削送り手段とを少なくとも備えた
    切削装置であって、 該チャックテーブルの移動経路に交差する方向に配設さ
    れるノズルと、該ノズルに装着され洗浄水とエアーとを
    混合して混合流体を生成する混合部と、該混合部に洗浄
    水を供給する洗浄水供給部と、該混合部にエアーを供給
    するエアー供給部とから構成される洗浄手段が配設され
    た切削装置。
  2. 【請求項2】 混合部は、ノズルの長手方向の両端に装
    着される請求項1に記載の切削措置。
  3. 【請求項3】 ノズルは切削領域に配設され、切削され
    た被加工物に対して混合流体が噴出される請求項1また
    は2に記載の切削装置。
  4. 【請求項4】 切削手段の両側に対向してノズルが2本
    配設され、切削された被加工物に対して混合流体が噴出
    される請求項1または2に記載の切削装置。
  5. 【請求項5】 洗浄水の圧力は0.2MPa以上であ
    り、エアーの圧力は0.3MPa以上である請求項1乃
    至4に記載の切削装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073828A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2009111211A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2014121738A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
CN104626376A (zh) * 2013-11-11 2015-05-20 株式会社迪思科 切削装置
KR20150093587A (ko) 2014-02-07 2015-08-18 가부시기가이샤 디스코 절삭 장치
CN105437392A (zh) * 2015-12-30 2016-03-30 河南广度超硬材料有限公司 一种智能化晶片切割机床
JP2016129194A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
KR20160105298A (ko) 2015-02-27 2016-09-06 가부시기가이샤 디스코 절삭 장치
JP2016198874A (ja) * 2015-04-14 2016-12-01 株式会社ディスコ チャックテーブルの洗浄方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073828A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2009111211A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Tokyo Seimitsu Co Ltd ダイシング装置
JP2014121738A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Disco Abrasive Syst Ltd 切削装置
CN104626376A (zh) * 2013-11-11 2015-05-20 株式会社迪思科 切削装置
KR20150093587A (ko) 2014-02-07 2015-08-18 가부시기가이샤 디스코 절삭 장치
JP2016129194A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法
KR20160105298A (ko) 2015-02-27 2016-09-06 가부시기가이샤 디스코 절삭 장치
JP2016198874A (ja) * 2015-04-14 2016-12-01 株式会社ディスコ チャックテーブルの洗浄方法
CN105437392A (zh) * 2015-12-30 2016-03-30 河南广度超硬材料有限公司 一种智能化晶片切割机床

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